MSA培训教材(PPT 150页).ppt

测量系统分析MeasurementSystemAnalysis,战略规划与质量系统部,PartMSA概念知识,MSA概念,为什么需要MSA,如果测量系统本身存在问题，那么好的结果可能被测为坏的结果，坏的结果也有可能被测为好的结果，此时便不能得到真正的产品或过程特性。,PROCESS,人,机,法,环,原料,结果,测量,好,坏,测量系统的构成,测量系统构成：量具（Equipment）测量人员（Operator）被测量工件(Parts)程序、方法（Procedure、Methods）上述之交互作用关系。,MSA分析的对象,7.6.1测量系统分析为分析各种测量和试验设备得出的结果中出现的变差，应进行统计研究。此要求应适用于控制计划中提及的测量系统。所用的分析方法和接受准则应符合顾客关于测量系统分析的参考手册的要求。如果得到顾客批准，也可使用其他分析方法和接受准则。,YanfengPlasticOmniumProprietary/AllRightsReserved6,MSA分析的对象,MSA分析的时机,概念提出,设计方案,原型品试做量产,生产计划,批量生产,第一阶段,产品设计与开发,过程设计与开发,产品与过程确认,反馈评审与纠正措施,计划与确定项目,第二阶段,第三阶段,第四阶段,第五阶段,QFD,PFMEADOEQFD,DFMEADOEQFD,PFMEAMSASPCDOE8D,PFMEAMSASPCPPAP,MSA在YFPO应用,在新项目开发过程阶段MSA计划需在试生产控制计划完成后开始编制，并在YFPODSOTS阶段完成编制。,PartMSA概念知识,测量系统误差,测量系统误差,Y=X+测量值=真值+测量系统误差,精密度高，正确度高精确度高，正确度低精确度低，正确度高精确度低，正确度低,理想的测量系统,只产生准确的测量结果，即与基准值一致。测量系统具有零方差、零偏倚和对所测任何产品错误分类为零概率的统计特性。这样的测量系统几乎不存在。,好的测量系统1,足够的分辨率和灵敏度。为了测量的目的，相对于过程变差或规范控制限，测量的增量应该很小。通常仪器的分辨率应把公差(过程变差)分为十份或更多。测量系统应该是统计受控制的。这意味着在可重复条件下，测量系统的变差只能是由于普通原因而不是特殊原因造成。,好的测量系统2,对产品控制，测量系统的变异性与公差相比必须小。依据特性的公差评价测量系统。对于过程控制，测量系统的变异性应该显示有效的分辨率并与过程变差相比要小。根据6变差和或来自MSA研究的总变差评价测量系统。,把普通原因报告成特殊原因把特殊原因报告为普通原因实际与观测过程变差之间的关系是：过程能力指数的计算：,对过程决策的影响,变差源,与所有过程相似，测量系统的变差源由普通原因和特殊原因造成，为了控制测量系统变差识别潜在的变差源排除(可能时)或监控这些变差源。一些典型的变差源是可以识别的。有多种不同的方法可以对这些变差源表述和分类，如因果图等，但MSA将关注在测量系统的主要要素,测量系统误差的来源,测量系统变差对决策的影响,对产品决策的影响,对过程决策的影响,TypeI错误：将好的判成坏的,LSL,USL,对产品决策的影响1,TypeII错误：将坏的判成好的,LSL,USL,对产品决策的影响2,对零件做出错误决定的潜在因素只在测量系统误差与公差交叉时存在。,LSL,USL,I,II,II,I,III,Badisbad,Badisbad,Goodisgood,Confusedarea,Confusedarea,对产品决策的影响3,对于产品状况，若想最大限度做出正确的判断改进生产过程:减少过程变差，从而减少出现在II区域的零件数改进测量系统:减少测量系统误差，从而减少II区域的面积,对产品决策的影响4,PartMSA概念知识,计量的基础知识,计量的基础知识,测量：赋予具体事物以表示它们之间关于特定特性的关系。赋值过程即为测量过程，而赋予的值定义为测量值。量具：任何用来获得测量结果的装置，经常用来特指用于在车间的装置，包括用来测量合格/不合格的装置。测量系统：用来对被测量特性赋值的仪器或量具、夹具、标准、操作、程序、软件、人员、环境的集合，用来获得测量结果的整个过程。,计量的基础知识,标准：用来比较的可接受的基准。用于接受的准则。已知数值，以表明的不确定度界限内，作为真值被接受。准确度（Accuracy）：观测值和可接受基准值之间一致性的接近程度。,计量的基础知识,分辨力、可读性、分辨率：最小的读数单位、刻度限度；由设计决定的固有特性测量或仪器输出的最小刻度1：10经验法则（过程变差与公差的最小值）,计量的基础知识,真值被测零件的“实际值”。尽管该值不被知道，且无法知道，但它是测量系统的目标，所有个别的值都要尽可能地（经济地）与该值接近。不幸的是永远不可能知道确切的值某一物品的真实数值。参考值通常被作为真值的最佳近似值。,计量的基础知识,参考值（ReferenceValue）：也被称为可接受的参考值、基准值。它是一个被同意用作参考比较的一个物体或整体的值。可接受的参考值取决于以下几个方面：用高一级的测量设备（例如度量衡实验室或全尺寸检测设备）多次测量的平均值来确定。法定值：由法律定义并强制执行。理论值：以科学原理为基础。指定值：以一些国家或国际组织的实验工作为基础。一致同意的值：以一些科学或工程组织赞助的合作实验室为基础，透过专业人士和商业组织等使用者一致同意其定义的值。协议值：由受影响的各团体所协调一致得到的值。,校准系统（CalibrationSystem）校准：在规定的条件下，建立测量装置和已知基准值及不确定的可追溯源之间的关系的一组操作。校准可能也包括通过调整被比较的测量装置的准确度差异而进行的探测相关性报告或消除的步骤。内部实验室需保持实验室范围，此范围列出所能执行的校准，及校准设备、方法/程序。校准系统作为组织质量管理体系的一部分，应包含在任何内审的要求中。外部实验室需通过ISO/IEC17025认可，当现有的设备没有合格的实验室可用时校准服务可由设备制造商进行。,计量的基础知识,PartMSA概念知识,测量系统的统计特性,稳定性,稳定性,时间1,时间2,稳定性(或飘移)，是测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件的单一特性时获得的测量值总变差。,偏倚,基准值,观测平均值,偏倚,偏倚：是测量结果的观测平均值与基准值的差值。真值的取得可以通过采用更高级别的测量设备进行多次测量，取其平均值而定之。,线性,在测量设备预期的工作（测量）量程内，偏移值的差异。线性可被视为偏移对量程大小不同所发生的变化。,重复性（EV）,同一个评价人，采用同一种测量仪器，多次测量同一零件的同一特性时获得的测量值（数据）的变差。,重复性,再现性（AV）,不同的评价人，采用相同的测量仪器，测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差。,A,B,C,再现性,重复性和再现性（GR&R）,测量系统重复性和再现性联合估计值。,A,B,C,重复性和再现性,PartMSA概念知识,测量系统管理流程,测量系统分析流程,制定测量测量系统分析计划,对建立的测量系统进行评价,系统是否接受,是,否,对测量系统进行分析，并改进,测量系统应用于产品检测和生产控制,定期对测量系统进行复评,复评通过,是,测量系统应用于产品检测和生产控制,否,对结果进行分析，并进行整改,对测量系统的改进包括：量具的调整、操作流程的优化、评价方法的变更等。在新项目开发过程中测量系统分析需在PPAP认可前完成。,在使用中，当测量系统发生变更，如使用不同型号的量具、检具发生更改、操作流程发生变更、评价方法发生变更等等，应参见首次评定的要求重新进行评定。复评周期为一年，每年年底分/子公司实验工程师需制定下一年度MSA计划。,YanfengPlasticOmniumProprietary/AllRightsReserved38,制定测量系统分析计划,2,选择测量系统,选择分析特性,对于使用控制图进行监控的特性，需进行MSA分析。对于同一特性，选公差最小的产品/点进行MSA分析。新的检具使用前需进行测量系统分析。由于各公司拉拔力仅拉到规范值以上，而非破坏性拉断，无法对拉拔力做MSA分析。,对于破坏性的实验，比如膜厚，只需进行稳定性研究。对于进料检验的测量系统，只需进行稳定性研究。对于每副检具都需进行GRR分析，目前只需选择一副检具进行稳定性研究。,1,YanfengPlasticOmniumProprietary/AllRightsReserved39,YFPO制定测量系统分析计划规则,YFPO测量系统分析范围,3,MSA相关统计基础知识,中央极限定理,无论随机变量服从何种分布，可能是离散分布，也可能是连续分布，连续分布可能是正态分布，也可能是非正态分布，只要独立同分布随机变量的个数n较大，那么，随机变量之和的分布、随机变量均值的分布都可近似为正态分布。,点估计,点估计：用样本均值X去估计总体均值用样本方差s2去估计总体方差2用样本标准差s去估计总体标准差正态标准差的无偏估计有两个:R=R/d2s=s/c4,点估计,区间估计,区间估计：对于参数x，如果估计x落在x1和x2之间的概率为1-a，即：P(x1xx2)=1-a则称随机区间x1，x2是x的置信水平为1-a的置信区间。如果P(x2x)=P(xx1)=a/2，则称这种置信区间为等尾置信区间。正态总体参数的置信区间：估计，已知时，1-a的置信区间为xu1-a/2/n估计，未知时，1-a的置信区间为xt1-a/2(n-1)s/n,区间估计,区间估计,假设检验,假设检验:基本思想是根据所获样本,运用统计分析方法,对总体X的某种假设H0作出接受或拒绝的判断.具体作法:1、建立原假设H0：=0备选假设H1：02、选择检验统计量，给出拒绝的形式3、给出显著性水平a，常取a=0.054、定出临界值c，写出拒绝域W5、判断,假设检验,正态总体均值的假设检验已知时，用u检验H0：0；0；=0；H1：0；0；0；检验统计量：u=(x-0)/(/n)对应的拒绝域：uu1-a；uua；uu1-a/2,假设检验,某电工器材公司生产云母带,其厚度在正常生产下服从N(0.13,0.0152).某日在生产中抽查了10次,发现平均厚度为0.136,如果标准差不变,试问生产是否正常?(取a=0.05)1.建立假设:H0：=0.13H1：0.132.由于已知,故选用u检验.3.显著水平为a=0.05其拒绝域为：uu1-a/2=u1.964.样本观测值，求得：u=(x-0.13)10-2/0.05=1.265.判断：由于样本观测值未在拒绝域中，可以接受。生产正常。,单因素方差分析,单因素方差分析是指对单因素试验结果进行分析，检验因素对试验结果有无显著性影响的方法。单因素方差分析是两个样本平均数比较的引伸，它是用来检验多个平均数之间的差异，从而确定因素对试验结果有无显著性影响的一种统计方法。,一元线性回归,计量型MSA方法应用,计量型MSA方法,计量型,位置分析,宽度分析,稳定性分析,偏移分析,线性分析,重复性分析,再现性分析,稳定性分析步骤-1,选取一个样品,定期测量样本35次,将数据画在Xbar-R图上,计算控制限，判图,取一个样本并建立相对于可溯源的说标准值可选择落在测量中程数的生产零件对于稳定性，基准值的具体数值不需要知道。注：建议取预期测量的最低值、最高值和中程数三个样本，分别作研究更好。,后续继续点图、判图,记录保存,稳定性分析步骤-2,选取一个样品,定期测量样本35次,将数据画在Xbar-R图上,计算控制限，判图,建议测量25组数据，每组对样本测量35次。测量周期，每组样本重复测量次数组织根据情况确定，要能反应测量系统随时间的变化。测量系统初次研究时，测量周期建议要短，以便了解其稳定性。当初期研究稳定后，测量周期可以逐渐变长。,后续继续点图、判图,记录保存,稳定性分析步骤-3,选取一个样品,定期测量样本35次,将数据画在Xbar-R图上,计算控制限，判图,计算每一组的平均值。计算每一组的R值计算总平均计算R值的平均,后续继续点图、判图,记录保存,稳定性分析步骤-4,选取一个样品,定期测量样本35次,将数据画在Xbar-R图上,计算控制限，判图,计算控制限平均值图：R值图:画出控制限，判图先检查R图，以判定重复性是否稳定。再看Xbar图，以判定偏倚是否稳定。可利用R/d2来了解仪器的重复性。,后续继续点图、判图,记录保存,控制图的判读-准则1,1、超出控制界限的点,2、7点位于中心线一侧,控制图的判读-准则2,3、连续6点上升或下降,控制图的判读-准则3,控制图的判读-准则4,4、连续14点交替上下变化,控制图的判读-准则5,5、2/3的点距中心线的距离超过2个标准差（同一侧）,控制图的判读-准则6,6、4/5的点距中心线的距离超过1个标准差（同一侧）,控制图的判读-准则7,7、连续15个点排列在中心线1个标准差范围内,控制图的判读-准则8,8、连续8个点距中心线的距离大于1个标准差,稳定性分析步骤-5,选取一个样品,定期测量样本35次,将数据画在Xbar-R图上,计算控制限，判图,如果前面的控制图是稳定的，则其控制界限可作为后续控制用控制图界限。后续持续控制，按照规定的频次，用同样的样本、同样的测量仪器，同样的测量人员，同样的测量环境测量。异常判定：同前。,后续继续点图、判图,记录保存,稳定性分析步骤-6,选取一个样品,定期测量样本35次,将数据画在Xbar-R图上,计算控制限，判图,稳定性分析的记录要保存下来。,后续继续点图、判图,记录保存,范例,测量数据：,范例,画控制图、稳定性判读：,重复性和再现性分析,在研究R&R时，有三种方法可以选择极差分析法均值极差法方差分析法注：重复性和再现性的研究是以统计稳定为前提。,R&R极差分析法,提供测量变异的近似值，可快速检查GRR是否发生了变化。不能将变异分为重复性和再现性。,过程观测值t2,过程波动p2,测量系统波动ms2,R&R极差分析法,典型的极差方法：选择2个评价人和5个零件进行分析两个评价人各将每个零件测量一次计算每个极差的和与平均极差将平均值除以d2*得到GRR,R&R极差分析法,从以前的研究知过程标准偏差为0.0777，查表得m=2，g=5，得d2*=1.19,平均极差重复性与再现性GRR%GRR,R&R极差分析法,GR&R分析的步骤-1,选取十个代表性样品,挑选现场测量人员,对样本进行重复测量,结果判定及后续措施,样本的选择至关重要。基于不同的控制目的和所掌握的过程信息，取样的要求有所不同。分为如下两种：产品控制过程控制样本必须来自稳定的过程。,处理测量所得的数据,样本的选择产品控制,产品控制的情况测量系统用于根据规格判定产品是否合格样本随机抽样可以不覆盖整个过程范围测量系统的评价基于特性的规格公差（P/T比）,没有代表整个过程的变差,代表了整个过程的变差,或,GR&R分析的步骤-2,选取十个代表性样品,挑选现场测量人员,对样本进行重复测量,结果判定及后续措施,评价人选择：日常操作该仪器的人员并且经过认定合格的人员人员的选择要具有代表性。,处理测量所得的数据,GR&R分析的步骤-3,选取十个代表性样品,挑选现场测量人员,对样本进行重复测量,结果判定及后续措施,样品需随机化被测量采用统一的测量方法避免受测量人员的主观影响。,处理测量所得的数据,盲测,范例,GR&R分析的步骤-4,选取十个代表性样品,挑选现场测量人员,对样本进行重复测量,结果判定及后续措施,采用不同的分析方法，计算公式不同均值极差法方差分析法,处理测量所得的数据,GR&R分析的步骤-4（均值极差法）,计算每个操作者对每个零件三次测量的极差,GR&R分析的步骤-4（均值极差法）,计算每个操作者的平均极差：,GR&R分析的步骤-4（均值极差法）,计算总平均极差、极差上限：,GR&R分析的步骤-4（均值极差法）,计算每个操作者对每个零件三次测量的平均值、各次测量的总平均值：,GR&R分析的步骤-4（均值极差法）,计算每个操作者的总平均值中最大值与最小值之差XDIFF,GR&R分析的步骤-4（均值极差法）,计算重复性（EV）、再现性（AV）、重复性与再现性（GRR）,其中N零件数，r试验数当评价人数m=2时，K2=3.65；m=3时，K2=2.70,GR&R分析的步骤-4（均值极差法）,其中N零件数，r试验数当评价人数m=2时，K2=3.65；m=3时，K2=2.70,系数说明K1K2K3,回顾观测与测量系统变差之间的关系,GR&R分析的步骤-4（均值极差法）,计算过总变差、PV方法一：用过程变异（首选）样本能代表过程变化范围，GRR研究时计算出的TV方法二：代用过程变异无法抽取能代表过程变化范围的样本，但该过程的变异可采用类似方法获得方法三：P（或）目标值无法抽取能代表过程变化范围的样本，且该过程的变异无法采用类似方法获得；或预期新过程的变异小于现有过程时。方法四：规范公差当测量系统用于筛选过程，且过程的时。,GR&R分析的步骤-4（均值极差法）,YanfengPlasticOmniumProprietary/AllRightsReserved91,YFPO应用,单边公差,双边公差,在对产品进行控制的情况下，k=1在过程研究情况下，k=Pp或者Cp。一般在新项目阶段k=1.67，在量产阶段k=1.33。,单边公差，需要附直方图以及原始数据（包括测试日期、产品条形码/产品批号）,YanfengPlasticOmniumProprietary/AllRightsReserved92,GRR-使用历史变差信息推算PV,YanfengPlasticOmniumProprietary/AllRightsReserved93,GRR-使用样品推算PV,通过例子，我们可以看出：随意选择样品，通常PV会比实际小。GRR%会比实际大，ndc比实际小。,GR&R分析的步骤-5,选取十个代表性样品,挑选现场测量人员,对样本进行重复测量,结果判定及后续措施,合格接收GRR%或P/T比10%区别分类数ndc需5待定10%GRR%或P/T比30%区别分类数ndc需5不合格拒收GRR%或P/T比30%可变通使用（对相同零件进行重复测量取其均值作为读数以减少测量变异）*注意：仅以GR&R指南用作阀门标准来决定测量系统的可接受性不是一种可接受的实践。*,处理测量所得的数据,偏倚分析步骤-1,选取一个样品,测量样品15次以上,图形分析,统计数据分析,结果判定及后续措施,选取一个样品并建立相对于可溯源的基准值。可选择落在测量中程数的生产零件，测量该零件大于等于10次，取均值作为基准值。也可选择标准件注：当需要取最高值、最低值、中程数三个样本时，则改作线性研究。,偏倚分析步骤-2,选取一个样品,测量样品15次以上,图形分析,统计数据分析,结果判定及后续措施,由现场操作该仪器的一个测量人员对样本进行重复测量。测量样品达15次以上。计算偏倚=测量值-基准值,偏倚分析步骤-2,一个制造工程师评价了一个用于过程监控的新测量系统。测量设备的一项分析说明该测量系统应该没有线性误差的考量。所以该工程师只需对测量的偏移进行评价。方法如下：在该测量系统操作范围内选取了一个零件；通过对该零件进行了全尺寸测量来确定它的基准值为6.00由主要操作者测量该零件15次。结果如下：,偏倚分析步骤-3,选取一个样品,测量样品15次以上,图形分析,统计数据分析,结果判定及后续措施,将测量数据画成直方图。评审直方图，用专业知识确定是否存在特殊原因或出现异常（离岛型、双峰型）若无异常继续分析。,偏倚分析步骤-3,通过使用散布图，检验员得到了直方图如下：没有异常点,偏倚分析步骤-4,选取一个样品,测量样品15次以上,图形分析,统计数据分析,结果判定及后续措施,计算平均偏倚。确定偏倚的t统计量其中d2*值可以通过d2星表差得。,偏倚分析步骤-5,选取一个样品,测量样品15次以上,图形分析,统计数据分析,结果判定及后续措施,偏倚判定的两种方法：看P-valueP-value，偏倚可接受P-value，偏倚不可接受看偏倚的1-的置信区间若包含0，偏倚可接受若不包含0，偏倚不可接受偏倚不合格时的后续措施维修或者修正,偏倚分析步骤-5,常数说明：称为t分布分位数，可以通过t分布分位数表查其中v称为自由度。可以通过d2*表查v，令g=1，m=n（测量次数）。称为显著水平，一般预设为0.05(95%的置信度)。,偏倚分析步骤-5,由于0落在偏倚自信度区间内（-0.1186，0.1319），该工程师认为此测量系统的偏倚是可以接受的。,计算偏移的95%置信区间,偏倚分析步骤-5,如果偏倚在统计上不等于0，检查是否存在以下原因：基准件或参考值有误，检查确定标准件的程序。仪器磨损。这问题会在稳定性分析中层现出来，建议进行维修或重新修正计划。仪器产生错误的尺寸。仪器所测量的特性有误。仪器没有经过适当的校准。对校准程序进行评审。评价者使用仪器的方法不正确。对测量指导书进行评审。仪器纠正的指令错误。,线性分析步骤-1,选取至少5个样本,测量样本10次以上,计算偏倚和偏倚平均值,绘制线性图,显著性检验,结果判定及后续措施,取至少5个样品，由于过程变异，样品测量值覆盖测量仪器的操作范围。确定每个样本的基准值测量样本大于10次，取均值作为基准值确定样本包含了量具操作范围,线性分析步骤-2,选取至少5个样本,测量样本10次以上,计算偏倚和偏倚平均值,绘制线性图,显著性检验,结果判定及后续措施,有现场操作该仪器的一个测量人员对样本进行随机化测量。对每个样本测量10次以上。,线性分析步骤-2,某工厂检验员对某过程引进了一套新测量系统。作为PPAP的一部分，需要对测量系统的线性进行评价。根据已文件化的过程变差描述，在测量系统的全部工作量程范围内选取了五个零件。通过对每个零件进行全尺寸检验从而确定它们的参考值，然后由主要操作者对每个零件测量12次。在分析中，这些零件是随机抽取的。,线性分析步骤-3,选取至少5个样本,测量样本10次以上,计算偏倚和偏倚平均值,绘制线性图,显著性检验,结果判定及后续措施,计算每次测量的样本偏倚。计算每种样本测量的偏倚均值,线性分析步骤-4,选取至少5个样本,测量样本10次以上,计算偏倚和偏倚平均值,绘制线性图,显著性检验,结果判定及后续措施,在线性图上画出单值偏倚和相关基准值的偏倚平均值。对计算出的偏倚均值和基准值建立线性关系：xi为基准值，yi为偏倚均值。计算出斜率a和截距b,其中g=样品数，m=测量次数,线性分析步骤-4,计算偏倚值：,计算回归方程：,线性分析步骤-5,选取至少5个样本,测量样本10次以上,计算偏倚和偏倚平均值,绘制线性图,显著性检验,结果判定及后续措施,计算a、b的t统计量：其中标准差,线性分析步骤-6,选取至少5个样本,测量样本10次以上,计算偏倚和偏倚平均值,绘制线性图,显著性检验,结果判定及后续措施,当|ta|、|tb|都tgm-2,.1-/2时,判定此测量系统线性可以接受。其中g=样品数，m=测量次数，,线性分析步骤-6,显著性检验:,计数型测量系统,结果是一种有限的分级数，如通过/不通过，差/平均/好/优秀。计数型测量系统的例子:通过/不通过量具，只可能有两个结果。目测检验，可能有超过两个结果。,风险分析法,选取50个零件,选取测量人员,测量零件,分析与判定,涵盖整个过程范围，一般25%零件低于规范下限，25%零件高于规范上限。,从现场该测量系统中，选定3名测量人员。,每位测量人员以正常的方式测量每个零件3次。,假设试验分析。,风险分析法案例,情景：某生产过程处于统计受控状态，其性能指数为Pp=Ppk=0.5，这是不可以接受的，由于过程正在生产不合格的产品，于是被要求采取遏制措施以便从生产过程中挑选不可接受的产品,LSL=0.45,0.6,0.5,0.4,USL=0.55,具体遏制措施是：过程小组采用一个计数型量具来对每个零件与一指定的限值进行比较。如果满足限值则接受该零件，不满足的零件则拒收。,风险分析法案例,风险分析法,交叉表：A*B交叉表,期望的数量为A判定为0的总数（50）乘以B判定为0的总数（47）再除以测量的总次数（150）。,当与都是或当与都是或当与都是的数量和,P0=在对角线框中，观测比例的总和。Pe=在对角线框中，期望比例的总和。,判定准则,考量评价者之间判断的一致性,作出正确决定的次数/总决定次数,不合格的产品判定为合格的概率,合格的产品判定为不合格的概率,计数型信号探测法,选取样本和测量人员,重复判断样本23次,记录数据并排序,计算R&R,结果判定及后续措施,选择二十个左右可代表过程的样本，一般建议：合格品不合格品分界线产品研究人员对每个样本取得基准值，并正确判断是否合格。选择现场实际测量人员23人以实际在现场工作人员必须经过培训并合格的,计数型信号探测法,选取样本和测量人员,重复判断样本23次,记录数据并排序,计算R&R,结果判定及后续措施,随机向一个人提供样本（不能告诉样本编号），并让这个人评估每一项；当第一人完成了对所有项的评价，让其他人重复这个工作；当每个人都已评价了一遍，再重复一遍上面的实验。注意：每个评价人必须检测所有项目每个评价人必须检测相同次数每个评价人均不得记录评价数据,计数型信号探测法,选取样本和测量人员,重复判断样本23次,记录数据并排序,计算R&R,结果判定及后续措施,将测量人员的判定结果记录在表格中划分区域“+”为全判合格产品“-”为全判不合格产品“X”为模糊难判断的产品按产品的基准值从小到大排序,II,II,LSL,USL,dLSL,dUSL,III,I,I,TARGET,区I=被评估人认可结果却被拒绝接受的零件。区III=被评估人认可结果也被接受的零件。区II=没有100%被认可的有疑问的零件，有说明限制,计数型信号探测法,计数型信号探测法CaseStudy,dUSL,dLSL,dLSL=0.470832-0.446697=0.024135dUSL=0.566152-0.542704=0.023448d=(0.024135+0.023448)/2=0.0237915,计数型信号探测法,选取样本和测量人员,重复判断样本23次,记录数据并排序,计算R&R,结果判定及后续措施,%GRR=d/过程变异或公差Ppk1时分母用过程变异Ppk1时分母用公差此案例中，Ppk=0.5，分母用公差公差=0.55-0.45=0.1%GRR=0.0237915/0.1=23.8%,计数型信号探测法,选取样本和测量人员,重复判断样本23次,记录数据并排序,计算R&R,结果判定及后续措施,判定%GRR10%，合格接受10%GRR30%，待定，若测量特性并非关键、测量仪器昂贵、维修测量系统成本较高时，可以接受%GRR30%，不可接受。此案例中%GRR=23.8%，介于待定状态。若测量的为特殊特性，则不可接受。必须改进测量系统。,破坏型MSA方法应用提升,破坏型测量系统分析的特点,典型破坏型测量系统偏倚分析,典型破坏型测量系统R&R分析,V3：分割的样本（m=2）,典型破坏型测量系统稳定分析,S3：从稳定过程中的大量样本假设：在预期的使用和或存储期间，被测量特性不改变。这些零件（样本）涵盖了该特性（属性）的过程变差的预期范围已知测量系统的线性涵盖了特性（属性）的预期范围。分析方法：,确定总变差,抽取样本进行测量,计算控制界限,计算控制界限,典型破坏型测量系统稳定分析,S4：分割样本（一般），每次采用单一样本,应用改善,YanfengPlasticOmniumProprietary/AllRightsReserved134,对测量系统分析进行分析，并改进,S(标准),W(零件),I(仪器),P(人/程序),E(环境),测量系统变差,YanfengPlasticOmniumProprietary/AllRightsReserved135,S(标准),校准标准,进行日常校准时通常作为一项参考的标准。,工作标准,在实验室内进行日常测量的标准。,参考标准,在某一指定地点存放的，通常具有最高度量衡的质量标准。,需定期溯源,YanfengPlasticOmniumProprietary/AllRightsReserved136,W(零件),弹性变形,膜厚：制作样品的过程间隙、面差：生产过程中产品变形。,测量点,在对色差、桔皮、光泽进行MSA分析时需固定测量位置。,YanfengPlasticOmniumProprietary/AllRightsReserved137,I(仪器),分辨率,别名：最小可读单位通常是与过程变差/规范的比率为1:10。,维护,预防性维护校准,人机工程,人员伤害人员疲劳,设计,固定点。敏感度数据输出方式精度,YanfengPlasticOmniumProprietary/AllRightsReserved138,P(人/程序),工作态度思想教育,限制：身体：色盲、色弱教育：比如英语能力,程序主要涉及到自动化的测量设备，比如三坐标测量仪。,技能经验培训,YanfengPlasticOmniumProprietary/AllRightsReserved139,E(环境),灰尘噪音温度：测量尺寸时温度控制比较重要湿度大气流动：称重时风的控制比较重要振动：称重时震动的控制比较重要照明：外观检验区光照度需要满足要求。,YanfengPlasticOmniumProprietary/AllRightsReserved140,GRR异常的潜在原因,S(标准),W(零件),I(仪器),P(人/程序),E(环境),GRR异常,温度变化,湿度变化,振动,需要维修,设备、夹具磨损/失效,缺少稳健的设计,变形,技能,不同的测量方法,疲劳,测量点不固定,量具误用,校准,仪器需要校准,不适当的校准,Yanfeng