岛津多道X荧光光谱仪MXF系列PCMXF-E软件使用手册.doc

岛津多道X荧光光谱仪MXF系列PCMXFE软件使用手册岛津公司研究及发展部分析测量分部前言本手册的说明本手册从基础、软件的操作、工具三个方面阐述了荧光分析仪的操作。1. 基础：阐述了首次使用荧光仪的用户如何开启和关闭样品分析程序，同时描述了简单样品的样品分析方法。2. 软件的操作：描述了建立分析条件以及数据处理的主要操作方法 3. 工具：描述了用户应该知道的监视和控制仪器的日常操作方法，关于仪器的维护和故障诊断请阅读“硬件手册”。4. 在本手册的“附录”中描述了软件的组成及安装方法，如果需要请查阅。5. 本手册描述了仪器可能用到的操作。但是对于没有扫描装置的仪器来说，定性分析是用不到的。SCANNER显示在本手册中，但只对带有扫描装置的仪器有用。目录基础1开启和关闭仪器-131.1开启仪器-131.1.1开通仪器电源-131.1.2启动MX软件-131.1.3开启X射线-141.1.4打开加热器以及检测器高压-151.2关闭仪器-151.2.1关闭加热器以及检测器高压-151.2.2关闭射线-151.2.3关闭软件-161.2.4关闭仪器电源-162软件的简要介绍-172.1初始画面-172.2各部分功能-182.3在线帮助-192.4分析类型-192.5分析组-203简单分析-213.1一般操作-213.1.1打开“analysis（分析）”窗口-213.1.2选择分析组-223.1.3输入样品名称-223.1.4开始分析-243.1.5确认分析结果- -243.2简单分析-253.2.1打开“analysis（分析）”窗口-253.2.2选择一个分析组-253.2.3选择样品位置-253.2.4开始分析-263.2.5显示数据测量过程-263.2.6确认分析结果-27应用软件4.定量分析（标准曲线法）-284.1标准曲线法定量分析-284.1.1建立分析条件-281）建立分析组-282）登记分析元素-303）设置元素资料-304）设置测量条件-315）输入标准样品名称-326）输入标准样品标准值-327）存储分析组-334.1.2分析标准样品-331）选择分析组-332）输入样品名称-353）开始分析-364.1.3建立标准曲线-364.1.4分析未知样品-371）选择分析组-372）输入样品名称-383）开始分析-394）查看分析结果-394.1.5基体元素校正-394.1.5.1基体元素校正-394.1.5.2回归计算法基体元素校正-411）显示出标准曲线窗口-412）设置基体元素校正方法和曲线次数-413）选择计算方法-424）设置校正元素-425）计算-436）输入固定的校正系数值-437）删除一个校正元素-434.1.5.3“SFP”法基体元素校正-441） 显示SFP法计算窗口-442）设置样品组成形式-443）执行计算-464）登记计算系数-465）利用系数进行基体元素校正-474.2定量分析校正方法-484.2.1背景（BG）校正-484.2.1.1背景校正-484.2.1.2设置背景校正-使用扫描仪测量BG-484.2.1.3设置背景校正-使用固定分光计测量BG-494.2.2漂移校正-514.2.2.1漂移校正-514.2.2.2登记标准样品和基准强度-511）设置标准样品-512）设置漂移校正条件-513）存储分析组-534）测量标准样品的基准强度-534.2.2.3更新漂移校正系数-534.2.2.4同时更新多个组的漂移校正系数-544.2.3谱线重叠校正-554.2.3.1谱线重叠校正-554.2.3.2设置谱线重叠校正-554.2.4空白校正-554.2.4.1空白校正-564.2.4.2登记空白样品-564.2.5内标校正-564.2.5.1内标校正-574.2.5.2设置内标校正-571）设置内标元素-572）设置内标校正-584.2.6控制曲线校正-594.2.6.1控制曲线校正-594.2.6.2设置控制曲线校正样品-604.2.6.3更新控制曲线校正系数-604.3定量分析多种功能介绍-624.3.1附加计算-624.3.1.1附加计算-624.3.1.2设置附加计算通道-621）设置附加计算通道数量-622）设置附加计算公式-624.3.2漂移检查-634.3.2.1漂移检查-634.3.2.2设置漂移检查样品-634.3.2.3分析漂移检查样品的基准值并登记-644.3.2.4漂移检查分析-644.3.3上下限判定-644.3.3.1上下限判定-644.3.3.2设置上下限判定范围-644.3.4分析结果表示形式-654.3.4.1分析结果表示形式-654.3.4.2显示名称、数字位数、单位-654.4根据样品不同变更测量条件-664.4.1选择带有扫描仪的分光装置-664.4.2调整测量角度和标准-661）测量实际的2，调整测量角度-682）测量PHD，调整标准-684.4.3使用自动灵敏度控制-704.4.4使用扫描法进行定量分析-714.5定量数据处理-734.5.1选择并显示数据-734.5.1.1选择数据-734.5.1.2搜索数据-744.5.1.3样品资料-744.5.1.4改变显示形式-754.5.1.5查看强度校正方法-754.5.1.6确认结果-754.5.2数据再处理-774.5.2.1数据再处理-774.5.2.2修改显示数值-774.5.2.3改变定量条件-774.5.2.4重新计算定量分析结果-794.5.3打印-814.5.3.1打印-814.5.4存储数据-834.5.4.1存储数据-834.5.4.2把数据处理条件存入初始分析组-834.5.4.3把数据处理条件存入一个新的分析组-834.5.4.4把数据做成TEXT文件-834.6报表-854.6.1选择分析组-854.6.2搜索样品并选择其一-864.6.3选择报表元素-874.6.4改变报表格式-884.6.5完成报表-894.6.6打印报表-894.6.7存储报表-894.6.8图表显示-904.6.9定性定量数据报表-905.定量分析（应用FP法）-955.1标样FP法定量分析块状样品-955.1.1建立分析条件-951）建立分析组-952）设置样品分析资料-973）登记分析元素-974）设置元素资料-985）设置测量条件-996）输入标准样品名称-997）输入标准值-1008）计算理论强度-1019）存储分析组-1025.1.2分析标准样品-1021）选择分析组-1022）输入样品名称-1033）开始分析-1045.1.3计算灵敏度系数-1045.1.4分析未知样品-1051）选择分析组-1052）输入样品名称-1063）开始分析-1074）查看分析结果-1075.2利用块状标准样品进行薄膜法定量分析-1085.2.1建立标准样品的分析条件-1081） 建立分析组-1082） 设置样品资料-1093） 登记分析元素-1094） 设置元素资料-1105） 设置测量条件-1106） 输入标准样品名称-1117） 输入