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文档简介

测量系统分析(MSA),课程目标,到本课程结束时,学员应能:识别测量系统分析是由哪些部分组成的;完成并理解所有类型的测量系统分析。,测量系统分析,TS16949要求必须对控制计划中指示的所有检验、测量和试验装置进行测量系统分析。,测量系统分析,什么是测量系统分析(MSA)?测量系统分析(MSA)是用于确定测量装置与公差相比的误差。,测量系统分析,测量系统分析(MSA)由哪些部分组成?量具重复性量具再现性偏倚线性稳定性,测量系统分析,那么什么是量具双性?量具双性(R&R)是量具重复性和再现性的首字母缩写。,测量系统分析,量具重复性的定义重复性当由同一操作人员多次测量同一特性时,测量装置重复其读数的能力。这通常被称为设备变差。重复性设备的变差,测量系统分析,量具再现性的定义再现性由不同操作人员使用同一测量装置并测量同一特性时,测量平均值之间的变差。这通常被称为操作员变差。再现性=操作员变差,测量系统分析,有二种类型的量具双性研究计量型-大样法(均值和极差法)计数型量具研究,测量系统分析计量型-大样法(极差法),第1步在下表中记录所有的初始信息。,测量系统分析计量型-大样法(极差法),第2步选择2个或3个操作员并让每个操作员随机测量10个零件2或3次并将结果填入表中。,测量系统分析计量型-大样法(极差法),第3步计算极差和均值,如:,测量系统分析计量型-大样法(极差法),第4步计算均值的平均值,然后确定最大差值并确定平均极差的平均值,如:,均值的平均值,测量系统分析计量型-大样法(极差法),第5步计算UCLR并放弃或重复其值大于UCLR的读数。既然极差已没有大于3.70的值,那么继续进行。,测量系统分析计量型-大样法(极差法),测量系统分析计量型-大样法(极差法),第6步用以下公式计算设备变差:,重复性,设备变差(EV),测量系统分析计量型-大样法(极差法),第7步用以下公式计算操作员变差:,重复性操作员变差(O.V),测量系统分析计量型-大样法(极差法),第8步用以下公式计算重复性和再现性:,重复性和再现性(R&R),测量系统分析计量型-大样法(极差法),第9步对结果进行解释:量具%R&R结果大于30,因此验收不合格。操作员变差为零,因此我们可以得出结论认为由操作员造成的误差可忽略。要达到可接受的量具R&R,必须把重点放在设备上。,测量系统分析计量型重复性再现性(GR&R)判定原则为:,%RR10%,测量系统可以接受!10%RR30%,测量系统尚可接受!%RR30%,测量系统不可以接受!此外,ndc(有效分辨率)取整整,且应该大于等于5。,测量系统分析计数型量具研究,任何量具的目的都是为了发现不合格产品。如果它能够发现不合格的产品,那么它就是合格的,否则量具就是不合格的。计数型量具研究无法对量具有多“好”作出量化判断,它只能用于确定量具合格与否。,测量系统分析计数型量具研究,方法-第1步选择20个零件。选择这些零件时应确保有些零件(假定为26个)稍许低于或高于规范限值。第2步给这些零件编上号码。如果可能的话,最好是在操作员不会注意到的部位。,测量系统分析计数型量具研究,第3步由两位操作员对零件进行两次测量。确保零件为随机抽取以避免偏倚。第4步记录结果。第5步评定量具的能力。,测量系统分析计数型量具研究,验收标准如果所有的测量结果都一致,则该量具是合格的,即所有四次测量必须是相同的。请参阅下一页的示例。,测量系统分析计数型量具研究-示例,测量系统分析偏倚,偏倚的定义偏倚被定义为测量值的平均值与实际值之间的差值。,测量系统分析偏倚,偏倚与准确度有关,因为如果测量值的平均值相同或近似于相同,就可以说是零偏倚。这样的话,所用的量具便是“准确的”。,稳定性,稳定性定义稳定性被定义为在某时间段内过程变差的差值。,测量系统分析稳定性,用以下步骤计算稳定性:第1步取一个标准样品并确定其基准值。第2步按固定周期对标准样品进行5次测量。,测量系统分析稳定性,第3步在R图上标绘数据。第4步计算控制极限值并评估任何超出控制范围的情况。第5步如果存在超出控制范围的情况,则说明测量系统不稳定。,测量系统分析线性,线性的定义线性被定义为在量具预期的工作范围内,量具偏倚值间的差值。,测量系统分析如何确定线性的示例,线性示例:一位工程师很想确定某测量系统的线性。量具的工作范围是2.0毫米至10.0毫米。,测量系统分析如何确定线性的示例,第1步选择至少5个零件用于进行测量,每个零件至少测量10次。在本例中,我们将选择5个零件,每个零件测量12次。参阅下一页中的数据。,测量系统分析如何确定线性的示例,测量系统分析线性,第2步计算零件平均值偏倚极差请参阅下一页。,测量系统分析如何确定线性的示例,测量系统分析如何确定线性的示例,第3步对照基准值描绘偏倚。参阅下一页。,测量系统分析如何确定线性的示例,测量系统分析如何确定线性的示

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