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V777测试机基础 杨坤QQ 4205089212012 9 5 V777测试资源 单SITE资源与双SITE资源 V777测试资源 进行双SITE测试的条件有关操作板或DUT板的配线部分 PIN电子元件和 的DUT1 DUT2的连接应满足以下的关系 V777测试资源 双site时不能并行测试的项目如果没有以下所示的特殊项目 可以用和单个测定完全一样的主程序进行平行测定 1 在功能测试中使用了匹配模式 2 有时间测定的项目 3 测试时 进行数次测定并且判定其平均值 有这些特殊测试项目时 只要使用smode仅对这部分进行相互测定即可 V777测试资源 使用DPS1 提供电源电压 setbs1 5 0V r1 条件命令 它本身不能控制硬件工作poweron bs1 ft 把BS电源及功能测试系统 ft 电源打开 BS输出电压变为setbsn 设定的电压2 掉电 1 poweroff bs1 ft 把BS电源及功能测试系统 ft 电源关闭 BS输出电压变为0V2 clearbs1 条件命令 它本身不能控制硬件工作poweron bs1 ft V777测试资源 使用DPSsetbsn 与clearbsn 的区别 n表示1 8 setbsn 加poweron 等指令后BS的输出继电器为ONclearbsn 加poweron 等指令后BS的输出继电器为OFF V777测试资源 使用DPS3 使用DPS测量电源电流 set idd 设定由BS进行电流测定模式xpin 1 由mtest 进行电源电流测定时 指定需要测定的BS号 码 blimit1 1UA 1UA c5 设定有关BS测定的电流限定值 上限和 下限 测定量程 RANGE wait 100 调试中静态电流值要注意延时的问题 有些芯片需要 较长时间电流才能稳定 刚上电就测可能值比较小或者 大 mtest 0 fbin4 clear idd 解除由BS进行平均电流测定的模式 V777测试资源 使用DPS几种电流测量模式的区别由BS进行电流测定模式set idd 由BS进行平均电流测定模式set idd1 10ms时为常数set idd2 50ms时为常数set idd3 1ms时为常数 V777测试资源 使用DPS4 关于DPS的force线与sence线下面简单介绍一下开尔文接法 开尔文接法就是一个foece线和一个sense线 force线提供电压 sense线去校正这个电压 因为force线本身有阻抗 所以加到芯片的电压和tester实际上的电压有误差 比如你想给芯片一个force一个5V的电压 你在tester内部设置5V 而force线路中会损耗0 2V 这样到底芯片的电压就只有4 8V 所以这时候tester会接出来另一根高阻抗线到dutpin上 去sense这个pin的实际电压 比如量到为4 8V 这时tester内部就会提高电压 直到sense线感应到dutpin上的实际电压为5V而止 具体用的时候就把sense线接到越靠近dutpin越好 V777测试资源 使用PMU1 加压测流 vfim 2 4V r2 limit 60MA 3MA c0 mpin 11 18 mtest 1 fbin5 1为并行测试 0为串行测试2 加流测压 ifvm 100UA c3 limit 0 9V 0 3V r2 mpin 1 911 19 mtest 1 fbin2 V777测试资源 使用PMU电压档位 r0 50Vr1 8Vr2 4V施加电压尽量用最小的档位 因为电压更精确一些 DPS也是一样DPS和PMU可提供的电流30V 400MA 36V 100MA 因此r0档最大施加电压不要超过35V电流档位 c0 500mAc1 50mAc2 5mAc3 500uAc4 50uAc5 5uA要注意一个问题是卡值范围如果设的和电流档位一样 就算电流箝位了也可能不会报错 例如limit 5UA 5UA c5 假如实际电流大于5uA 但由于测量的电流档位限制 测出的值应该在5uA左右 如果是4 99几微安则不会报错 V777测试资源 使用PMUmtest 命令执行后 和测定过的数据相对应的各个单元的值 mu1 mu4的单位是V或mA 被存放在float型变量mu1 mu4中 V777测试资源 使用PMUFILE FP 定义文件指针floatf 0 0 vfim 2 4V r2 加压测流limit 60MA 3MA c0 mpin 11 mtest 0 f mu3 取值mprint f 2fMA f 输出到屏幕fp fopen datalog txt a 保存datalog到文本fprintf fp f 2fMA f fclose fp V777测试资源 使用测试通道V777共有128个测试通道 每个都有下面的结构 VT V777测试资源 使用测试通道1 DC测试 即前面的用PMU加压测流或加流测压2 功能测试 Driver Comparator 作为输入输出通道 后面向量部分讲3 加上动态负载 DynamicLoad 测功能 io1 4MA 8MA io1 被指定为 1mA 20mA的电流 被指定为1mA 20mA的电流 vt1 1 4V VOH VOL 2阈值电压dpin 17 20 ild1 il1 dpin ild0继电器off ild1继电器on il1就是指io1和vt1test WRRD10 0 x0 0 xffff 0 xfffff 0 xfffff fbin4 设置好后进行带动态负 载的功能测试 V777测试资源 使用测试通道4 使用LDPIN 作用同继电器一样ldpin 1 5 ld0 若ld0被指定 那个PIN的偏置继电器将为OFF ldpin 1 422 ld1 若ld1被指定 那个PIN的偏置继电器将为ON V777测试资源 使用RELAYsetrly 组 A B C D控制数据 通过对赋予16bit的数据 根据其内容进行继电器的控制 某个的bit为1时 那个bit的对应的继电器为ON 为0的时候 那个bit对应的继电器为OFF 最低位b0为继电器1 最高位b15为继电器16 V777测试资源 使用RELAY例如 setrly A 0 xffff 控制数据转换为2进制则b0到b15均为1 A组所有继电器都打上 ON setrly A 0 x0000 A组所有继电器都断开 OFF 这个命令在执行后会立刻影响继电器 编程调试 程序结构 include 头文件 必须要加上voidsub func1 void 子函数声明或定义voidsub func2 void voidprog void 主程序 set ngs 设置出错就停止的模式seq 1 sub fuc1 序列1的测试程序 seq 2 sub func2 序列2的测试程序 set bin1 编程调试 方便编译的批处理文件 下面为批处理文件的内容 后面是注释 echooffload a 清除所有已加载的向量vcomp274hc245 编译向量Pause 暂停查看编译结果vcomp2freq 编译向量pauseload 加载目录里的所有向量cmp 编译c文件 生产可执行程序pause74hc245 Input Driver 输入0或1 Vih Vil toSequencertodecidePass Fail DUT Voh Vol VDD VSS Output Vil Vih 1 设置时钟频率及时钟脉冲延迟 宽度和采样点 2 设置输入驱动电平和输出比较电平 3 设置pin脚的波形格式 NF lo hi rz nrz等 ratetdtwstbdstbw NF RZ NRZ CompareL H X 采样延迟 01011 01111 11000 Q7格式向量包含了输入输出逻辑值 Voh Vol stbd 编程调试 功能测试图解 C文件中需要设置的内容 OP PA文件是Q7格式向量转换成的机器可以识别的码值 PatternData01 TGlohinrzinrzrzirzxorixornmodrt1 波形调制模式 10种 编程调试 功能测试子程序Func test setbs1 5 0V r1 设置VDD电压 需要打上的继电器等setrly A 0 x0000 rate 1000NS 设置时钟频率及时钟脉冲延迟 宽度和采样点td 250NS tw 500NS stbd 500NS stbw 20NS vin1 4 5V 0 0V 设置输入驱动电平和输出比较电平vout1 3 5V 0 5V drvpin 12 rz tg0 vi1 设置驱动pin 比较pin及双向pincmppin 34 vo1 stb0 iopin 56 nrz tg0 vi1 vo1 stb0 nmod tg0 test func 0 x0 0 xffff 0 xffff 0 xffff fin3 跑向量 编程调试 RATE0 rate 100NS td 25NS tw 51NS td1 0NS tw1 20NS td2 65NS tw2 25NS RATE1 rate1 220NS tdl1 0NS twl1 114NS td1l1 90NS tw1l1 20NS td2l1 137NS tw2l1 40NS RATE7 rate1 xxxNS tdl7 xxNS twl7 xxNS td1l7 xxNS tw1l7 xxNS td2l7 xxNS tw2l7 xxNS 测试程序 rate0rate1 rate7100ns220nsxxxns TG0TG1TG2 TG7 25ns 51ns 0ns 114ns 0ns 20ns 90ns 20ns 65ns 25ns 137ns 40ns 注释 选通脉冲的设定方法同上 编程调试 查看datalogSEQTESTLINEP F 1181P 0 550V122117P 0000008 00000000000000000000000000000000 程序段识别序号 程序中第几次使用到test命令 包括test和mtest C文件中的行数 向量终止的行数 10进制 从0开始 通常为Q7文件里行数减去3 代表128个测试通道 编程调试 查看datalog功能测试时每个PIN的测试结果用16进制数表示 1PIN为MSB BIT变为1的PIN表示其为FAIL 981143F 001532 00000000050000000000000000000000 MSBdata 5LSB1 4pin37 40pin125 128pin 37383940pindata0101 HEX5 编程调试 查看funlog系统默认的log为DClog 要查看功能log 先在程序执行界面按shift F1输入clear然后回车 清除当前的DClog 再按shift F1输入下面的内容 funxxlinexxpatxxlenxxtxt xx都是数字 分别代表log显示的pin数 test 在c文件中的行数 要显示的向量的起始行数 一共要显示的波形的长度 然后回车 再按F5执行程序 这时生成的log文件就是funlog了 编程调试 查看funlog SEQ400TEST28LINE1110FAILIOM DRV D CMP C OPEN 11223344556LINE1234567890123456789012345678901234567890123456789012345678901234DDDDDDDDDDDDDDDDCCCCCCCCDDDC CCCCCCCCCD 04319 07974 07975 07975 07975 07976 L 07977 07978 07979 H 07979 H 07979 1 07979 1 编程调试 查看funlog第1列的数字表示波形的地址 表中記号的含义如下 H 波形为1 FAIL 检查出0 L 波形为0 FAIL 检查出1 波形在驱动器输出1 波形在驱动器输出01 波形为1 PASS0 波形为0 PASS OPEN的PIN Don tcare的PIN另外 第5行中含有的记号表示其PIN的设定状态 具有如下的记号含义 I OPIND 驱动器PINC 比较器PIN OPENPIN 编程调试 时间及频率测试tpin 12 voh 12 voh 1 设定需要测量时间间隔的通道tpin 用0或1指定有关计时器 TIMER 的基本输入频率0 5MHz 200nS 1 50MHz 20nS 编程调试 时间及频率测试变量名 ttest 进行时间间隔测定结果以秒为单位读出 再将变量取倒数就可得到频率下面为一个频率测试子程序的部分内容 tpin 12 voh 12 voh 1 设定需要测量时间间隔的通道wait 10 test freq 0 x0 0 x4 0 x0 0 xffff t ttest 波形反复运行的同时测量输出脚的频率if t 0 0 t 1 0 t 0则freq无法运算出来 故设t 1 0freq 1 0 t mprint freq1 2fHz n freq clear cont 跳出波形循环 波形程序的结构 波形矢量模块 输入 输出控制模块 输出观测与否控制模块 BINPATTERN0000000000 110 NOOP 00 SPL00101010101 000 NOOP 00 SPL00000000011 001 LOOP127STEN 11 1111000000 110 HALTENDIO0000000000 0001100000011 000 ENDMASK0000000000 00000000000011 0000END 2进制 16进制形式选择波形矢量模块开头语波形矢量及控制语句 波形矢量模块结束语IO模块开头语输入 输出控制矢量 IO模块结束语MASK模块开头语输出观测 忽视控制矢量 MASK模块结束语 波形文件 IO模块 VssTGND CH3 CH4 CH5 CH6 CH7 CH8 CH9 CH10 CH11 CH12 CH20 CH19 DUT1 16KSRAM CH16 DPS1FS IDT6168 CH13 CH1 CH2 CH18 CH17 CH14 为输入管脚 为双向 I O 管脚 为输出管脚 Vdd IO00000000000011000000 00000000000011001111 END 波形文件 1 驱动器OFF 管脚为输出状态 0 驱动器ON 管脚为输入状态 对应通道号12345 1314 20 管脚13 14输出 其它输入 管脚13 14 17 20输出 其它输入 注释 未使用通道 例15 16 IO矢量设定随意 MASK模块 VssTGND CH3 CH4 CH5 CH6 CH7 CH8 CH9 CH10 CH11 CH12 CH20 CH19 DUT1 16KSRAM CH16 DPS1FS IDT6168 CH13 CH1 CH2 CH18 CH17 CH14 为输入管脚 为双向 I O 管脚 为输出管脚 Vdd MASK0000000000001100000000000000000000001111 0000000000001100111100000000000011000000 00000000000000000000END 波形文件 1 驱动器OFF 管脚为输出 0 驱动器ON 管脚为输入 对应通道号12345 1314 20 只对输出管脚13 14进行观测 care 只对输出管脚17 20进行观测 care 对输出管脚13 14 17 20都进行观测对管脚13 14观测 对17 20不观测 对所有输出管脚都不进行观测 注释 非输出通道的MASK矢量都取为0 编程调试 TQT向量转换到Q7向量 一行tqt向量cycle10101010101XHLHLHLHL0 对应的三行q7向量BINPATTERN1010101010101010100 LOOP9STEN 0 0 ENDIO0000000000111111110ENDMASK0000000000111111110END 波形矢量构成 BINPATTERN0000000000 110 NOOP 00 SPL000101010101 000 NOOP 10 SPL010000000011 001 LOOP127STEN 11 2 1111000000 110 HALTnENDIO0000000000 00001100000011 0001ENDMASK0000000000 000000000000011 00001END 波形文件 1000100000 110 NOOP 10 SPL0 ABCD A 波形数据区域B 波形运行控制区域C I O MASK地址选择区域D 时钟脉冲频宽选择区域 区域的分割符号 矢量地址 指定IO控制矢量地址 指定MASK控制矢量地址 指定使用的时钟宽度RATE 丰富的波形运行控制 NOOPHALTJUMPlabelJSUBlabelLOOPnSTSUBRLOOPENSUBRLOOPnSTENLOOPnSTLOOPENLOOPtMSSTENCONTLOOPtMSSTCONTLOOPtMSSTENCONTINTLOOPtMSSTCONTINTMLEN data MPAT data INDEX dataLOOPnSTENMTCHLOOPnSTMTCHLOOPnSTSUBRMTCHPAUSEtMSPAUSEtMSINT 无循环停止跳到标有label的行跳到标有label的子程序子程序开头 循环n 1次 最多8层 子程序结尾循环开头及结尾 n 1次循环开头 n 1次 最多8层 循环结尾循环开头及结尾 运行t毫秒循环开头 运行t毫秒循环开头及结尾 t毫秒并运行主程序循环开头 t毫秒并运行主程序参考手册 注释1 匹配循环开头及结尾 循环n 1次匹配循环开头 循环n 1次匹配循环子程序开头 循环n 1次波形运行暂停t毫秒波形运行暂停t毫秒并运行主程序 1000100000 110 NOOP 10 SPL0 ABCD 波形运行控制区域多种运行形式 参考右侧 SPL0 RATE0SPL1 RATE1SPL2 RATE2 SPL7 RATE7 循环及跳跃功能 BINPATTERN11111110 NOOP 00 SPL010000001 NOOP10101011 JSUBDSET1 10 00001111 NOOP 128 A 00000000 DSET1 LOOP10STSUBR 5151 11111110 LOOPENRSUB 1520 END 次循环 LOOP 后转向 A 循环区间 指定跳跃地点 注 循环层数可多达8层 匹配 match 检查功能 BINPATTERN00000000 MLEN 1111B 00 SPL1000000000 MPAT 0100B 00 100000000 INDX 8 00 200100000 NOOP 00 300100001 LOOP2048STMTCH 00 400100001 NOOP500100000 NOOP600100000 LOOPEN711101011 NOOP 12 8 900000000 HALT 00