ADC测试方案PPT课件

1、.,1,ADC测试,.,2,ADC产品简单介绍,市场上主流的ADC产品基本上是TI和ADI的，国内也有一些设计公司和研究所在做，目前国内的技术水平如下： 8位ADC采样率超过1Gsps 12位采样率超过300Msps 16位采样率超过150Msps,使用场合： 无线基站、直放站 CT 、核磁共振 雷达、军事 仪器仪表等,.,3,静态技术参数,DNL-微分线性度 DNL = |(VD+1- VD)/VLSB-IDEAL - 1 |，其中0 D 2N - 2 INL-积分线性度 INL是DNL误差的数学积分。 Offset Error-偏移误差 当输入信号是零时，输出值和理论数值之间差。 Gain

2、 Error-增益误差 当满幅值输出时，输出值和最大理论输出值之间的差。,.,4,静态参数测试方法,方法一 使用信号源输出理想斜线信号，然后测得数据进行静态参数计算，但是此方法局限于信号源的品质，对于精度比较高的ADC此种方法，会引入较大测量误差。因为ATE精度较高，所以在量产ATE上用此方法。,方法二 软件模拟一个理想正弦波，然后通过示波器满幅度输入，采集较大量数据，理想数据和实测数据进行对比，然后计算出静态参数。在实验室精度比较高的电源不好找，但是精度比较高的信号发生器比较容易得到，所以一般用这个方法。这种方法需要采集很多样本，样本越多,测得数据越精确。,.,5,静态参数matlab计算结

3、果,采样时钟：FS=184MSPS 待测信号： FIN=1.9MHz 样本数据:4百万个,.,6,动态技术参数,信噪比:SNR SNR=20log10(RMSsignal/RMSNoise) 2. 最大杂散:SFDR SFDR=20log10(Max spur/RMSsignal) 3. 谐波抑制比:THD THD=20log10(RMSharmonic/RMSsignal) SINAD SINAD=20log10(RMSharmonic+RMSsignal/RMSsignal) 5. 最大有效位数:ENOB ENOB=(SNR-1.76)/6.02,.,7,动态参数matlab计算结果,采样

4、时钟：FS=184MSPS 待测信号： FIN=170MHz,.,8,Bench test,采样时钟,待测信号,ADC,SMA,SMA,LVDS,LVDS,USB3.0,电脑 VS2010 matlab,SPI,COM,FPGA,GPIB,芯片筛选机,.,9,Bench test,PC 软件要求 修改采样参数 A. 修改matlab计算参数： 参与计算的点数，采样频率，FFT计算是否加窗等 B. 修改硬件采样参数，如同步or异步, ADC传输模式是DDR or通用并行模式。 C. 设定小规模量产相关参数 动态显示被采信号的波形 同步/异步采样数据 保存采样数据，处理并计算SNR,SFDR,THD,INL/DNL 控制采样频率和信号频率，控制采样间隔。 通过控制筛选机，实现实验室小规模量产。,.,10,量产测试,任意信号发生器 (AWG),DUT,Digitizer,装备有测ADC的板卡的ATE有 Teradye J750 模拟信号低于2MHz Teradye