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压力磨损测试工作台控制系统设计,压力,磨损,测试,工作台,控制系统,设计
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XXXXXX大学XXXXXXXXXX毕 业 设 计专 业： 班级学号：学生姓名： 指导教师： XXXX 年 X 月目 录摘要2Abstract31 引言41.1 课题背景51.2 单片机概述61.3 单片机课程教学现状61.4 发展趋势72 系统组成结构概述82.1 系统的组成82.2 系统框图83 硬件电路设计83.1 8051系列单片机AT89C5293.1.1 引脚功能103.1.2 串口通信113.1.3 串口通信方式113.1.4 串口通信控制寄存器12 3.1.5 数据发送与接收12 3.2 单片机最小系统13 3.3 运动系统14 3.4 测速系统15 3.5 压力检测17 3.6 数码管显示184 系统开发软件环境194.1 开发软件使用说明194.2 keil Usion4的使用19致谢22参考文献23附录1 系统原理图24附录3 实验程序与流程图24压力磨损测试工作台控制系统设计摘要 就现在而言，在世界上只有英国、美国国、日本以及少数几个发达国家拥有磨损试验机的专业生产企业，从许多资料可以看出现在拥有的磨损试验机所测试的式样大多是以滑块和圆盘为主要方式，而且可在一定范围内实现载荷、速度、润滑量、温度等因素控制。而接触导线式样多以线材为主，同时要实现在电接触条件下对载荷、滑动速度、电流、电压等单、多因素的控制。因此为了保证点接触线材在这方面的研究、实验、开发，研制了一台新型、简易、性能可靠、成本较低的磨损试验机。本设计的磨损测试工作台是一种用于测试不同尺寸颗粒在不同压力下对玻璃表面磨损情况的测试工作台。其基本结构包括动力系统、运动装置和压力装置三部分，动力系统连接运动装置，模拟实现磨损的状态，压力装置位于运动装置上方，可以调节不同的压力状态用于测试。要求实现整体工作台的机构设计。关键词 单片机；磨损测试；压力检测；Design of Control System for Pressure Wear Test BenchSummary For now, in the world only the United Kingdom, the United States, Japan and a few developed countries have wear test machine professional production enterprises, from many of the information you can see now wear test machine test style is mostly slippery Block and disk as the main way, but also in a certain range to achieve the load, speed, lubrication, temperature and other factors control. The contact wire type and more to wire-based, and to achieve in the electrical contact conditions on the load, sliding speed, current, voltage and other single, multi-factor control. Therefore, in order to ensure that the point of contact with wire in this area of research, experiment, development, developed a new, simple, reliable, low cost wear test machine.The design of the wear test bench is a test for different sizes of particles at different pressures on the glass surface wear test table. The basic structure includes three parts: power system, moving device and pressure device. The power system is connected with the moving device to simulate the state of wear. The pressure device is located above the movement device and can adjust the different pressure state for the test. The design of the overall workbench is required.Key words: single chip; wear test; pressure detection;0 引言随着近年来半导体技术的不断发展，计算机控制系统的发展已明显地朝三个方向发展；这三个方向就是：巨型化，单片化，网络化。这个单片机新时代的技术随之产生。基于单片机的各类相关产物也应运而生。而摩擦学是一门实践性特别强的应用科学，在中华人民共和国国内的相关研究中广泛使用的磨损试验机分别有果子式磨损试验机、四球式磨损试验机、往复式摩擦磨损试验机、盘销式摩擦磨损试验机，切入式磨损试验机等等各类不同测试方式的磨损试验机。滑动摩擦磨损试验机是测试不同尺寸颗粒在不同压力下对玻璃表面磨损情况的有效设备。广泛应用于各种汽车玻璃，窗户玻璃。该设备是测试玻璃材料研究方向研究工作的急需的基础设备，该摩擦磨损试验机可以扩展该学科的研究领域和提高研究水平。伴随着冶金、电力、矿山以及功臣机械等行业的不断迅猛发展， 人们对摩擦的危害的认识有了相当的提高。为了弄清楚磨损的机理以及减少有害的磨损，各个国家的学者对材料在常温下的各种磨损问题分别进行了大量的研究。近几十年以来，磨损试验机和磨损测试的方法虽然有了较大的发展，但是这些试验机大多还是由企业和各研究工作者根据不同的工作需要和实际工作情况自行设计制造的， 如高温磨料磨损试验机，适合高分子以及符合材料试验用的高温摩擦磨损试验机等。 只有少数的几个试验机是由专门的试验机厂货或仪器制造公司制造和供应的，而且这些试验机大都结构复杂，操作复杂，价格昂贵，这说明了磨损问题的复杂性和进行试验室磨损测试的苦难所在。摩擦磨损问题存在于人类物质活动的各个方面，在汽车、发电、设备、冶金、铁道、宇航、电子和农业机器等各个方面的机械都大量存在着摩擦学的问题。据估计 ，全世界大约有1/21/3的能源以各种形式消耗在各种摩擦上，如果从摩擦学方面采取正确的措施，就可以大大节约能源消耗。磨损是机械零部件3种主要失效形式之一，其所导致的后果和经济损失都是巨大的，大约有80%的机械零部件由于各种不同的摩擦导致失效。特别是随着物质文明的进步和工业技术现代化的不断发展。机械设备的开发使用普遍趋于重载、高速、高效率化，如何控制和改善机械的摩擦磨损状况、提高其使用寿命和工作的可靠性，已成为机械工业技术人员必须关注的问题，并促使其研究不断的深入和发展。这些摩擦是研究多采用静态选位观察摩擦试件，虽然简单易行，但不能获得摩擦过程的动态信息，更不能对磨损（摩擦）过程进行动态观测及动态数据记录；另外由于受到各个试验机转速的限制，摩擦副相对运动的速度大多较低（一般不超过10m/s）。然而现代机械设备中许多副摩擦的相对滑动速度相当高，如高速列车运行时的速度大约为300km/s，制动时制动盘与刹车片之间的摩擦速度为6070m/s，而且目前还未曾见到可用于高速条件下数据动态测量所需的商用摩擦磨损试验机。摩擦磨损实验的目的是为了对摩擦磨损现象以及它的本质进行相关研究，这样便可以正确的评价各种因素对摩擦磨损性能的影响，从而确定复合使用要求的摩擦副元件的最优参数。摩擦磨损试验机的研究内容相当的广泛，如探讨磨损、摩擦和润滑机理以及影响摩擦、磨损的诸因素，对新的耐磨、减磨以及摩擦材料和润滑剂进行评价等，由于摩擦磨损现象十分复杂，摩擦磨损条件不同，实验方法和装置种类繁多，如何准确的获取磨损过程中的参数变化成为一个十分重要的研究课题。为了探索和验证机械工行才能中机械摩擦和磨损的问题的机理以及有关影响因素，在摩擦学研究中开展摩擦磨损测试技术和数据分析研究具有非常重要的作用。1 课题背景1.1国内外研究概况摩擦试验机对冶金、电力、矿山以及工程机械等行业的发展有着至关重要的作用，随着目前世界各国科技的飞速发展，各个行业在技术上的突飞猛进摩擦试验机对于各行各业的重要性也越来越明显。目前，在世界上只有日本，美国、英国等少数几个国家有摩擦磨损试验机的专业生产企业。在我国，济南试金集团是国内最早研究和研制生产摩擦磨损试验机的厂家。早在1964年为了满足我国石油工业和材料工业的不断发展需要。济南试金集团开始研制MQ-12型四球摩擦试验机，1965年成功研制成功并投入生产，1966年又研制成功MM-200型摩擦磨损试验机。这两种试验机的研制成功标志着我国已有了自行研制摩擦磨损试验机的能力。在最近的几年，涌现出了一批新兴生产摩擦磨损试验机的企业，也有不少优质产品面世。济南竟成测试技术有限公司生产的SFT-2M销盘式摩擦磨损试验机：图1.1 SFT-2M销盘式摩擦磨损试验机当然，目前国内还有其他公司的产品也已经一样的相当成熟了，济南思达测试技术有限公司生产的MME-2微型控制摩擦磨损试验机就是一个例子:图1.2 MMF-2微型控制摩擦磨损试验机1.2 单片机概述人们口中的单片机，就是把组成微计算机的各种不同功能部件，如中央处理器CPU、输入/输出接口电路、只读存储器ROM、随机存储器RAM、定时器/计数器和串行通信接口等不同对象集成在一块芯片中，构成一个完整的微型计算机。因此单片机最早的定义为单片微型计算机（single chip microcomputer），直接可以译为单片机，并一直沿用到今天。由于单片机面对的对象是测量与控制对象，突出的是它的控制功能，所以说它从功能和形态上都是不同应控制领域应用的要求而产生的。伴随着单片机技术的不断发展，它在芯片内集成了许多面对测控对象的接口电路，如ADC、DAC、高速I/O口、PWM、WDT等。这些对外电路及外设接口已经突破了微型计算机（microcomputer）传统的体系结构，所以更为确切反映单片机本质的名称应是微控制器。单片机是单芯片形态作为嵌入式应用的计算机，它有惟一的、专门为嵌入式应用而设计的体系结构和指令系统，加上它的芯片级体积的优点和在现场环境下可高速可靠地运行的特点，因此单片机又称之为嵌入式微控制器（embedded micro controller）。但是，在国内单片机的叫法仍然有着普遍的意义。我们已经把单片机理解为一个单芯片形态的微控制器，它是一个典型的嵌入式应用计算机系统。目前按单片机内部数据通道的宽度，把它们分为4位、8位、16位及32位单片机。1.3 单片机课程教学现状单片机基础、微机原理与应用是理工科类专业的重要技术基础课，是实践性和实用性很强的学科。其最终目标在于培养工科学生的硬件应用的能力。因此，教学中实验系统的优劣将直接影响该课程的教学效果和学生的应用能力的培养。对学生将来的发展有着关键性的作用。由于技术的发展，不断更新教学内容，淘汰不够先进的部分，以适应社会对人才的需要。但是单片机课程对实践环节的依赖比较大，实验手段的局限是制约教学水平的重要因素。为了提高未来各相关专业单片机基础、微机原理与应用类课程实验与实践环节的教学水平，迫切需要在围绕满足当前和未来单片机基础、微机原理与应用类课程教学的要求基础上对新型微机实验系统及其相关实践环节的教学方法做一些探索性的研究工作。1.4 发展趋势随着现代科学技术的不断进步，摩擦磨损测试技术逐渐成快速发展之势，摩擦磨损试验机呈一下趋势发展：（1） 以高性能的电机取代机械变速系统：目前，高性能的电机系统已经比较成熟，调速比可以达到一比几百、几千、甚至更高。利用这种系统既可以实现转动，也可以实现摆动和直线运动，对摩擦测试的方式都是一种选择。由高性能电机直接驱动主轴，不仅能使机械结构大大简化，而且还能降低试验机的摩擦损耗，提高整机的寿命和可靠性。但高性能电机系统价格比较昂贵。（2） 在摩擦磨损试验机上应用微型计算机，微型计算机的价格低廉，操作简单，性能稳定，不仅可以取代以往的二次仪表对试验机进行控制，而且还可以对测试参数进行自动采集和数据处理，因而能使试验机的功能大大加强。（3） 改进测试手段：（4） 提高稳定性、测试精度、以使实验结果具有更好的重复性和再现性。1.4 小结本设计主要对压力磨损测试试验机进行控制电路的设计，所完成的课题任务要求如下：1）收集资料、查阅相关论文资料等，了解压力磨损测试工作台的工作原理；2）完成一篇与设计相关的英文文献翻译和文献综述；3）完成以下模块的内容： 了解压力磨损测试工作台工作原理；进行自压力磨损测试工作台控制系统总体设计，设计控制流程图； 选择合适的元器件，完成压力磨损测试工作台的控制电路设计； 完成相应的压力磨损测试工作台系统控制程序；4）完成毕业论文的撰写，完成整体控制流程图、电路图以及程序等2 系统组成结构概述2.1 系统的组成1.动力系统2.运动装置3.压力装置4.数据采集2.2 系统框图数据采集显示系统单片机主控压力控制运动系统系统结构框图 从上图中可以看到，本课题研制的“压力磨损测试工作台控制系统”是由4个基本模块组成的，模块之间可以根据实验需要相互连接，形成不同的系统结构，为摩擦测试研究所用。各个模块都是针对电子类专业的知识点设计的，可以满足不同玻璃表面不同摩擦状态的要求。这对玻璃材料的最优选择有了很大的帮助。3 硬件电路设计3.1 8051系列单片机AT89C52AT89C52是一个低电压，高性能CMOS8位单片机，片内含8k bytes的可反复擦写的Flash只读程序存储器和256 bytes的随机存取数据存储器（RAM），器件采用ATMEL公司的高密度、非易失性存储技术生产，兼容标准MCS-51指令系统，片内置通用8位中央处理器和Flash存储单元，AT89C52单片机在电子行业中有着广泛的应用。AT89C52单片机包含中央处理器、程序存储器(ROM)、数据存储器(RAM)、定时器/计数器、并行I/O口、串行I/O口和中断系统等几大单元以及数据总线、地址总线和控制总线三大总线构成。图3.1为单片机内部结构框图。(1) 中央处理器中央处理器（CPU，Central Processing Unit）是一块超大规模的集成电路，是一台计算机的运算核心（Core）和控制核心（ Control Unit）。它的功能主要是解释计算机指令以及处理计算机软件中的数据。能处理8位二进制数据或代码，CPU负责控制、指挥和调度整个单元系统协调的工作，完成运算和控制输入输出功能等操作。(2) 程序存储器AT89S52共有8KB个E2PROM，用于存放用户程序，原始数据或表格。(3) 数据存储器（RAM）AT89S52内部有128个8位用户数据存储单元和128个专用寄存器单元，它们是统一编址的，专用寄存器只能用于存放控制指令数据，用户只能访问，而不能用于存放用户数据，所以，用户能使用的RAM只有128个，可存放读写的数据，运算的中间结果或用户定义的字型表。图3.1内部结构框图(4) 并行输入输出口AT89C52总共有4组8位的I/O口(P0、 P1、P2和P3)，可用于对外部数据的输入和输出。(5) 串行输入输出口AT89C52内置一个全双工串行通信口，用于与其它设备间的串行数据传送，该串行口不仅可以用作异步通信收发器，也可以当同步移位器来使用。(6) 定时/计数器AT89C52总共有三个16位的可编程定时/计数器，用来实现定时或计数功能，并用其定时或计数的结果对单片机进行控制。(7) 中断系统AT89S52具备有比较完善的中断功能，总共有两个级的优先级别外部中断、三个定时/计数器中断，还有一个串行中断，可以满足不同的控制要求，并具有两选择。3.1.1引脚功能图3.2 AT89C52芯片引脚图(1) 电源和晶振VCC：供电电压（一般为5V）。GND：接电源地。XTAL1：反向振荡放大器的输入及内部时钟工作电路的输入。XTAL2：来自反向振荡器的输出。(2) I/O口 P0口P0口的字节地址为80H，位地址为80H87H。P0口不仅可以作为通用I/O口使用，也可以作为单片机系统的地址/数据线使用。当作为输出口使用时，由于输出电路是开漏极输出，所以必须外接上拉电阻才能有高电平输出。 P1口P1口的字节地址为90H，位地址为90H97H。P1口只能作为通用I/O口使用。当作为输出口使用时，已能对外提供推拉电流负载，外电路无需再接上拉电阻；当作为输入口使用时，应先向其锁存器写入“1”，使输出驱动电路的FET截止。 P2口P2口的字节地址为0A0H，位地址为0A0H0A7H。P2口用于为系统提供高位地址，但只作为地址线使用而不作为数据线使用。此外，P2口也可作为通用I/O口使用。 P3口P3口的字节地址为0B0H，位地址为0B0H0B7H。P3口可以作为通用I/O口使用，但在实际应用中它的第二功能信号更为重要。P3口引脚的第二功能，如下所示： P3.0 RXD（串行输入口）P3.1 TXD（串行输出口）P3.2 /INT0（外部中断0）P3.3 /INT1（外部中断1）P3.4 T0（计时器0外部输入）P3.5 T1（计时器1外部输入）P3.6 /WR（外部数据存储器写选通）P3.7 /RD（外部数据存储器读选通）(3) 4根控制线 RST：复位信号。保持RST脚两个机器周期以上的高电平，就可以完成CPU系统复位操作，使系统的一些单元内容回到规定值。 /PSEN：外部程序存储器读选通信号。在读外部ROM时，/PSEN有效（低电平），以实现外部ROM单元的读操作。 /EA/VPP：访问程序存储器控制信号。当/EA信号为低电平时，对ROM的读操作限定在外部程序存储器；而当/EA为高电平时，则对ROM的读操作是从内部程序存储器开始，并可延续至外部程序存储器。 ALE/PROG：地址锁存控制信号。在系统扩展时，ALE用于控制P0口输出的低8位地址送入锁存器锁存起来，以实现低位地址和数据的分时传送。此外由于ALE是以六分之一晶振频率的固定频率输出的正脉冲，因此也可作为外部时钟或外部定时脉冲使用。3.1.2 串口通信通信主要有两种方式：并行通信和串行通信。并行通信是在传送数据过程中每个字节的各位同时进行传送的通信方式，而串行通信是指每个字节的各位分别进行传送的通信方式。3.1.3 串口通信方式 AT89S52串行口可设置四种工作方式，可有8位、10位和11位帧格式。本系统中，AT89S52采用串行口工作于方式1，即每帧10位的异步通信格式：1位起始位，8位数据位（低位在前），1位停止位。当SM0=0，SM1=1时，串行口选择方式1。其帧格式为： 图3.3 帧格式图 3.1.4 串行通信控制寄存器 (1) 串行控制寄存器(SCON)SCON的地址为98H，用于选择串行口的工作方式和指示串行口的工作状态。各位含义如下： SM0、SM1：串行口工作方式选择位。 SM2：多机通信选择位。 REN：串行口允许接收位。1时允许接收，0时禁止接收。 TI： 串行口发送中断标志位。在方式1中，于发送停止位之前，由硬件置位。因此TI=1，表示帧发送结束。 RI： 串行口接收中断标志位。在方式1中，当接收到停止位时，该位由硬件置位。RI=1，表示帧接收结束。(2) 串行数据缓冲器(SBUF)串行数据缓冲器SBUF的地址为99 H，用来存放需发送和接收的数据，它由两个独立的寄存器组成，一个是发送缓冲器，另一个是接收缓冲器，它们占用同一地址（99H）。当执行写SBUF指令时，数据写入到串行口发送缓冲器中，读SBUF就是读串行口接收缓冲器。(3) 电源控制寄存器(PCON)PCON的地址为87H，该寄存器的最高位（SMOD）是串行口波特率的倍增位，当SMOD=1时，串行口波特率加倍。系统复位时，SMOD=0。(4) 中断允许寄存器（IE）在IE中，ES位为串行中断允许控制位。ES=0时禁止串行中断，ES=1时允许串行中断。3.1.5 数据发送与接收(1) 数据发送在不发送数据时，TXD端保持高电平。当执行写SBUF的指令时，便启动一次发送过程；发送数据时，先发送一个起始位，该位通知接收端开始接收，也使发送和接收过程同步。接下来发送8位数据，先发送低位，最后发送的是高电平的停止位。(2) 数据接收 REN=1，CPU允许串行口接收数据，接收数据开始于检测到RXD（P3.0）端发生一个“1”到“0”的跳变。先接收起始位，然后依次将采样RXD端并将数据移入移位寄存器中。若满足条件RI=0且SM2=0或接收到停止位，则将前8位数据送入SBUF并置位RI；如果上述条件不满足，则数据丢失。(3) 波特率的设定 串口方式1的波特率是可变的，由定时器T1的溢出率决定： （3-1） 则波特率计算公式为：(3-2)由波特率算出计数初值，以便进行定时器的初始化。初值X确定如下： (3-3)3.2 单片机最小系统 单片机最小系统该系统以89S52单片机为主控芯片， 兼容AVR系列单片机，例如：ATMEGA16与ATMEGA8。复位电路采用拨码开关可以在两种系列单片机之间进行切换。由于AVR系列单片机管脚与51系列不同，系统采用一转换板实现转换，方便用户使用。系统引出四组I/O口方便用户进行功能扩展。 3.3 运动系统本设计采用的运行装置使用维安康乾低减速电机有限公司生产的YCJ-90卧式低减速电机。该减速电机的主要参数如下表低速电机的绝缘等级为B级，绕组及绝缘具有良好的电器、机械、防潮性能及热稳定性。YCJ-90位单相异步电机。单相异步电机是指用单相交流电源（AC220V）供电的小功率单相异步电机，它的功率设计的都是比较小，一般均不会大于2kW。由于电动机的输出功率不大，一般单相异步电动机的转子都采用鼠笼型转子，它的定子都有一套工作绕组，称为主绕级，它在电动机的气隙中，只能产生正，负交变的脉振磁场，不能产生旋转磁场，因此，也就不能产生起动转矩。为了使电动机气隙中能产生旋转磁场，还需要有套辅助绕组，称为副绕组，由于副绕组产生的磁场与主绕组的磁场在电动机气隙中合成交产生旋转磁场，此时电动机交产生起动转矩，因此，电动机的转子才能够自行转动起来。根据电动机启动方式的不同可分为电阻启动式和电容启动式。电阻启动式：它的定子嵌有主相绕组和副相绕组，这两个绕组和轴线在空间成90度电角度。副相绕组一般是串入一个外加电阻经过离心开头，与主相绕组并连，并一起接入电源。当电动机起动到转速达到同步转速的75%80%时，离心器打开，离心开关片触点断电。电容启动式：它与单相电阻起动电动机基本上是相同的，在定子上也有主相，副相成90度电角度的两套绕组。副绕组与外接电容器接入离心开关，与主绕组并连，并一起接入电源，同样在达到同步转速的的75%80%时，副相绕组被切去，成为一台单相电动机。这种电动机的功率为120W750W。本设计采用电容启动式，电路图如下：如图所示，用一个继电器（U6）控制启动电容（C7）是否接入电路。在图的右边使用一个NPN三极管（Q2）驱动继电器工作。 当三极管的基极输入高电平时，继电器工作，将启动电容接入到电路中，此时如果按下常开开关， 电动将会启动运转， 当电动机成功启动之后， 其内部离心开关会将甩开，此时将会断开启动电容，接上运行电容，此时电动机稳定运转。若要关闭电动机，则只需按下常闭开关即可断电，3.4 测速系统测速采用光电码盘测速。 使用一个对射光电管加一个码盘，进行电机转速的测量。光电码盘如下光电码盘上有一些空挡，当红外对射管穿过空挡时则计数， 电机转一圈可计25个数。 根据时间和数量可以计算出电机的转速。电路图如下图中4N25为光电对射管， 每次计数之后经过一个比较器， 产生高电平或低电平， 送给单片机检测计数。 3.5 压力检测压力检测使用HX711 芯片设计的承重传感器。电路图如下所示。图中左边的两个压力电阻和R8R9组成一个电桥。通过HX711之后将数据送给单片机检测压力压力电阻如下图所示HX711采用了海芯科技集成电路专利技术，是一款专为高精度电子秤而设计的24位A/D转换器芯片。与同类型其它芯片相比，该芯片集成了包括稳压电源、片内时钟振荡器等其它同类型芯片所需要的外围电路，具有集成度高、响应速度快、抗干扰性强等优点。降低了电子秤的整机成本，提高了整机的性能和可靠性。3.6 数码管显示数码管也称LED数码管，不同行业人士对数码管的称呼不一样，其实都是同样的产品。数码管按段数可分为七段数码管和八段数码管，八段数码管比七段数码管多一个发光二极管单元，也就是多一个小数点（DP）这个小数点可以更精确的表示数码管想要显示的内容；按能显示多少个（8）可分为1位、2位、3位、4位、5位、6位、7位等数码管。按发光二极管单元连接方式可分为共阳极数码管和共阴极数码管。共阳数码管是指将所有发光二极管的阳极接到一起形成公共阳极(COM)的数码管，共阳数码管在应用时应将公共极COM接到+5V，当某一字段发光二极管的阴极为低电平时，相应字段就点亮，当某一字段的阴极为高电平时，相应字段就不亮。共阴数码管是指将所有发光二极管的阴极接到一起形成公共阴极(COM)的数码管，共阴数码管在应用时应将公共极COM接到地线GND上，当某一字段发光二极管的阳极为高电平时，相应字段就点亮，当某一字段的阳极为低电平时，相应字段就不亮。数码管显示采用数字芯片74HC573 驱动数码管。4 系统开发软件环境4.1 开发软件的使用说明该系统使用的编程软件可以用keil sion4进行AT89C52单片机的源程序编写（汇编语言和C语言），并产生 .hex程序代码，利用STC-ISP软件将程序代码应用下载线下载到目标单片机AT89C52的Flash中，相应的配套软件网上找到。可使单片机学习者方便快捷地掌握单片机开发软件。 4.2 keil sion4的使用 新建工程工程新建工程保存工程选择Atmel公司的AT89C52 新建文件-保存文件-将文件添加到工程编译方法 编写完源程序之后-单击此处的Rebuild即可完成编译并生成.Hex文件晶振下载软件STC-ISP下载器的使用 STCISP下载器设置 如图示，单片机型号选择STC89C52，之后其他的默认设置即可。 打开程序文件并选择之前编译好的.Hex文件。单机下载， 并将最小系统板上电复位即可成功烧录程序致谢语本次毕业设计能够顺利地完成，首先我非常感谢我的指导老师。无论是在课题立项还是在课题的研究阶段，他都给了我很大的帮助。在我进行课题内容的研究中，他不仅从技术上给予了我极大的帮助和支持，在论文的最后评阅过程中，也给我提出了非常宝贵的意见，使我获益颇深。他那严谨的作风、渊博的知识、缜密的思维、宽广的胸襟，深深震撼着我。他所教于我的做事的信念，做人的道理，当是今后人生中的一大财富。最后，我要还要感谢在此次毕业设计过程中给予我很大帮助的各位同学，我衷心的祝福你们！同时，我要感谢我的母校给了我这样一个锻炼、学习的机会，使我加深了对以前知识的理解，拓宽了知识面，也提高了我对所学知识的综合的应用能力。在此，祝愿我院日后蓬勃发展，成为一所独具特色的综合性大学。祝愿母校的将来更美好! 参考文献1李万红.嵌入式C编程与Atmel AVRM .清华大学出版社，2003,15(1):1650. 2李广弟,朱月秀,王秀山. 单片机基础M.北京航空航天大学出版社，2002,21(2):2148.3李大有.单片机应用与设计M.电子工业大学出版社，1998,10(2):1032.4徐惠民.单片微型计算机原理接口应用M.北京邮电大学出版社，1999,9(1):1430.5何希才,刘洪梅.新型通用集成电路实用技术M.北京:国防工业出版社， 1997,12(3):2045.6刘常澍.数字逻辑电路M.北京:国防工业出版社，2002,13(1):1831.7赵负图.现代传感器集成电路M.人民邮电出版社，2000,19(2):2245.8李隆宝. 实用电子器件和电路简明手册M. 北京:电子工业出版社，1991,15(2):1645. 9李光飞.单片机课程设计实例指导M.北京：北京航空航天大学出版社,2005,12(1):2448.10 金春林.AVR系列单片机C语言编程与应用实例M.北京：清华大学出版社，2003 ,32(3):6080.11沈文，Eagle lee. AVR单片机C语言开发入门指导M.北京：清华大学出版社, 2003,22(1):3041.12程佩清.数字信号处理M. 北京:清华大学出版社，2000,21(2):2640.13康华光.电子技术基础模拟部分M.高等教育出版社. 1998,8(1):1526.14门刚.精通Protel DXP-模块范例篇M.中国青年出版社.2003，7（1）:1080.15张延伟. Protel DXP电子电路设计技法范例.北京：清华大学出版社，2005(2):1645.16吴金戌.沈庆阳.郭庭吉. 8051单片机实践与应用.北京：清华大学出版社2002(1):1831.17肖丽君.增强单片机系统可靠性的若干措施，电脑开发与应用，2000，(1):1526.18谷树忠.阎胜利.Protel DXP实用教程原理图与PCB板设计.北京：电子工业出版社，2003(1):3041. 附录一 系统原理图附录三 实验程序#include#includei2c.h#define GPIO_DIG P0 /#define GPIO_PLACE P2/#define WRITEADDR 0x90 /#define READADDR 0x91 /unsigned char code DIG_PLACE8 = 0xfe,0xfd,0xfb,0xf7,0xef,0xdf,0xbf,0x7f; /unsigned char code DIG_CODE10 = 0x3f,0x06,0x5b,0x4f,0x66,0x6d,0x7d,0x07,0x7f,0x6f;/0123456789unsigned int SPEED,TIME0_count,SPEED_cou
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