半导体物理第七章总结复习_北邮全新_第1页
半导体物理第七章总结复习_北邮全新_第2页
半导体物理第七章总结复习_北邮全新_第3页
已阅读5页,还剩2页未读 继续免费阅读

下载本文档

版权说明:本文档由用户提供并上传,收益归属内容提供方,若内容存在侵权,请进行举报或认领

文档简介

1、第七章、基本概念1. 半导体功函数:半导体的费米能级 Ef与真空中静止电子的能量吕的能量之 差。金属功函数:金属的费米能级 Ef与真空中静止电子的能量 E的能量之差2. 电子亲和能:要使半导体导带底的电子逸出体外所需的最小能量。3. 金属-半导体功函数差 o: (Ef)s-(E F)m=Wm-WsV Wm W4. 半导体与金属平衡接触平衡电势差:q5. 半导体表面空间电荷区:由于半导体中自由电荷密度的限制,正电荷分布在表面相当厚的一层表面层内,即空间电荷区。表面空间电荷区=阻挡层=势垒层6. 电子阻挡层:金属功函数大于N型半导体功函数(Wm>Ws的MS接触中,电子 从半导体表面逸出到金属

2、,分布在金属表层,金属表面带负电。半导体表面出现 电离施主,分布在一定厚度表面层内,半导体表面带正电。电场从半导体指向金 属。取半导体内电位为参考,从半导体内到表面,能带向上弯曲,即形成表面势垒,在势垒区,空间电荷主要有带正电的施主离子组成,电子浓度比体内小得多, 因此是是一个高阻区域,称为阻挡层。【电子从功函数小的地方流向功函数大的地方】7. 电子反阻挡层:金属功函数小于N型半导体功函数(Wm<Ws的MS接触,电子 从金属流向半导体,半导体表面带负电,金属表面带正电,电场方向指向半导体。 从半导体内到表面,能带下弯曲,半导体表面电子浓度比体内高(N型反阻挡层)。8. 半导体表面势垒(肖

3、特基势垒)高度:qVDqVs Wm Ws9. 表面势垒宽度:10. 半导体表面势:取半导体体内为参考电位,半导体表面的势能 Vs。11 .表面态:在半导体表面处的禁带中存在着表面态,对应的能级称为表面能 级。表面态一般分为施主型和受主型两种。若能级被电子占据时呈中性,施放 电子后呈正电性,成为施主型表面态;若能级空着的时候为电中性,接收电子后 带负电,则成为受主型表面态。一般表面处存在一个距离价带顶为qf的能级,电子刚好填满该能级以下所有表面态时呈电中性。电子填充了该能级以上部分则表面带负电,电子未填充满该能级以下的所有能级则表面带正电。12. 钉扎效应:若表面态密度高,金属半导体接触时,电子

4、充入或放出表面态, 半导体表面形成与体内符号相反的电荷、形成高度为2/3半导体禁带宽度的表面 势垒,费米能级钉住在表面中性能级上。半导体电子逸出到金属的势垒高度基本不变,与半导体掺杂浓度、金属功函数无关,只与表面中性能级位置有关。功函数差产生的接触电势差大部分降落在 金属表面与半导体表面之间,少部分降落在半导体表面势垒区。13. 施主型表面态:电子占据时为电中性、无电子时带正电的表面态为施主型表 面态。14. 受主型表面态:无电子时为电中性,有电子时带负电的表面态为受主型表面 态。15. 表面中性能级:价带顶以上约1/3禁带宽度处的能级是表面中性能级。16. 表面态密度:17. 理想欧姆接触:

5、非整流接触,不产生明显阻抗,不使半导体平衡载流子浓度 发生显著改变,线性对称电流-电压关系。理想欧嘔接俐/7¥18. 接触电阻:19. 高低结:N+N结或P+P结,内建电场从高杂质浓度区指向低杂质浓度区。20. 肖特基势垒二极管:特点:1正向电流由半导体多子注入金属形成,注入 电子在金属中不积累,直接漂移流走,高频特性好;2正向导通电压0.3V左右, 比PN结二极管低;3制作工艺简单;4制作MS结构后,不能有高于金属-半 导体合金温度的工艺;21. MS肖特基模型:当金属和半导体接触时,不考虑接触界面状态的影响,电子 从功函数较小材料逸出到功函数较大材料,接触面附近两种材料表面状态变

6、化,产生阻止半导体多子继续转移的接触电势差, 当功函数差引起的电子转移和接触 电势差阻止转移达到平衡时,金属和半导体的费米能级相等,形成稳定的MS妾触势垒。22. MS巴丁模型:1表面态在禁带中准连续分布;2介带顶以上约1/3禁带宽 度处的能级是表面中性能级。 3平衡过程中, 表面中性能级高于体费米能级时, 表面态放出电子带正电, 表面附近体内带负电, 能带下弯曲; 表面中性能级低于 体费米能级时, 电子充入表面态带负电, 表面附近体内带正电, 能带上弯曲; 4 若表面态密度很高,体费米能级被“钉住”在表面中性能级,表面中性能级始终 等于体费米能级。二、图像1. 金属 -N 型半导体接触形成电

7、子阻挡层情况下的能带图2. 金属 -N 型半导体接触形成电子反阻挡层情况下的能带图3. 正向偏压下,金属 /N 型半导体接触能带图表示4. 金属与半导体欧姆接触的基本结构示意图二、论述题1. 扩散理论模型对肖特基势垒二极管电流-电压关系的解释答:扩散理论在计算肖特基势垒二极管的IV特性时,以“厚势垒层”方式进行, 即根据电流密度的连续性,计算通过势垒区任意点的电流密度,该电流密度包括 扩散和漂移,通过对整个势垒区积分,将外加偏压的作用考虑在电流中(势垒区 厚度时外加偏压的函数),从而得到IV特性。扩散理论:半导体表面与金属自由交换电子,即使在外加电压下,半导体表面电 子浓度始终等于表面平衡电子

8、浓度,电流主要由因子exp(qV/kOT)-1决定。扩散 理论适合阻挡层宽度远大于载流子平均自由程(半导体杂质浓度很低)的情况2. 热电子发射理论模型对肖特基势垒二极管电流 -电压关系的解释答:热电子发射理论在计算肖特基势垒二极管的 IV特性时,以“薄势垒层”方 式进行,通过计算垂直于 MS接触面、能量高于半导体势垒顶点的电子浓度(这 部分浓度与外加偏压有关)得到电流密度与偏压的关系。热电子发射理论:金属电子进入半导体的势垒高度不随外加电压变化,其电子电流密度等于不加电压时从半导体到金属的电子电流密度(方向相反),流过MS接 触 的 热 电 子 发 射 总 电 流 密 度Js mq ns qv

9、A T2e koT (ekoT1)qVJsT(e°1),与外加电压无关,强烈依赖温度。热电子发射理论适合阻挡层宽度远小于载流子平均自由程(半导体杂质浓 度很高)的情况。【MS肖特基势垒二极管两种理论的推导不必掌握其每个步骤,只要求掌握方法】3. 形成金属与半导体欧姆接触的基本原理和手段答:的N型硅室温下旳功函数是多£ -Em=2-8x10Itf7重掺杂的pn结可以产生显著的隧道电流。金属和半导体接触时,如果半导 体掺杂浓度很高,则势垒区宽度变得很薄,电子也要通过隧道效应贯穿势垒产生 相当大的隧道电流,甚至超过热电子发射电流而成为电流的主要成分。 当隧道电 流占主导地位时,它

10、的接触电阻可以很小,可以用作欧姆接触。4. 肖特基势垒二极管的主要特点答:特点:<1>正向电流由半导体多子注入金属形成, 注入电子在金属中 不积累,直接漂移 流走,高频特性好;<2>正向导通电压0.3V左右,比PN结二极管低;<3>制作工艺简单;<4>制作MS结构后,不能有高于金属-半导体合金温度的工艺;公式:半导体功函数计算施主浓度% =曲加 大?忙=上+(毘一耳)眄 =Z- EFb) = 4.05 + 0.15 =按肖特基功函数模型计算 MS接触电势差、势垒高度例2、施主浓JW = itfnn-5龙二4_0至矿的N型硅,室混下的功函数 是簽天?不痔虑表面态影响,它至铝、金、樹接舵时是形成阻拦层或解、E脣JV7 ft x!rtw凰厂场三心Tb才 " JKfiio肥=Z + (£c -Em) = 4 05+0 15 = WJ2(誇F)機肖特基功函数木理,与A1接触的接触电势望,肚匹*勺些理99AJ电位高于N型半导体电位(半导体表面形成N型反阻拾 层与也u接触白嬷触曲洼,肚空耳竺竺W)99Au电位低干N型半号体电血半导体表面形成N整且扌当层与血檢触的圈屯电势Mo电位低于N型半寻本电也 半导体表面换 N型阻把 层3.MS接触中,电子隧道穿透半导体表面势垒的几率X2 E (x) E 12 dxxi二

温馨提示

  • 1. 本站所有资源如无特殊说明,都需要本地电脑安装OFFICE2007和PDF阅读器。图纸软件为CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.压缩文件请下载最新的WinRAR软件解压。
  • 2. 本站的文档不包含任何第三方提供的附件图纸等,如果需要附件,请联系上传者。文件的所有权益归上传用户所有。
  • 3. 本站RAR压缩包中若带图纸,网页内容里面会有图纸预览,若没有图纸预览就没有图纸。
  • 4. 未经权益所有人同意不得将文件中的内容挪作商业或盈利用途。
  • 5. 人人文库网仅提供信息存储空间,仅对用户上传内容的表现方式做保护处理,对用户上传分享的文档内容本身不做任何修改或编辑,并不能对任何下载内容负责。
  • 6. 下载文件中如有侵权或不适当内容,请与我们联系,我们立即纠正。
  • 7. 本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。

评论

0/150

提交评论