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文档简介

1、_XPS 数据分析纵坐标： Intensity(cps)横坐标： binding energy （eV ）除了氢氦元素， 其他的元素都可以进行分析；先进行宽扫，确定样品有何种元素，再对该元素进行窄扫。 该元素的不同键接方式都对应不同的峰，所以对元素窄扫的峰要进行分峰（分峰之前要进行调整基线）。如何分峰，不同的键接方式会对应不同的结合能。第一步：先把元素的窄扫峰用origin 画出来；纵坐标： Intensity(cps)横坐标： binding energy （eV ）第二步：调整基线；选择 Ceate Baseline-next-next-add/modify添加（双击）或去除（delete

2、 ）基点，保证基线水平 -Finish精品资料_最小化图，会出现调整基线后的坐标。插入一列，单机右键选择set column values输入 col （ b）-col（ d ）：即开始纵坐标减去调整基线后的纵坐标。再用横坐标与刚开始得到的纵坐标作图- 调整基线后的XPS 窄扫图。第三步：对峰求积分面积；选择 integrate peaks-next-狂点 - 完成精品资料_即 area 为峰的面积。第四步：分峰较难（有专门的分峰软件，origin 也能分峰）第五步：求组分元素比：元素比等于：窄扫峰面积/XPS 灵敏度因子（每一个元素的灵敏度因子不一致）精品资料_咱们这边的 XPS 设备选择的是铝板（AlK ）。精品资料_Welcom

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