标准解读

《GB/T 6587.5-1986 电子测量仪器 冲击试验》是针对电子测量仪器在受到冲击时的性能要求和测试方法的标准。该标准适用于各类电子测量仪器，旨在通过设定特定条件下的冲击试验来检验这些仪器在遭遇突然外力作用下的耐受能力与工作稳定性。

根据此标准，冲击试验分为半正弦波形、后峰锯齿波形及梯形波形三种类型，每种波形都有其适用范围与特点。其中，半正弦波形是最常用的一种形式，它能够较好地模拟实际使用中可能遇到的各种冲击情况；而后峰锯齿波形则主要用于评估产品对高加速度短持续时间冲击的响应；梯形波形适用于考察长时间低加速度冲击的影响。

进行冲击试验时，首先需要确定被测设备的具体安装方式（如自由落体、固定支撑等），然后依据标准规定选择合适的冲击脉冲参数（包括峰值加速度、脉冲持续时间和冲击方向）。此外，还需考虑环境温度等因素对测试结果可能造成的影响，并确保在整个实验过程中按照既定程序操作，以保证数据的有效性和准确性。

对于不同类型的电子测量仪器，标准还给出了相应的合格判定准则，即经过冲击处理后的样品应能正常启动并完成预定功能，且外观无明显损伤或变形现象。如果某些特殊情况下允许有一定程度的性能下降，则必须在报告中明确指出，并说明这种变化是否会影响仪器的安全性或使用寿命。


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  • 被代替
  • 已被新标准代替，建议下载现行标准GB/T 6587-2012
  • 1986-07-23 颁布
  • 1987-07-01 实施
©正版授权
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