在测量过程中遇到突然不采点的情况[1].doc

在测量过程中遇到突然不采点的情况，应该怎么办？首先看操作面扳的M灯是否熄灭，如果正常再用指令LISCMM （NAM=LDBCMM：SAVE$CMM）查看机器参数是否正确，如果机器参数不正确，就执行指令CRECMPAR，执行完该指令后，再AUTZER，然后再用指令LISCMM （NAM=GDBCMM：SAVE$CMM)查看各机器参数是否正确机器参数的修改方法机器参数CMM是一种特殊数据类型,通过对CMM参数的修改可以改变测力,速度,精度等参数,下面介绍修改方法:1, DFNCMM可以定义机器参数,可以只定义一项,也可以定义多项,定义完后,其他参数保持不变2,将CMM参数拷贝出来,再修改,系统初始化时,系统会自动将参数从LTC版拷贝到GDB中,所以,要修改机器参数,必须先从GDB中拷贝出来.CPYOBJ (FRM=GDBCMM:SAVE$CMM,TO=CMM.)CVMSKTXT (MSK=PM$CMMTTT,TXT=TXT)LISTXT TXT /查看CMM掩码意义PUTVALS./修改参数USEMAC (NAM=CMM,TYP=CMM)机器参数的修改常用在扫描测量中,有时由于误操作或掉电,机器参数会丢失,利用PUTVALS等可以恢复,当然,也可以用CRECMPAR恢复.迭代法建立坐标系源程序空间定位方向：ELE.$AXI;ELE.$DI;CSY.$XDI;凡是VEC型数据均可以，还可以是自定义，如：DFNAXI （NAM=AXI,.）方向就可以为AXI.$XDI原点：ELE.ACT.PT.X;ELE.ACT.PT.Y;ELE.ACT.DI.X;ELE.$AXI;ELE.PLA;ELE.$PT；ELE.$PT_NOM等其中ELE可以是圆拄，锥平面，轴等建立工件坐标应注意什么任何一个工件,在坐标测量机上测量时,应当分析其测量基准,将这些测量基准(面,圆,圆柱等)依照优先次序分别测量,然后建立工件坐标系,测量基准的选择原则:1.测绘零部件时,应根据零件的的装配,作用关系来确定测量基准;2.进行工艺分析时,测量基准应和工艺基准一致;3.进行工序检测或设备调整时,测量基准应和工艺基准一致;4.在零件质量验收时,测量基准必须和设计基准一致,若设计基准不明确时,应根据零件的装配,作用关系确定零件的测量基准;建立坐标系时,有时为了更精确,需采用逐次逼近法,即在已建立的坐标系中,重新建立坐标系,如圆周均布孔位置度的检测.测量基准即可以定向(X,Y,轴),也可以定点(X,Y,Z零点).在坐标测量时,坐标系的地位相当重要,不同的坐标系测量结果往往差别很大;在二.三维曲线.面扫描测量坐标系尤为重要关于建立工件坐标系的问题坐标系的建立指令BLDCSY用于建立坐标系，建立坐标系的步骤：1、确定第一根坐标轴，从图纸、工艺文件等找出第一基准元素，定出第一根坐标轴。因为三条坐标轴均未知，所以第一根坐标轴的定向元素为空间定向元素，此元素既可以为点、线、面，也可以是圆、圆柱、锥；2、确定第二根坐标轴，从图纸、工艺文件等找出第二基准，因为两条坐标轴未知，所以第二根坐标轴的定向元素为平面定向元素，此元素既可以为点、线、面，也可以是圆、圆柱、锥；3、第三根坐标轴由右手定则确定4、确定X，Y，Z零点；定向元素：凡是VEC型数据均可以定向，元素ELEMENT.$DI（元素的实际方向），轴（AXI）型AXI.$XDI都可以定向，还可以为自定义（DFNAXI，DFNVEC）如：DFNVEC（NAM=VEC$X）VEC$X=：VEC：CIR.$DI举一个例子：假如测量一个圆和两个平面CIR，PLA1，PLA2，CIR1投影在PLA1上，且PLA1，PLA2分别为第一、第二定向元素，那么在BLDCSY中这样填写：BLDCSY （NAM=CSY，SPA=PLA1，SDR=Z，PLA=PLA2，PDR=Y，XZE=CIR1，YZE=CIR1，ZZE=PLA1）等价于下面的CODE：VEC：CSY.$ZDI=：VEC：PLA1.$DIVEC：CSY.$YDI=：VEC：PLA2.$DICSY.$ZP.X=CIR.$PT.XCSY.$ZP.Y=CIR.$PT.YCSY.$ZP.Z=PLA1.$PT.Z从上可以看出空间、平面的定向元素可以为点、线、面，也可以是圆、圆柱、锥，因为这些元素都有方向和中心（重心）。VEC：CSY.$XDI=：VEC：ELEMENT.$DIVEC：CSY.$YDI=：VEC：ELEMENT.$DIVEC：CSY.$ZDI=：VEC：ELEMENT.$DICSY.$ZP.X=ELEMENT.$PT.XCSY.$ZP.Y=ELEMENT.$PT.YCSY.$ZP.Z=ELEMENT.$PT.Z如何校准圆柱测头校准圆柱测头三种方法:1.CALCYL2.块规:DFNNOR (VAL=块规长度)CALGAGE (NAM=PRB(1),.)3.手动(块规)DFNPRB (NAM=PRB(1)DFNNOR (VAL=块规长度)MEPLA (NAM=PLA.)BLDCSY (NAM=CAL$CSY.)MEPLA (NAM=PLA1.)COLPTS (NAM=PRB(1).)CALCPRB (NAM=PRB(1).)LISPRBVEC型数据是什么？VEC数据就是方向矢量,因为点也有方向,所以点也可以定向,只是实际建坐标系时用得不多.空间定向元素(ELEMENT)不是Z轴,它可以确定坐标系任何一根轴的方向平面的构造方法指令OFSPLANE计算三个球的两张公共切平面(OF1,OF2),这些球具有给定的X,Y,Z及到偏置面的距离(半径),这个距离必须大于等于零.构造出的平面的(X,Y,Z)和方向由三个切点确定.下面给出构造平面的其他方法:1.利用已有的点.线.面构造,指令CPLPPLPT,CPLSAXPT,CPLIAXPT,CPLSPLAX,MCSPLPL和SYMPLA都可以构造平面;2.由实际点构造由已有的实际点构造:BLDPLA或MEPLA (.MOD=NOM),实际点来源:CPYAPT,EXCHNG,COLAPT,SPRAPT(MECOL),CNVFIL等;3.直接定义DFNELE (NAM=PLA,TYP=PLA)CRSUBTYP (NAM=PLA,TYP=ELE,STY=ACT)PUTVALS (NAM=PLA.ACT,RDS=(X,Y,Z,U,V,W),VAL=(X$,Y$,Z$,U$,V$,W$)如果知道中心和方向,则如下:PLA.$PT=:VEC:PT$ELEPLA.$DI=:VEC:DI$ELE其中X$,Y$,Z$,U$,V$,W$和PT$ELE,DI$ELE均为已知4.由已知的元素转换指令TRAOBJ,TRAELE等可以将已测的元素进行平移,旋转等转换,构造出新的元素,方法如下:(1).TRAOBJ是转换综合指令,可以进行ELE,CSY等的转换,还可以将GDB,LDB中的数据(如PRB,CMM)互相拷贝;(2).TRAELE在TRAELE前必须定义变换,如ROTATION,SHIFT;(3).多坐标系中ELE的转换多坐标中,各元素的转换可以用下面的方法:1).FINDTRA 找出坐标系间的关系2).EXETRA 执行转换平面的构造方法较多,在实践中应根据具体情况,选择合适的方法构造,这些方法同样适合其他点.线.圆等元素.扫描怎么停止将STO点的A,B,P区域分别设为:1,1,PNT;用PUTVALS或CPPY键实现手动采点做圆柱，评价时数据不正常，怎么办？有可能是计算方法出错。圆柱的计算方法有三种：第一种前六点一定要均匀分布在被测圆柱的两个截面上；第二种-前八点一定要均匀分布在被测圆柱的两个截面上；第三种-先在圆柱的母线上测两点，然后在圆柱的某截面上测三点（但此种方法在圆柱的直径大于圆柱的高度时，会计算出错）综上，在测量的快捷程度上，您不防使用第一种方法！关于测量圆的疑问一般我测量时会根据孔的光洁度和公差以及孔的大小来决定测几个点,当光洁度较高且公差很小时,测的点数较多,一般为12-16个,如果孔较为粗糙且公差大时,测的点数较少,一般为4-8个,如果手动测量,一般为四个,对于带螺纹的孔,我认为应该采用其他量具测量,比如螺纹塞规等.当测量出的FORM很大时,应仔细分析是否有粗大点存在,尽量探测平滑过度区域.测量后还可以用MECIREXT和MECIRINT分析最小外接圆和最大内接圆.当采点数超过6个的时候，一般不会出现直径、圆心位置变化很大的情况，当直径小于10时,我认为测量六个点足够,只要FORM不是太大,重复性很好的话还是可以.对圆扫描,扫完后移走粗大点,再进行圆度评价RMVOPT可以移走粗大点几个求距离的指令:1.DIAXIAXI 两条轴线的最短距离2.DIPNTAXI 点到轴线的垂直距离,点可以是圆.圆柱.轴线.球.面等的重心.3.DIPNTPNT 点到点的距离,点可以是圆.圆柱.轴线.球.面等的重心.4.DIPNTSRF 点到元素表面的垂直距离.GAUG2D，GAUG3D，BFIT2D，BFITPT的应用Quindos基本程序GAUG2D，GAUG3D，BFIT2D，BFITPT的应用GAUG2D二维规整指令GAUG2D使一个孔或圆柱模型产生最佳配合，即使一系列在同一圆周上的孔或圆柱产生最佳配合。通过旋转，使圆周上每个孔或圆柱的中心作为实际点和名义的实际点计算偏差达到最小，结果是被旋转和平移好了的最佳位置，最大偏差将作为位置偏差存储起来。如图，实线为孔组中心线实际位置，虚线为实际中测量得到的位置，CIR（4）通过旋转使得偏差a转换为最小偏差b。二维规整步骤：1、 计算名义孔组中心实际点2、 收集实际孔组中心点3、 在无规整情况下实际名义值比较4、 二维规整实际名义值5、 绘图输出计算结果下面一段程序演示上图二维规整：！ Mesure four circles.MECIRXY （NAM=$CIR，MOD=NOE）! 1. Enter the norminal centerpoints into an elementROTATION（NAM=ROT，ANG=90，AXI=Z）DFNELE （NAM=GAU$NOM（1），TYP=CIR）PUTVALS （OBJ= GAU$NOM（1).ACT，RDS=（X，Y，Z，U，V，W，A），VAL=（0，-40，0，0，0，1，10）DO （NAM=I，BGN=1，END=3，DLT=1）TRAELE（NEW= GAU$NOM（I+1），TRA=ROT，OLD= GAU$NOM（I）ENDDOCOLPTS（NAM=NOM，ELE=ELE：GAU$NOM（）EXCHNG（NAM=NOM，MOD=XCH）！2. Collect actual centerpints to a new elementCOLPTS（NAM=ACT，ELE=ELE：CIR（）! 3. compare ACT and nom without gauging （requring for plotting）GAUG2D（ACT=ACT，NOM=NOM，RES=RES$NOM，MXI=0）！4. Compare ACT and nom with gauging （Without considering MMC-value）GAUG2D（ACT=ACT，NOM=NOM，RES=RES1，TOL=0.1，DT1=REF_CYL.$AXI）DFNQUE（NAM=$POS40，MBR=（RES1，BFT1，BFT2，BFT3，BFT4），DEL=Y）GAUG2D（ACT=ACT，NOM=NOM，RES=$POS40，TOL=0.1，DT1=REF_CYL.$AXI）！5.Plotting resultCLRPLOEDTWKP（NAM=WKP$GAUG）GAUG2D_P（RES=RES1，NOM= RES$NOM，MFC=200，MG0=3，TOL=0.1，DT1= Y，MMA=Y，PFR=HP_A3Q，WKP=WKP$GAUG=BFIT2D2D曲线的最佳拟合BFITPT空间点的最佳拟合POSITN和POSITNXY,POSITNYZ,POSITNZX的区别？POSITN是通用位置度指令,POSITN中的三个参考元素可以是面,线等,POSITNXY中参考平面就是就是X和Y轴.POSITNXY用在当前坐标轴(面)就是图纸中位置中的参考POSITN用途更为广泛,可以求斜基准下的位置度斜齿轮如何测量建立坐标系2.定义齿轮参数如齿数,模数,压力角,螺旋角等,选用合适的探针配置,如果有转台测量将更简单(DFNGPA,DFNGCF等)2.测量齿轮(MEGEAR)4.数据输出(LISEVA ELE:.)QUINDOS软件包含已知齿轮和未知齿轮,已知齿轮如直齿轮(包含斜齿)GEARHX和伞齿轮(包含螺旋伞齿轮)GEARBV,直齿一般要求测量齿形,齿向,周节等,伞齿轮一般要求测量周节(累积,相邻Fp,fp,Rp,fu),径跳,拓扑图数据,螺旋角偏差,轮廓角偏差等.齿轮测量一定要建立好坐标系,否则测量结果误差会很大.我的机器较老,必须输入多条指令才能完成测量,新的QUINDOS 7好象只需一条指令就可测完.空间中斜圆柱的生成方法:1.将坐标平面内的圆柱旋转平移(BLDTRA,TRAELE或TRAOBJ)2.旋转平移坐标系(TRACSY,TRAOBJ)3.PATCYL用指令PATCYL生成时,圆柱必须已经测量或是定义大家在实际工作中应多总结,同一问题解决的办法可能有很多种,这时应根据实际情况选择最简便的办法.有次我在没有转台的情况下只用了两根探针(实际一根也能测,只要不怕麻烦)测量一个螺旋伞齿轮(标准测量方式必须有转台或是配置八根星形探针),其中测量周节(Pitch)和径跳(Runout)用一根探针,测量拓扑图数据和螺旋角偏差用一根探针.虽然测量过程麻烦点,一般不建议用转台(高精度齿轮),因为这会带入转台误差.QUINDOS使用感受浅谈QUINDOS的设计遵循模块化的思想,所有软件包全部以函数(指令)的形式给出,用户只需要具有必须的数学,机械公差和计量知识就可按照需要填写相关参数,QUINDOS所有代码一条条解释执行,并不经过编译(早期版本),执行速度很快,而且功能强大,在同行中专业性很强.本人使用QUINDOS已有三年,有下面的感受:1.软件代码设计存在很多缺陷,比如在一个循环中测试两个数的大小,如果一个数类型为CHS,QUINDOS并不停止(Break),而是不断报错.实际设置一个判断条件很简单2.软件本身错误,本人在设计一专用齿轮测量软件中,有一段自动扫描元素生成(自动加入SDA,STA,DIR,STO点以及参数)的代码:DFNELE(NAM=GEA$SCAN,TYP=2DE)/定义扫描曲线CRSUBTYP(.)/初始化NPT为四行CVNANCHSCONCAT(.)/字符串连接PUTVALS(.)/SDA点参数赋值TESTSTRSUBSTR(.)/改为第二行PUTVALS(.)/STA点参数赋值SUBSTR(.)/改为第三行PUTSTR(.)/DIR点参数赋值SUBSTRPUTVALS(.)/STO点参数赋值GENCLP(.)ME2DE(NA=GEA$SCAN)QUINDOS在SDA-STO扫描回路GENCLP时有时会退出系统,这时所有代码必须重写,增加工作量.3.内部代码.QUINDOS有些函数(指令)的代码可以看,例如CURVE_P,这对于我们的学习帮助很大,但是很多关键Command(Symbol)如BFIT2D,RCORPLA等完全隐藏,这些代码存在SDB中,编写时全部成为一个模块,定义Symbol时用Branch value指明在CODE区的某个位置.4.CAD工程落后,这个我就不多说了.总的来说,QUINDOS还是很好的专业软件,只要编写,方法正确,一般不会出现错误.QUINDOS的学习一般来说,QUINDOS学习步骤如下:1.基础如QUINDOS数据库组织,内部掩玛,数据类型和一些数学,计量知识等.QUINDOS最重要的学习过程在于PMM三百多条指令的熟悉,这些指令作为QUINDOS基本构架,是专用软件的开发基础.数据库组织:SDB,LDB,HDB,GDB等的关系,各个数据库的作用一定要明白;内部掩码和数据类型:数据类型(共几十种)如ELE,PRB,CMM,UVS,GPA等,实际QUINDOS的所有操作是对这些数据的操作,其中ELE类型(元素)最为重要,ELE包含五种子类型ACT,NOM,EVA,NPT,APT,相信大家很熟悉.通用元素(UVS)是所有数据的通用格式,实际应用中定义UVS一般用做特殊格式的数据输出或存储.所有数据的名称区域(属性)都由大写A-Z和小写a-z52个字符定义,一般来说不可能52个区域都用到,有些数据的名称区域具有通用性,如ACT子类型的X,Y,Z都表示为重心坐标;有些也不同,如圆.圆柱.锥的A区域表示直径,椭圆表示短轴长度.数学知识:如最小二乘,二维曲线的偏差计算,螺旋线的展开,插线性插值,最佳配合计算等计量知识:测量基准.测量过程,坐标系的建立,螺纹齿轮的测量过程,不管是在何种仪器上测量,测量方法,过程和原理有很多相似.2.形位公差.难点在于位置度计算,距离计算等3.扫描测量.实际上QUINDOS的扫描测量属于高级用户,因为这部分内容包含很多很难的知识,也是最值得用户研究的部分.连续扫描是三坐标测量机很重要的部分,测量时必须合理选用探针直径,配置,速度,密度,扫描精度等4.专用软件.QUINDOS最大的软件包-齿轮非常专业,大家在学习是必须熟悉软件包基本指令,如GEARBV的MEBVMAST,GENBVFLA,FINDBVFLA,BVPITCH,EVACIRPT,DRWFLA等,斜齿和螺旋伞齿轮的测量大家要多根据模数,齿数分析,如何在两根,四根,六根,八根的情况下测量,当然不要直接输入探针号码.其他如螺纹,叶片,蜗杆等一般用得不多5.一些基本技巧,如表格制作,绘图仪操作,键盘操作,控制面板等查看相关说明书一般来说,QUINDOS扫描测量包括以下知识:这些资料包括:1.扫描基础知识,如扫描探测方法(PLA,CYL,AXI),SDA-STO回路各点参数的设置等2.二维,三维曲线半径修正3.常见的数据处理方法,如螺旋线的展开计算,给定点的偏差,最佳配合等.4.绘图仪操作,有时需要在同一张图上按照自己规定的比例画多条曲线,这时绘图仪的操作极为重要.5.数据的输出.输出时做一个漂亮的表头能使数据更为规范.6.二维曲线扫描测量高级程序设计包括自动加入扫描元素(SDA-STO点及其参数),如何编写自己的函数(指令),以及QUINDOS内部掩码等的综合运用.这部分内容需要较高的知识,建议大家先熟悉一些必须的基础知识.GENPTSEXCHNGCURV2D 生成名义曲线，并计算法线方向矢量；ME2DE 在曲线设置SDASTA DIR STO 点，RCOR2D 进行半径补偿，ACNO2D 实际名义曲线相比较，CURV2D_绘图。以上命令就可以完成曲线的测量。QUINDOS基本程序ELE数据交换QUINDOS基本程序ELEELE（元素）是QUINDOS中最重要的数据，因此对ELE的理解和运用至关重要，下面分别讲解。1 ELE基础1）ELE是指面，线，圆，点等基本元素。2）从属类型：NOM，ACT，NPT，APT，EVA，这里只讲重要的NPT、ACT和EVA3）扩展名 ：参见帮助NEX_INFO，技巧：LISHLP (NAM=ALL_INFO)列出QUINDOS所有的帮助目录，如SCA_INFO等2 元素的操作技巧1）、NPT名义点NPT是探针将要探测的点。名义点掩码：X，Y，Z（点的坐标）；U，V，W（点的方向），H（I）探针名称，T（点的类型）。技巧：下面的代码转换NPT掩码为TXT文本CVMSKTXT （MSK=PM$NPTTT，TXT=TXT）EDTTXT TXT名义点的操作一般为点的初始化，点的坐标、方向的拷贝，探针号码的改变以及点的类型的改变等。初始化：名义点的初始化是预先初始名义为n行如下面的代码初始化NPT为四行：DFNELE（NAM=CIR1，TYP=CIR）CRSUBTYP（NAM=CIR1，LIN=4，TYP=ELE，STY=NPT）/初始化CIR为四行LISNPT（NAM=CIR1）指令CRSUBTYP初始化一个子类型。当然，用键盘也可以实现。单点的拷贝和和名义点的合并元素CIR1有四个名义点，CIR2有六个点，要将CIR2的第二个点放在CIR1的第五行（名义点的合并），下面的代码可以实现：DFNELE（NAM=PNT）COLNPT（NAM=PNT，PTS=CIR2，FTS=2，LST=2）/单点的拷贝COLNPT（NAM=CIR1，DEL=N，PTS=PNT）/名义点合并LISNPT（NAM=CIR1）单点坐标（或方向）的拷贝元素CIR1有四个名义点，CIR2有六个点，要将CIR2的第二个点的坐标值（X，Y，Z）或方向（U，V，W）拷贝到CIR1第一个点的坐标（或方向），下面的程序可以实现DFNVEC（NAM=VEC1）VEC1=：VEC：CIR2.NOM.PTS（2）.PTCIR1.NOM.PTS（1）.PT=：VEC：VEC1或CIR1.NOM.PTS（1）.PT=：VEC：CIR2.NOM.PTS（2）.PT方向的拷贝：CIR1.NOM.PTS（1）.DI=：VEC：CIR2.NOM.PTS（2）.DILISNPT CIR1单个坐标的拷贝有时只需要拷贝单个坐标如X，或X，Y等，指令GETVAL，GETVALS，PUTVAL，PUTVALS，GETSTR，PUTSTR等可以实现。下面的代码实现CIR1和CIR2的数据交换DO（NAM=I，BGN=1，END=4，DLT=1）GETVAL（NAM=X$VAL，OBJ= CIR.NOM.PTS（I），DSC=X）GETVALS（OBJ= CIR.NOM.PTS（I），RDS=（Y，Z，U，V，W），REA=（Y$VAL，Z$VAL，U$DI，V$DI，W$VAL），CDS=T，CHS=T）PUTVAL（）PUTVALS（）ENDDO单点的拷贝（只有坐标和方向AXI）有时需要拷贝坐标和方向（PT和DI）这时定义AXI型变量可以实现，如下面的代码：DFNAXI（NAM=AXI1）AXI1=CIR2.NOM.PTS(1).AXICIR1.NOM.PTS(1).AXI=AXI1或CIR1.NOM.PTS(1).AXI= CIR2.NOM.PTS(1).AXI名义点探针号码的改变指令EXCHPRB可以改变全部名义点探针号码，如果要改变某些点的探针号码，就应该改变名义点探针缩引（I），如果探针直径不一样，例：用四根探针生成一圆柱，相邻探针之间相互正交且在同一平面圆柱长度为-20，探针数据必须存储在GDB中（DELPRBS，CPYPRB），程序列表DFNELE（NAM=CY80，TYP=CYL）DFNELE（NAM=CI40，TYP=CIR）CVNAMCHS（CHS=CY80，NAM=CY80）CI40=CI40CRSUBTYP=CY80，LIN=8，TYP=ELE。STY=NPT）GENCIR（NAM=CI40，ZC0=-10，DIA=80，INO=O，PDI=3，ZVL=0）EDTNPT CI40DO（NAM=I，BGN=1，END=4，DLT=1）CONCAT（NAM=CI40（1），STR=（CI40，.NOM.PTS（I），LMG=1）PUTVAL（NAM=CI40（1），DSC=I，TYP=ELE，VAL=I）ENDDOCLP$DIS1=20CLP$DIS3=FSQR（2*FX_2（80+15）/2GENCLP（NAM=CI40，DIS=（CLP$DIS1，5，CLP$DIS3），POS=Y，PRB=GDBPRB:*（）COLNPT（NAM=CY80，DEL=Y，PTS=CI40）TRAOBJ（NAM=CI40，OLD=CI40，SHZ=-20）CRSUBTYP=CI40，LIN=0，TYP=ELE,STY=NPT，REA=NUM$CI40）CVSTRTXT（TXT=PRC$REV，LIN=1，STR=DO I，NUM$CI40-1，1，-1）CVSTRTXT（TXT=PRC$REV，LIN=2，STR=COLNPT CY80，N，CI40，I，I）CVSTRTXT （TXT=PRC$REV，LIN=3，STR=ENDDO）INDPRC PRC$REVMECYL CY80DELCHS（NAM=（CI40，CI80），CNF=N）DELREA （NAM=（CLP$DIS1，CLP$DIS3），CNF=N）2).ACTELE掩码运用之一找出第一个PRB点,第二个PRB点,最后一个PRB点,NPT数目,每个探针名,程序列表:NUM$NPT=0FST$PRB=0SND$PRB=0LST$PRB=0CRSUBTYP(NAM=$C$(-1),TYP=ELE,STY=NPT,REA=NUM$NPT)DO (NAM=J$,BGN=1,END=NUM$NPT)GETVALS(OBJ=$C$(-1).NOM.PTS(J$),TYP=ELE,RDS=I,REA=(PIDX$(J$),CDS=(H,T),.)CVREACHS(NAM=PRB$NAM(J$),VAL=PIDX$9J$),FM1=5,FM2=0,INT=N)CONCAT(NAM=PRB$NAM(J$),STR=(H$(J$(,PIDX$(J$),),LMG=1)IFTHENS(ST1=T$)J$),ST2=PRB,TYP=EQ)IFTHEN(VL1=FST$PRB,VL2=0,TYP=EQ)FST$PRB=J$ELSEIF(VL1=SND$PRB,VL2=0,TYP=EQ)SND$PRB=J$ELSELST$PRB=J$ENDIFENDIFENDDOCLEANUP(.)距离的求法QUINDOS基本程序：距离（DI*，MCD*）基本概念元素：线：空间中重心在某一点且具有一定方向的无限长的直线。面：空间中重心在某一点且具有一定方向的无限伸张的面。圆柱：空间中到某一轴线距离为R的所有点所包容的区域，显然圆柱也为无限区域。距离的概念最短垂直距离：空间中两个无限伸张的两个元素表面的最短垂直距离。距离：两个元素特征点的距离，如元素重心，表面点之间的距离。QUINDOS中距离的求法依照上面的距离定义，很显然，最短垂直距离只在数学上具有几何意义，要求零件上元素表面的距离，必须求元素特征点之间的距离。例如：圆柱之间的距离：实际测量中的圆柱由重心X，Y，Z和方向U，V，W以及A（直径）记录在ACT子类型中，为了求圆柱轴线之间的距离，应该求两个圆柱中任意一个圆柱轴线的重心到另一个圆柱轴线的垂直距离（DIPNTAXI，MCDPTCY，MCDCYCY），因为圆柱的重心是根据测量点拟合出来的，肯定在有效测量范围内。如果用DIAXIAXI，则圆柱将可能“超出”零件上圆柱的测量范围（零件上圆柱必须具有一定高度）去求距离，最短距离点可能不在有效圆柱范围内，显然这是不对的。面和面之间的距离：从上面的讲解不难理解面和面的距离为任一面的重心到另一面表面的垂直距离，MCDPLPL和DIPNTSRF一样，另外还有一条指令DISRFSRF，EL1中必须填ELE1.$PT（和DIPNTSRF等价），如果去掉 .$PT则将报错。下面这些指令等价：圆柱轴线之间的距离：MCDPTCY（NAM=DIS，EL1=CYL（1），TY1=CYL，ST1=PNT，EL2=CYL（2），TY2=CYL）MCDCYCY（NAM=DIS，EL1=CYL（1），TY1=CYL，ST1=PNT，EL2=CYL（2），TY2=CYL）DIPNTAXI（NAM=DIS，EL1=CYL（1），EL2=CYL（2）DIAXIAXI（NAM=DIS，EL1=CYL（1）.$PT，EL2=CYL（2）面和面之间的距离：MCDPLPL（NAM=DIS1，EL1=PLA1，EL2=PLA2）MCDPTPL（NAM=DIS1，EL1=PLA1，EL2=PLA2）DIPNTSRF（NAM= DIS1，EL1=PLA1，EL2=PLA2）DISRFSRF（NAM=DIS1，EL1=PLA1.$PT，EL2=PLA2）其他元素的距离这里不在讲述。请教MCSPLPL指令得到的平面矢量对称平面的矢量叠加分为四种情况：1 两平面方向相同，显然这种情况对称平面和两平面方向相同。2两平面方向相反（夹角为180度），这种情况对称平面的方向和第一个叠加平面（EL1）的方向相同。3两平面夹角大于0度小于90度。这种情况对称平面的方向为两平面的方向矢量的叠加结果。4两平面夹角大于90小于180度。这种情况对称平面的方向为第一个平面反向后再和第二个平面方向的矢量叠加结果。注：两平面夹角指方向矢量的夹角短圆弧的测量方法实际工作中经常会遇到短圆弧的测量,下面给出测量方法:! Define the curve segmentDFNCV2D (SGM=SGM1,TYP=ARC,STA=(.),END=(.),PTS=20,DEL=Y,CSY=CSY,OFS=5)! Check/edit the curve segmentEDTSGM2D (NAM=SGM1)! Generate probing points of the complete contourGENCV2D (NAM=SCAN1,SGM=SGM1,DEL=Y,CLW=N,INO=O)! Check the probing pointsEDTNPT (NAM=SCAN1)! Create a norminal element for comparsionEXCHNG (NAM=SCAN1,TYP=MOV)! The actual points are copied to a new elementCPYAPT (FRM=SCAN1,TO=SCAN$NOM,DEL=Y)! Mesure contourME2DE (NAM=SCAN1)! Calculate contourRCOR2D (SRC=SCAN1,DST=SCAN2.)! Bestfit the actual pointsBFITPT（ACT=SCAN1，NOM=SCAN$NOM，RES=SCAN3，TRA=TRA$SGM，ETY=PD，MXI=100）! Compare the mesured profileACNOPT (ACT=SCAN3,NOM=SCAN$NOM,RES=RES1,ETY=PD)!GETVAL（NAM=REA1，OBJ=RES1.ACT，DST=E）GETVAL（NAM=REA2，OBJ=RES1.ACT，DST=F）GETVAL（NAM=REA3，OBJ=RES1.ACT，DST=D）LISEXP (NAM=(REA1,REA2,REA3)!CVMSKTXT (MSK=PM$APTTT,TXT=TXT)DELTXT (NAM=GDBSTA:PM$APTTT,CNF=Y)EDTTXT TXTCNVTXT TXTSET (NAM=GDBSTA:PM$APTTT,STR=TXT)!Output result pointsLISAPT RES1有些朋友可能会用扫描的办法,再BFIT2D,ACNO2D,但是我单位机器的定位精度高于扫描精度,大家可以做一下试试迭代法建立坐标系源程序！-迭代法建立坐标系源程序-USECSY （NAM=REFR$CSY）EDTNPT （NAM=NOM$SRC）MEPNTSPA（NAM=ACT$SRC，MOD=（NOC，NOE）！EDTMSG（NAM=MIS$NUM）CRSUBTYP （NAM=ACT$SRC，LIN=0，TYP=ELE，STY=APT，REA=NUM$APT）IFTHEN（VA1=NUM$APT，VA2=6，TYP=NE）ENBSYS （NAM=TTYOPN）PTODEV （DEV=TT，PRE=GGGG）LISMSG（NAM=MIS$NUM）BREAKENDIFDO（NAM=I，BGN=1，END=3，CNF=N）COLNPT（NAM=POI（I），FRS=ACT$SRC，LST=I，CPY=I）MEPNT（NAM=POI（I）GENCLP（NAM=POI（I），PRB=PRB（1）FINDDI（NAM=POI（I），DIS=1，CLD=0.01）MEPNT（NAM=POI（I）RCORNOR（NAM=POI（I）ENDDOCOLAPT（NAM=PLA$SRC，PTS=ELE：POI（）MEPLA（NAM=PLA$SRC，MOD=（NOM，NOE）COLNPT（NAM=AXI$SRC，PTS=ACT$SRC，FRS=4，LST=5）GENCLP（NAM=AXI$SRC，DIS=5，POS=Y，PRB=PRB（1）MEPNTSPA（NAM=AXI$SRC，MOD=（NOM，NOE）PRJPTS（NAM=AXI$SRC，PLA=PLA$SRC，TYP=APT）MEAXI（NAM=AXI$SRC，MOD=（NOM，NOE）COLNPT（NAM=POI$SRC，DIS=10，FRS=6，LST=6）GENCLP（NAM=POI$SRC，DIS=10，POS=Y，PRB=PRB（1）MEPNSPA（NAM=POI$SRC，MOD=（NOM，NOE）BLDCSY（NAM=CSY1，SPA=PLA$SRC，SDR=Z，PLA=AXI$SRC，PDR=Y，XZE=POI$SRCYZE=POI$SRC，ZZE=POI$SRC）！-！EDTPRC （NAM=PRC$CSY2）INDPRC（NAM=PRC$CSY2）！-FINDTRA（NAM=TRA，CS1=CSY1，CS2=CSY2）MXI$NUM=5MXI$COUNT=0A1=0A2=0RENAME（FRM=REFR$CSY，TO=CSY$SRC，TYP=CSY）！-1000：MXI$COUNT=MXI$COUNT+1A1=A2COLAPT（NAM=ACT$DST，PTS=ELE：POI（）TRAELE（NEW=TRA$DST，TRA=TRA，OLD=ACT$DST）MRGAPT（DST=NOM$DST，SRC=TRA$SRC，DDS=（U，V，W），DSR=（U，V，W）INVTRA（NEW=TRA1，OLD=TRA）TRACSY（NEW=CSY$NEW，TRA=TRA1，OLD=CSY$SRC）USECSY （NAM=CSY$NEW）EXCHNG（NAM=NOM$SRC，MOD=ATN，TYP=DIR）DO（NAM=1，BGN=1，END=5，DLT=1）IFTHEN（VA1=I，VA2=3，TYP=LE）COLNPT（NAM=POI（I），PTS=NOM$SRC，FRS=I，LST=I）GENCLP（NAM=POI（I），POS=Y，PRB=PRB（1）FINDDI（NAM=POI（I），DIS=1，CLD=0.01）MEPNT（NAM=POI（I），MOD=NOE）RCORNOR（NAM=POI（I）ELSECOLNPT（NAM=POI（I），PTS=NOM$SRC，FRS=I，LST=I）GENCLP（NAM=POI（I），POS=Y，PRB=PRB（1）MEPNT（NAM=POI（I），MOD=NOE）ENDIFCOLNPT（NAM=POI（6），PTS=NOM$SRC，FRS=6，LST=6）GENCLP（NAM=POI（6），POS=Y，PRB=PRB（1）FINDDI（NAM=POI（6），DIS=1，CLD=0.01）MEPNT（NAM=POI（6），MOD=NOE）COLAPT（NAM=ACT$SRC，PTS=ELE：POI（）！-BFITPT（ACT=ACT$SRC，NOM=NOM$SRC，REA=RES$BFT，TRA=TRA$ALG，ETY=PD，MXI=100）ACNOPT（ACT=RES$BFT，NOM=NOM$SRC，RES=RES$，ETY=PD，MOD=NOE）GETVAL（NAM=A2，OBJ=RES$.ACT，DST=E）IFGOTO（VAL=MXI$COUNT-5，EQ0=100）IFGOTO（VAL=FABS（A2-A1）-0.001，GT0=1000）100：USECSY （NAM=CSY$NEW）锥度塞规上测某一截面如图检测锥度环规底部与顶部间某一高度截面的直径建立锥坐标系。用生成法检测内锥锥度测量结果一致性很好，而用生成法检测某一高度截园直径结果与用相交指令MCIPLCO得出的结果不一致（实践中后者可信）想请教大家是什么原因造成的。 Cainiao你用生成法检测某一高度截园的时候方向矢量是否正确,测量后是否有投影,如果正确,那么结果和指令MCIPLCO的结果也肯定不一样,因为MCIPLCO是用数学方法算出的(空间高度的PLANE只能构造或平移),而前者是测量出来的(锥的母线直线度不可能为零),况且还有机器定位误差.机器回家问题机器回零的作用是初始化光栅尺以及启动一些自动补偿程序,误差修正程序等.如果你刚开机,回零之后应为0,0,ZMAX,如果回零之后再回零,则显示的值可能不为零.你的情况如果是刚开机,请关机之后重试,如果还不行,请致电至前哨公司.CPL点是否必须给由上图可以看出,PRB点和紧邻的上个CLP点的连线用做探针半径修正的方向,如果在测量中不给CLP点,则半径修正的方向具有随机性(该点的方向不确定). 你可以做个试验,假设测量一个圆,在不给CLP点的情况下沿X轴正向测一个点,你会发现屏幕上显示该点的NX区域不为-1,且NY和NZ区域可能有不为零(应该为-1,0,0). 用EDTAPT查看实际点也有类似的情况. 所以,在测量中应该在每个PRB点前加上适当的CLP点. 有些情况也可以不加CLP点,但必须指定测量方向(半径修正方向),一般在点,线,面的测量中采用. 大家可能会问如GENCIR(内孔),GENPLA等生成的元素在测量