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ICT培训教材,1,目录,一.ICT的基本认识二ICT的测试原理三ICT测试程序的制作四ICT误测分析五ICT的转机流程六.ICT程序调试时注意事项七ICT常见故障检修八.文件放置指引九.覆盖率的定义,2,一.ICT的基本认识,3,1.ICT即在线测试仪（InCircuitTester）,是一大堆高级电表的组合。但它能对在线电路板上的元件测试进行有效的隔离(Guarding),而万用表则不能.所以,万用表能测的它也能测,万用表不能测的,它可能能测.2.ICT能测:Open/Short;R;C;L;D;Q;IC等.3.ICT与ATE的区别:ICT只作静态测试,而ATE则作动态测试.即ICT对被测板不通电,而ATE要对被测板通电才能测试,4,二ICT的测试原理,5,当Rx有旁路（R1)时，Ix=Is-I1Is故：Vx/IsRx此时取A点电位Va,送至C点,令Vc=Va,则：I1=(Va-Vc)/R1=0,Is=Ix从而：Vx/Is=Rx如图:,1.Guarding(隔离)的实现：,6,2.量测电阻R：(1).单个R(modeD1,D2):直流定电流源:利用Vx=IsRx（欧姆定律），则Rx=Vx/Is.信号源Is取恒流（0.1uA5mA）,量回Vx即可算出Rx值.如下图一.,图一,图二,(2).R/C(modeV5,CV):直流定电压源:信号源Vs取恒压（0.2V），量回Ix，则Rx=Vs/Ix=0.2V/Ix，算出Rx值.如上图二.,7,(3).R/L(modeP1,P2,P3,P4,P5):相位法测试:信号源取交流电压源Vs，籍相位法辅助.|Y|Cos=YRx=1/Rx,并|Y|=Ix/Vs故：Rx=1/|Y|Cos如下图:,8,3.量测电容C反向电压2.2V.,11,这里主要讲下三极管的三端量测法,12,晶体管做三端点量测时,假设晶体管为NPNtype,实际值(ACTval)设定值为DA1所送电压，标准值(STDval)设定值即为晶体管的VCES电压值。改变实际值(ACTval)(从0.5V往上增加)，直到晶体管饱和导通(测试值应低于0.2V)。如果晶体管为PNPtype，改变实际值(ACTval)栏的电压(从4.5V往下减少)，直到晶体管饱和导通（测试值应低0.2V）。,13,5.量测Open/Short：即以阻抗判定：先对待测板上所有Pin点进行学习,R80判为Open.,14,6.低压测试方法(LV)低压功能测试是允许你供应某一定电压到零件两端，同时测量零件两端的电压，如测电容反向、Zener二极管、或IC都可使用此法。,假设我们要测一个6V的稳压二极管,我们可以在实际值中填入9V,标准值中填入6,当实际植的单位是V,而标准值不是0时,系统会送出一个9V电压至稳压二极管两端,然后量测稳压二极管的电压是否为5.6V,从而判定好坏.LV模式最大送出电压为10V,15,7.高压测试方法(HV)高压测试的原理与设定方法与低压相似,只是在模式里选(HV),高压最大送出电压为50V,16,跳线测试(JumperTest)跳线测试(JumperTest)采用一个比较器硬件线路，因此，测试的结果只有、四个值，单位以JP表示，其代表的意义如下：JP：10欧姆(ohm)JP：10欧姆(ohm)，20欧姆(ohm)JP：20欧姆(ohm)，80欧姆(ohm)JP：80欧姆(ohm),17,三ICT测试程序的制作,18,（一）准备好2PCS空PCB板，1PCS实板，1份BOM及原理图（邦线图），提供给供应商分析（二）供应商根据我们的要求制作测试机架及原始程序（三）根据BOM，电路图，针点图进行相对应的测试程序的调试,19,1单板的调试按“Ctrl+E”进入元件编辑界面先熟悉一下界面,20,对照坏机故障，加深印象,21,22,A元件（Component）的调试(R,C,L,D,Q)电阻（R）Debug:(1).根据R的大小,系统自动调整测试电流大小.F9:单步测试Alt+F9:整页测试F5:对调AB点F10自动Guarding.Alt+H:查看串连元件.Alt+J:查看并联元件.(2).R/C:Model(CV102JP20;203JP80.8电感测试不稳定时,也可作跳线测试,其方法与级电阻设定相同,也可用频率(A2/A3/A4/A5)进行调试.如遇电感并联电容.电阻则用(P1/P2/P3/P4/P5)模式进行调试,40,七ICT常见故障检修,41,1系统板，自检板，DC板，AC板，开关板的侦测A打开JET下的Jet300a.dat文件进行系统测试,如果是电阻，二极管，三极管坏或不稳，多为DC板故障如果是电容坏或不稳，多为AC板故障两者都有，则有可能是系统板或自检板的故障B打开下图中的自我测试,42,将会出现,其中MEASTEST就是系统板，自检板，DC板，AC板的检测RELAYTEST是多块开关板的检测，填入开关板的数量，就会显示测试结果当然，机台，卡槽也有可能影响测试,43,2常用快捷捷键进入元件编辑界面CTRL+E进入短路编辑界面CTRL+P进入不测点编辑界面CTRL+S进入IC编辑界面CTRL+I进入开/短路路学习CTRL+L在元件编辑中常用的快捷键寻找针点ALT+P显示并联元件ALT+J显示串联元件ALT+H学习电容补偿值ALT+Y单项测试F9整页测试ALT+F9寻找隔离点F10取消隔离点F4,44,AB点对调F5选区ALT+L取消选区ALT+U移动选区ALT+M自动校正ALT+D排序ALT+S区域编辑CTRL+F取消不测F2在IC编辑里的快捷键地，电源转换F4在元件编辑，IC编辑，短路编辑里都适用的快捷键新增一行ALT+F8删除一行ALT+F7保存设置F3,45,状态设置里的功能讲解,46,八.文件放置指引,47,系统分为四个分区：C盘为系统软件D盘为测试软件E盘为软件备份F盘为系统备份,48,测