Agilent3070 常用元器件调试方法 Analog ppt课件

Agilent3070常用元器件调试方法 一 电阻电容 1 电阻在调试电阻的时候 IBUS SBUS GBUS要设对 RE值要设置合理 图2是Agilent推荐的参数 通常debug方法 a 修改RE值b 加GBUSc 加wait时间d 加ed或en如图1所示 在测试电阻R83时我们正确的程序应为 disconnectallconnectsto VP2P5 connectito PHY1 REFCLK 125M SEL IBus尽量不要连电源和地connectgto GND 隔离点要加对位置resistor10k 2 00 2 00 re4 wb ar100m 图1 图2 2 电容在调试电容时 IBUS SBUS GBUS要设对 RE FR值要设置合理 图4是Agilent推荐的参数 常用debug方法 a 修改RE值b 加GBUSc 加wait时间d 加ed或ene 修改fr值如图3所示 在测试电容C7115时我们正确的程序应为 disconnectallconnectsto GND connectito VP5P0 EN IBus尽量不要连电源和地connectgto 12V 隔离点要加对位置capacitor0 1u 20 00 20 00 fr1024 re3 wb ar100 0m nocomp 图3 图4 二 二极管 稳压二极管 三极管 图5稳压管 图7NPN三极管 图6二极管 图8PNP三极管 图5稳压管 图9发光二极管 1 二极管在调试二极管的时候 IBUS SBUS要设对 CO电压 IDC电流值要设置合理 IBUS连二极管的正极 SBUS连二极管的负极 正常状态下 CO一般不超过4 5V IDC不超过30m 调试时要把IBUS SBUS反过来测试 确保反向后能测试FAIL 常用调试方法 a 修改idcb 修改co c 加wait时间d 加ed 注意 二极管测试不能加EN 如图6所示 在测试二极管CR18时我们正确的程序应为 disconnectallconnectsto 1 connectito 2 diode850m 450m idc10 0m co3 30 ar850m 2 稳压二极管稳压二极管的IBUS SBUS刚好和二极管的连接是反的 IBUS连稳压管的负极 SBUS连稳压管的正极 正常状态下 CO减去稳压管额定压不大于3V IDC不超过30m 调试时要把IBUS SBUS反过来测试 确保反向后能测试FAIL 常用调试方法 a 修改idc b 修改co c 加wait时间 d 加ed 注意 二极管测试不能加EN 如图5所示 在测试稳压管CR107时我们正确的程序应为 disconnectallconnectsto 2 connectito 1 zener2 5 10 3 10 0 idc15m co4 2 ar2 5 1 发光二极管发光二极管除了测试二极外 还可以测试光的颜色和亮度 主流器件有Smartfinn Ultrafinn二极管测试 方法和普通二极管相同 如图9所示 在测试二极管LED16时我们正确的程序应为 disconnectallconnectsto K connectito A diode2 4 1 6 idc10 0m co3 30 ar2 亮度和颜色测试 Smartfinn需要上5V电压 通过PIN卡驱动LED使其发光 然后测试Smartfinn的信号PIN的频率和电压 频率值为颜色 电压值为亮度testpoweredanalogconnectsto A connectato K sourcedcv amplitude2 2 terminated50 icompliance1 onauxiliarydcv amplitude 0 4 icompliance1 on 修改这里的电压可能改变LED的亮度wait100m Preferredwaittimeforstability UltraFinn Maybeloweredduringdebugtoincreasethroughput test Intensity test Color Frequency endtest Smartfinn Ultrafinn 亮度 subtest Intensity connectitonodes LED16 OPTICAL DEVICE PIN SENSE connectltogrounddetectordcv expect2 0 rejection1 SmartFINNuCode2 42ornewer detectoracv expect3 0 SmartFINNuCode2 20orolder measure500m 100m LEDoff measure4 99 4 69 LEDtoobright saturation measure4 65 600m LEDonforallrangeofintensitymeasure4 00 2 00 Setactuallimit UltraFinnendsubtest 颜色 subtest Color Frequency connectrcvatonodes LED16 OPTICAL DEVICE PIN SENSE connectltoground detectorfrequency expect10k thresholdOffset gate1detectorfrequency expect10k threshold2 0 gate1 Besureupdatetoleranceforproduction measure1 0300k 0 9700k 0 000k 0 Off NoLight UltraFinn measure2 7300k 1 7100k 0 000k 0 Saturation TooBright UltraFinn measure12 5000k 12 0000k 00 00k 0 Red UltraFinn measure11 7500k 10 7500k 00 00k 0 Orange UltraFinn measure10 1700k 8 7500k 00 00k 0 Yellow UltraFinnmeasure8 4200k 6 3000k 00 00k 0 Green UltraFinn measure6 0000k 5 5000k 00 00k 0 Blue UltraFinnendsubtest 3 三极管三极管分NPN型和PNP型两种 我们一般只对它进行二极管测试 NPN的B为正 C E分别为二个二极管的负极 PNP刚好相反 B为负极 C E分别为二个二极管的正极 具体调试方法与二极管一致 如图a所示 在测试三极管Q25时 正确的程序应为 disconnectallconnectsto E connectito B diode B E 880m 597m idc10m co3 0 ar1 1 wa10m q15B E test offfailuredisconnectallconnectsto C connectito B diode B C 880m 603m idc10m co3 0 ar1 1 wa10m q15B C test 如图b所示 在测试三极管Q17时 正确的程序应为 disconnectallconnectsto B connectito E diode B E 880m 597m idc10m co3 0 ar1 1 wa10m q17B E test offfailuredisconnectallconnectsto B connectito C diode B C 880m 603m idc10m co3 0 ar1 1 wa10m q17B C test 三 FET MOS管 FET的电路符号 1 元件介绍FET分结型和绝缘栅型 绝缘栅型又分耗尽型和增强型两种 如下图所示 FET分类 FET二极管测试 右图中的NFET disconnectallconnectsto 3 connectito 2 diode1 15 546m idc20m co3 3 ar1 15 测试S D极间的二极管 右图中的PFET disconnectallconnectsto 2 connectito 3 diode1 15 546m idc20m co3 3 ar1 15 2 测试方法ICT上比较常见的为绝缘栅型FET 以下我们主要对这两种FET的测试进行讲解 FET测试可分三步 1 CRtest S极和D极二极管测试 2 QFtest MOS管的导通电阻 3 ON OFFtest MOS管的开关特性 FETQF测试 disconnectallconnectsto 2 connectito 3 connectgto 1 nfetr205 22 6 re2 ar500m am0 75 wa20m 测试FET的导通阻抗 N型管为nfetr P型管为pfetr调试时须要交叉i s验证常用调试方法 a 修改am值b 修改re值c 加wait时间 FETON OFF测试 testpoweredanalogdisconnectallconnectstopins3connectitopins3connectltopins1connectatopins2test Von test Voff endtest 通过控制G极信号 模拟FET导通 截止时的漏极电压验证FET功能缺失 注意脚位跟电路一致 测试FET的开关特性 subtest Von sourcedcv am3 3 terminated500 ico1 onauxiliarydcv am3 3 on ico1detectordcv expect100mwait10mmeasure500m 100mendsubtest 可debug参数 am terminiated Wait时间Sourceam不可以为0V am电压值视电路而定 a FET导通测试 ON N管方法 在D极给一个高电平 G极给一个高电平 能够达到导通条件 MOS管会导通 那么D极的电压会被拉到GND 变成低电平 subtest Von sourcedcv am3 3 terminated500 ico1 onauxiliarydcv am0 on ico1detectordcv expect100mwait10mmeasure1200m 100mendsubtest 可debug参数 am terminiated Wait时间Sourceam不可以为0V am电压值视电路而定 a FET导通测试 ON P管方法 在S极给一个电压 G极给0V MOS管会导通 那么S极的电压会被拉到GND 变成低电平 subtest Voff sourcedcv am3 3 terminated500 on ico1auxiliarydcv am0 0 on ico1detectordcv expect3 3wait10mmeasure3 5 2 5endsubtest a FET截止测试 OFF N管方法 在D极给一个电压 G极给一个OV MOS管处于截止状态 那么D极电压不变 可debug参数 am terminiated Wait时间Sourceam不可以为0V am电压值视电路而定 subtest Voff sourcedcv am3 3 terminated500 on ico1auxiliarydcv am3 3 on ico1detectordcv expect3 3wait10mmeasure3 5 2 5endsubtest a FET截止测试 OFF P管方法 在S极给一个高电平 G极给一个高电平 MOS管处于截止状态 那么S极电压不变 可debug参数 am terminiated Wait时间Sourceam不可以为0V am电压值视电路而定 a FETON OFF仿真对比 三 光耦 1 元件介绍光耦合器以光为媒介传输电信号 它对输入 输出电信号有良好的隔离作用 光耦合器一般由三部分组成 光的发射 光的接收及信号放大 输入的电信号驱动发光二极管 LED 使之发出一定波长的光 被光探测器接收而产生光电流 再经过进一步放大后输出 这就完成了电 光 电的转换 从而起到输入 输出 隔离的作用 光耦的主要特点 输入与输出之间绝缘 绝缘电压可达数千伏 信号传输为单方向 输出信号不会对输入信号有影响 能传输模拟信号也可传输数字信号 抗干扰能力强 体积小 寿命长 由于无触头 因此抗振性强 光耦的主要应用 主要应用于隔离电路 开关电路 逻辑电路 信号长线传输 线性放大电路 隔离反馈电路 控制电路及电平转换电路等 下图是我们常见的光耦 1 阳极2 阴极3 发射极4 集电极 2 测试方法光耦测试可分二步 1 CRtest 阳极和阴极二极管测试 3 ON OFFtest 光耦的开关特性 光耦二极管测试 测试阳极和阴极间的二极管 右图中的光耦 disconnectallconnectsto 2 connectito 1 diode1 8 1 4 idc10m co3 0 ar2注 二极管导通压降和光耦的型号有关 不同的型号导通电压不一样 a 光耦导通测试 ON Mixed测试方法 在阳极给一个电压 阴极给一个电压 通过二个电压产生压差让LED点亮 在集电极给一个上拉的电压 LED点亮后C E脚会导通 电压会被拉成低电平 此方法适用于mixed测试 此方法测试板可以不上电 光耦ON OFF测试 subtest Von sourcedcv am2 2 terminated500 ico1 onauxiliarydcv am0 on ico1detectordcv expect100mwait20mmeasure500m 100mendsubtest testpoweredmixedconnectstopins1connectatopins2connectitopins4connectltogroundtest ON test OFF continuedigitalendtest Combinatorialdefaultdevice u1 setterminatorstoonassignVCCtopins assignOUTtopins4familyTTLpowerVCCoutputsOUTsetloadongroupsOUTtopullupvectorKeepsetOUTto k endvectorunit Test executeKeepcontinueanalogendunit a 光耦导通测试 OFF Mixed测试方法 在阳极给一个电压 阴极给一个相同的电压 让LED截止 在集电极给一个上拉的电压 因光藕截止 C极电压为高电平 此方法适用于mixed测试 此方法测试板可以不上电 subtest OFF sourcedcv am0 0 terminated500 ico1 onauxiliarydcv am0 0 ico1 ondetectordcv expect3measure3 5 3 0endsubtest testpoweredmixedconnectstopins1connectatopins2connectitopins4connectltogroundtest ON test OFF continuedigitalendtest a 光耦导通测试 ON AnalogFunctional测试方法 在电路中光耦的阳极一般都有上拉 我们需控制阴级就可以让其工作 那么我们就