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文档简介

测表面不平整度测表面不平整度等厚条纹等厚条纹待测工件待测工件平晶平晶D可测量细丝直径、薄片厚度、检查工件平整度等可测量细丝直径、薄片厚度、检查工件平整度等薄膜干涉的应用测量直径测量直径下面的待测工件是上凸的下面的待测工件是上凸的应用：增透应用：增透( (射射) )膜和增反射膜膜和增反射膜 基片基片镀膜镀膜空气空气0nnn基基相机等光学系统中，光因反射而相机等光学系统中，光因反射而损失严重，为了减少反射增加透损失严重，为了减少反射增加透射光强，常在镜头外镀一层射光强，常在镜头外镀一层MgFMgF2 2光垂直入射光垂直入射 对某个波长增透即让薄膜上下对某个波长增透即让薄膜上下表面的反射光干涉相消表面的反射光干涉相消膜厚至少是多少？膜厚至少是多少？2 2. . 牛顿环牛顿环 22e光程差光程差222()RrR e22reR222,1,2,3,222rkkR 22(21) ,0,1,2,222rkkR 明纹明纹:暗纹暗纹:.S分束镜分束镜M 显微镜显微镜o 牛顿环牛顿环装置简图装置简图平凸透镜平凸透镜平晶平晶erR o形状形状白光入射的牛顿环照片白光入射的牛顿环照片erR o形状形状

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