ICP-OES光谱-样品分析

1、样品分析以及实验室注意事项样品分析以及实验室注意事项分析注意点分析注意点基本术语的定义仪器检出限、工作范围精度、准确度分析的步骤直接校正曲线法标准加入法提高灵敏度标准和样品的准备检出限检出限(Detection Limit)相对于相对于99%99%的置信度元素，在溶液中可被检出的最低浓度。具体是对空的置信度元素，在溶液中可被检出的最低浓度。具体是对空白或接近空白的溶液进行多次测量，白或接近空白的溶液进行多次测量，3 3倍的标准偏差即是检出限。这倍的标准偏差即是检出限。这是仪器所能检出的高于背景噪声的最低限是仪器所能检出的高于背景噪声的最低限。 *检出限（Detection Limit）和测量下

2、限（Determination Limit）：英文检写都是D.L.测定下限是指有一定准确度要求，可进行定量测定的分析元素的最小浓度（或质量）。而检出限带有可定性检出的最小浓度（或质量）的含义 工作范围工作范围通过方法检出限（MDL）和动态线性范围（LDR）确定工作范围。uDL -3倍的标准偏差uMDL-3-5倍的DLuLDR-配置一系列浓度溶液，测定回收率在5%以内，认为符合LDR。准确度准确度准确度：是指测定值和真值的差别好的精度不等于准确度好，而准确度好必须有好的精度判断准确度好坏的三种实验：（1）标样对照实验（2）方法对照实验（3）标准回收实验： 在样品的前处理前，先在试样中加入已知量的

3、标准分析元素（其状态也应与试样中待分析的元素相近）。在进行完整分析过程后，复核回收百分数。，根据回收率接近100的程度，检验方法的可靠性。标准溶液的配制（标准溶液的配制（1 1） ICP光谱分析中，必须重视标准溶液的配制，原因有： 1）不正确的配制方法，将导致系统偏差的产生； 2）介质和酸度不合适，会产生沉淀和浑浊，易堵塞雾化器并引起进样量的波动； 3）元素分组不当，会引起元素间谱线互相干扰； 4）试剂和溶剂纯度不够，会引起空白值增加，检测限变差和误差增大。标准溶液的配制（标准溶液的配制（2 2）另外配制注意点: 1）用高纯度酸和超纯度酸2）重新蒸馏过的去离子水3）把元素分成几组配制，避免谱线

4、相互干扰及形成沉淀。4） 校正用的标准溶液应用储备液逐级稀释，确认移液管和容量瓶的误差水平）对于ppm级的标准溶液应该经常重新配制。ppm级标液的稳定期为23星期）Cr+6要求新鲜制备 7）准备标准溶液时，应同时准备校正空白干扰类型（干扰类型（1 1）物理干扰： 表面张力、粘度、密度和盐份等造成雾化器提升效率的差异。1）有机物；2）酸的浓度和种类光谱干扰： 待测光谱线处存在基体或其它待测元素的谱线。化学干扰： 由于等离子体的高温，样品停留时间长，惰性气氛ICP中化合物很难维持或无法形成，化学干扰少。干扰类型（干扰类型（2 2）电离干扰： 岩矿分析中的碱金属盐类易电离元素的大量存在，使待测元素的

5、光谱强度（离子线）降低。去溶干扰： 溶液去溶存在的差异。溶液去溶损失的差异。克服物理干扰克服物理干扰解决的方法： 1、基体匹配 2、稀释 3、内标法 4、标准加入法内标法内标法u内标法是消除物理干扰的最好方法。 测量分析线和内标元素谱线的强度比： 以内标元素的谱线来控制分析元素由于物理干扰而引起的强度变化。内标元素可以是： 1） 样品中某一含量固定的基体元素； 2） 定量加入的其它元素（通常采用该方法）。标准加入法标准加入法1、标准加入法在USEPA ILM040当中定义为在三个等量的同一样品中，按照一定增量分别加入标准溶液；2、然后分别对原样品和三个加标样品进行测量。3、然后按照线性拟合得出

6、X截距和Y截距，X截距的绝对值 为被测分析物的含量。 理想地，所加入的标样的体积应大大低于样品体积（大约10%样品量），标准加入法可克服基体效应，但不能克服谱线干扰。 当不能抑制样品基体的物理或化学干扰时或当没有空白而不能使样品的基体与标样相匹配时,需采用标准加入法。标准加入法克服离子干扰克服离子干扰1）观察高度的优化2）加入离子抑制剂，如：Li或Cs3）基体匹配4）稀释样品观察高度的优化观察高度的优化不同元素最佳观察高度是不同的不同元素最佳观察高度是不同的。光谱干扰光谱干扰由于含待测元素的样品中存在其它原子或分子在选定波长处的谱线,使待测元素谱线和其它谱线重叠,无法分辨.克服光谱干扰的途径克

7、服光谱干扰的途径1）改变波长选择2）快速谱线自动拟合技术(FACT)3）干扰元素校正4）稀释样品干扰元素校正干扰元素校正鉴定干扰物含量水平时，如果标样中两种元素的含量相同，其中一种元素对另一种元素的干扰水平达0.1%时，就应当考虑采用IEC矫正，因为样品中干扰元素的含量可能远远高于建立模型时所用干扰物的浓度，因而样品测量的结果可能会相差100倍以上。当被分析谱线与其它元素存在谱线干扰时，IEC导向可用来为被分析谱线建立干扰元素矫正模型。IEC矫正因子测出干扰物对被分析元素信号变化所做的贡献。因此，用来测试IEC矫正因子的被测元素和干扰物浓度的高低并不重要，只要在线性动态范围之内。背景来源背景来

8、源 1）杂散光： 杂散光=10000mg/LCa在193.696nm处的As 测定浓度； 2）谱带展宽； 3）低强度的分子连续发射； 4）光栅的鬼线；克服背景干扰克服背景干扰1）Fitted背景矫正;2）Off peak背景矫正;3）观测高度选择;4）测定波长选择FittedFitted背景矫正和背景矫正和Off peakOff peak背景矫正背景矫正 Fitted背景矫正： Fitted背景矫正将采用峰形成形函数来处理被分析峰形。Fitted不需要用户输入其它参数。为软件默认值。Off peak背景矫正： Off peak背景矫正在背景相对简单或无结构背景的情况下较为实用。可对于连续背景、距被分析峰两翼有一定距离的较大干扰峰进行矫正。对于在谱线测量窗口中的干扰峰，不能充分正确地矫正。样品预处理样品预处理1）空气污染、试剂空白以及容器污染；2）待测元素挥发、被容器表面吸附或与容器材料相互作用而损失；3）样品分解不完全。样品的制备样品的制备针对不同实验室及样品情况准备u微波消解u压力容氮u灰化u湿法消解u参考标准方法注:许多盐酸盐在相对较低的温度下易挥发，故灰化时需考虑温度影响.试验室环境试验室环境1) 影响准确度和精密度的因素2) 清理干净进样系统3) 实验室清洁卫生4) 细心操作玻璃器皿和试剂储存玻璃器皿和试剂储存移液管、容量瓶，美国EPA推荐