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内容简介：

外文资料译文 外文资料译文 计算机辅助制造计算机辅助制造一词涵盖了信息处理、生产决策、及生产加工等诸多领域，给CAM下一个简单的定义极为困难。D. Kochan 在他的著作中，针对CAM的多样性和广泛的应用范围，给CAM可定义为计算机辅助生产准备，包括决策、工艺和作业计划、软件设计技术、人工智能、用不同的类型的自动机床（如数控机床、数控加工中心、数控加工单元、数控柔性制造系统），以及不同种类的实现方法（CNC-计算机数控技术，DNC-群控技术）。由于CAM有如此广泛的使用范围。认识CAM更好的方法是通过CAM技术。CAM技术覆盖了群控技术、生产数据库、自动化、公差等。生产中计算机的基本职能就是获取和处理与大量业务有关的数据，这些业务在企业内各个部门中连续不断地发生。CAM最初的研究是1953年麻省理工学院对机床数字控制的研究。在MIT，出现了最初的编程语言即自动化编程工具（APT），它是后来进一步发展的基本工具。当前CAM涉及到的功能有如下内容：-数控（NC）-计算机数字控制（CNC）-直接数字控制（DNC）-计算机控制输送系统-计算机控制加工过程-计算机辅助工艺过程监控-计算机辅助夹具设计-计算机辅助刀具设计-计算机辅助公差分析-计算机辅助成本估算-物料需求规划（MRP）-计算机辅助加工工艺（CAPP）-计算机化的可加工数据系统-加工资源规划（MRPII）-计算机辅助决策支持系统-工作标准的制定-计算机辅助在线动态平衡-产品及库存规划-计算机辅助调度-计算机辅助质量控制-计算机辅助检测计算机控制数控是可编程自动化的一种表现形式，它以数字、字母和其他符号来控制加工设备。这些数字、字母和符号按适当的格式编码，形成用于某一工件或任务的加工程序。当任务改变了，某一工件的加工程序也随之改变。这种改变程序的能力使得NC适合于小批量的生产，更新程序要比大量改变加工设备要容易得多。数控原理首先用于铣削加工中，然后用在车削加工、火焰切割、钻削和磨削之中，数控技术越来越多地用在其他的机加工过程中，如成型加工（精密锻造，滚压等）、雕刻或激光切割。目前数控技术相对成熟，许多数控设备具有多种加工功能，如铣削中心可以进行垂直和水平铣削、钻削、镗削、铰孔、插削、成形等加工过程，当然，在配有大容量的自动化刀具库后，CNC机床的功能将更加丰富。可编程控制器可编程控制器（PLCs）广泛地用于计算机辅助制造中。事实上，PLCs用在企业有自动化要求的每个环节上。PLC是电子工业快速发展的代表。从PLC诞生之日起，就成为许多生产规划中的重要辅助装备，而以往是依靠机电控制系统的。PLC是一个硬件装置，用来实现以前继电器完成的逻辑功能。大多数PLC的设计与计算机的设计相似。PLC基本上是由固态数字逻辑元件组合而成，用于进行逻辑判断和提供输出。可编程控制器可用来运行和控制生产加工设备及其他机器设备。计算机辅助物料处理物料处理（MH）是体现工厂或公司运营效率的非常重要的因素，一个高效的MH系统有助于减小等待时间，它甚至有助于提高整个加工过程的安全性或效率。Cabbert和Brown指出，生产成本的60%用于物料处理。事实也证明大多数离散加工的产品在生产过程中有90%的时间用于物料处理及储存。由于MH在产品总成本中占有如此多比例，显然减少产品的物料处理时间一定能降低产品成本。帮助降低这些成本的途径之一是应用计算机做物料处理的部分工作。目前，有许多物料处理设备可供购买。并有许多种MH手段可供使用。一种手段就是采用计算机数据库来记录MH设备清单和输入使用者因素值。计算机获取使用者的需求水平、轻重缓急、各自的信誉度及拥有的MH设备完成任务的可行性，并且提供设备的种类，供使用者从中挑选适合的MH设备品种和模块。生产过程计算机监控及故障诊断在计算机监控和故障诊断系统中，监控的目的是发现错误，而诊断的目标包括故障定位和确认。监控和诊都应出现在各级监控体系中。几乎所有监控和诊断系统都要达到如下的基本要求：具有测量和处理相当多的模拟和数字信号的能力。具有测量信号并进行深层次的预处理能力，包括统计分析和频率分析的能力。具有复杂多参数的决策能力。具有模块化、可延展性和可重组的结构。所有功能的可编程能力。有标准的软件/硬件双向接口与CNC/DNC控制器相连。对诊断系统的要求有：当出现差错时，系统应能方便地提供关于该随机差错的相关知识，使得甚至是对加工过程不熟悉的工人能知道差错发生在何处。差错的影响结果在系统中能方便得到，因而能估计到已知差错对后续生产过程影响的严重程度。、用户应该有独自修复差错的可能性，即修复指令以一种合适的形式让用户能够得到。、该专家系统能由那些先前在计算机方面没有经验的雇员来操作。、经过短期培训之后，系统可由运行设备的雇员来维护，这样，专家工程师就没有必要时刻都在现场。根据在制造系统中所处的地位和具备的功能，监控诊断系统可有三种主要类型：、独立监控子系统：它仅从上级控制层获得包含环境或条件描述的信息，为所有监控处理单元提供测量、处理、分类及干预所需的指令、参数或配置。、辅助监控子系统：仅仅完成测量和处理任务并向系统控制层传输分类和干预信息。、半独立监控系统：在同层中表现出独立的简单快捷的监控功能，并将复杂的分类和干