武大《摄影测量》课件—第16讲-模拟仪器介绍

,摄影测量学Photogrammetry,本33何钰、郭海涛,复习,一空间前方交会定义,二空间前方交会公式,三模型点坐标和地面点坐标的计算过程,基本公式(重点、难点)水平像片对的空间前方交会公式标准式像对的空间前方交会公式,模型点坐标的计算地面点坐标的计算,第15讲空间前方交会,一空间前方交会定义,利用立体像对两张像片的内方位元素、同名像点坐标和像对的相对方位元素（或外方位元素）解算模型点坐标（或地面点坐标）的工作。,第15讲空间前方交会,第15讲空间前方交会,1、利用立体像对两张像片的相对方位元素，计算模型点的三维坐标；,2、利用立体像对两张像片的外方位元素，计算地面点的地面坐标。,一空间前方交会定义,摄影测量学,第15讲空间前方交会,摄影测量学,第15讲空间前方交会,摄影测量学,第15讲空间前方交会,摄影测量学,第15讲空间前方交会,二空间前方交会公式,摄影测量学,第15讲空间前方交会,二空间前方交会公式,如何答解投影系数？,摄影测量学,第15讲空间前方交会,摄影测量学,第15讲空间前方交会,2、水平像片对的空间前方交会公式,二空间前方交会公式,摄影测量学,第15讲空间前方交会,二空间前方交会公式,3、标准式像对的空间前方交会公式,第15讲空间前方交会,第15讲空间前方交会,第15讲空间前方交会,问题的引出,摄影测量学,模拟摄影测量（ConventionalPhotogrammetry）,解析摄影测量（AnalyticalPhotogrammetry）,数字摄影测量（DigitalPhotogrammetry）,x，yx,y？,2002年9月4日,第16讲模拟仪器简介,第16讲模拟仪器简介,摄影测量学,基本原理机械结构,概述光学投影的仪器机械投影的仪器,16-1纠正仪,16-2立体测图仪,16-3视差立体测图仪,基本原理机械结构,一基本原理,摄影测量学,16-1纠正仪,复习：像片纠正的定义,将像片变换为具有规定比例尺的正射像片或图形的技术。,像片纠正的任务：消除像片的倾斜和地形起伏的双重影响。,一基本原理,摄影测量学,16-1纠正仪,复习：一带纠正(整片纠正),对于平坦地区的航片，像片纠正只须消除像片倾斜的影响，所有像点的纠正可以在同一组变换参数下完成。,此时，采取整片纠正，又叫一带纠正，通常称为纠正。,一基本原理,摄影测量学,16-1纠正仪,用光学机械法把平坦地区的倾斜像片纠正为规定比例尺的水平像片，是像片纠正中最常用的方法。这种方法所使用的仪器就是纠正仪。,1、纠正仪的定义,纠正仪是用于进行像片纠正的光学机械型摄影测量仪器。,摄影测量学,2、纠正的光学条件,保证底片平面和承影平面上所有相应点光学共轭的条件.,一基本原理,光距条件,要求底片平面和承影平面上有一对相应点光学共轭的条件.,16-1纠正仪,摄影测量学,2、纠正的光学条件,保证底片平面和承影平面上所有相应点光学共轭的条件.,一基本原理,交线条件,要求底片平面、镜头主平面和承影平面相交于同一直线的条件.,16-1纠正仪,摄影测量学,、纠正的几何条件,在纠正仪上实现正确纠正时，底片在底片平面上的位置以及底片平面、投影中心、承影平面之间的相关位置应满足的条件。,一基本原理,所获得的影像在几何关系上必须是具有规定比例尺的水平像片，这个条件叫几何条件。,16-1纠正仪,摄影测量学,、光学条件与几何条件的结合,一基本原理,几何条件与光学条件的同时实现称为几何条件与光学条件的结合。,16-1纠正仪,二基本结构,摄影测量学,1、照明装置,菱形控制器,圆柱控制器,2、底片盘,3、物镜,4、承影板,5、基座,6、光学控制器,7、自由度,16-1纠正仪,二基本结构,摄影测量学,1、照明装置,菱形控制器,圆柱控制器,2、底片盘,3、物镜,4、承影板,5、基座,6、光学控制器,7、自由度,16-1纠正仪,一概述,摄影测量学,定义：,立体测图仪是能利用立体像对建立摄影的相似光束或仿射变形光束，从而构成所摄地面的相似模型或仿射变形模型，并且能够对这些模型进行三维量测和记录的仪器。,16-2立体测图仪,一概述,摄影测量学,1、按投影方式分类,光学投影的仪器,机械投影的仪器,光学机械投影的仪器,16-2立体测图仪,以像点、投影中心至模型点的投影光线全部由实际的光线构成。,以像点、投影中心至模型点的投影光线用一根精密的机械导杆代替。,所模拟的投影光线从像点到投影中心由实际光线构成，而从投影中心至模型点则用机械导杆代替。,一概述,摄影测量学,1、按投影方式分类,2、按光束形状分类,相似光束的立体测图仪,改变光束的立体测图仪,16-2立体测图仪,要保持投影光束和摄影光束完全相似，因而所建立的几何模型也和所摄地面完全相似。,投影光束和摄影光束不相似，但存在一定的几何关系，依据这些关系仍然可以进行正确的立体量测。最常见的改变光束是标准仿射变形光束，建立的模型则是仿射变形模型。,一概述,摄影测量学,1、按投影方式分类,2、按光束形状分类,3、按性能和精度分类,16-2立体测图仪,按精度分为三级。,按性能分为三类，即全能精密测图仪，精密测图仪和地形测图仪。,二光学投影的仪器,摄影测量学,投影测图仪DP-3,16-2立体测图仪,二光学投影的仪器,摄影测量学,多倍投影测图仪,16-2立体测图仪,二光学投影的仪器,摄影测量学,1、多倍仪的基本结构,投影器,座架,测绘器,绘图桌,附件,16-2立体测图仪,二光学投影的仪器,摄影测量学,1、多倍仪的基本结构,投影器,16-2立体测图仪,二光学投影的仪器,摄影测量学,1、多倍仪的基本结构,座架,16-2立体测图仪,二光学投影的仪器,摄影测量学,1、多倍仪的基本结构,测绘器,16-2立体测图仪,二光学投影的仪器,摄影测量学,1、多倍仪的基本结构,投影器,座架,测绘器,绘图桌,附件,16-2立体测图仪,二光学投影的仪器,摄影测量学,缩小片的制作,装片、归心,相对定向,绝对定向,2、基本作业方法,碎部测图,16-2立体测图仪,三机械投影的仪器,摄影测量学,立体测图仪B8S,16-2立体测图仪,三机械投影的仪器,摄影测量学,立体测图仪TopocartB,16-2立体测图仪,一基本原理,摄影测量学,定义：,16-3视差测图仪,视差测图仪是根据左右视差测算地面点高程、结合单张像片的投影交会法测定地面点平面位置的一种分工法测图仪器。,单纯根据左右视差确定地面点高程的仪器称为立体量测仪。,二机械结构,摄影测量学,16-2视差测图仪,X-2视差测图仪,基座,观察系统,高程量测和校正系统,平面量测和校正系统,绘图系统,摄影测量学,第16讲模拟仪器简介,基本原理机械结构,概述光学投影