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1、会计学1邵小平相控阵教学邵小平相控阵教学(jio xu)第一页，共29页。声探头中的压电晶片（一个晶片或最多二个晶片）向工件中发射超声波，当超声波遇到缺陷（异质介面）后，超声波反射回探头晶片，由晶片转换成电信号，探伤仪示波屏上便出现A型脉冲信号。（见下页图1）LOGO第2页/共29页第二页，共29页。第3页/共29页第三页，共29页。LOGO第4页/共29页第四页，共29页。LOGO第5页/共29页第五页，共29页。不同角度探头在检测面A、B、C、D上移动，才能符合检测的要求（见图4），而我们下面谈到的超声波相控阵检测技术就能较好的解决以上常规A超遇到问题。LOGO第6页/共29页第六页，共2

2、9页。LOGO第7页/共29页第七页，共29页。阵列天线中各单元的幅度和相位，调整电磁波的辐射方向(fngxing)，在一定范围内合成雷达波束。同样相控阵超声波探头，是由多个小的晶片按照一定的序列组成，相控阵探伤按照预定的规则和时序对探头中的一组或全部晶片分别进行激活，即在不同的时间内相继激发探头中的多个晶片，每个激活晶片发射的超声波束相互干涉形成新的波束，它可以通过调整激发晶片的数量、时间得到人们期望的波束形状和偏转角度，来符合检测的需要。LOGO第8页/共29页第八页，共29页。LOGO如上所示，相控阵探头是多晶片探头，从一个(y )探头4个晶片发展至今到512个晶片第9页/共29页第九页

3、，共29页。LOGO第10页/共29页第十页，共29页。LOGO第11页/共29页第十一页，共29页。LOGO第12页/共29页第十二页，共29页。 图11（b)扇形扫查通过激发(jf)同一组晶片，但采用不同的聚焦法则获得的。对比图3、图4我们可以很清楚的了解到常规A型超声波检测对于同样一条焊缝的检测，探头要来回在检测面上移动，对于厚板焊缝检测，则需要更换几个探头，才能达到检测的要求，检测速度慢，劳动强度高。而相控阵检测则可经过预先设计，用一个探头（多组晶片），通过扇形扫查，只要沿着焊缝长度方向扫查即可。第13页/共29页第十三页，共29页。第14页/共29页第十四页，共29页。第15页/共29页第十五页，共29页。第16页/共29页第十六页，共29页。第17页/共29页第十七页，共29页。第18页/共29页第十八页，共29页。第19页/共29页第十九页，共29页。第20页/共29页第二十页，共29页。第21页/共29页第二十一页，共29页。第22页/共29页第二十二页，共29页。第23页/共29页第二十三页，共29页。第24页/共29页第二十四页，共29页。第25页/共29页第二十五页，共29页。第26页/共29页第二十六页，共29页。第27页/共29页第二十七页，共29页。

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