质量统计管理程序.doc

统计技术管理程序1目的。 使用适当的统计技术来验证和分析过程能力、产品特性、过程特性和其他与质量相关的数据和资料，以发现问题，并进行原因分析和采取对策，确保过程稳定及降低不良率，进而提高产品质量。2范围 适用于本公司物料进料检验、计量测试、过程控制、成品检验、可靠性测试、客户投诉及内部质量审核结果等资料的统汁分析。3权责 31 设计开发部和电气事业部负责制定产品和过程特殊特性重要特性表 32 质量部负责依照产品的特殊特性重要特性表制定小批试产和批量生产的控制计划，并规定采用的统计控制图的类型 33 各职能部门负责对各自管理的统计资料与数据的收集及数据分析和处理 34 相关部门负责预防和纠正措施的实施4定义 无。5流程图 无。6作业程序 61 进料检验、量试、过程控制、成品检验及生产过程中各项统计资料收集，依控制计划表所列统计方法要求的方法实施 62 统计技术 621 推移图：分析品质状况的趋势。 622 推移图制作步骤： 1）确定主题。2)设计推移图的表格。3)收集数据。4)依据数据画出推移图。5)推移图判定。案例：制作某厂8月份制程抽验不良率推移图623 特性要因图(鱼骨图)：分析各种品质问题原因，以掌握真正原因，并提对策。 要因图制作实施步骤： 1)成立鱼骨图分析小组，36人为佳，最好是各部门的代表。 2)确定问题。如为什么齿轮的尺寸变异增加? 3)画出干线主骨、中骨、小骨及确定重大原因。 4)与会人员热烈讨论，依据重大原因进行分析，找出中原因或小原因，绘制在鱼骨图中。 5)鱼骨图小组要形成共识，把最可能是问题根源的项目用红笔或特殊记号标识。如大原因中的培训不足是最重要原因，则用红笔或特殊记号标识，因为这些才是重点分析对象。 6)记入必要事项： 要因图小组组长：X X X 要因图小组成员： X X X X X X X X X 制作日期：12月8日 案例：某厂基板焊接不良之要冈图。 624 柏拉图： 品质问题的重点分析，适用于客户退回品和制程不良品问题分析。 柏拉图制作步骤： 步骤1：收集数据。 某汽车电子厂品管部将上个月组装线的制程不良作出统计，其中抽样2800件，总不良数为103件，其中不良数分布为：骤2：把分类好的数据进行汇总，由多到少进行排序，并计算累计百分比。 步骤3：绘制横轴与纵轴刻度。 1)画出横轴与纵轴，横轴表示不良项目，左边纵轴表示不良数，右边纵轴表示不良率。2)左边纵轴最高刻度是不良总数148PCS，右边纵轴最高刻度是不良率100。 3)左边的纵轴最高刻度。与右边纵轴最高刻度是一条水平线。步骤4：绘制柱状图。在左纵轴与横轴区域间找出坐标点，共7个坐标点。将各不良项目画出坐标，也就是柱状图。步骤5：绘制累积曲线。1)针对累积不良率在右纵轴与横轴区域间找出坐标点，共7点。2)用折线将7个点连接。 步骤6：记人必要事项： 总检查数：2800件。 总不良数：148件。 不良率：528。 检验者： X X X 绘图者： X X X 步骤7：分析柏拉图。 从以上柏拉图可以看出，制程中脱漆、耐压不良和变形占总不良率比率的751，这三项是9月份重点改善的项目，建议用因果图对这三项不良进行原因分析。 应确定项目改善责任人及完成期限，争取9月份把脱漆、耐压不良和变形的比例降下来。 应参照过去的柏拉图(如上个月或上一周)进行对比，从中发现改善前与改善后的状况。 案例：某公司8月份业务部费用支出柏拉图。CL=X十A2R=163272十0577 X14280=171512LCL=XA2R=1632720577 X14280=155032 R控制图 3)对研究阶段异常点的第种分析。 由图1可知，第13组X值为155oo小于LCL，故过程的均值失控。经调查其原因后；改进夹具，并采取措施防止这种现象再次发牛。然后去掉第13组数据.a) 再重新计算R图与X图的中心值和上下界限值。b)与规范进行比较。 已经给定公差为TL=100，TU=200。如果用全部数据制作直方图，并与规范进行比较，参见下图： 由上图可知，数据的分布与公差相比较有较多的余量，因此，虽然其平均值升未对准公差中心，即使不加以调整，问题也不会太大。如果加以调整还可以提高过程能力指数，即减少不合格品率，我们也可以从技术角度出发考虑适当减少公差范围。当然，如果加以调整，则需要重新计算相应的x-R图的控制线。 c)延用上述x-R图的控制线，对过程进行日常管理。 分析R图上的控制点 由于解释子组极差或现场值的能力都取决于零件间的变差，因此我们要首先分析R图。下面从五个方面来分析及图。 数据点超出控制上限，可能的原因是： 1)控制界限计算错误。 2)描点错误。 3)零件间的变化性或分析的宽度已经增大(即变坏)。 4)测量系统变化(如不同的检验员或量具)。 5)测量系统没有分辨力，靠估计获取数据。 数据点超出控制下限，可能的原因是： 1)控制界限计算错误。 2)描点错误。 3)宽度变小(即变好)。 4)修改了数据。 连续7点或更多在平均值上侧或连续7点或更多上升时，可能的原因是输出值的分布宽度增加，如： 1)设备工作不正常，固定松动。 2)使用了不同的材料。 3)新的检验测量的数据。 4)新量具测量的数据。 连续7点或更多在平均值下侧或连续7点或更多下降时，这表明： 1)输出值分布宽度减少，这是一个好状态。 2)测量系统改变，这样会遮掩过程真实性能的变化。 如果显著多于三分之二的点落在三分之一的区域(如90的点)，表明可能出现下列一项或多项，原因： 1)控制界限计算错误。 2)描点错误。 3)过程分层。 4)取样方法分层。 5)数据编辑过。 如果显著少于三分之二的点落在三分之一的区域(如40或以下的点)，表明可能出现下列一项或多项原因： 1)控制限计算错误。 2)描点错误。 3)输入的材料批次混淆。 在这里提示一下，当现上述特殊原因时，肯定要分析是什么问题，但你必须有一个认识，不是所有的特殊原因都是有害的，有些特殊原因可以通过减少极差的变差，从而对过程改进起到积极的作用。 如果要识别变差的特殊原因，可以去查一查过程记录表，因为过程记录表可能是一个有用的信息源。 分析X图上的数据点。 由于X的控制界限取决于及图中变差的大小，因此X图的变差与R图的变差有关。如果平均值没有得到控制，则可能存在特殊原因的变差，以下从五个方面来分析结果。 超出控制界限的点。 如果出现一点或多点超过控制界限，就证明这点出现特殊原因变差，这时要立即对作业情况进行分析，分析的结果可能是以下一种或多种： 控制界限计算错误。 描点错误。 过程已改变，但也叫可能是一件孤立的事件。 测量系统发生变化(如使用不同的量具测量，有不同的检验员进行测量)。 连续7点或更多点持续上升或卜降(有些文献称6点)。 这是一个链的变化趋势，分析的结果可能是以下一种或多种： 过程的平均值已改变。 测量系统的飘移改变。 测量系统的偏移改变等。 连续7点或更多点在中心线侧。 这是一个链的变化趋势，分析的结果可能是以下一种或多种： 过程的平均值已改变。 测量系统的统计特性偏移已改变。 如果大大超过三之二的点落在三分之一的区域，这是一个变化的趋势，分析的结果可能是以下一种或多种： 控制界限计算错误。 描点错误。 取样方法不对，可能取自两个过程流。 数据修改过，是假数据。 如果大大少于三分之二的点落在三分之一的区域，比如只有40或少于40的数据点落在三分之一的区域，则可能的原因是： 控制界限计算错误。 描点错误。 过程抽样方法可能有两个或两个以上的过程流。 更新X-R图控制限。 x-R图控制限建立后，并非一成不变，因为过程永远都是波动的，SPC理沦界普遍认为在l。5Q上下波动，作为管理者或执行制作的x-R图的人员应定期检讨控制限，判断其是否需要更新x-R图的控制界限。一般在以下四种情况下需更新X-R图的控制界限。 1)工艺流程发生变化，如增加了某个：厂序或改变了工序的作业顺序。 2)现有过程发生失控，经改善受控后过程均值(R)已发生变化，因此需重新计算控制限。 3)使用新的工装或设备。因为新工装或设备的使用可能导致过程的分布发生变化，这种变化可能使原有的控制限不再适用。 4)子组容量和抽样频率变化时，如原为每两个小时抽5PCS，为了判断在两个小时内是否还存在特殊原因的变差，改为每半小时5PCS或3PCS，这种情况下都要重新计算x-R图控制限，因为改变子组容量或抽样频率之后的标准差(Q)已发生改变。 626 不良率管制图制作要点。 1)选择子组的容量。P图子组的容量可以相同，也可以不同，建议p图的子组样本的容量至少在50200或更多，如果子组样本容量太少，较难检验出产品性能的般变化。对于可分析的卢控制图，子组容量应足够大，大到每个子组内包括几个不合格品(如3个或5个)。在确定子组容量时，应关注以下三点： 如果每个子组代表一段时间的过程操作，大的子组容量会有不利之处。 如果子组容量是相同的，或子组容量的变化不超过25是最方便的，但有时也不一定是这样。 如果子组容量足够大，就能获得下控制限，从而电可以发现由于改进造成的可查明的原因。 2)确定分组频率。分组频率应根据产品的周期确定，以便帮助分析和纠正发现的问题。时间间隔短则反馈快，但也许与大的子组容量的要求矛盾， 3)确定子组的数量，子组的数量收集数据的时间应足够长，使得能找到所有可能影响过程的变差源。一般情况下，应包括25或更多的子组，以便很好地检验过程的稳定性。 4)选择P图的坐标刻度。一般将不合格品率作为纵坐标，子组(小时、天等)作为横坐标。纵坐标的刻度从0到初步研究数据读数中最大的不合格率值的152倍的值，便于落点。 5)合格品率描绘在控制图上。 描绘每个子组的户值，将这些点联成线有助于发现异常图形和趋势。 当点描完后，粗览一遍看看它们是否合理。如果发现任意一点比别的高出或低出许多，就要检查计算是否正确。 记录过程的变化或可能影响过程的异常情况，当这些情况被发现时，将它们记录在控制图上。 计算p图的控制界限。样本容量相同之P控制图。 为考核某零件孔的质量水平，用通过不通过塞规来检测该孔，如果不通过表明这个孔不合格，检验员X X每4小时抽取150个样品进行检验，记录的数据如下去：步骤4：判稳。由于第27个样本的点子山界，所以过程可能失控，需要采取对策。 判读P控制图通用准则。 (1)分析数据点，找不稳定的证据。如果过程稳定且只存在一般原因变差时，很少会出现超出控制限的点。因此，对于超出控制限的点，我们要分析原因，看其是否是特殊原因造成的，有的时候，特殊原因是有益的，但这里提示的是，不管特殊原阅是有害或有益，都应立即凋查。 1)对于超出控制上限的点(不合格品率更高)可能存在下列一项或多项问题： 控制限错误。 描点错误。 过程性能恶化。 评价系统已经改变。2)对于低于控制下限的点(不合格品率更低)通常表明存在以下项或多项问题：控制限错误或描点错误。 过程性能已改进(为厂改进，应当砌：究这种情况并长期保持)， 测量系统已改变。 3)对于在控制上下限内的点，如果二分之二的落在区域或120的点位于控制限区域接近的地方，可视为过程正常，如果11现异常的图形或趋势(如三分之二的点没有落在三分之一的区域或连续7点上升或下降等)，要立即分析原因，予以纠正，如果不纠正，这种状态将造成点超控制限。 4)如果在控制限内明显多于23的点位于与均佰接近的地方，(对于25个分组，如果90以上的点位于控制限中部三分之一内)，这就意味着下列一种或几种情况： 控制限计算：错误或描点错误。 过程或取样方法分层不够，每个子组可能包含来自两个或多个具有不同平均性能的过程的测量(例如两条平等的生产线的混合输出)。 数据被编辑过(明显偏离均值的已调换或删除)。 5)如果大大少于23的点位于过程均值较近的区域(对于25个子组，40以下的点位于中部三分之一的区域内)，则意味着存在卜列一项或多项的问题。 发生了计算错误或描点错误。 过程或取样方法造成连续的子组来自两个或多个具有不同均值性能过程流的测量。 (2)找出特殊原因并纠正。当发现数据失控，应要求操作人员或现场检验人员，找出变差的原因并进行纠正。在分析问题时，建议应用品管七大手法之的柏拉图或因果图等分析技术。 P图控制界限的更新及分析。 控制界建立后并非一成不变，而需要根据实际控制状况川似调整，在过程发生以下变化时，需重新计算控制界限。 1)进行初始过程研究时。 2)对过程能力进行重新评价时，现有过程现失控。 3)样本容量改变时。 4)工艺流程发生变化时。 5)对过程的普通原因进行改善后。 一旦历史数据表明一致性能均在试验的控制限之内，则可将控制限延伸到将来，并可用此控制限作为将来的日常管理。 绘制并分析更新后的p图。 1)过程采取了系统的措施后，其效果应在控制图上明显地反应出来。2)对过程进行改变时，应小心地监视控制图。这个变化时期对系统操作会是破坏性的，可能造成新的控制问题，掩盖系统变化后的真实效果。 3)在过程改变期间出现的特殊原因变差被识别并纠正后，过程将按一个新的过程均值处于统计控制状态。这个新的均值反映了受控状态下的性能，可作为现行过程控制的基础。但是还应继续对系统进行调查和改进。 627 初期制程能力：针对客户所指定每一项新制程管制特性实施，并须符合客户要求，制程能力指数(PDk)须达到167。量产中制程能力：量产中的制程能力要求由客户规定，若尚未规定时，则制程必须稳定制程能力指数，须达到乱CPK133。过程能力公式如下：式运用如下：开纳入控制计划内，参阅SPC参考手册。对于计量型统计数据，可使用平均值一极差控制图；对于计数型统计数据，可使用不良率控制图。统计分析后，如发现有重大质