汇顶、敦泰方案不良品

1、 汇顶、敦泰电性测试不良品分析2012.12.12目录目录n一一，汇顶测试常见问题分析n二二，敦泰测试常见问题分析一、汇顶测试常见问题分析一、汇顶测试常见问题分析目录目录 一.1 测试原始数据格式说明测试原始数据格式说明 一.2 测试原始数据与实物对应关系测试原始数据与实物对应关系 一.3 正常产品原始数据实例及分析正常产品原始数据实例及分析 一.4 常见不良问题分析常见不良问题分析 目前汇顶方案产品主要使用IC型号为GT813、GT818、GT868，本章以G813号IC（产品型号LCGZ045379）为例进行数据分析，其它型号IC与其类似。 1，汇顶测试软件TP成品测试原始数据如下：一一.

2、 1 测试原始值数据格式说明测试原始值数据格式说明图1 2，测试原始数据格式说明 上述表格为11X20，因此行的方向对应11条感应通道，列方向对应20（即19条驱动通道+1条KEY驱动通道）条驱动通道。 每一个单元格对应一个结点的采样数据，该结点为表格上行列所在的感与驱动相交而成。 因此： 同一行上数据表示该感应线在不同驱动产生激励信号时采样到的信号； 同一列上数据表示该驱动产生激励信号时，各感应线上采样到的信号。一一. 1 测试原始值数据格式说明测试原始值数据格式说明一一 . 2 测试原始值数据与实物对应关系测试原始值数据与实物对应关系 实物TP成品与测试原始数据对应关系确定： 1、此对应关

3、系由配置信息确定，通常情况下测试数据的行方向与实物上感应通道有序对应，测试数据的列方向与实物上的驱动通道有序对应： 如下为实物图：图2 如上述图片，当TP实物如图摆放时，TP上驱动从左至右与测试数据的列从左至右对应；TP上的感应从下至上与测试数据行从上至下对应。 因此得出对应关系后，当测试数据某部分异常，即可确定是实物TP上哪个部位有异常。 2、对应关系确定： 在“原始值”界面切换至查看差值模式，手指在操作面沿对角线（或分别沿水平和垂直）滑动，观看数据有变化区域的移动轨迹和方向，即可确定实物与数据表格间的对应关系。 一一 . 2 测试原始值数据与实物对应关系测试原始值数据与实物对应关系一一.

4、3 正常产品原始值实例及分析正常产品原始值实例及分析原始数据在最佳范围内的正常产品示例：原始数据在正常范围内的数据特征如下： 1、整屏数据离散性较小，全屏原始值较为均匀。 2、无论是同一行还是同一列，数据成一定规律逐渐增大或逐渐减小。图3 一一 . 4 常见不良品问题分析常见不良品问题分析原始数据数据特征如下： 1，列方向（即同一条驱动）对应的数据明显偏小，一般比正常相邻据偏小400以上（如图4、5），在差值界面触摸对应通道差值无变化。 2，请用万用表检测或金相检查，以进行确认是IC焊接开路、FPC线路开路、压合不良、SENSOR走线开路还是SENSOR走线划伤。 3，若连续多条列方向（即连续

5、多条驱动）对应的数据明显小（如图6），在差值界面在差值界面触摸对应通道差值无变化，一般为SENSOR破片、SENSOR线路划伤、压合区撕裂、FPC撕裂等导致驱动开路。 4，驱动与地短路其数据特征与驱动开路相同，因此仅凭数据无法确定是哪种不良，具体要用万用表检测来确定。从实际经验来看，开路情况要多于短路。 问题一：驱动开路、驱动与地短路问题一：驱动开路、驱动与地短路图4 一一 . 4 常见不良品问题分析常见不良品问题分析图5 一一 . 4 常见不良品问题分析常见不良品问题分析图6 一一 . 4 常见不良品问题分析常见不良品问题分析数据特征： 1、驱动ITO线路蚀刻不良或当发生断裂性的损伤，列方向

6、（同一条驱动方向）数据有部分正常，而从某个点以后就全都明显偏小或几乎没有（如图7、8）。 2、可能的原因为驱动划伤或ITO图形蚀刻不良，导致驱动ITO图形损伤。 3、具体在金相下观察，以确定问题。 注：毛毛虫方案产品由于驱动方式不同(即SENSOR上驱动通道不共用，感应通道共用)，ITO线路损伤、蚀刻不良测试现象为行方向连续几个点或单个点原始值数据都明显偏小（如图9、10）。 问题二：驱动问题二：驱动ITO线路损伤、蚀刻不良线路损伤、蚀刻不良 一一 . 4 常见不良品问题分析常见不良品问题分析图7 一一 . 4 常见不良品问题分析常见不良品问题分析图8 一一 . 4 常见不良品问题分析常见不良

7、品问题分析 一一 . 4 常见不良品问题分析常见不良品问题分析图9图10原始数据特征如下： 1，行方向（即同一条感应）对应的单列或多列数据很小（为2，10等）或较大数据（如4095等），且多数数据相同（如图11），在差值界面触摸对应通道差值无变化。 2，请用万用表检测或金相检查，以进行确认是IC焊接开路、FPC线路开路、压合不良、SENSOR走线开路还是SENSOR走线划伤。 3，感应与地短路其数据特征与感应开路相同，具体是哪种不良需用万用表测量加以确定。 问题三：感应通道开路、感应通道与地短路问题三：感应通道开路、感应通道与地短路 一一 . 4 常见不良品问题分析常见不良品问题分析图11 一

8、一 . 4 常见不良品问题分析常见不良品问题分析 问题三：接地端线路损伤、压合不良问题三：接地端线路损伤、压合不良原始数据特征如下： 1，整屏数据离散性较小，全屏原始数据较为均匀,无论是同一行还是同一列，数据成一定规律逐渐增大或逐渐减小。 2，原始数据整体偏大，是正常数据的2倍及以上（如图12）。 3，请用万用表检测或金相检查，以进行确认是FPC接地端线路线路开路还是接地端压合不良。 一一 . 4 常见不良品问题分析常见不良品问题分析图12 一一 . 4 常见不良品问题分析常见不良品问题分析 问题三：驱动对驱动短路、感应对感应短路问题三：驱动对驱动短路、感应对感应短路原始数据特征如下： 1，整

9、屏数据离散性较小，全屏原始数据较为均匀，与正常产品原始数据相同（如图13）。 2，在差值界面触摸对应通道差值变化量与其短路的通道差值变化量几乎相同（如图14）。 3，此类不良品测试软件只能在成品短路测试中检出，在FPC测试、SENSOR测试、FOG半成品测试中均无法检出。 4，请用万用表检测或金相检查，以进行确认是FPC线路短路、焊接短路、ITO线路短路、压合短路。 一一 . 4 常见不良品问题分析常见不良品问题分析图13 一一 . 4 常见不良品问题分析常见不良品问题分析图14二、敦泰测试常见问题分析二、敦泰测试常见问题分析目录目录 一.1 测试数据格式说明测试数据格式说明 一.2 正常产品

10、测试数据实例及分析正常产品测试数据实例及分析 一.3 常见不良问题分析常见不良问题分析 目前敦泰方案产品主要使用IC型号为FT5206、FT5306、FT5406，本章以号ICFT5306（产品型号LCGU040594）为例进行数据分析，其它型号IC与其相同。 1，敦泰测试软件同一TP成品测试Raw Data数据及Vol Differ Value 变化量如下：一一. 1 测试数据格式说明测试数据格式说明Raw Data数据 图15Vol Differ Value 变化量 图162，测试数据与实物对应关系由配置信息确定，通常情况下测试数据的行方向与实物上驱动通道有序对应，测试数据列方向与实物上的

11、感应通道有序对应，与实物对应关系和汇顶方案基本相同（如图2）。一一. 2 正常产品正常产品Raw Data数据实例及分析数据实例及分析Raw Data数据及及Vol Differ Value 变化量在最佳范围内的正常产品示例：图17图18Raw Data数据及及Vol Differ Value 变化量在正常范围内的数据特征如下： 1、Raw Data数据及及Vol Differ Value 变化量数据整体较为均匀。 2、无论是同一行还是同一列，数据离散性较小。 一.3 常见不良问题分析常见不良问题分析 问题一：驱动开路、驱动与地短路问题一：驱动开路、驱动与地短路 Raw Data数据及及Vol

12、 Differ Value 数据特征如下： 1，行方向（即同一条驱动）对应的Raw Data数据明显偏大（如图19），Vol Differ Value 数据明显偏小（如图20）。 2，请用万用表检测或金相检查，以进行确认是IC焊接开路、FPC线路开路、压合不良、SENSOR走线开路还是SENSOR走线划伤。 3，若连续多条行方向（即连续多条驱动）对应的数据明显小，一般为SENSOR破片、SENSOR线路划伤、压合区撕裂、FPC撕裂等导致驱动开路等。 4，驱动与地短路其数据特征与驱动开路相同，因此仅凭数据无法确定是哪种不良，具体要用万用表检测来确定。 Raw Data数据 图19Vol Diff

13、er Value 数据 图20 问题二：感应通道开路、感应通道与地短路问题二：感应通道开路、感应通道与地短路 一.3 常见不良问题分析常见不良问题分析Raw Data数据及及Vol Differ Value 数据特征如下： 1，列方向（即同一条感应）对应的Raw Data数据明显偏大（如图21），Vol Differ Value 数据明显偏小（如图22）。 2，请用万用表检测或金相检查，以进行确认是IC焊接开路、FPC线路开路、压合不良、SENSOR走线开路还是SENSOR走线划伤。 3，感应与地短路其数据特征与感应开路相同，具体是哪种不良需用万用表测量加以确定。Raw Data数据 图21V

14、ol Differ Value 数据 图22 一.3 常见不良问题分析常见不良问题分析 问题三：问题三：SENSOR金属桥不良、金属桥不良、ITO蚀刻不良及损伤蚀刻不良及损伤Raw Data数据及及Vol Differ Value 数据特征如下： 1、当SENSOR金属桥蚀刻不良或当发生断裂性的损伤，列方向（同一条感应方向）数据有部分正常，而从某个点以后Raw Data数据就全都明显偏大（如图23），Vol Differ Value 数据明显偏小（如图24）。 2、ITO图形蚀刻不良导致驱动与感应短路时， Raw Data数据对应的列方向与行方向均略大，其交点就是ITO短路的区域，Raw Da

15、ta数据在5500左右（如图25）； Vol Differ Value 数据对应的列方向明显偏小，行方向略偏小（如图25）。 3、具体在金相下观察，以确定问题。 一.3 常见不良问题分析常见不良问题分析Raw Data数据 图25Vol Differ Value 数据 图26Raw Data数据 图23Vol Differ Value 数据 图24 一.3 常见不良问题分析常见不良问题分析 问题四：驱动与驱动短路、感应与感应短路问题四：驱动与驱动短路、感应与感应短路Raw Data数据及及Vol Differ Value 数据特征如下： 1、 驱动与驱动短路； 行方向（即驱动通道）两行或多行Raw Data数据略比正常值略偏大（如图27），其对应的Vol Differ Value 数据出现相邻两行或多行变化量偏小，其中一行比其它行稍小（如图28）。 2、 感应与感应短路： 列方向（即感应通道）两列或多列Raw Data数据略比正常值略偏大，其对应的Vol Differ Value 数据出现相邻两列或多列变化量偏小，其中一列比其它列稍小。 3、驱动与驱动短路、感应与感应短路数据特征相同，具体哪种不良需用万用表及金相下确认是哪种问题。Raw Data数据 图27Vol Differ Value 数据 图28 问题三：接地端线