标准解读

GB/T 12085.8-1989 是一项中国国家标准，专注于光学和光学仪器的环境试验方法，具体涉及高压、低压以及浸没条件下的测试要求。该标准旨在为光学仪器及其组件在不同极端压力环境下的性能评估提供统一的试验准则，确保产品在设计、生产和使用阶段的可靠性和稳定性。以下是该标准内容的详细说明：

标准适用范围

本标准适用于各类光学仪器及组件，包括但不限于相机镜头、显微镜、望远镜、激光设备等，在研发、生产及质量控制过程中进行的环境适应性测试。它规定了在高压、低压以及浸没条件下进行试验的具体方法和要求，以模拟这些设备可能遇到的极端使用环境，评估其结构完整性和功能可靠性。

高压试验

高压试验旨在检验光学仪器在高于正常大气压条件下的工作性能和密封性。标准中详细说明了加压方式、压力等级、升压速率、保持时间和降压程序等参数，以及试验前后的检查项目，如外观变化、光学性能衰退以及密封性能验证等。

低压试验

低压或真空试验用于评估光学仪器在低气压或真空环境中的表现，这对于太空应用或高空飞行器上的光学设备尤为重要。标准规定了减压步骤、目标真空度、持续时间以及回压恢复过程，同时要求检查产品是否有漏气、变形、内部气体析出等情况，以及光学性能是否受到影响。

浸没试验

浸没试验则是为了验证光学仪器在水或其他液体环境中的防水能力和耐腐蚀性。标准明确了浸没介质、浸没深度、持续时间以及取出后的检查标准，包括外部与内部的水分渗透情况、功能影响评估以及材料腐蚀状况等。

试验条件与评判标准

针对每种试验类型，标准都设定了具体的试验条件和评判依据，确保测试结果的一致性和可比性。这包括试验环境的温湿度控制、试验设备的要求、数据记录方法以及合格判定准则等。

实施与报告

标准还指导了试验的实施流程，包括前期准备、试验执行、结果分析及最终试验报告的编制。报告应包含试验目的、设备信息、试验条件、观察到的现象、测量数据及结论等，以便于对产品性能进行全面评价。


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  • 被代替
  • 已被新标准代替，建议下载现行标准GB/T 12085.8-2010
  • 1989-12-29 颁布
  • 1990-08-01 实施
©正版授权
【国家标准】GB 12085.8-1989 光学和光学仪器 环境试验方法 高压、低压、浸没_第1页
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文档简介

0中华人民共和国国家标准压、浸没压、浸没试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。本标准适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。2试验目的研究试样的光学、热学、力学、化学和电学等特性受高压、低压、浸没影响的变化程度。验范围4试验条件光学仪器的耐压试验采用下述三种方法。高压条件试验方法80的环境条件为清洁的1*空气或氮气，相对湿度小于30%没条件试验方法82用于在使用期间可能遭到浸没的仪器。反没试验应使用软水并在敞开的水箱里或水压室，进行，授没的深度根据试样的最高部位决定，水温应在1025之间，暴露期间试样的温度不得低二1水温，但也不可超过水温拍。高压条件试验方法80内，阁玉的严酷等级按表1。70809 。m，n，注:1)低压条件试验方法81内低压的严酷等级按表2。表2严酷等级01102103104050610708109与外界的眼差，40士05最大压降，12。00!200110。0m，注:1)没条件试验方法82浸没的严酷等级按表3。表3严酷等级0102 0304020040哎)样的预处理和初始检测暴露前，试样应在温度为40 1 2，相对湿度小于40%力变化曲线如有关标准要求在试验中记录压力随时间变化的曲线，则应采用记录仪记录，如没有适当的记录仪，压力变化曲线应根据不少于10个相等间隔的测量值绘制。应注意:C，否则将会降低所要求的测量准确度;如:用手动代替工作状态2;试样内部体积的变化而产生记录的突变，则应在记录中标明。复和最后检测暴露完成后，试样需放在温度为40士2、相对湿度小于40%的条件下4h。价中间检测和最后检测时光学表面不能出现水膜，但水膜在试样加热期间若能部分消失并在试验结束24 关标准应规定允许的差异。如果由十试样的结构(如封闭式外壳)而使得目视检查看不到渗水现象，则在有关标准中应规定丰众验渗水的方法。了环境试验标记例:选用本标准中的条件试验方法81内低压、严酷等级01、工作状态1的标记为:。一环境试验标样的数W _初始检A“的内容和范围;条件试验方法80和81:如果需要，以此作为判据。!作状态2仁作周期的确定;厂作状态201司检测的内容和范围;恢复(最后检测的内容和范围(评价判据(试验报告的内容和范围。考件) ，姚的对应螺纹公称值按表B 3x x 于干燥器连接夹头。附加说明:本标准由中华人民
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