统计公差分析方法概述

统计公差分析方法概述(2012-10-23 19333693304533362)公差设计统计6标准差统计公差分析方法概述一.导言公差设计问题可分为两类。一种是公差分析(也称为正计算)。即，已知构成环的尺寸和公差，用于确定装配后必须保证的封闭环公差。另一类是公差指定(Tolerance Allocation，也称为半计算)。也就是说，已知的组合标注和公差解决了构成回路的经济合理的公差。公差分析方法有极值法和统计公差法，它们根据分布特性构成封闭环和环公差的分析方法称为统计公差法。本文主要探讨统计公差法在单轴尺寸堆栈中的应用。二.Worst Case Analysis极限值方法，也称为最坏情况分析(Worst Case，WC)。也就是说，无论每个零件的尺寸在该公差内如何变化，100%在复合公差范围内的每个零件最极端尺寸的复合公差范围都包含在内。示例vector loop: e=a b c，可根据worst case analysis使用D (max .)(20 0.3)(15 0.25)(10.15)=45.7，a，b，c上限条件D (min .)(20-0.3) (15-0.25) (10-0.2)=44.3，A，B，c下限条件适合用于450.7设计吗？Worst Case Analysis缺陷：设计间隙往往需要更大的空间，不仅设计空间不足，还会导致装配困难。分配公差时，减小配置回路公差会提高零件加工精度要求，增加制造成本。上述零件A零件B零件C假设三种材料与公差规格相比具有3处理能力层次，则每个部门的无机会率为1-0.9973=0.0027。装配后所有零件均有缺陷的可能性为0.0027 3=0.0000009683。这意味着在装配多个零件或多个零件时，同一部件中的每个构造回路很少接近极限大小。三.统计公差分析从制造角度来看，零件大小的误差来自于流程的变异，此变异通常表示统计分布类型，因此，通常将设计的公差规格视为统计类型。统计公差方法是考虑加工过程中零件尺寸误差的实际分布，使用概率统计理论进行公差分析和计算，不要求装配过程中100%的成功率(零件的100%交换)，要求在保证特定装配成功率的情况下适当地扩大构成回路的公差，降低零件(构成回路)加工精度，从而降低制造和生产成本。在多个数据组的线性嵌套操作中，“变异”值可能会嵌套。四。合根法计算公式(平方加根)假设角度尺寸的Ppk指示器为1.33，工艺路线居中在上例中，Part A Part B Part CT=0.44Worst case与统计公差方法的比较公差合成后，公差范围缩小，对设计师来说，较小的公差范围意味着更精确的装配和配合，累积的误差也减少了。分配公差时，每个零件的公差范围均会扩大。对生产者而言，公差范围大，可以更容易地制造和控制生产质量，对生产者有帮助。使用RSS的假设使用RSS统计公差分析方法时，制造加工的零件尺寸值更集中于中心值，输出为正态分布如果公差叠加分析中的各个公差在3过程控制下产生，则RSS公差叠加分析的结果也指示3；也就是说，输入的流程控制等级表示输出的工程控制等级V.6标准偏差分析公差复叠分析中用于制造图征的程序通常更可能不受同一层级控制。公差分析中的公差可以是2，3之一。6标准偏差分析：不同集零件的工艺级别可以不同，分布类型也可以不同。六。公差分析阶段创建公差回路图(闭合尺寸链)检查回路中每个尺寸的设计值和公差检查Loop中每个尺寸的流程能力水平(Cp，Cpk)选择适当的规则和工具进行公差分析。根据分析结果判断为了避免复杂的计算，实际上采用了EXECL表单。这是美国犹他州Brigham Young University机械工程系Ken Chase博士创建的，请在此下载：cats 1d tolerance stack-up :3358 ad c