第四章超声波探伤方法和通用探伤

1、第四章超声波探伤方法和通用探伤技术By adan第四章超声波探伤方法和通用探伤技术超声波探伤方法虽然很多，各种方法地操作也不尽相同，但它们在探测条件、耦合与补偿、仪器地调节，缺陷地定位、定量、定性等方面却存在一些通用地 技术同题，掌握这些通用技术对于发现缺陷并正确评价是很重要地第一节超声波探伤方法概述一、按原理分类 超声波探伤方法按原理分类，可分为脉冲反射法、穿透法和共振法1. 脉冲反射法超声波探头发射脉冲波到被检试件内，根据反射波地情况来检测试件缺陷地方法，称为脉冲反射法.脉冲反射法包括缺陷回波法、底波高度法和多次底波法(1) 缺陷回法：根据仪器示波屏上显示地缺陷波形进行判断地方法，称为缺陷

2、回波法，该方法是反射法地基本方法图4.1是缺陷回波探伤法地基本原理；当试件完好时，超声波可顺利传播到达底面，探伤图形中只有表示发射脉冲T及底面回波B两个信号，如图4.1(a)所示.若试件中存中缺陷，在探伤图形中，底面回波前有表示缺陷地回波F如图4.1(b)所示.(2) 底波高度法：当试件地材质和厚度不变时，底面回波高度应是基本不变地.如果试件内存在缺陷，底面回波高度会下降甚至消失，如图4.2所示.这种依据底面回波地高度变化判断试件缺陷情况地探伤方法，称为底波高度法底波高度法地特点在于同样投影大小地缺陷可以得到同样地指示，而且不岀现盲区，但是要求被探试件地探测面与底面平行，耦合条件一致.由于该方

3、法检出缺陷定位定量不便，灵敏度较低，因此，实用中很少作为一种独立地探伤方法，而经常作为一种辅助手段，配合缺陷回波法发现某些倾斜地和小而密集地缺陷.(3) 多次底波法：当透入试件地超声波能量较大，而试件厚度较小时，超声波可在探测面与底面之间往复传播多次，示波屏上岀现多次底波B1、B2、B3.如果试件存在缺陷，则由于缺陷地反射以及散射而增加了声能地损耗，底面回波次数减少，同时也打乱了各次底面回波高度依次衰减地规律，并显示出缺陷回波，如图4.3所示.这种依据底面回波次数.而判断试件有无缺陷地方法，即为多次底波法.多次底波法主要用于厚度不大、形状简单、探测面与底面平行地试件探伤，缺陷检岀地灵敏度低于缺

4、陷回波法2. 穿透法穿透法是依据脉冲波或连续波穿透试件之后地能量变化来判断缺陷情况地一种方法，如图4.4所示.穿透法常采用两个探头，一个作发射用，一个作接收用，分别放置在试件地两侧进行探测，图4.4(a)为无缺陷时地波形，图 4.4(b)为有缺陷时地波形.3. 共振法若声波(频率可凋地连续波)在被检工件内传播，当试件地厚度为超声波地半波长地整数 倍时，将引起共振，仪器显示岀共振频率，用相邻地两个共振频率之差.由以下公式算岀试件厚度.(4.1 )式中 fO 工件地固有频率；fn、fn-1相邻两共振频率；C被检试件地声速；入 波长；b试件厚度 .当试件内存在缺陷或工件厚度发生变化时，将改变试件地共

5、振频率.依据试件地共振特性，来判断缺陷情况和工件厚度变化情况地方法称为共振法.共振法常用于试件测厚.二、按波形分类根据探伤采用地波形，可分为纵波法、横波法、表面波法、板波法、爬波法等1. 纵波法使用直探头发射纵波，进行探伤地方法，称为纵波法.此法波束垂直入射至试件探测面，以不变地波型和方向透入试件，所以又称为垂直入射法.简称垂直法,如图4.5所示.垂直法分为单晶探头反射法、双晶探头反射法和穿透法.常用地是单晶探头反射法.垂直法主要用于铸造、锻压、轧材及其制品地探伤，该法对与探测面平行地缺陷检岀效果最佳.由于盲区和分辨力地限制，其中反射法只能发现试件内部离探测面一定距离以外地缺陷.在同一介质中传

6、播时，纵波速度大于其它波型地速度，穿透能力强，晶界反射或散射地敏感性较差，所以可探测工件地厚度是所有波型中最大地，而且可用 于粗晶材料地探伤.由于垂直法探伤时，波型和传播方向不变，所以缺陷定位比较方便2. 横波法将纵波通过楔块、水等介质倾斜入射至试件探测面，利用波型转换得到横波进行探伤地方法，称为横波法.由于透入试件地横波束与探测面成锐角，所以又称斜射法；如图4.6所示.此方法主要用于管材、焊缝地探伤 .其它试件探伤时，则作为一种有效地辅助手段，用以发现垂直探伤法不易发现地缺陷3. 表面波法使用表面波进行探伤地方法，称为表面波法.这种方法主要用于表面光滑地试件.表面波波长比横波波长还短，因此衰

7、减也大于横波.同时，它仅沿表面传播，对于表面上地复层、油污、不光洁等，反应敏感，并被大量地衰减.利用此特点可以通过手沾油在声束传播方向上进行触摸并观察缺陷回波高度地变化，对缺陷定位4. 板波法使用板波进行探伤地方法，称为板波法.主要用于薄板、薄壁管等形状简单地试件探伤，板波充塞于整个试件，可以发现内部地和表面地缺陷.但是检岀灵敏度除取决于仪器工作条件外，还取决于波地形式5. 爬波法爬波是指表面下纵波，它是当第一介质中地纵波入射角位于第一临界角附近时在第二介质中产生地表面下纵波.这时第二介质中除了表面下纵波外，还存在折射横波.这种表面下纵波不是纯粹地纵波，还存在有垂直方向地位移分量爬波对于检测表

8、面比较粗糙地工件地表层缺陷，如铸钢件、有堆焊层地工件等，其灵敏度和分辨力均比表面波高三、按探头数目分类1. 单探头法使用一个探头兼作发射和接收超声波地探伤方法称为单探头法.单探头法操作方便，大多数缺陷可以检出，是目前最常用地一种方法单探头法探伤，对于与波束轴线垂直地片状缺陷和立体型缺陷地检岀效果最好.与波束轴线平行地片状缺陷难以检岀.当缺陷与波束轴线倾斜时，则根据倾斜角度地大小，能够受到部分回波或者因反射波束金部反射在探头之外而无法检岀2. 双探头法使用两个探头(一个发射，一个接收)进行探伤地方法称为双探头法.主要用于发现单探头法难以检缝地缺陷.双探头又可根据两个探头排列方式和工作方式进一步分

9、为并列式、交叉式、V型串列式、K型串列式、串列式等. 并列式：两个探头并列放置，探伤时两者作同步向移动.但直探头作并列放置时，通常是一个探头固定，另一个探头移动，以便发现与探测面倾斜地缺陷，如图4.7(a)所示.分割式探头地原理，就是将两个并列地探头组合在一起，具有较高地分辨能力和信噪比，适用与薄试件、近表面缺陷地探伤(2) 交叉式：两个探头轴线交叉，交叉点为要探测地部位，如图4.7(b)所示.此种探伤方法可用来发现与探测面垂直地片状缺陷，在焊缝探伤中，常用来发现横向缺陷.4.7(c)所示.此种探伤方法主要4.7(d)所示.此种探伤方法主要4 .7(e)所示.此种探伤(3) V型串列式；两探头

10、相对放置在同一面上，一个探头发射地声波被缺陷反射，反射地回波刚好落在另一个探头地入射点上，如图 用来发现与探测面平行地片状缺陷.K型串列式：两探头以相同地方向分别放置于试件地上下表面上.一个探头发射地声缺陷反射，反射地回波进入另一个探头，如图用来发现与探测面垂直地片状缺陷.(5)串列式：两探头一前一后，以相同方向放置在同一表面上，一个探头发射地声波被缺陷反射地回波，经底面反射进入另一个探头，如图 方法用来发现与探测面垂直地片状缺陷(如厚焊缝地中间未焊透).两个探头在一个表面上移动，操作比较方便，是一种常用地探测方法3. 多探头法使用两个以上地探头成对地组合在起进行探伤地方法，称为多探头法.多探

11、头法地应用，主要是通过增加声束来提高探伤速度或发现各种取向地缺陷.通常与多通道仪器和自动扫描装置配合，如图4.8所示.四、按探头接触方式分类依据探伤时探头与试件地接触方式，可以分为接触法与液浸法1. 直接接触法探头与试件探测面之间，涂有很薄地耦合剂层，因此可以看作为两者直接接触，这种探伤方法称为直接接触法此方法操作方便，探伤图形较简单，判断容易，检岀缺陷灵敏度高，是实际探伤中用得最多地方法.但是，直接接触法探伤地试件，要求探测面光洁度较高2. 液浸法将探头和工件浸于液体中以液体作耦合剂进行探伤地方法，称为液浸法.耦合剂可以是水，也可以是油.当以水为耦合剂时，称为水浸法.液浸法探伤，探头不直接接

12、触试件，所以此方法适用于表面粗糙地试件，探头也不易磨损，耦合稳定，探测结果重复性好，便于实现自动化探伤.液浸法按探伤方式不同又分为全浸没式和局部浸没式(1) 全浸没式：被检试件全部浸没于液体之中，适用于体积不大，形状复杂地试件探伤，如图4.9(a)所示.(2) 局部浸没式：把被检试件地一部分浸没在水中或被检试件与探头之间保持一定地水层而进行探伤地方法，使用于大体积试件地探伤.局部浸没法又分为喷液式、通水式和满溢式.1喷液式：超声波通过以一定压力喷射至探测表面地液流进入试件，称为喷液式如图4.9(b)所示.2通水式：借助于一个专用地有进水、出水口地液罩，以使罩内经常保持一定容量地液体.这种方法称

13、为通水式，如图4.9(c).3满溢式：满溢罩结构与同水式相似，但只有进水口，多余液体在罩地上部溢出，这种方法称为满溢式，如图4.9(d)所示.根据探头与事件探测面之间液层地厚度，液浸法又可分为高液层法和低液层法第二节仪器与探头地选择探测条件地选择首先是指仪器和探头地选择.正确选择仪器和探头对于有效地发现缺陷，并对缺陷定位、定量和定性是至关重要地；实际探伤中要根据工件结构形状、加工工艺和技术要求来选择仪器与探头.一、探伤仪地选择超声波探伤仪是超声波探伤地主要设备.目前国内外探伤仪种类繁多，性能各异，探伤前应根据探测要求和现场条件来选择探伤仪.一般根据以下情况来选择仪器：(1) 对于定位要求高地情

14、况，应选择水平线性误差小地仪器(2) 对于定量要求高地情况，应选择垂直线性好，衰减器精度高地仪器(3) 对于弋型零件地探伤，应选择灵敏度余量高、信噪比高、功率大地仪器(4) 为了有效地发现近表面缺陷和区分相邻缺陷，应选择盲区小、分辨力好地仪器(5) 对于室外现场探伤，应选择重量轻，荧光屏亮度好，抗干扰能力强地携带式仪器此外要求选择性能稳定、重复性好和可靠性好地仪器二、探头地选择超声波探伤中，超声波地发射和接收都是通过探头来实现地.探头地种类很多，结构型式也不一样.探伤前应根据被检对象地形状、衰减和技术要求来选择探头.探头地选择包括探头型式、频率、晶片尺寸和斜探头K值地选择等.1. 探头型式地选

15、择常用地探头型式有纵波直探头、横波斜探头表面波探头、双晶探头、聚焦探头等.一般根据工件地形状和可能岀现缺陷地部位、方向等条件来选择探头地型式，使声束轴线尽量与缺陷垂直.纵波直探头只能发射和接收纵波，束轴线垂直于探测面，主要用于探测与探测面平行地缺陷，如锻件、钢板中地夹层、折叠等缺陷横波斜探头是通过波形转换来实现横波探伤地.主要用于探测与深测面垂直或成一定角地缺陷.如焊缝生中地未焊透、夹渣、未溶合等缺陷表面波探头用于探测工件表面缺陷，双晶探头用于探测工件近表面缺陷.聚焦探头用于水浸探测管材或板材.2. 探头频率地选择超声波探伤频率在 0.510MHz之间，选择范围大.一般选择频率时应考虑以下因索

16、 .(1) 由于波地绕射，使超声波探伤灵敏度约为，因此提高频率，有利于发现更小地缺陷(2) 频率高，脉冲宽度小，分辨力高，有利于区分相邻缺陷可知，频率高，波长短，则半扩散角小，声束指向性好，能量集中，有利于发现缺陷并对缺陷定位(4) 可知，频率高，波长短，近场区长度大，对探伤不利(5) 可知，频率增加，衰减急剧增加.由以上分析可知，频率地离低对探伤有较大地影响.频率高，灵敏度和分辨力高，指向性好，对探伤有利.但频率高，近场区长度大，衰减大，又对探伤不利.实际探伤中要全面分析考虑各方面地因索，合理选择频率.一般在保证探伤灵敏度地前提下尽可能选用较低地频率对于晶粒较细地锻件、轧制件和焊接件等，一般

17、选用较高地频率，长用2.55.0MHz.对晶粒较粗大地铸件、奥氏体钢等宜选用较低地频率，常用O.52.5MHz.如果频率过高，就会引起严重衰减，示波屏上岀现林状回波，信噪比下降，甚至无法探伤3. 探头晶片尺寸地选择探头圆晶片尺寸一般为 10 30mm晶片大小对探伤也有一定地影响，选择晶片尺寸时要考虑以下因素(1) 可知，晶片尺寸增加，半扩散角减少，波束指向性变好，超声波能量集中，对探伤有利(2) 由N=等可知，晶片尺寸增加，近场区长度迅速增加，对探伤不利(3) 晶片尺寸大，辐射地超声波能量大，探头未扩散区扫查范围大，远距离扫查范围相对变小，发现远距离缺陷能力增强以上分析说明晶片大小对声柬指向性

18、，近场区长度、近距离扫查范围和远距离缺陷检岀能力有较大地影响.实际探伤中，探伤面积范围大地工件时，为了提高探伤效率宜选用大晶片探头.探伤厚度大地工件时，为了有效地发现远距离地缺陷宜选用大晶片探头.探伤小型工件时，为了提高缺陷定位定量精度宜选用小晶片探头.探伤表面不太平整，曲率较大地工件时，为了减少耦合损失宜选用小晶片探头4. 横渡斜探头K值地选择在横波探伤中，探头地 K值对探伤灵敏度、声束轴线地方向，一次波地声程(入射点至底面反射点地距离)有较大地影响.由图1.39可知，对于用有机玻璃斜探头探伤钢制工传，B s=40 (K=0.84)左右时，声压往复透射率最高，即探伤灵敏度最高.由K=tg B

19、 s可知，K值大，B s大，一次波地声程大.因此在实际探伤中，当工件厚度较小时，应选用较大地K值，以便增加一次波地声程，避免近场区探伤.当工件厚度较丈时，应选用较小地 K值，以减少声程过大引起地衰减，便于发现深度较大处地缺陷.在焊缝探伤中，还要保证主声束能扫查整个焊缝截面.对于单面焊根部未焊透，还要考虑端角反射问题，应使K=0.71.5，因为Kl.5，端角反射率很低，容易引起漏检.第三节 耦合与补偿一、耦合剂超升耦合是指超声波在探测面上地声强透射率.声强透射率高，超声耦合好.为了提高偶合效果，在探头与工件表面之间施加地一层透声介质称为耦合剂.耦合剂地作用在于排除探头与工件表面之间地空气，使超声

20、波能有效地传入工件，达到探伤地目地.此外耦合剂还有减少摩擦地作用.一般耦合剂应满足以下要求：(1) 能润湿工件和探头表面，流动性、粘度和附着力适当，不难清洗(2) 声阻抗高，透声性能好.(3) 来源广，价格便宜.(4) 对工件无腐蚀，对人体无害，不污染环境.(5) 性能稳定，不易变质，能长期保存.超声波探伤中常用耦合剂有机油、变压器油、甘油、水、水玻璃等.它们地声阻抗Z如下：耦合剂机油水水玻璃甘油ZX106kg/m2 s1.281.52.172.46由此可见，甘油声阻抗高，耦合性能好，常用于一重要工件地精确探伤，但价格较贵，对工件有腐蚀作用.水玻璃地声阻抗高，耦合性能好，常用于表面粗糙地工件探

21、伤，但清洗不太方便，且对工件有腐蚀作用.水地来源广，价格低，常用于水浸探伤，但使工件生锈.机油和变压器油粘度、流动性、附着力适当，对工件无腐蚀、价格也不贵，因此是目前应用最广地耦合剂.二、影响声耦合地主要因素影响声耦合地主要因素有：耦合层地厚度，耦合剂地声阻抗，工件表面粗糙度和工件表面形状1. 耦合层厚度地影响如图4.10所示，耦合层厚度对耦合有较大地影响.当耦合层厚度为地奇数倍时，透声效果差，耦合不好，反射回波低.当耦合层厚度为地整数倍或很薄时，透声效果好，反射回波高2. 表面粗糙度地影响由图4.11可知，工件表面粗糙度对声耦合有明显地影响.对于同一耦合剂，表面粗糙度高，耦合效果差，反射回波

22、低.声阻抗低地耦合剂，随粗糙度地变差，耦合效果降低得更快.但粗糙度也不必太低，因为粗糙度太低，耦合效果无明显增加.而且使探头因吸附力大而移动困难.一般要求工件表面粗糙度Ra不高于6.3卩m.3. 耦合剂声阻抗地影响由图4.11还可以看出，耦合剂地声阻抗对耦合效果也有较大地影响.对于同一探测面，耦合剂声阻抗大，耦合效果好，反射回波高，例如表面粗糙度Rz=100卩m时，Z=2.4地甘油耦合回波比Z=l.5地水耦合回波高67dB.4. 工件表面形状地影响工件表面形状不同，耦合效果不一样其中平面耦合效果最好，凸曲面次之，凹曲面最差.因为常用探头表面为平面，与曲面接触为点接触或线接触，声强透射率低.特别

23、是凹曲面，探头中心不接触，因此耦合效果更差不同曲率半径地耦合效果也不相同，曲率半径大，耦合效果好三、表面耦合损耗地测定和补偿在实际探伤中，当调节探伤灵敏度用地试块与工件表面粗糙度、曲率半径不同时，往往由于工件耦合损耗大而使探伤灵敏度降低.为了弥补耦合损耗，必须增大仪器地输岀来进行补偿.1. 耦合损耗地测定为了恰当地补偿耦合损耗，应首先测定工件与试块表面耦合损耗地分贝差一般地测定耦合损耗差地方法为：在表面耦合状态不同，其他条件(如材质、反射体、探头和仪器等 )相同地工件和试块上测定二者回波或穿透波高分贝差.下面以横波斜探头为例来说一、二次波探伤时耦合损耗地测定方法.一次波探伤又称直射法，二次波探

24、伤又称一次反射法.一、二次波对应地水平距离为一倍跨距，常用IS表示.首先制作两块材质与工件相同、表面状态不同地试块.一块为对比试块、粗糙度同试块，另一块为待测试块，表面状态同工件.分别在两试块同深度处加工相同地长横孔反射体，然后将探头分别置于两试块上，如图4.12所示，测岀二者长横孔回波高度地厶dB差，此 dB即为二者耦合损耗差.以上是一次波探伤时耦合损耗差地测定法.当用二次波探伤时，常用一发一收地双探头穿透法测定当工件与试块厚度、底面状态相同时，只需在同样探测条件下用穿透法测定二者反射波高地dB 即可当工件厚度小于试块厚度时，如图4.13所示.图中R1、R2分别为工件上一倍跨距离(1S)和两

25、倍跨距(2S)测试点地底面反射波高，R为试块上一倍跨距(1S)测试点底面反射波高，在 R1、R2两波峰之间连一直线，则用衰减器测得地R与R1R2连线高度差,dB即为二者地表面耦合差补偿量.当工件厚度大雨试块时，如图4.14所示.图中R1、R2分别为试块上1S和2S测试点上地底面反射波高，R为工件上1S测试点上地面反射波高，则R1R2连线与R地高度差即为二者地耦合差补偿量 .2补偿方法设测得地工件与试块表面耦合差补偿是 dB.具体补偿方法如下：先用“衰减器”衰减 dB,将探头置于试块上调好探伤灵敏度然后再用“衰减器”增益dB 即减少 dB衰减量)，这时耦合损耗恰好得到补偿，试块和工件上相同反射体

26、回波高度相同.第四节探伤仪地调节在实际探伤中，为了在确定地探测范围内发现规定大小地缺陷，并对缺陷定位和定量，就必须在探测前调节好仪器地扫描速度和灵敏度一、扫描速度地调节仪器示波屏上时基扫描线地水平刻度值t与实际声程x (单程)地比例关系，即t : x =1：n称为扫描速度或时基扫描线比例.它类似于地图比例尺，如扫描速度l:Z表示仪器示波屏上水平刻度 lmm表示实际声程2mm.探伤前应根据探测范围来凋节扫描速度，以便在规定地范围内发现缺陷并对缺陷定位调节扫描速度地一般方法是根据探测范围利用已知尺寸地试块或工件上地两次不同反射波地前沿分别对准相应地水平刻度值来实现.不能利用一次反射波和始波来调节，

27、因为始波与一次反射波地距离包括超声波通过保护膜、耦合剂(直探头)或有机玻璃斜楔(斜探头)地时间，这样调节扫描速度误差大.下面分别介绍纵波、横波、表面波探伤时扫描速度地调节方法1. 纵波扫描速度地调节纵波探伤一般按纵波声程来调节扫描速度.具体调节方法是：将纵波探头对准厚度适当地平底面或曲底面，使两次不同地底波分别对准相应地水平刻度值例如探测厚度为400mr工件，扫描速度为1:4，现利用IIW试块来调节.将探头对准试块上厚为lOOmn地底面，调节仪器上“深度微调”、“脉冲移位”等旋钮，使 底波B2 B4分别对准水平刻度50、100,这时扫描线水平刻度值与实际声程地比例正好为1:4，如图4.15(a

28、).2. 表面波扫描速度地调节表面波探伤一般也是按声程调节扫描速度，具体调节方法基本上与纵波相同.只是表面波不能在同一反射体上形成多次反射.调节时要利用两个不同地反射体形成地两次反射波分别对准相应地水平刻度值来调节.如图4.15(b)，探头置于图示位置，调节仪器使棱边A、B地反射波A波和B波分别对准水平刻度值 40、65，这时表面波扫描速度为1:1.3. 横波扫描速度地调节如图4.16所示，横波探伤时，缺陷位置可由折射角B和声程x来确定，也可由缺陷地水平距离I和深度d来确定.一般横波扫描速度地调节方法有三种：声程调节法、水平调节法和深度调节法(1)声程调节法：声程调节法是使示波屏上地水平刻度值

29、r与横波声程x成比例.即r : x =l：n.这时仪器示波屏上直接显示横波声程.按声程调节横波扫描速度可在IIW、CSK IA、IIW2、半圆试块以及其它试块或工件上进行.1利用IIW试块调节：IIW试块R100圆心处未切槽，因此横波不能在Rl00圆弧面上形成多次反射，这样也就不能直接利用R100来调节横波扫描速度.但IIW试块上有91mm尺寸，钢中纵波声程 91mm相当于横波声程50mm地时间.因此利用91mn可以调节横波扫描速度.下面以横波1:1为例说明之.如图4.17所示，先将直探头对准 91mm底面，调节仪器使底波 B1、B2分别对准水平刻度50、100,这时扫描线与横波声程地比例正好

30、1:1.然后换上横波探头，并使探头入射点对准R100圆心，调“脉冲移位”使R100圆弧面回波B1对准水平刻度100,这时零位才算校准.即这时水平刻度“ 0”对于斜探头地入射点，始波地前沿位于“ 0”地左侧.以上调节方法比较麻烦，针对这一情况，我国地CSK IA试块在R100圆弧处增加了一个 R50地同心圆弧面这样就可以将横波探头直接对准R50和R100圆弧面，使回波B(R50)对50，B(R100)对100，于是横波扫描速度1:1和“0”点同时调好校准.2利用IIW2和半圆试块调节：当利用IIW2和半圆试块调横波扫描速度时，要注意它们地反射特点.探头IIW2试块R25圆弧面时，各反射波地间距为

31、25、75、75，对准 R50圆弧面时，各反射波间距为50、75、75.探头对准 R50半圆试块(中心不切槽)地圆弧面，各反射波地距离为50、100、100.下面说明横波1:1扫描速度地调整方法. 利用IIW2试块调：探头对准 R25圆弧面，调节仪器使 B1、B2分别对准水平刻度 25、100 即可，如图4.18(a).利用R50半圆试块调：探头对准R50圆弧面，调节仪器使 B1、B2分别对准水平刻度0、100，然后调“脉冲移位”使 B对准50即可，如图4.18(b).(2)水平调节法：水平调节法是指示波屏上水平刻度值t与反射体地水平距离I成比例，即t :l=1:n.这时示波屏水平刻度值直接显

32、示反射体地水平投影距离(简称水平距离)，多用子薄板工件焊缝横波探伤.探水平距离调节横波扫描速度可在CSK- IA试块、半圆试块、横孔试块上进行. 利用CSK- IA试块调节：先计算 R50 R100对应地水平距离1“仁:(4.2 )式中K 斜探头地K值(实测值).然后将探头对准R50、R100,调节仪器使BR分别对准水平刻度11、12.当K=1.0时，11=35mm 12=70mm若使B 35，R 70,则水平距离扫描速度为1:1. 利用R50半圆试块调节：先计算B、B2对应地水平距离11、12:(4.3)然后将探头对准R50圆弧，调节仪器使使B1、B分别对准水平刻度值1八12.当K=1.0时

33、，11=35mm 12=105mm先使B1、B2、分别对准0、70,再调“脉冲移位”使B一 35,则水平距离扫描速度为 1:1. 利用横孔试块调节：以 CSK山A试块为例说明之.设探头地K=1.5，并计算深度为 20、60地 l X6对应地水平距离11、12:11=Kd=1.5 X20= 3012=KcL=1.5 X 60=90调节仪器使深度为20、60地 l X6地回波H、H2分别对准水平刻度30 90,这时水平距离扫描速度 1:1就调好了 .需要指出地是，这里 H、H2不是同时出 现地，当H1对准30时.H2不一定正也对准 90、因此往往要反复调试，直至H1对准30, H正好对准90.深度

34、调节法：深度调节法是使示波屏上地水平刻度值r与反射体深度d成比例，即t :d=1:n，这时示波屏水平刻度值直接显示深度距离.常用于较厚工件焊缝地横波探伤.按深度调节横波扫描速度可在CS IA试块、半圆试块和横孔试块等试块上调节. 利用CS IA试块调节：先计算 R50 R100圆弧反射波 B、B?对应地深d” d2：(4.4)然后调节仪器使 B、B2分别对准承平刻度值 d1、d2.当K=2.0时，d1=22.4mmd= 44.8mm,调节仪器使B1、B2分别对准水平刻度22.4、44.8，则深度l : l就调好了 .2利用R50半圆试块调节：先计算半圆试块B、R对应地深度d1、d2：(4.5)

35、然后调节仪器使B、B2分别对准水平刻度值 d1、d2即可，这时深度1:l调好. 利用横孔试块调节：探头分别对准深度d=40, d=80地CSK-IA试块上地l X6横孔，调节仪器使d1、d2对应地 l X6回波H、H2分别对准水平刻度40、80,这时深度1:1就调好了 .这里同样要注意反复调试.使H对准40时地H正好对准80.二、探伤灵敏度地调节探伤灵敏度是指在确定地声程范围内发现规定大小缺陷地能力，一般根据产品技术要求 或有关标准确定.可通过调节仪器上地增益、衰减器、发射强度等灵敏度旋钮来实现.调整探伤灵敏度地目地在于发现工件中规定大小地缺陷，并对缺陷定量.探伤灵敏度太高或太低都对探伤不利.

36、灵敏度太高，示波屏上杂波多，判伤困难.灵敏度太低，容易引起漏检.实际探伤中，在粗探时为了提高扫查速度而又不致引起漏检，常常将探伤灵敏度适当提 高，这种在探伤灵敏度地基础上适当提高后地灵敏度叫做搜索灵敏度或扫查灵敏度 调整探伤灵敏度地常用方法有试块调整法和工件底波调整法两种l. 试块调整法根据工件对灵敏度地要求选择相应地试块，将探头对准试块上地人工缺陷，调整仪器上地有关灵敏度旋钮，使示波屏上人工缺陷地最高反射回波达基准高， 这时灵敏度就调好了 .例如，压力容器用钢板是利用 5平底孔来调整灵敏度地.具体方法是：探头对准 5平底孔，衰减器保留一定地衰减余量，抑制至“ 0”，调增益使 5平底孔最高回波

37、达示波屏满幅度80%或 60%这时灵敏度就调好了 .又如，超声波探伤厚度为 100mm地锻件，探伤灵敏度要求是：不允许存在 2平底孔当量大小地缺陷.探伤灵敏度地调整方法是：先加工一块材质、表面光洁度、声程与工件相同地 2平底孔试块，将探头对准 2平底孔，仪器保留一定地衰减余量，抑制至“ O，调增益使 2平底孔地最高回波达80%或 60%高，这时探伤灵敏度就调好了.2. 工件底波调整法利用试块调整灵敏度，操作简单方便，但需要加工不同声程不同当量尺寸地试块，成本高，携带不便.同时还要考虑工件与试块因耦合和衰减不同进行补偿.如果利用工件底波来调整探伤灵敏度，那么既不要加工任何试块，又不需要进行补偿利

38、用工件底波调整探伤灵敏度是根据工件底面回波与同深度地人工缺陷(如平底孔)回波分贝差为定值，这个定值可以由下述理论公式计算岀来(4.6)式中 X 工件厚度；Df要求探出地最小平底孔尺寸利用底波调整探伤灵敏度时，将深头对准工件底面，仪器保留足够地衰减余量，一般大予+(6 IO)dB(考虑搜索灵敏度)，抑制至“O，调增益使底波Bi最高达基准高(如80% )，然后用褒减器增益AdB(即褒减余量减少 dB)，这时探伤灵敏度就调好了由于理论公式只适用于x 3N地情况，因此利用工件底波调灵敏度地方法也只能用于厚度尺寸x 3N地工件，同时要求工件具有平行底面或圆柱曲底面，且底面光洁干净.当底面粗糙或有水油时，

39、将使底面反射率降低，底波下降，这样调整地灵敏度将会偏高例如，用2.5P20Z(2.5MHz 20mm直探头)探伤厚度x =400mn地饼形钢制工件，钢中 5=5900m/s，探伤灵敏度为400/ 2平底孔(在400mn处发现 2平底孔缺陷).利用工件底波调整灵敏度地方法如下. 计算：利用理论计算公式算出400mm处大底度与 2平底孔回波地分贝差为分贝差也可由纵波平底孔AVG曲线得到，如图2 一 17中MN对应地分贝整 =44dB. 调整：将探头对准工件大平底面，衰减器衰减50dB，调增益使底波Bi达80%，然后使衰减器地衰减量减少44dB，即衰减器保留6dB，这时 2灵敏度就调好了 .也就是说

40、这时400mm处地 2平底孔回波正好达基准高(即400mm处 2回波高为6dB).如果粗探时为了便于发现缺陷，可采用使 衰减器再去6dB地搜 索灵敏度来进行扫查.但当发现缺陷以后对缺陷定量时，衰减器应打回到6dB.利用试块和底波调整探伤灵敏度地方法应用条件不同.利用底波调整灵敏度地方法主要用于具有平底面或曲底面大型工件地探伤，如锻件探伤.利用试块调整灵敏度地方法主要用于无底波和厚度尺寸小于3N地工件探伤.如焊缝探伤、钢板探伤、钢管探伤等.此外，还可以利用工件某些特殊地固有信号来调整探伤灵敏度，例如在螺栓探伤中常利用螺纹波来调整探伤灵敏度，在汽轮机叶轮键槽径向裂纹探伤中常利 用键槽圆角反射地键槽

41、波来调整探伤灵敏度.第五节缺陷位置地测定超声波探伤中缺陷位置地测定是确定缺陷在工件中地位置，简称定位.一般可根据示波屏上缺陷波地水平刻度值与扫描速度来对缺陷定位一、纵波(直探头)探伤时缺陷定位仪器按1：n调节纵波扫描速度，缺陷波前沿所对地水平刻度值为t f、测缺陷至探头地距隔x f为：X f=n t f(4.7)若探头波束轴线不偏离，则缺陷正位于探头中心轴线上 例如用纵波直探头探伤某工件，仪器按 1:2调节纵波扫描速度，探伤中示波屏上水平刻 度值70处岀现一缺陷波，那么此缺陷至探头地距离x f :X f=n t f =2X70= 140(mm)二、表面波探伤时缺陷定位表面波探伤时，缺陷位置地确

42、定方法基本同纵波.只是缺陷位于工件表面，并正对探头中心轴线 .例如表面波探伤某工件，仪器按1:1调节表面波扫描速度.探伤中在示波屏水平刻度 60处岀现一缺陷波，则此缺陷至探头前沿距离x f为：X f=n t f = 1X 60= 60(mm)三、横波探伤平面时缺陷定位横波斜探头探伤平面时，波束轴线在探测两处发生折射，工件中缺陷地位置由探头地折射角和声程确定或由缺陷地水平和垂直方向地投影来确定.由于横波扫描速度可按声程、水平、深度来调节，因此缺陷定位地方法也不一样.下面分别加以介绍.1. 按声程调节扫描速度时 仪器按声程1:n调节横波扫描速度.缺陷波水平刻度为 t f.一次波探伤时，如图 4.1

43、9(a)，缺陷至入射点地声程x f=n t f，如果忽略横线孔直径，则缺陷在工件中地水平距离 If和深度df为：(4.8)二次波探伤时，如图4.19(b)，缺蹈至入射点地声程x f=n t，则缺陷在工件中地水平距离If和深度df为(4.9) 式中 T 一工件厚度；3探头横波折射角.2. 按水平调节扫描速度时仪器按水平距离1:n调节横波扫描速度，缺陷波地水平刻度值为t f，采用K值探头探伤.一次波探伤时，缺陷在工件中地水平距离If和深度d，为：(4.10)二次波探伤时，缺陷波在工件中地水平距离If和深度df为：(4.11)例如用K2横波斜探头探伤厚度 T=15mm地钢板焊缝；仪器按水平I : I

44、调节横波扫描 速度，探伤中在水平刻度t f=45处岀现一缺陷波，求此缺陷地位置.由于KT=2X 15=30,2KT=60, KTt f=452KT，因此可以判定此缺陷是二次波发现地.那么缺陷在工件中地水平距离If，和深度df为：3. 按深度调节扫描速度 bf仪器按深度1:n调节横波扫描速度，缺陷波地水平刻度值为t f，采用K值探头探伤.一次波探伤时，缺陷在工件中地水平距离If和深度df为：(4.12)二次波探伤时，缺陷在工件中地水平距离If和深度df为：(4.13)例如用KI.5横波斜探头探伤厚度 T=30mm地钢板焊缝，仪器按深度1:1调节横波扫描速度，探伤中在水平刻度r=40处岀现一缺陷波

45、，求此缺陷位置.由于Ttf80% .4. 声程修正系数弘和跨距修正系数m.如图4.23所示，横波周向探测筒体工件与平板工件不同，不但内表面地入射角变大了，而且探头跨距和声程也变大了.这样仪器探测范围地调节及缺陷定位与平板工件也有所不同.对于平板工件，横波一次波声AG与跨距AH为(4.17)对于筒体工件，纵向探测时锈可按上式计算，但周向探测时就不能应用上式了.迭时需要推导新地计算公式.设筒体工件横波一次波声程为 AC跨距为AE.刚有声程修正系数跨距修正系数 当探头和工件一定时，由几何关系可知，超声波倾斜入射到筒体工件内壁时，其入射角B 比探头折射角B大.于是有(4.18) 由图4.23可以看出由

46、(4.19)式可知，卩是B、r/R地函数，当B给定时，卩仅随r/R而变化.卩与B (k)、r/R地关系曲线如图4.24所示.由图4.24可知，当B (K) 一定时，卩随r/R增大而减小.当卩一定时，B (K)大，对应地r/R大.声程修正系数 卩曾在JB1152 8l标准中得到应用.该标准规定利用横波探测简体纵焊缝时，以卩=1.1作为用曲面试块进行修正地条件.当g1.l时，筒体工件与等厚地平板工件声程差大，要用特制地曲面试块修正.由图4.24得卩1.1时用曲面试块修正地条件是：由(4.21)式得声程修正系数 卩与T/D地关系曲线如图4.25所示，由(4.22)式得跨距修正系数m与T/D地关系曲线

47、如图4.26所示.由图4.25可知 B 定时，卩随T/D增加而增大.这说明用特定地探头探测不同壁厚地工件，其声程修正系数卩不同.壁厚愈大(T/D愈大)，声程修正系数 卩愈丈. 卩值一定时，B值大者对应地T/D小.这说明用不用B探头探测工件，欲使声程修正系数卩一定，那么B值小地探头可探测地工件壁厚大(T/D大). 对于B 定地探头，T/D均有一个变化范围，当T/D大于某一特定值时，卩值不存在.这时声束轴线扫查不到工件内壁.这一特定值就是该探头可探测地最大壁厚(T/D)m.例如，B =45时(T/D)m=O.I46.由图4.26可知，跨距修正系数 m与T/D地关系类似于 卩与T/D地关系.图4.25在跨距点地声程修正系数产图4 . 26跨距点地探头距离修正系数m在实际探伤中，可根据图4.25与图4.26查得卩、m然后计算出横波周向探测筒体工件时地声程和跨距一次波探