管制图与制程能力分析

智得電子制品有限公司企业标准 文件編號: 21505 管制圖與制程能力分析(SPC)2009-05-01发布 2009-05-01实施智得電子制品有限公司 发 布智得電子制品有限公司主辦單位:品保部管理規章類文件編號:21505版 次: 第 0 版, 頁次: 1/5生效日期: 2008年07月01日管制圖與制程能力分析1. 0目的通過能夠使用X-R管制圖的產品特性,依客戶及產品要求,對特性進行有效監控,提供穩定制程並改善,滿足客戶要求2. 0範圍新產品首產時導入本程序管制;客戶有要求導入本程序時首產和量產均導入本程序.3. 0定義:無4. 0作業流程圖無5. 0作業內容5.1管制圖的优點5.1. 1管制圖是了解制程變異的有效工具,提供作業員或管理者何時需要調整及何時不調整作業的時機5.1.2管制圖可提供供應商與管理者目前制程的品質狀況及穩定度,同時可預測未來生產的結果5.1.3管制圖可用以分析一般機遇原因造成變異的情形,持續的改善制程狀態可達成減低成本及增加產量的目標5.1.4管制圖提供不同限線別、不同制程、不同客戶的相同語言5.1.5管制圖可清楚分別造成變異的原因,並指出需要進行局部或系統面的改善措施5.2管制圖的分類 5.2.1計量型管制圖 5.2.1.1計量型管制圖指制程內的品質特性或制程特性是可以量測的,如長度,溫度,面積,時間或電流等.這些變數可以用位置（制程均數）或離散程度來表示或分析,故計量型的管制圖通常包括2個:X-Chart 及R-Chart, X-Chart用來監測平均值的變化, R-Chart用來監測變異的程度. 5.2.1.2計數型管制圖包含p-Chart, np-Chart, c-Chart及u-Chart來分析變異來源5.3X-R管制圖5.3.1X-R管制圖5.3.1.1建立使用的環境:管理者必須指派特定的人員負責,並支持改善的動作5.3.1.2定義制程:必須了解制程的上下關系(前后制程),並熟悉制程內的各項投入(5M),因果圖及流程圖可幫助對制程的了解5.3.1.3決定制程(品質)特性: 考慮客戶(含下制程)的需求 智得電子制品有限公司主辦單位:品保部管理規章類文件編號:21505版 次: 第 0 版, 頁次: 2/5生效日期: 2008年07月01日管制圖與制程能力分析 考慮目前或潛在性的問題所在,此提供一個改善品質的機會 制程(品質)特性間的共同點,如果數個制程(品質)特性之間是相關的,則找出一個最容易量測的進行管制. 5.3.1.4定義量測系統:必須定義制程(品質)特性是在何處,使用什么工具,在什麼環境下進行量測,量測的結果必須具有可重復性與再現性. 5.3.1.5減少不需要的變異:盡量減少必要的干擾源,如人員、工具的更換,材料的變更等5.3.2 X-R管制圖制作步驟5.3.2.1決定管制主題,如尺寸.5.3.2.2收集數據(可用查檢表方式)及數據要求. 樣本大小:通常為2至5,樣本大小必須能反映出目前制程的狀態 樣本頻率:管制的目的是要偵測出制程的變化,因此抽樣頻率的選擇必須能反映出制程可能變化的時機,如換線時,作業員精神較差時,暖機時,如果制程顯示穩定性非常高,則抽樣頻率可以考慮減少. 抽樣數:抽樣數愈多愈能反映出制程實際的情形,一般而言25以上才足夠. 5.3.2.3求每組的平均值(X)及樣本內的差距(R)X= X1+X2+Xn R=X(最大)-X(最小) n 5.3.2.4求X與R X1+X2+XK KR1+R2+Rk K X = R= 5.3.2.5求CL,UCL,LCL UCLR=D4R LCL R=D3R UCLX = X+ A2R LCL X = X- A2R 其中D4、D3、A2為依照樣本大小所決定的常數N2345678910D43.272.572.282.112.001.921.861.821.78D30.080.140.180.22A21.881.020.730.580.480.420.370.340.31對於樣本容量小於7的情況,LCLR可能技術上為一個負值,在這種情下沒有下控制限,這意味著對於一個樣本數為6的子組,6個“同樣的”測量結果是可能成立的智得電子制品有限公司主辦單位:品保部管理規章類文件編號:21505版 次: 第 0 版, 頁次: 3/5生效日期: 2008年07月01日管制圖與制程能力分析 5.3.2.6點圖:將每組的X及R依順序點入X圖及R圖5.3.2.7判讀(異常之管制圖的判讀): 1.當有一個點超出管制界限外時 UCL +3 A區 +2 B區 +1 C區 CL 2.當有連續三點有2點在三個標準差(A)區時 UCL +3 A區 +2 B區 +1 C區 CL 3.當有連續五點中有4點出現二個標準差(B)區以外時 UCL+3 A區 +2 B區 +1 C區 CL 4.當有連續八點出現在中心線和上限(或下限)之間的區域時+3 A區 +2 B區 +1 C區 CL5.當有連續7點上升(或下降)時,必有問題,應立即采取預防措施l 當有連續5點上升(或下降)時,須注意以后動態l 當有連續6點上升(或下降)時,須開始調查其原因+3+2 +1 -1 -2 -35.3.2.8分析智得電子制品有限公司主辦單位:品保部管理規章類文件編號:21505版 次: 第 0 版, 頁次: 4/5生效日期: 2008年07月01日管制圖與制程能力分析5.4制程能力分析 5.4.1制程能力的分析 5.4.1.1制程在統計的穩定狀態中 5.4.1.2由制程抽取出的每一樣本都符合常態分配 5.4.1.3規格符合客戶的要求 5.4.1.4管制的中心值與規格值一致 5.4.1.5量測所造成的變異相對於制程本身的變異是小的 5.4.2制程能力指數 5.4.2.1CPK計算及相關符號說明n 符號說明n USL:表示工程規格上限.(UPPER SPECIFICATION LIMIT)n LSL:表示工程規格下限(LOWER SPECIFICATION LIMIT)n R:表示全距(R)管制圖中的平均全距.n d2:為一個系數,可由管制圖系數表中查得.n Cp:相對於規格僅表示制程變異的指數.n2345678910d21.131.692.062.332.532.702.852.973.08USL-LSLCp=Rd26n Cpk:相對於規格同時表示制程集中與變異的指數USL-X X-LSL ,Cpk=min33Rd2Rd2 5.4.2.2 Ppk計算及相關符號說明n 符號說明n USL:表示工程規格上限.(UPPER SPECIFICATION LIMIT)n LSL:表示工程規格下限(LOWER SPECIFICATION LIMIT)n X:表示所搜集或抽樣資料的平均n :表示自所搜集或抽樣資料中所推算(估計)的標準差.智得電子制品有限公司主辦單位:品保部管理規章類文件編號:21505版 次: 第 0 版, 頁次:5/5生效日期: 2008年07月01日管制圖與制程能力分析Pp=USL-LSL 6n Pp:相對於規格僅表示制程變異的指數 n Ppk:相對於規格同時表示制程集中與變異的指數USL-X X- USL 3 , 3Ppk=min 5.4.2.3 Cpk值的分級與衡量 等級Cpk值相應標準差不良率相應措施A2.0(含)以上6p0.本公司的优勢,需要時配合管制圖管制B1.67-2.05p0.希望制程能夠達到的水準,應考慮配合管制圖管制C1.33-1.674p0.00006產品可免檢,但應考慮配合管制圖管制D1.0-1.333p0.0027制程有改善空間,要改善並可采取抽樣的方式檢驗產品E0.67-1.02p0.0455制程應進行項目改善並考慮設置檢查站,確認唯有合格的才可進入下一制程,並通知制造部門停線整改F0.33-0.672p0.3174制程很差,應考慮實施全檢,並通知制造部門停線整改CPK1.0時,開出異常改善報告單,經品保理級主管核準后通知制造部門停線整改,並提出對策. 5.4.2.4制程能力指數與相應措施n 同時衡量集中(平均)與分散(變異)狀況n 在評估制程時,首先觀察Cpk值是否符合要求,若不符合時,可衡量Cp值以采取相應的對策C