(微电子学与固体电子学专业论文)化学液相淀积法制备氧化铝薄膜.pdf_第1页
(微电子学与固体电子学专业论文)化学液相淀积法制备氧化铝薄膜.pdf_第2页
(微电子学与固体电子学专业论文)化学液相淀积法制备氧化铝薄膜.pdf_第3页
(微电子学与固体电子学专业论文)化学液相淀积法制备氧化铝薄膜.pdf_第4页
(微电子学与固体电子学专业论文)化学液相淀积法制备氧化铝薄膜.pdf_第5页
已阅读5页,还剩21页未读 继续免费阅读

下载本文档

版权说明:本文档由用户提供并上传,收益归属内容提供方,若内容存在侵权,请进行举报或认领

文档简介

化学液相淀积法制备氧化铝薄膜 摘要 无机氧化物薄膜在现代微电子学、固体电子学和光学工程中有 广泛的应用。氧化物薄膜的制备已经成为凝聚态物理学的一个研究 热点。传统制各氧化物薄膜的方法包括热氧化、化学汽相淀积、金 属有机物化学汽相淀积、溶胶凝胶法等等。但是,这些方法大多要 求非常复杂的实验设备,而且不容易操作。一种新的制备氧化物薄 膜的方法一化学液相淀积( c l d ) 于1 9 8 8 年被n a g a y a m a 等人首 次提出。它可以在更为简单的实验条件下制备氧化物薄膜,因此引 起了人们的极大兴趣。但是,在全球范围内,化学液相淀积氧化铝 薄膜尚未被研究过。在本文中,我们将报导制备氧化铝薄膜的c l d 新方法。首先,我们先仔细研究了化学液相淀积氧化硅薄膜的过程 ( 主要是参考h o u n g 等人的工作) 。然后,通过一套包括浸在水浴 装置中的聚四氟乙烯生长室的实验装置系统,我们完成了化学液相 淀积氧化铝薄膜的实验过程。制备生长液所用的化学试剂包括 a 1 ,( s 0 4 ) ,- 1 8 h 2 0 、n a h c o 。和去离子水。这是一个无机盐水解和高温 退火的过程。薄膜的质量用a f m 、a e s 、e d s 、x r d 、f t i r 等实验 手段进行表征,结果显示制得的三氧化二铝薄膜表面均匀而平整, 化学组份纯正( 不含氢元素) ,而且属于高硬度的晶态超薄膜。 关键词:三氧化二铝薄膜,化学液相淀积( c l d ) ,水解过程。 化学液相淀积法制各氧化铝薄膜 a b s t r a c t i n o r g a n i co x i d ef i l m sa r ew i d e l yu s e di nm o d e r nm i c r o e l e c t r o n i c s , s o l i d s t a t ee l e c t r o n i c s o p t i c a le n g i n e e r i n g t h ef a b r i c a t i o no fm i no x i d e f i l m sh a sb e c o m eah o ts p o to fr e s e a r c hi np h y s i c so fc o n d e n s e dm a t t e r t r a d i t i o n a lm e t h o d so fm a n u f a c t u r i n go x i d ef i l m si n c l u d et h e r m a l o x i d a t i o n ,c h e m i c a lv a p o rp h a s ed e p o s i t i o n ,m e t a l - o r g a n i cc h e m i c a l v a p o rp h a s ed e p o s i t i o n ,s o l - g e lm e t h o da n ds oo n h o w e v e r ,m o s to ft h i s 一 一 p r o c e s sr e q u i r ev e r yc o m p l e xe q u i p m e n ta n da r en o te a s yt om a n e u v e r a n e ww a yo fo x i d ec o a t i n g - - c h e m i c a ll i q u i dp h a s ed e p o s i t i o n ( c l d ) w a s f i r s tp i o n e e r e db yn a g a y a m ae ta 1 i n19 8 8 i tc a l lm a k et h i no x i d ef i l m s u n d e rm u c hs i m p l e re x p e r i m e n t mc o n d i f i o n sa n dt h e r e f o r eh a sa t t r a c t e da l o to fi n t e r e s t h o w e v e r ,c l d a 1 ,0 f i l m sh a v en o tb e e ns t u d i e da l lo v e r t h ew o r l d i nt h i sp a p e r ,ad e wm e t h o do fm a n u f a c t u r i n ga 1 ,o tf i l m sb v c l di sr e p o t t e d t h ep r o c e s so fc l d 。s i o ,f i l m si sf i r s ts t u d i e di nd e t a i l f o l l o w i n g 王o u n ge ta 1 sw o r k a f t e rt h a t ,c l do f 舢,o :i sc a r r i e do u t t h r o u 吐as y s t e me q u i p p e dw i t hat e f l o nv e s s e li m m e r s e di naw a t e rb a t h t h ec h e m i c a l su s e dt om a k eg r o w t hs o l u t i o ni n c l u d ea 1 ,( s o d ) l8 h ,o 。 n a h c o ,a n dd e i o n i z e dh o t h a ti sah y d r o l y s i sp r o c e d u r eo fi n o r g a n i c s a l t sf 0 1 l o w e db yh i g h t e m p e r a t u r ea n n e a l i n gp r o c e s s t h eq u a l i t yo ft h e f i l m s li se x a m i n e db ya f m ,a e s ,e d s ,x r d ,f t i r , e t c t 1 1 e e x p e r i m e n t a lr e s u l t ss t r o n g l ys u g g e s tt h a ta s d e p o s i t e da 1 ,0 ,f l l m sa r e f a i r l yu n i f o r i na n df i a t , c h e m i c a l l yp u r e ( n oh y d r o g e ne l e m e n te x i s t i n g ) a n db e l o n gt oh i g h - h a r d n e s s v a l u ec r y s t a l l i n es u p e r - t h i nf i l m s k e yw o r d s :a 1 2 0 3f i l m s ,c h e m i c a ll i q u i dp h a s ed e p o s i t i o n ( c l d ) , h y d r o l y s i sp r o c e d u r e 化学液相淀积法制备氧化铝薄膜 第一章引言 氧化物薄膜材料的制备一直是凝聚态物理学和材料科学的重要内容, 它在诸如微电子学与固体电子学、光学工程等技术学科中也占有重要地 位。例如在现代甚大规模集成电路( u l s i ) 工艺中,金属氧化物一半导体 ( m o s ) 器件占有核心地位,这主要是由于( m o s ) 器件的尺度可以较容 易地横向按比例缩小,而这将大大提高器件的性能和集成度 1 。m o s 器 件中的“0 ”是英文“o x i d e ”的缩写,指的就是氧化物薄膜。氧化物薄膜 可以被用来制作许多新型半导体器件,在电子学中有广泛应用。图一即一 种利用氧化硅薄膜制备的新型薄膜晶体管( t f t ) 的示意图 2 。在光学工 程中,用掺铒离子( e r 3 + ) 材料制各的光波导是目前国内外研究的热点之 一,氧化物( 如氧化铝) 薄膜在其中起关键作用。一种新型利用掺e r 3 + 的 a 1 ,o ,薄膜制成的光波导示意于图二 3 。氧化物薄膜也可被用作半导体光 电子材料或器件的钝化膜,使之寿命增长 4 ,或利用其亲水性进行材料表 面改性等 5 。 图一利用c l d s i 0 2 绝缘栅薄 膜制备的a s i :ht f t 的截面图 传统制备氧化物薄膜的方法很多,例如热氧化 6 】、化学汽相淀积 7 】、 等离子体增强化学汽相淀积 8 、光化学汽相淀积 9 、金属有机物化学汽相 淀积 1 0 、溶胶凝胶法 1 1 、磁控溅射 1 2 】等。这些方法的工艺大多较成 熟,但一般说来有投资大、设备复杂、工艺较难控制等弱点。1 9 8 8 年日本 的h i r o t s u g un a g a y a m a 等人首次发表了化学液相淀积氧化硅薄膜的工艺 1 3 ,制各的薄膜质地均匀而粘附性好,投资非常小。这种方法的重复性 化学液褶淀积法制备氧化铝薄膜 好,而且易于控制,可以进行选择生长,尤篡适合生长超薄膜,因此引起 了半导体物理学爨戆广泛关注,成为个薪的热点,美国、欧洲、日本零珏 中国台湾都有一些研究小组在做类似的实验,不过四前中图大陆搞这种研 究的人员还非常少。 二氧诧硅 r 三氧化二二铝 = 氧纯硅 硅 圈= 郓粥掺铒的氧纯铝薄聩 制备的光波导示意图及其系统 辩结构框銎 纯学滚楣淀积熬英文为c h e m i c a ll i q u i dp h a s ed e p o s i t i o n ,篱写为 c l d ,通常简称l i q u i dp h a s ed e p o s i t i o n ( l p d ) ,也有叫化学浴淀积的 ( c h e m i c a lb a t hd e p o s i t i o n ) 。题翦c l d 法除被用来到各氧化硅薄膜外, 还被摊广应用到许多其它金属氧化物薄膜的制备中,包攒氧化钛、氧化 锡、氧化锆、氧化钒、氧化铁、氧化镍、氧化锌以及氧化镉等 1 4 - 2 1 1 。这 些薄膜的制各方法中所涉及的化学反应各不稻同,缀大都使用氟络合的酸 或盐水解的方法 2 2 1 。至于氧化锅薄膜的c l d 法制备,则至今尚未见相关 报遵。基于以上酶精影,我翻先研究了已经裰对成熟懿c l d 氧化硅工艺, 随后进行了化学液棚淀积氧化铝薄膜的探索,采用的是无毒的不含氟的原 料。下一章将麓介耀d 法制备氧他硅薄膜瓣工艺,第三辈则详缨讨论我 们化学液相淀积氧化铝薄膜的情况。 化学液相淀积法制备氧化铝薄膜 第二章氧化硅薄膜的生长及表征 在半导体器件制餐工艺中,二氧化硅薄膜是最重要的介质膜,应用极 为广泛。1 9 8 8 年h n a g a y a m a 1 3 等人撰写了题为“a 雅俐p r o c e s s 如rs i l i c a c o a t i n g ”的论文,发表在“j o u r n a lo f 历ge l e c t r o c h e m i c a ls o c i e t y ”上,提 出了化学液相淀积二氧化硅的新工艺,它的引用攀高达数十次。随后从事 该骈究的入很多,包括中国台湾镌m h o u n g 2 3 等久。我们在研究了m h o u n g 等人的工作后进行了类似实验,取得了相似的成果。 2 1 化学液相淀积氧化醚薄膜的工艺 化学液相淀襁氧化硅薄膜的实验系统眈较简单,包括一台恒溢磁力加热 搅拌器,一台超声波清洗仪,一台数显p h 计,一个有盖的聚四氟乙烯烧杯 f 1 5 0 m i ) ,套水浴系统和聚滔氟乙浠生长架,针头式聚豳氟乙烯过滤器 ( 孔径0 2 2g tm ) 以及常规烧杯、量筒、研钵等。所用的化学试剂包括分 析魏豹六氟络硅黢( 篱髂氯硅骏) 、硅酸、硼酸、以及瑟缝去枣子承( 电 阻率 1 8 m q c m ) 。实验系统示意图见图三,其中聚四氟乙烯烧杯及生长 图三化学液相淀积法的实 验设餐示意圈 化学液相淀积法制备氧化铝薄膜 架为自制。 游离的氟硅酸( h 2 s i f 。) 不稳定,易分解为h f 和s i f 4 ,因此至今尚 未制得纯净的氟硅酸;但其水溶液很稳定,是一种强酸,酸性与硫酸相 仿。实验中用的是3 0 一3 2 的氟硅酸水溶液,比重l - 3 ,摩尔浓度为 2 8 m 。硅酸是一种比碳酸还弱的酸,组成比较复杂,常以通式 x s i o ,y h 2 0 表示,习惯上又用偏硅酸的化学式h 2 s i o ,表示,实验中用的 是硅酸颗粒。硼酸是原硼酸h b 0 。的简称,由硼砂制得,微溶于冷水,易 溶于热水,实验中用的为粉末状固体。所用的衬底材料为( 1 0 0 ) 向掺硅 g a a s 片,厚度约4 0 0 u m 。 化学液相淀积氧化硅薄膜的工艺过程如下: 1 用研钵将硅酸颗粒研磨成细粉,在室温下溶解至1 7 2 m l 氟硅酸 中,直至饱和。在塑料烧杯中,用磁力搅拌器搅拌可加速其溶解 过程。硅酸溶解是否达到饱和可通过滴加过氧化氢指示剂判断, 溶液呈现桔黄色则表明已达饱和。将未溶硅酸滤出,得到无色透 明的饱和硅酸氟硅酸溶液,体积变化不大,仍为约1 7 2 m l 。这种 溶液可长期保存而不变质,故可一次性大量配制备用。 2 加入8 2 8 m l 去离子水至1 7 2 m l 上述溶液中,常温下在聚四氟乙烯 烧杯中搅拌1 0 分钟。 3 将0 0 3 7 5 9 硼酸溶于2 0 m l 去离子水中,总体积仍为约2 0 m l 。 4 将2 0 m l 硼酸溶液加入1 0 0 m l 硅酸氟硅酸溶液中,用针头式聚四氟 乙烯过滤器( 孔径0 2 2 u m ) 过滤一遍,生长液就配制好了。将处 理好的砷化镓衬底平放于生长架上,于4 0o c 水浴情况下搅拌生长 液,生长3 小时后取出基片用去离子水洗净,即得带有氧化硅覆 层的砷化镓片。 5 依据上述办法配制的生长液为酸性无色透明溶液,体积1 2 0 m l , h 2 s i f 。 _ 0 4 m , h 3 b o 。卜o 0 0 5 m 。由于其中的化学反应为动态过 程,故每次必须使用新鲜的生长液,生长条件为t = 3 h ,t = 4 0o c 。 生长后溶液变混浊为正常现象,不可再重复使用。 6 衬底处理办法:将砷化镓片依次用丙酮、乙醇超声波清洗5 分 钟,用去离子水清洗后再用5 1 1 溶液( 6 0o c ,h 2 s o 。:h 2 0 2 :h ,o = 5 :1 :1 ) 清洗一分钟,最后再以去离子水洗净即可使用。 2 2 理论讨论与实验表征 化学液相淀积氧化硅薄膜的原理现在还没有完全研究清楚j 尽管有人 做了h 2 s i f 6 生长液系统的拉曼光谱研究 2 4 。下面给出本文作者的理论解 释。 化学液相淀积法制各氧化铝薄膜 h 2 s i v 6 是一种络合物,应写为h 2 s i f 6 】,但可以粗浅地认为它是 s i f 。2 h f ( 在下面的讨论中,这不影响问题的实质) 。常温下s i f 。是无 色有刺激性气味的气体,它在水中能强烈水解,因而在潮湿的空气中发 烟,其在气相中的主要产物为f ,s i o s i f ,。无水的s i f 。很稳定,干燥时不腐 蚀玻璃。在液相中,四氟化硅的水解反应如下: s i f 。+ 2 1 - 1 2 0 = 4 h f + s i 0 2 。 ( 1 ) 在本实验中,反应应为: h 2 s i f 6 + 2 h 2 0 = 6 h f + s i 0 2 。 ( 2 ) 本文认为,化学液相淀积氧化硅薄膜的主要机制即四氟化硅水解,之所以 使用8 2 s i f 。溶液是因为它很稳定且易于控制,实际上起到了对s i f 。的固定 作用。 我们可以粗浅地将h 2 s i f 6 水溶液视作摩尔比为1 :2 的s i f 。、i - i f 和水 的混合物。由于氟离子的络合作用使得s i f 。水解程度很小,因此此系统中 游离的h f 含量很小( 市售分析纯h 2 s i f 。水溶液中i - i f 、 0 ) 。 化学液相淀积法制备氧化铝薄膜 二氧化硅在砷化镓基体上的淀积机理也比较复杂,至今尚无定论。通 常认为,淀积的氧化硅是由水解产生的四羟基硅单元s i ( o h ) 。在基片表 面脱水聚合而成 2 6 】。有人提出了几种可能的中间产物,如s i f m ( o h ) 。 或( s i f 。s i f 。) 2 。 1 3 ,2 7 ,还有人进行了带有机官能团的氧化硅薄膜淀 积实验 2 8 1 。最近又有人提出了一种解释氧化硅在砷化镓上淀积过程的定 性理论 2 9 1 ,并指出经过氨水刻蚀的砷化镓片具有更好的吸附氧化硅的性 能。但我们经过实验对比,发现这种增强作用并不明显,因此省略了这一 实验步骤。 目前国际上还有利用六氟络硅酸的铵盐 ( n h 4 ) ,s i f t 进行化学液相 淀积氧化硅薄膜实验的 3 0 ,其实质依然是利用s i f 6 2 - 离子中的s i f 。水解反 应产生二氧化硅。为探索使用无氟原料的工艺,本文还进行了用九水合 硅酸钠及硫酸制备氧化硅的实验,具体过程如下: 1 将5 9 市售分析纯n a ,s i o ,9 h 2 0 充分溶解于2 0 m l 高纯去离子水 中,过滤后得碱性粘稠溶液。 2 将市售分析纯浓h :s 0 4 按体积比h :s o 。:h 2 0 = 1 z 稀释。 3 在不断搅拌n a 2 s i o ,溶液的情形下缓慢加入硫酸溶液,两种溶液的 体积比取为8 9 :1 i 制得极弱酸性的生长液,呈无色透明状。 4 将处理好的砷化镓片( 处理方法同前) 放入生长液中室温下恒温 生长数小时即得s i o j g a a s 薄膜。 这种方法实际上是利用强酸制弱酸的原理生成s i o ,。由于开始生成的 单分子硅酸可溶于水,所以并不立即沉淀,当它逐渐脱水聚合时即在基片 表面形成致密、粘附性好的薄膜。实验表明,新配制的h 2 s 0 。- n a 2 s i o , h ,o 系统在中性及微弱碱性时易得到硅酸凝胶,较强碱性时生成胶状沉 淀,微弱酸性时易生成溶胶( 不稳定,有动态聚合过程) ,较强酸性时以 溶液或溶胶状态在较长时间内稳定存在。 用硅酸盐水解和用含s i r 6 2 - 离子物质水解制得的氧化硅薄膜在外观上 没有什么区别,但根据室温生长水晶的理论,前者很有可能含氢元素,需 高温退火后才能变成真正的氧化硅薄膜,而后者则由于含氟元素而将不含 氢元素。更进一步的讨论超出了本文的范围,读者可参考有关硅铝酸盐和 分子筛制备方面的书籍。鉴于此,加之时间和精力的因素,我们暂停了对 h ,s 0 。一n a 2 s i 0 3 - h z o 系统的研究。 为鉴别化学液相淀积法生长的氧化硅薄膜的化学组份,我们采用了三 种手段相互对照。图四为s i o ,g a a s 片的俄歇电子能谱图( a e s ) 。图中 显示的薄膜厚度约3 0 n m ,且g a a s 与s i o ,有较宽的互扩散层( 约 4 0 n m ) 。图五为用电子探针作的s i o j g a a s 片的x 射线能量分布谱图 ( e d x ) ,可以与图四相互验证。因为a e s 图与e d x 图均不能用来检测 氢元素,故为探测此薄膜中是否有h ,0 存在,我们又做了富里叶红外变换 光谱实验,结果示于图六。图中波数为5 2 2 4 7 c m o 和4 4 5 8 0 c m j 处的两个 化学液相淀积法制备氯化铝薄膜 苗 巳 v 籍 盘 善 葵 图四s i 0 2 g a a s 薄膜的俄歇电子熊谱 ( a e s ) 图 能量( k e y ) 圈赢s i 0 2 g a a s 薄膜酌x 射 线能量分布谱( e d x ) 图 化学液相淀积法制各氧化铝薄聪 ,、 掌 一 瓣 捌 蜊 波数( e m 4 ) 圈六s i 0 2 g a a s 薄膜麴寨里时变 。换红外光谱图 啜牧峰经与空自g m a s 糖红努光吸收潜线对比后褥知为树底瓷。s i 0 2 薄膜 的红外吸收峰检测到三个,经查资料得知,波数为1 0 8 3 4 9 c m 1 处为s i o s i 键的 孛缩振动峰,9 2 7 ,4 5 c m - 1 处为s i 苍键捭缩振动峰,7 8 4 。0 7 c m 1 处秀s i o 键的扭转振动峰 3 1 ,3 2 】of t i r 显示薄膜中有少遣氟元索,这是合乎情理 的,因为生长液中的氟元素在氧化硅聚合时有可密墓取代氧元素,但由于含 量过少而采被a 琶s 及e d x 检测岛,因此,准确施说这种薄膜应该写为 s i o 基x f 。,其中x 为- - :j , 量。 总之,纯学液裙淀积法生长的氧亿硅薄膜震避均匀蕊致密,不含筑元 素,与衬底的粘附性很好,并且极适台生长超薄膜( 0 。a i ( o h ) 3 不仅娩溶予骚,还憨溶于碱中形成羟基配合物。它 酶电离方程式为: a 1 ( o h ) 3 = a p 3 0 h , ( 8 ) 溶度耩鬻数殁。陋l ( 0 赣) 3 】一【c ( a 1 静) j 霹( 0 睡差) - 3 = 1 。3 1 0 。 氢戴 艺锱的溶麟度等予溶液中锫离子的浓度c ( a i s + ) 。郄 “ s - - c ( a 1 势) = 受。 a l ( 0 疆) , 【c ( o h ) - s m o l 一己一。 ( 擎) 剩臻承鹃迄离方程式,又有: s = k 8 。【a l ( o h ) 】【c ( i f ) 】掣( k 气。) s t o o l t l ,( 1 0 ) 其中k 气芦l 。0 1 0 。4 。攘据就式爵隧趱a i ( o h ) 3 酶s p 鞭图: 酋 葛 毒 瑙 煞 滋 圈七a l ( 0 嚣) 3 的港鳃凌- p n 篷关 系匿 化学液相淀积法制各氧化铝薄膜 由图七易知,p h 1 2 9 时,a i ( o h ) ,溶解在碱 中,p h 在4 1 1 范围内基本不溶解。 本实验中,为使生长液最终“吐”出足量的a i ( o h ) ,就必须使生长 液先“吃”足a i ( o h ) 、。为此,我们先配制了极浓的硫酸铝溶液,由于强 烈水解而呈强酸性,它与n a h c o ,反应产生的a i ( o h ) ,刚一生成,就迅即 溶于周围的酸性环境中。若不用n a h c 0 3 粉末,而用n a h c o ,溶液,则会 立即产生白色a i ( o h ) ,沉淀,稍微摇动烧杯,它就会溶解,这清楚地展现 了a i ( o h ) ,的产生一回溶过程。用氨水也有类似现象发生。不过,由于它 们是溶液,其中的水会渐渐稀释硫酸铝溶液,破坏了它的强酸性环境,使 回溶能力降低,不能形成大的a i ( o h ) ,过饱和度,因此不适合制备生长 液。而若用n a h c o ,粉末反应,加入1 6 1 1 5 9n a h c o ,全部反应产生的 a i ( o h ) ,可达4 9 8 8 9 ,它全部以离子形式存在于生长液中,而在纯水中其 溶解度几乎为零( 无定形氢氧化铝的溶度积常数约为1 3 1 0 0 3 ) ,其超饱 和度可想而知。但是,由于生成物中还有n a 2 s o 。,它易与a 1 :( s 0 4 ) 3 生成 复盐,( 硫酸铝易与碱金属m ( 除“以外) 生成复盐,称为钒,组成可 用m a i ( s o o ,1 2 h 2 0 表示) ,而铝钠钒的溶解度较小,所以要迅速加水 稀释,防止它结晶出来( 见实验步骤3 ) 。这样得到的溶液,由于其 p h 4 时仍能稳定存在蠢无沉淀析舞剧至今没有完满故解释,鼹n h 3 h 2 0 取代 n a h c o ,也不行。所以,还有许多理论问题尚待研究。考虑到f 元索对h 元素的限制作用( 称为“挝端”,具体地可参考有关分子筛制备的书 籍) ,利用氟锅酸h ,a 1 f 。或其盐水解,可能是种低温制各无氢氧化铝薄 膜的很有希望的研究方向。 “ 3 3 化学液相淀积氧化铝薄膜的表镊 化学液相淀积氧化铝薄膜的表征主要从下述几个方面进行:表面形 貌、化学成分、物质结构以及其他附加参数。 我们制备的氧纯锅薄膜的吸附性很好,经历超声波振荡试验仍无剥落 现象。在金相显微镜及扫描呶予显微镜下,它表面均匀、致密,无孔洞结 图,a 1 2 0 j g a a s 薄膜的源 子力是微图像 化学液相淀积法制备氧化铝薄膜 图丸a 1 2 0 a g a a s 薄膜的原予内 量微像罴维立体豳) 巨十a l ,o 、腐i 薄膜的原予力 - 显徽图像 纯学滚樱淀辍法制蚕鬣亿镑薄膜 更 苫 一 瑙 避 匿十一a 1 2 魄转i 薄膜的艨子 力显微像r 三维立体图1 图+ :a 1 2 0 3 g a a s 薄膜的俄 “ 歇电子畿谱图 瓣弛轴帖撼o 化学液相淀积法制备氧化铝薄膜 分 矗 已 瓤 盘 隧兰a 1 2 侥,s i 薄貘豹 唿子探针能谱圈 畿鲞( k e v ) 圈十四a 1 2 0 3 g a a s 薄膜的 融子探针能谱网 纯学渡辐淀瓢洼魏l 髻氧纯疆薄膜 釜 静 蟛 鎏 誊 一 料 b 谜 波数( e r a 4 ) 圈十五a 1 2 0 3 g a a s 薄膜和g a a s 誊孪底的富里时变换红外光落嚣 渡数 踟4 ) 豳六a 1 2 0 j g a a s 薄骥懿霞 里叶变换纽外光谱图 化学液相淀积法制各氧化铝薄膜 c ,) q - o 1 一 毯 骐 强 脚 匿十七a l :o 。糟i 薄膜的x 射线衍射谱图 20 ( 度) 图+ 八a i :0 3 s i 薄膜的小强 度掠入射x 射线衍射谱醋 t 8 1 ( 厶u ) 篷m 佬学滚提淀缀法毒l 蚤筑他铝薄膜 构。为更精确地理察其表露,我们月原予力显微镜对其进行了扫搂,结暴 见图八、图九、图十、图十一,它更直观地说明了化学液相淀积氧化铝薄 膜的表面是非常平整的。为了研究薄膜的化学组份,我们进行了俄歇电子 能谱实验( 觅图十二) 。由图可以清楚地看出四种元素a l 、o 、g a 、a s 的组份与深度的关系。至于铝与氧的化学比为什么偏离2 :3 ,我们认为可 憨是鑫予a 1 ( o h ) ,霾簇鼹比表甏积穰大,在其聚合成貘爵残骜了一些惹 撼键所致。另外,实验中a e s 图与下面的e d s 图的定量分析结果是矛盾 熬( e d s 显示氧含量褰子锻含量) ,所以这些结暴也只能 乍定性分析参考 使用。踟于这是在1 5 0 c 下生长1 小时所得的薄膜,故可粗略推算c l d 的 淀积率约为1 2 r i m h 一。用电子探针作的x 射线憨谱分布图结果示予凰十三 与图十晒,可以清楚地看到三氧化二铝薄膜的化学组份。值得指出的是, a e s 与e d s 圈均不隧检测氢元素( 这是实验原理所决定的) ,因此我们 还得眷充其谴裣测手段。我们曾对生长滚中淀积出的粉末进行了热踅法分 析,结果显示直至1 2 0 0 c 仍无失重出现,这说明其中基本不禽氢元素。不 过我们还是徽了富里时变换红外光谱分橱,结果有个鄹膜片确实含有氢元 素,但这种现象并不蒋遍。阔十五中,一条谱线是g a a s 本底的,另一条 是a 1 ,o d g a a s 片的,可见这个片在3 0 0 0 。3 7 0 0 c m l 之阙确有吸收峰存在, 这是典型的羟基“o h ”吸收峰。因此,为彻底消除氢元素,我们采用了 离温退火办法,图十六是同一膜片经1 0 5 0 0 c 退火2 小时后的f t i r 阉。出 于己接近g a a s 熔点( 11 0 0 。c 左右) ,砷化镓己明显交性,故这里采用了 反射式的红外光谱图。由图易知,羟基已l 彻底不在,而且8 8 3 2 8 c m 1 和 6 9 3 1 5 c m - 1 处的两个潦也显现出来,经查资料得知是铝氧键静红矫峰 3 3 1 。 高温退火的另一个好处是使薄膜晶化了,这样会大大提高其使用价值。为 研究英罴俸结褥,我嚣礁了x 射线衍射实验,是1 5 。c 下生长l o 小时后经 1 0 5 0 0 c 遐火2 小时得到的a l ,o ,s i 片,结果见圈十七。这个片子的嫂微硬 魔值在退火蘑和退火蜃分别为5 2 0 。2 0 k g e m m 2 和1 4 5 3 3 5 k g f m m 可以作势 薄膜晶化的辅证( 这里用的是努氏硬度值) 。不过,由于薄膜过薄,x r d 未能探测出其晶体结构,两盟示的是其基体衍射峰,因此,我们又避一步 散了小擀度掠射x 射线衍射实验,用的是1 5 。c 下生长3 h ,9 0 0 。c 邋火2 h 的a l ,0 ,s i 片,当采用1 0 掠射时仍不见衍射峰,直到减小到o 5 0 时才得到图 十,所示的谱线,是觅萁厚度之薄。经过与标准谱线对魄,褥氛五个探测委 的衍射峰分别对应于旦a 1 ,o ,和y ,a 1 ,o ,两个黼相,密勒指数见图中标 注。也裁是说,9 0 0 。c 时a l ,0 。搭i 薄膜正处于毒¥a l ,0 ,两a 1 2 0 ,转交斡 过渡态,我们最终得到了薄膜晶化的有力证据。 总之,化学渡楣淀积的氧化锓薄膜质地均匀、表霞乎整、缀份纯正, 经退火后结构和硬度等性能都得到了显著提高,已经达到了高质量晶态超 薄膜的要求。 化学液相淀积法制各氧化铝薄膜 第四章结论 本文进行了化学滚相淀积( c l d ) 氧化镭薄膜的研究。无机氧化物薄 膜制各无论在凝聚态物理学还是在材料科学中都有很重要的地位。1 9 8 8 年,n a g a y a m a 等人首次提基了化学滚相淀较氧纯穗薄艨鳃工艺 t 3 1 ,是对 传统薄膜制备方法的重大突破。随后,人们又将这种方法引入其他氧化物 薄貘工艺孛,并取褥了成功 1 4 2 1 1 ,不过至今迸无化学滚楣淀积氧化铝薄 膜的相关报道。众所周知,氧化铝薄膜的应用非常广泛,为填补化学液相 淀积氧化镪薄膜工艺的空自,我们进行了理论和实验上的开拓性工 乍。 首先,我们在m h o u n g 2 3 等人工作的基础上,进行了化学液稚淀积 氧化硅薄膜的实验,搭建起了专用的实验设备,所制备的二氧化硅薄膜质 量缀好,并雳e d s 、a e s 、f 弧r 等手段进行了特性表征。逶过实验工作, 我们在理论上有了很大提高,提出了有独到见解的解释。所有这些都为化 学滚攘淀积氧亿锈薄膜提供了必要酶准备。 本文采用十八水合硫酸铝作为化学液相淀积氧化铝薄膜的原料,利用 其水解产生的承合氧化锯在基片( 砷纯镓与硅) 表露缩水聚合来淀积氧化 铝薄膜。无水碳酸氢钠被用作水解促进剂,并通过调节系统p h 值来控制 水解反应的过程。这在实验技术上是一个创瓤。最终生产的氧化铝薄膜质 地均匀而致密,粘附性好,组份纯正而硬度高,最终通过高温退火脱氢, 使其晶化,质量进一步得到提高。生长条件为低温恒温( 1 0 3 0 0 c ) ,生长 时阕为l 一3 | l ,从辩裁生长液到最终赢温( 9 0 0 ) 退火,形减套完整静 工艺流程。薄膜质量用a e s 、e d s 、f t i r 、a f m 、x r d 和显微硬度仪等 送行表疰,取得了令人满意的溅果。 化学液相淀积氧化锚薄膜的工艺简便,投资小,是很有发展前途的研 究方向。不过,它也有不适合生长较淳膜熬缺点( 淀积速率过小) 。瑟 且,理论上还有一些待解决的问题。下一步的工作应探索含六氟络铝离子 ( a 1 f ;3 ) 物质水解的方法,可望直接得到无氢薄膜,以便省去退火的工 艺。 讫学渡柱注鞭法裁冬氧纯铝薄骥 致谢 在攻读硕学位期间,导师胡礼中教授在理论和实践上对我进行了糖 心教导,指弓;我走上了辩研之路,在瑟囱他表示衷心感谢。此矫,本人在 工作上还得到了其他许多老师和同学的帮助。需要感谢的老师有:本校物 理系魏希文、王美爨、刘爱民、熬宇、刘箍红、丛书蘸、吴世法、宋薹 烈、刘宏亚、于清旭、杨华,化工学院宁桂玲、安永林、贾举英,材料工 程系王德帮、雷鹱觊、董阉,大连海事大学刘莎,中国科学陵金薄研究蜃 苏图跃、朱桂秋、孙玉珍,辽宁省理化分析测试中心由健。需要感谢的同 学有:物理系嚣庆端、王兆阳、苏英美、赵杰、王东感、饶文雄、孙伟、 李银丽、杨晓龙,材料工程系王兴军。在此,作者谨向上述老师和同学致 以谢意。 化学液相淀积法制备氧化铝薄膜 参考文献 1 】s s z e ,m o d e ms e m i c o n d u c t o rd e v i c ep h y s i c s ,j o h nw i l e y & s o n s ,i n c , n e w y o r k ,1 9 9 8 【2 】1 y e h ,s 。l e e ,i e e ee l e c t r o nd e v i c el e t t 2 0 ( 1 9 9 9 ) 】3 8 3 g v a x id e nh o v e n ,r k o p e r ,a p o l m a n ,c v a nd a r n ,j v a i lu f r e l e n ,m s m i t ,a p p l 。p h y s l e t t 6 8 ( 1 9 9 6 ) 1 8 8 6 4 m h o u n g ,y w a n g ,n w a n g ,c h u a n g ,w c h a n g ,j p n ,。a p p l p h y s 3 6 ( 1 9 9 7 ) l6 9 6 5 1x 。w a n g ,y 。y u ,x 。h u ,l 。o a o ,t h i ns o l i df i l m s ,3 7 1 ( 2 0 0 0 ) 1 4 8 。 6 s s z e ,s e m i c o n d u c t o rd e v i c e s ,p h y s i c sa n dt e c h n o l o g y ,j o h nw i l e y & s o n s , i n c ,n e wy o r k , t 9 8 5 7 】g e f t e k h a r i ,t h i ns o l i df i l m s2 5 7 ( 19 9 5 ) llo 【8 s t i w a r i ,s w r i g h t ,j b a t e y ,i e e ee l e c t r o nd e v i c el e t t 9 ( 9 ) ( 19 8 8 ) 4 8 8 【多】c 。h e l m ,b 。d e a l 圆d s ) ,! 氇ep h y s i c sa n dc h e m i s t r yo f s i 0 2a n dt h e s i s i o ,i n t e r f a c e2 ,p l e n u mp r e s s ,n e wy o r k ,1 9 9 3 【l o 】t m a r u y a m a ,t n a k a i ,a p p l p h y s l e t t 5 8 ( 1 9 9 1 ) 2 0 7 9 1l 】j l i u ,y l a m ,y + c h a n ,y z h o u ,b 。o o i ,z y u n ,a p p l p h y s 。a7 0 ( 2 0 0 0 ) 3 4 1 【1 2 】k 。k o s k i ,j h o l s a ,p 。j u l i e t ,s u r ec o a t 。t e c t m o l 。l1 6 11 9 ( 1 9 9 9 ) 7 1 6 1 3 】h n a g a y a m a ,h h o n d a ,h k a w a h a r a ,j e t e c t r o c h e m s o c 1 3 5f 1 9 8 8 ) 2 6 1 3 【1 4 】s 。d e k i , y a o i ,o h i r o i ,& k a j i n a m i ,c h e m 。l e f t ( 1 9 9 6 ) 4 3 3 。 【1 5 k t s u k u m a ,t a k i y a m a ,h i m a i ,j n o n - c r y s t s o l i d s2 1 0 ( 1 9 9 7 ) 4 8 【1 6 j 。i n o ,a h i s h i n u m a ,h 。n a g a y a t r i a ,h k a w a h a r a ,u sp a t e n t48 8 218 3 , 1 9 8 9 17 s d e k i ,ya o i ,y m i y a k e ,a g o t o h ,a k a j i n a m i ,m a t e r r e s b u l l 31 ( 1 9 9 6 ) 1 3 9 9 。 18 s d e 虹,y a o i ,j o k i b e ,h y a n a g i m o t o ,a k a j

温馨提示

  • 1. 本站所有资源如无特殊说明,都需要本地电脑安装OFFICE2007和PDF阅读器。图纸软件为CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.压缩文件请下载最新的WinRAR软件解压。
  • 2. 本站的文档不包含任何第三方提供的附件图纸等,如果需要附件,请联系上传者。文件的所有权益归上传用户所有。
  • 3. 本站RAR压缩包中若带图纸,网页内容里面会有图纸预览,若没有图纸预览就没有图纸。
  • 4. 未经权益所有人同意不得将文件中的内容挪作商业或盈利用途。
  • 5. 人人文库网仅提供信息存储空间,仅对用户上传内容的表现方式做保护处理,对用户上传分享的文档内容本身不做任何修改或编辑,并不能对任何下载内容负责。
  • 6. 下载文件中如有侵权或不适当内容,请与我们联系,我们立即纠正。
  • 7. 本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。

评论

0/150

提交评论