IQC进料检验项目及判定标准.doc

深 圳 * 公 司 文 件 名 称： IQC进料品质检验项目及判定标准文 件 编 号： CX-WI-PZ22-A版 本 号： A版* * * * * 修 訂 履 历 * * * * *版本文件变更单号 修 訂 項 次发行日期A制 作审 核批 准日 期日 期日 期发放范围：（在此列明发放部门、人员及份数）l 品质部 （ 1份 ） 采购部 （ 1份 ）l 仓 库 （ 1份 ） 生产部 （ 1份 ）l 研发部 （ 1份 ） 深圳*公司IQC进料品质检验项目及判定标准文件编号CX-WI-PZ22-A版 本A文件类型检验规范第 1 页 共 32 页1.目的 明确IQC零组件的品质判定标准，为进料检验作业提供依据。2.范围 适用于本公司各类产品之电子、五金、塑胶、线材及包材类物料，若本标准与客户标准相抵触时，则依双方约定为准。3.参考文件：IQC进料检验作业规范4.承认样品对于文字难以叙述清楚或不易判定合格与否的外观缺点，则以样品、图纸及说明图片，作为来料检验时判定的依据。 5.检验结果判定5.1检验结束后将检验结果与规定的AQL（合格水准） 上允收、拒收数相对比，作出合格与否的判定。6.缺点定义A.严重缺点（Cr.）：将导致人身伤害或造成产品无法使用之缺点。B.主要缺点 (Ma.)：将可能造成产品功能故障，降低其使用功能的缺点或严重外观缺陷。C.次要缺点 ( Mi.)：指不影响产品的使用、功能的外观缺点，并对产品的使用者不会造成不良影响之缺点。7.物料分类说明序号类别页码1PCB类2-42普通电子元件类5-203IC（贴片/插件）类21-244蓄电池255接插件（连接器）类266五金、塑胶类27-287线材类298包材类30 深圳*公司IQC进料品质检验项目及判定标准文件编号CX-WI-PZ22-A版 本A文件类型检验规范第 2 页 共 32 页 类别：PCB抽样方案检 验 规 范1采用GB/T2828-2003正常检查一次抽样方案；2. 允收水准：Cr：0Ma：0.65Mi：1.0检查类别检查项目检查方法技术要求/质量要求不合格（缺陷）分类CrMaMi开箱检查包 装目测包装箱无破损（脏污、变形、严重水渍）。目测包装标志与包装箱内物料型号相符。目测PCB为塑胶袋真空包装，且胶袋无明显破损。文字印刷目测与样板或图纸对比PCB Loglo标识模糊或表面丝印标识无法辨认。不允许版本错、文字符号印刷偏移、位置印错或漏印。PCB变形目测/、.PCB卡尺测量PCB变形大于对角长度之8/1000不允许，轻微变形但不影响后工序装配时可接受。PCB板材目测PCB不得有断裂、破损、爆板、分层、板层开裂、防焊漆起泡等现象。PCB露铜目测/、.PCB卡尺测量PCB露铜不得超过0.5个平方毫米，且露铜处需补漆。PCB折边纤维目测折边纤维丝不可过多PCB线路毛边目测PCB线路毛边以不超过线距间的1/2为允收标准 。PCB划伤目测/、.PCB卡尺测量外表目视有白雾状，正反板面各允许2cmX0.3mm 2条，露出铜箔不得大于2mm，线路上的划伤不得超过线路宽度的3/1.PCB线路缺口目测PCB线路缺口以不超过线路宽度的1/5为允收标准。PCB线路开路、短路目测PCB板上线路不允许有断路（开路）;线路间不允许有金属异物形成短路。PCB割线目测应割线路而未割或未割断、割伤或割断不该割之线路。PCB线路或焊盘翘皮目测不允许PCB上有线路或焊盘翘起。防焊漆色差目测整个PCB表面防焊漆部分无明显色差 深圳*公司IQC进料品质检验项目及判定标准文件编号CX-WI-PZ22-A版 本A文件类型检验规范第 3 页 共 32 页 类别：PCB抽样方案检 验 规 范1采用GB/T2828-2003正常检查一次抽样方案；2. 允收水准：Cr：0Ma：0.65Mi：1.0检查类别检查项目检查方法技术要求/质量要求不合格（缺陷）分类CrMaMi开箱检查防焊漆表面目测防焊漆表面无指纹、水纹、褶皱等现象，且不能有异物。PCB补漆目测/、.PCB卡尺测量补漆长度12mm,宽度6mm,必须平整均匀，元件面最多三处，焊接面最多两处。PCB补线目测/、.PCB卡尺测量允许补线三处，但长度必须7mm,补线处需加防焊漆，补线处表面平整，另线路转弯处、IC安装处、（PAD）焊盘处、金手指接头处及金手指不允许补线，。PCB开孔目测与样品或图纸核对PCB上开孔多钻、漏钻、变形、未透、错位、偏位等不允许。PCB焊盘目测与样品或图纸核对PCB上开孔孔破、沾漆、沾锡、孔小、孔大、孔塞、异物阻塞等异常不允许。目测与样品或图纸核对PCB上焊盘不允许有漏开、多开、破损、沾漆、沾锡、氧化、发黑、变黄等不良现象，表面要求银白色且色泽光亮、平滑。焊盘表面积锡、呈半球状或焊盘露铜不允许PCB过孔目测PCB过孔表面必须有防焊漆覆盖。PCB板面不洁目测PCB板面脏污，有纤维丝、纤维沫及其它异物。金手指部分目测金手指无发黄、色差、变黑、锡点及油污等现象目测金手指无沾漆、沾锡、露铜、生锈等不良现象。目测金手指无偏位，金手指间无余铜。目测金手指表面镀层不允许有分层目测与样品或图纸核对除非GERBER文件要求，金手指之间的短路相连均不可接收。目测表面凹陷不允许超过0.5平方毫米两处以上。 深圳*公司IQC进料品质检验项目及判定标准文件编号CX-WI-PZ22-A版 本A文件类型检验规范第 4 页 共 32 页 类别：PCB抽样方案检 验 规 范1采用GB/T2828-2003正常检查一次抽样方案；2. 允收水准：Cr：0Ma：0.65Mi：1.0检查类别检查项目检查方法技术要求/质量要求不合格（缺陷）分类CrMaMi开箱检查金手指部分目测不允许金手指镀面上出现针孔或边缘齿状。目测金手指不允许漏斜边，不允许斜边不平行及单边前后不平行，斜边导致的拖尾不能超过两相邻金手指间隙的1/4。目测两边导角应为45度，斜边导角应为20度，且导角要求平滑，不得有毛刺或纤维丝。目测金手指裁边不允许有毛边。目测金手指槽口尺寸、长度、导角角度、导槽尺寸与样品相符。目测金手指导槽不得有毛刺或纤维丝。目测与样品核对金手指边缘缺口在非重要区域缺口深度0.3mm,长度1mm,且不超过两条金手指有此缺陷，缺陷在重要区域出现不可接收。如下图所示：目测与样品或图纸核对金手指铣边形成反白（爆边）跨距长度不超过1mm或不超过相邻导线间距离的10%可接收。目测与样品或图纸核对金手指头部绿油覆盖区域不能大于0.6mm.上锡试验用小锡炉浸锡（温度270摄氏度、10秒 钟）后目检，每批抽1-2片。PCB表面绿油不能有脱落等异常现象，各焊盘上锡完整，锡点光亮。烘烤试验用烘箱（115-120摄氏度，3小时）烘烤后目检，每批抽10-20片。PCB变形大于对角长度之8/1000不允许，轻微变形但不影响后工序装配时可接受。PCB表面变黄、绿油脱落不允许。 深圳*公司IQC进料品质检验项目及判定标准文件编号CX-WI-PZ22-A版 本A文件类型检验规范第 5 页 共 32 页 类别：普通电子元件类 -（普通贴片电阻、金属膜电阻、氧化膜电阻、水泥电阻）抽样方案检 验 规 范1采用GB/T2828-2003正常检查一次抽样方案；2. 允收水准：Cr：0Ma：0.65Mi：1.0检查类别检查项目检查方法技术要求/质量要求不合格（缺陷）分类CrMaMi开箱检查包装目测包装采用一盘或一包为单位。目测个体必须放置于包装袋内。目测编织袋或包装袋无破损、脏污、变形。目测/与样品及零件规格书核对包装标志与包装内物料型号及数量相符，不得有错装、混装等不良现象。外观（丝印）目测/与样品及零件规格书核对字体清晰，不允许无法辨识。目测不允许有重印、错印、多印现象。放入洗板水中浸泡（1分钟）后目检不允许有丝印脱落等其它异常现象。外观（本体）目测表面应平整光滑，无凹凸、无异物、无脏污。卡尺测量/与样品及零件规格书核对元件色泽光亮，型号及尺寸规格与来料标识或零件规格书相符。目测元件焊盘或引脚光亮，不允许有脏污、氧化、变色、变形、断脚、破裂、缺损、折脚、弯脚等不良现象。目测不允许有本体膨胀、脱色、脏污、破损、烧焦等不良现象。元件脚浸锡（1分钟）后目检不允许有上锡不均匀或某些点外不上锡的现象。贴片及金属膜电阻性能测试用LCR电桥测试用LCR测试仪按照元件规格型号和零件规格书进行阻值测试，偏差在规格范围内则合格，反之不合格。氧气膜电阻及水泥电阻性能测试用LCR电桥及SYB-3002直流稳压电源测试调节直流稳压电源电压到U =W阻标R，用引线将电阻串接到稳压电源两极上，测量其标称功率，持续10分钟应发热良好，不允许出现本体鼓胀、爆炸，击穿等现象。 用LCR测试仪按照元件规格型号和零件规格书进行阻值测试，偏差在规格范围内则合格，反之不合格。 深圳*公司IQC进料品质检验项目及判定标准文件编号CX-WI-PZ22-A版 本A文件类型检验规范第 6 页 共 32 页类别：普通电子元件类-（普通贴片电阻、金属膜电阻、氧化膜电阻、水泥电阻、排阻、压敏电阻）抽样方案检 验 规 范1采用GB/T2828-2003正常检查一次抽样方案；2. 允收水准：Cr：0Ma：0.65Mi：1.0检查类别检查项目检查方法技术要求/质量要求不合格（缺陷）分类CrMaMi开箱检查排阻性能测试用LCR 电桥测量测量值R显应在R/DR+标称误差范围内。（R：排阻单个单元的阻值，DR：排阻的单元数目）压敏电阻性能测试用XJ4810半导体管特性图示仪测试测量电压调至220V，漏电流要求小于0. 5mA,电压调至被测元件标称电压值，显示之漏电流值应与该元件规格书相符。 深圳*公司IQC进料品质检验项目及判定标准文件编号CX-WI-PZ22-A版 本A文件类型检验规范第 7 页 共 32 页 类别：普通电子元件类 -（普通贴片电容、电解电容、瓷片电容）抽样方案检 验 规 范1采用GB/T2828-2003正常检查一次抽样方案；2. 允收水准：Cr：0Ma：0.65Mi：1.0检查类别检查项目检查方法技术要求/质量要求不合格（缺陷）分类CrMaMi开箱检查包装目测包装采用一盘或一包为单位目测个体必须放置于包装袋内目测编织袋或包装袋无破损、脏污、变形。目测/与样品及零件规格书核对包装标志与包装内物料型号及数量相符，不得有错装、混装等不良现象。外观（丝印）目测/与样品及零件规格书核对字体清晰，不允许无法辨识目测不允许有重印、错印、多印现象。放入洗板水中浸泡（1分钟）后目检不允许有丝印脱落等其它异常现象。外观（本体）目测表面应平整光滑，无凹凸、无异物、无脏污。卡尺测量/与样品及零件规格书核对元件色泽光亮，型号及尺寸规格与来料标识或零件规格书相符目测元件焊盘或引脚光亮，不允许有脏污、氧化、变色、变形、断脚、破裂、缺损、折脚、弯脚等不良现象。目测不允许有本体膨胀、脱色、脏污、破损、烧焦等不良现象。元件脚浸锡（1分钟）后目检不允许有上锡不均匀或某些点外不上锡的现象。贴片及瓷片电容功能测、试用LCR电桥测试容值用LCR测试仪按照元件规格型号和零件规格书进行容值测试，偏差在规格范围内则合格，反之不合格。电解电容功能测试用TH2686漏电流测试仪进行电解电容漏电流测试用漏电流测试仪按照元件规格型号和零件规格书进行相应之耐压、漏电流及充电时间设置并测试。测试结束不发出报警声则合格，反之不合格。用LCR电桥测试容值用LCR测试仪按照元件规格型号和零件规格书进行容值测试，偏差在规格范围内则合格，反之不合格。 深圳*公司IQC进料品质检验项目及判定标准文件编号CX-WI-PZ22-A版 本A文件类型检验规范第 8 页 共 32 页 类别：普通电子元件类 -（ 发光二极管、整流二极管、单/双向稳压二极管、基准电压稳压管）抽样方案检 验 规 范1采用GB/T2828-2003正常检查一次抽样方案；2. 允收水准：Cr：0Ma：0.65Mi：1.0检查类别检查项目检查方法技术要求/质量要求不合格（缺陷）分类CrMaMi开箱检查包装目测包装采用一盘或一包为单位目测个体必须放置于包装袋内目测编织袋或包装袋无破损、脏污、变形。目测/与样品及零件规格书核对包装标志与包装内物料型号及数量相符，不得有错装、混装等不良现象。外观（丝印）目测/与样品及零件规格书核对明确标识正负极性，字体清晰，不允许无法辨识目测不允许有重印、错印、多印现象。放入洗板水中浸泡（1分钟）后目检不允许有丝印脱落等其它异常现象。外观（本体）目测表面应平整光滑，无凹凸、无异物、无脏污。卡尺测量/与样品及零件规格书核对元件色泽光亮，型号及尺寸规格与来料标识或零件规格书相符目测元件焊盘或引脚光亮，不允许有脏污、氧化、变色、变形、断脚、破裂、缺损、折脚、弯脚等不良现象。目测不允许有本体膨胀、脱色、脏污、破损、烧焦等不良现象。元件脚浸锡（1分钟）后目检不允许有上锡不均匀或某些点外不上锡的现象。发光二极管及双色发光管性能测试用发光管测试工装测试发光颜色符合要求，发光亮度要足够亮整流二极管性能测试用XJ4810半导体管特性图示仪测试实测得出之反向峰值电压与最大正向电压与被测元件规格书相符则为合格。稳压二极管（包括单向及双向稳压二极管）性能测试用XJ4810半导体管特性图示仪测试根据测试电流、稳压值调校好XJ4810半导体特性图示仪，实测得出之稳压值与被测元件规格书相符则为合格。 深圳*公司IQC进料品质检验项目及判定标准文件编号CX-WI-PZ22-A版 本A文件类型检验规范第 9 页 共 32 页 类别：普通电子元件类 -（ 发光二极管、整流二极管、单/双向稳压二极管、基准电压稳压管 ）抽样方案检 验 规 范1采用GB/T2828-2003正常检查一次抽样方案；2. 允收水准：Cr：0Ma：0.65Mi：1.0检查类别检查项目检查方法技术要求/质量要求不合格（缺陷）分类CrMaMi开箱检查基准电压稳压二极管性能测试用辅助工装接稳压电源（5V），并用万用表测试其稳压值（根据元件击穿电压规格选择档位）实测得出之稳压值与被测元件规格书相符则为合格。 深圳*公司IQC进料品质检验项目及判定标准文件编号CX-WI-PZ22-A版 本A文件类型检验规范第 10 页 共 32 页 类别：普通电子元件类 -（三极管）抽样方案检 验 规 范1采用GB/T2828-2003正常检查一次抽样方案；2. 允收水准：Cr：0Ma：0.65Mi：1.0检查类别检查项目检查方法技术要求/质量要求不合格（缺陷）分类CrMaMi开箱检查包装目测包装采用一盘或一包为单位。目测个体必须放置于包装袋内。目测编织袋或包装袋无破损、脏污、变形。目测/与样品及零件规格书核对包装标志与包装内物料型号及数量相符，不得有错装、混装等不良现象。外观（丝印）目测/与样品及零件规格书核对字体清晰，不允许无法辨识。目测不允许有重印、错印、多印现象。放入洗板水中浸泡（1分钟）后目检不允许有丝印脱落等其它异常现象。外观（本体）目测表面应平整光滑，无凹凸、无异物、无脏污。卡尺测量/与样品及零件规格书核对元件色泽光亮，型号及尺寸规格与来料标识或零件规格书相符。目测元件焊盘或引脚光亮，不允许有脏污、氧化、变色、变形、断脚、破裂、缺损、折脚、弯脚等不良现象。目测不允许有本体膨胀、脱色、脏污、破损、烧焦等不良现象。元件脚浸锡（1分钟）后目检不允许有上锡不均匀或某些点外不上锡的现象。性能测试用XJ4810半导体管特性图示仪测试实测得出之放大倍数及特性图要与被测元件规格书相符。 深圳*公司IQC进料品质检验项目及判定标准文件编号CX-WI-PZ22-A版 本A文件类型检验规范第 11 页 共 32 页 类别：普通电子元件类 -（三端稳压器）抽样方案检 验 规 范1采用GB/T2828-2003正常检查一次抽样方案；2. 允收水准：Cr：0Ma：0.65Mi：1.0检查类别检查项目检查方法技术要求/质量要求不合格（缺陷）分类CrMaMi开箱检查包装目测包装采用一盘或一包为单位。目测个体必须放置于包装袋内。目测编织袋或包装袋无破损、脏污、变形。目测/与样品及零件规格书核对包装标志与包装内物料型号及数量相符，不得有错装、混装等不良现象。外观（丝印）目测/与样品及零件规格书核对字体清晰，不允许无法辨识。目测不允许有重印、错印、多印现象。放入洗板水中浸泡（1分钟）后目检不允许有丝印脱落等其它异常现象。外观（本体）目测表面应平整光滑，无凹凸、无异物、无脏污。卡尺测量/与样品及零件规格书核对元件色泽光亮，型号及尺寸规格与来料标识或零件规格书相符。目测元件焊盘或引脚光亮，不允许有脏污、氧化、变色、变形、断脚、破裂、缺损、折脚、弯脚等不良现象。目测不允许有本体膨胀、脱色、脏污、破损、烧焦等不良现象。元件脚浸锡（1分钟）后目检不允许有上锡不均匀或某些点外不上锡的现象。性能测试将元件插入测试工装并用万用表测试其稳压值（根据元件规格选择档位）实测得出之电压值要与被测元件规格书相符。 深圳*公司IQC进料品质检验项目及判定标准文件编号CX-WI-PZ22-A版 本A文件类型检验规范第 12 页 共 32 页 类别：普通电子元件类 -（ 晶振 ）抽样方案检 验 规 范1采用GB/T2828-2003正常检查一次抽样方案；2. 允收水准：Cr：0Ma：0.65Mi：1.0检查类别检查项目检查方法技术要求/质量要求不合格（缺陷）分类CrMaMi开箱检查包装目测包装采用一盘或一包为单位。目测个体必须放置于包装袋内。目测编织袋或包装袋无破损、脏污、变形。目测/与样品及零件规格书核对包装标志与包装内物料型号及数量相符，不得有错装、混装等不良现象。外观（丝印）目测/与样品及零件规格书核对字体清晰，不允许无法辨识。目测不允许有重印、错印、多印现象。外观（本体）目测表面应平整光滑，无凹凸、无异物、无脏污。卡尺测量/与样品及零件规格书核对元件色泽光亮，型号及尺寸规格与来料标识或零件规格书相符。目测元件焊盘或引脚光亮，不允许有脏污、氧化、变色、变形、断脚、破裂、缺损、折脚、弯脚等不良现象。目测不允许有本体膨胀、脱色、脏污、破损、烧焦等不良现象。元件脚浸锡（1分钟）后目检不允许有上锡不均匀或某些点外不上锡的现象。性能测试将晶振接入晶振测试工装,并用HC-F1000L频率计测试其频率值.实测得出之频率值要与被测元件规格书相符。 深圳*公司IQC进料品质检验项目及判定标准文件编号CX-WI-PZ22-A版 本A文件类型检验规范第 13 页 共 32 页 类别：普通电子元件类 -（ 保险管 ）抽样方案检 验 规 范1采用GB/T2828-2003正常检查一次抽样方案；2. 允收水准：Cr：0Ma：0.65Mi：1.0检查类别检查项目检查方法技术要求/质量要求不合格（缺陷）分类CrMaMi开箱检查包装目测包装采用一盘或一包为单位。目测个体必须放置于包装袋内。目测编织袋或包装袋无破损、脏污、变形。目测/与样品及零件规格书核对包装标志与包装内物料型号及数量相符，不得有错装、混装等不良现象。外观（丝印）目测/与样品及零件规格书核对字体清晰，不允许无法辨识。目测不允许有重印、错印、多印现象。外观（本体）目测表面应平整光滑，无凹凸、无异物、无脏污。卡尺测量/与样品及零件规格书核对元件色泽光亮，型号及尺寸规格与来料标识或零件规格书相符。目测元件焊盘或引脚光亮，不允许有脏污、氧化、变色、变形、断脚、破裂、缺损、折脚、弯脚等不良现象。目测不允许有本体膨胀、脱色、脏污、破损、烧焦、金属帽脱落等不良现象。性能测试用万用表进行异通测试导通则合格,反之不合格。用稳压电源测试其融断电流当给元件施加其规格融断电流并达到规格时间要求时该保险丝应融断,否则为不合格。 深圳*公司IQC进料品质检验项目及判定标准文件编号CX-WI-PZ22-A版 本A文件类型检验规范第 14 页 共 32 页 类别：普通电子元件类 -（ 拔码开关 ）抽样方案检 验 规 范1采用GB/T2828-2003正常检查一次抽样方案；2. 允收水准：Cr：0Ma：0.65Mi：1.0检查类别检查项目检查方法技术要求/质量要求不合格（缺陷）分类CrMaMi开箱检查包装目测包装采用一管为单位。目测包装管无破损、脏污、变形。目测/与样品及零件规格书核对包装标志与包装内物料型号及数量相符，不得有错装、混装等不良现象。外观（丝印）目测/与样品及零件规格书核对字体清晰，不允许无法辨识。目测不允许有重印、错印、多印现象。外观（本体）目测表面应平整光滑，无凹凸、无异物、无脏污。卡尺测量/与样品及零件规格书核对元件色泽光亮，型号及尺寸规格与来料标识或零件规格书相符。目测元件引脚光亮，不允许有脏污、氧化、变色、变形、断脚、破裂、缺损、折脚、弯脚等不良现象。目测不允许有本体膨胀、脱色、脏污、破损、烧焦等不良现象。元件脚浸锡（1分钟）后目检不允许有上锡不均匀或某些点外不上锡的现象。性能测试装上拔码开关专用工装测试要求拔位开关拔动弹性足够手感良好.否则为不合格。指示灯随拔位动作而指示亮、暗，多次拔动均能正常显示则为合格，否则为不合格。 深圳*公司IQC进料品质检验项目及判定标准文件编号CX-WI-PZ22-A版 本A文件类型检验规范第 15 页 共 32 页 类别：普通电子元件类 -（ 光电耦合器 ）抽样方案检 验 规 范1采用GB/T2828-2003正常检查一次抽样方案；2. 允收水准：Cr：0Ma：0.65Mi：1.0检查类别检查项目检查方法技术要求/质量要求不合格（缺陷）分类CrMaMi开箱检查包装目测包装采用一盘或一包为单位。目测个体必须放置于包装袋内。目测编织袋或包装袋无破损、脏污、变形。目测/与样品及零件规格书核对包装标志与包装内物料型号及数量相符，不得有错装、混装等不良现象。外观（丝印）目测/与样品及零件规格书核对字体清晰，不允许无法辨识。目测不允许有重印、错印、多印现象。外观（本体）目测表面应平整光滑，无凹凸、无异物、无脏污。卡尺测量/与样品及零件规格书核对元件色泽光亮，型号及尺寸规格与来料标识或零件规格书相符。目测元件引脚光亮，不允许有脏污、氧化、变色、变形、断脚、破裂、缺损、折脚、弯脚等不良现象。目测不允许有本体膨胀、脱色、脏污、破损、烧焦等不良现象。元件脚浸锡（1分钟）后目检不允许有上锡不均匀或某些点外不上锡的现象。性能测试按芯片型号将光耦装入光耦测试工装对应插座后测试锁定芯片后，工装上显示5V高电平，按下第一组按钮，工装上显示不变，为5V。再按电平转换按钮，工装上显示应转换为小于0. 3V的低电平。符合以上结果则合格,否则为不合格。 深圳*公司IQC进料品质检验项目及判定标准文件编号CX-WI-PZ22-A版 本A文件类型检验规范第 16 页 共 32 页 类别：普通电子元件类 -（ 电位器 ）抽样方案检 验 规 范1采用GB/T2828-2003正常检查一次抽样方案；2. 允收水准：Cr：0Ma：0.65Mi：1.0检查类别检查项目检查方法技术要求/质量要求不合格（缺陷）分类CrMaMi开箱检查包装目测包装采用一盘或一包为单位。目测个体必须放置于包装袋内。目测编织袋或包装袋无破损、脏污、变形。目测/与样品及零件规格书核对包装标志与包装内物料型号及数量相符，不得有错装、混装等不良现象。外观（丝印）目测/与样品及零件规格书核对字体清晰，不允许无法辨识。目测不允许有重印、错印、多印现象。外观（本体）目测表面应平整光滑，无凹凸、无异物、无脏污。卡尺测量/与样品及零件规格书核对元件色泽光亮，型号及尺寸规格与来料标识或零件规格书相符。目测元件引脚光亮，不允许有脏污、氧化、变色、变形、断脚、破裂、缺损、折脚、弯脚等不良现象。目测不允许有本体膨胀、脱色、脏污、破损、烧焦等不良现象。元件脚浸锡（1分钟）后目检不允许有上锡不均匀或某些点外不上锡的现象。性能测试用万用表测量其中两脚阻值实测得出之阻值要与元件规格书相符。万用表表笔一条夹隹电位器一固定脚,另一条夹隹一变化脚,转动电位器手柄或旋钮,测试其各档阻值万用表显示的阻值须在0-标称值之间变化。 深圳*公司IQC进料品质检验项目及判定标准文件编号CX-WI-PZ22-A版 本A文件类型检验规范第 17 页 共 32 页 类别：普通电子元件类 -（ 变压器 ）抽样方案检 验 规 范1采用GB/T2828-2003正常检查一次抽样方案；2. 允收水准：Cr：0Ma：0.65Mi：1.0检查类别检查项目检查方法技术要求/质量要求不合格（缺陷）分类CrMaMi开箱检查包装目测包装采用一盘或一包为单位。目测个体必须放置于包装袋内。目测编织袋或包装袋无破损、脏污、变形。目测/与样品及零件规格书核对包装标志与包装内物料型号及数量相符，不得有错装、混装等不良现象。外观（丝印）目测/与样品及零件规格书核对本体上必须标明变压器型号,字体清晰，不允许无法辨识。目测不允许有重印、错印、多印现象。外观（本体）目测表面应平整光滑，无凹凸、无异物、无脏污。卡尺测量/与样品及零件规格书核对元件色泽光亮，型号及尺寸规格与来料标识或零件规格书相符。目测元件引脚光亮，不允许有脏污、氧化、变色、变形、断脚、破裂、缺损、折脚、弯脚等不良现象。目测不允许有本体膨胀、脱色、脏污、破损、烧焦、等不良现象。卡尺测量各引线长度不得小于18mm.元件脚浸锡（1分钟）后目检不允许有上锡不均匀或某些点外不上锡的现象。性能测试按照元件规格书所示之负载值带上负载,并通电测试,用万用表测试各次级电压值初级输入电压为220V时,各次级绕组的输出电压值要符合元件规格书要求。用万用表串接到初级,测试其电流初级电流应符合元件规格书要求。DF2672耐压测试仪测试初、次级与外壳耐压试验（按元件相应规格参数设置高压测试仪之耐压值、电流值及测试时间）耐压测试通过为合格，否则为不合格。 深圳*公司IQC进料品质检验项目及判定标准文件编号CX-WI-PZ22-A版 本A文件类型检验规范第 18 页 共 32 页 类别：普通电子元件类 -（ 继电器 ）抽样方案检 验 规 范1采用GB/T2828-2003正常检查一次抽样方案；2. 允收水准：Cr：0Ma：0.65Mi：1.0检查类别检查项目检查方法技术要求/质量要求不合格（缺陷）分类CrMaMi开箱检查包装目测包装采用一盘或一包为单位目测个体必须放置于包装袋内目测编织袋或包装袋无破损、脏污、变形。目测/与样品及零件规格书核对包装标志与包装内物料型号及数量相符，不得有错装、混装等不良现象。外观（丝印）目测/与样品及零件规格书核对字体清晰，不允许无法辨识目测不允许有重印、错印、多印现象。外观（本体）目测表面应平整光滑，无凹凸、无异物、无脏污。卡尺测量/与样品及零件规格书核对元件色泽光亮，型号及尺寸规格与来料标识或零件规格书相符目测元件焊盘或引脚光亮，不允许有脏污、氧化、变色、变形、断脚、破裂、缺损、折脚、弯脚等不良现象。目测不允许有本体膨胀、脱色、脏污、破损、烧焦等不良现象。元件脚浸锡（1分钟）后目检不允许有上锡不均匀或某些点外不上锡的现象。性能测试用稳压电源给继电器驱动两脚输入一直流电压（电压值按元件规格书要求调节），看其开关能否动作。听到咔咔的声音表示有开关动作，属合格，否则为不合格。 深圳*公司IQC进料品质检验项目及判定标准文件编号CX-WI-PZ22-A版 本A文件类型检验规范第 19 页 共 32 页 类别：普通电子元件类 -（ 霍尔器件 ）抽样方案检 验 规 范1采用GB/T2828-2003正常检查一次抽样方案；2. 允收水准：Cr：0Ma：0.65Mi：1.0检查类别检查项目检查方法技术要求/质量要求不合格（缺陷）分类CrMaMi开箱检查包装目测包装采用一盘或一包为单位目测个体必须放置于包装袋内目测编织袋或包装袋无破损、脏污、变形。目测/与样品及零件规格书核对包装标志与包装内物料型号及数量相符，不得有错装、混装等不良现象。外观（丝印）目