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射线检测习题集共： 803题其中：是非题301题选择题284题问答题118题计算题100题一、是非题1.1 原子序数Z等于原子核中的质子数量。（ ）1.2 为了使原子呈中性，原子核中的质子数必须等于核外的电子数。（ ）1.3 当原子核内的中子数改变时，它就会变为另一种元素。（ ）1.4 当一个原子增加一个质子时，仍可保持元素的种类不变。（ ）1.5 原子序数相同而原子量不同的元素，我们称它为同位素。（ ）1.6 不稳定同位素在衰变过程中，始终要辐射射线。（ ）1.7 原于是元素的具体存在，是体现元素性质的最小微粒。（ ）1.8 放射性同位素的半衰期是指放射性元素的能量变为原来一半所需要的时间。（ ）1.9 各种射线源产生的射线均是单能辐射。（ ）1.10 在化学反应中，原子的种类和性质都会发生变化。（ ）1.11 以中子作为炮弹轰击原子核，可以使稳定的同位素变为不稳定的同位素。（ ）1.12 不稳定的核素会白发蜕变，这种现象称为放射性衰变。（ ）1.13 与Ir192相比，Se75放射性同位素的半衰期更短，因此其衰变常数也更小一些。（ ）1.14 射线能量越高，传播速度越快，例如了射线比X射线传播快。（ ）1.15 X射线或射线强度越高，其能量就越大。（ ）1.16 X射线或射线是以光速传播的微小的物质粒子。（ ）1.17 当X射线经过2个半价层后，其能量仅仅剩下最初的1/4。（ ）1.18 7射线是原子核由低能级跃迁到高能级而产生的。（ ）1.19 标识X射线具有高能量，那是由于高速电子同靶原子核相碰撞的结果。（ ）1.20 连续X射线是高速电子同靶原子的轨道电子相碰撞而产生的。（ ）1.21 连续X射线的波长与管电压有关。（ ）1.22 X射线的产生效率与管电压利靶材料原子序数成正比。（ ）1.23 一种同位素相当于多少千伏或兆伏能力的X射线机来做相同的工作，这种关系叫做同位素的当量能。（ ）1.24 同能量的射线和X射线具有完全相同的性质。（ ）1.25 X射线的强度不仅取决于X射线机的管电流而且还取决于X射线机的管电压。（ ）1.26 与C60相比，CS137发出的射线能量较低，半衰期较短。（ ）1.27 光电效应中光子被完全吸收，而康普顿效应中光子未被完全吸收。（ ）1.28 光电效应的发生儿率随光子能量增大而减小。（ ）1.29 光电效应的发生几率随原子序数的增大而增加。（ ）1.30 光电子又称为反冲电子。（ ）1.31 光子能量必须大于电子的结合能是发生光电效应的前提条件。（ ）1.32 当射线能量在1.02MeV至10MeV区间，与物质相互作用的主要形式是电子对效应。（ ）1.33 连续X射线穿透物质斤，强度减弱，线质不变。（ ）1.34 射线通过材料后，其强度的9/10被吸收，该厚度即称作1/10价层。（ ）1.35 当射线穿过三个半价层后，其强度仅剩下最初的1/8。（ ）1.36 所有射线的能量都是相同的。（ ）1.37 放射性同位素的衰变常数值越大，说明该物质越稳定。（ ）1.38 X射线和射线都是电磁辐射，而中子射线不是电磁辐射。（ ）1.39 放射性同位素的当量能总是高于其平均能。（ ）1.40 X射线与可见光的区别是波长和产生方法不同。（ ）1.41 高速电子与靶原子的轨道电子相撞发出X射线，这一过程称作韧致辐射。（ ）1.42 连续X射线的能量与管电压有关，与管电流无关。（ ）1.43 连续X射线的强度与管电流有关，与管电压无关。（ ）1.44 标识X射线的能量与管电压、管电流均无关，仅取决于靶材料。（ ）1.45 X射线与了射线的基本区别是后者具有高能量，可以穿透较厚物质。（ ）1.46 采取一定措施可以使射线照射范围限制在一个小区域，这样的射线称为窄束射线。（ ）1.47 对钢、铝、铜等金属材料来说，射线的质量吸收系数值总是小于线吸收系数值。（ ）1.48 原子核的稳定性与核内中子数有关，核内中子数越小，核就越稳定。（ ）1.49 经过一次衰变，元素的原子序数Z增加1，而经过一次衰变，元素的原子序数Z将减少2。（ ）1.50 放射性同位素衰变常数越小，意味着该同位素半衰期越长。（ ）1.51 在管电压、管电流不变的前提下，将X射线管的靶材料由钼改为钨，所发生的射线强度会增大。（ ）1.52 在X射线工业探伤中，使胶片感光的主要是连续谱X射线，标识谱X射线不起什么作用。（ ）1.53 Ir192射线与物质相互作用时，肯定不会发生电子对效应。（ ）1.54 高能X射线与物质相互作用的主要形式之一是瑞利散射。（ ）1.55 连续X射线穿透物质后，强度减弱，平均波长变短。（ ）1.56 不包括散射成分的射线束称为窄束射线。（ ）1.57 单一波长电磁波组成的射线称为“单色”射线，又称为“单能辐射”。（ ）1.58 射线和射线一般不用于工业无损检测，是因为这两种射线对人体辐射伤害太大。（ ）1.59 原子由一个原子核和若干个核外电子组成。（ ）1.60 原子核的核外电子带正电荷，在原子核周围高速运动。（ ）1.61 原子序数=核外电子数=质子数=核电荷数。（ ）1.62 原子量=质子数+中子数。（ ）1.63 中子数=原子量质子数=原子量+原子序数。（ ）1.64 不稳定的同位素又称放射性同位素。（ ）1.65 目前射线检测所用的同位素均为人工放射性同位素。（ ）1.66 X射线谱中波长连续变化的部分，称为连续谱。（ ）1.67 康普顿效应的发生儿率人致与光子能量成正比，与物质原子序数成反比。（ ）1.68 瑞利散射是相干散射的一种。（ ）1.69 只有入射光子能量1.02MeV时，才能发生电子对效应。（ ）1.70 光电效应和电子对效应引起的吸收有利于提高照相对比度。（ ）1.71 康普顿效应产生的散射线会降低照相对比度。（ ）1.72 射线照相法适宜各种熔化焊接方法的对接接头利钢板、钢管的检测。（ ）2.1 X光管的有效焦点总是小于实际焦点。（ ）2.2 X射线机中的焦点尺寸，应尽可能大，这样发射的X射线能量大，同时也可防止靶过份受热。（ ）2.3 X射线管中电子的速度越小，则所发生的射线能量也就越小。（ ）2.4 由于X射线机的电压峰值（KVP）容易使人误解，所以X射线机所发出的射线能量用电压的平均值表示。（ ）2.5 全波整流X射线机所产生射线的平均能比半波整流X射线机所产生射线的平均能高。（ ）2.6 移动式X射线机只能室内小范围移动，不能到野外作业。（ ）2.7 移动式X射线机有油冷和气冷两种绝缘介质冷却方式。（ ）2.8 相同千伏值的金属陶瓷管和玻璃管，前者体积利尺寸小于后者。（ ）2.9 “变频”是减小X射线机重量的有效措施之一。（ ）2.10 放射性同位素的比活度越大，其辐射强度也就越大。（ ）2.11 适宜探测厚度100mm以上钢试件源的是CO60，透宜探测厚度20100mm钢试件的源是Ir192。（ ）2.12 黑度定义为阻光率的常用对数值。（ ）2.13 底片黑度D1，即意味着透射光强为入射光强的十分之一。（ ）2.14 ISO感光度100的胶片，达到净黑度2.0所需的曝光量为100戈瑞。（ ）2.15 低能量射线更容易被胶片吸收，引起感光，因此，射线透照时防止散射线十分重要。（ ）2.16 用来说明管电压、管电流和穿透厚度关系的曲线称为胶片特性曲线。（ ）2.17 胶片达到一定黑度所需的照射量（即伦琴数）与射线质无关。（ ）2.18 同一胶片对不同能量的射线具有不同的感光度。（ ）2.19 比活度越小，即意味着该放射性同位素源的尺寸可以做得更小。（ ）2.20 胶片灰雾度包括片基固有密度利化学灰雾密度两部分。（ ）2.21 在胶片特性曲线上的曝光止常区，非增感型胶片反差系数随黑度的增加而增大，而增感型胶片反差系数随黑度增加的增大而减小。（ ）2.22 在常用的100KV400KV X射线能量范围内，铅箔增感屏的增感系数随其厚度的增大而减小。（ ）2.23 对X射线，增感系数随射线能量的增高而增大。但对射线来说则不是这样，例如，Co60的增感系数比Ir192低。（ ）2.24 对X射线机进行“训练”的目的是为了排出绝缘油中的气泡。（ ）2.25 X和了射线的本质是相同的，但射线来自同位素，而X射线来自于一个以高压加速电子的装置。（ ）2.26 在任何情况下，同位素放射源装置都优于X射线设备，这是由于使用它能得到更高的对比度和清晰度。（ ）2.27 对于某一同位素放射源，其活度越大，则所发山的射线强度也越大。（ ）2.28 周向X射线机产生的X射线束向270方向辐射。（ ）2.29 相同标称千伏值和毫安值的X射线机所产生的射线强度和能量必定相同。（ ）2.30 所谓“管电流”就是流过X射线管灯丝的电流。（ ）2.31 放射源的比活度越大，其半衰期就越短。（ ）2.32 胶片对比度与射线能量有关，射线能量越高，胶片梯度越小。（ ）2.33 胶片特性曲线的斜率用来度量胶片的梯度。（ ）2.34 从实际应用的角度来说，射线的能量对胶片特性曲线形状基本上不产生影响。（ ）2.35 宽容度大的胶片其梯度必然低。（ ）2.36 显影时间延长，将会使特性曲线变陡，且在座标上的位置向左移。（ ）2.37 胶片特性曲线在座标上的位置向左移，意味着胶片感光速度减小。（ ）2.38 与一般胶片不同，X射线胶片双面涂布感光乳剂层，其目的是为了增加感光速度和黑度。（ ）2.39 “潜影”是指在没有强光灯的条件下不能看到的影像。（ ）2.40 铅增感屏除有增感作用外，还有减少散射线的作用，因此在射线能穿透的前提下，应尽量选用较厚的铅屏。（ ）2.41 透照不锈钢焊缝，可以使用碳素钢丝像质计。（ ）2.42 透照钛焊缝，必须使用钛金属丝像质计。（ ）2.43 透照镍基合金焊缝时使用碳素钢丝像质计，如果底片上显示的线径编号刚刚达到标准规定值，则该底片的实际灵敏度肯定达不到标准规定的要求。（ ）2.44 因为铅箔增感屏的增感系数高于荧光增感屏，所以得到广泛使用。（ ）2.45 胶片中卤化银粒度与胶片的感光速度无关。（ ）2.46 梯噪比高的胶片成像质量好。（ ）2.47 胶片系统分类的主要依据是胶片感光速度和梯噪比。（ ）2.48 直通道型射线机比“s”通道型射线机的机体轻，体积也小。（ ）2.49 铺设射线机输源管时应注意弯曲半径不得过小，否则会导致其变形或折断。（ ）2.50 像质计一般摆放在射线透照区内显示灵敏度较低部位。（ ）2.51 管道爬行器是一种装在爬行装置上的X射线机。（ ）2.52 X射线机在同样电流、电压条件下，恒频机的穿透能力最弱。（ ）2.53 X射线管的阴极是产生X射线的部分。（ ）2.54 X射线管的阳极是由阳极靶、阳极体、阳极罩三部分构成。（ ）2.55 一般阳极体采用导热率大的无氧铜制成。（ ）2.56 携带式X射线机的散热形式多采用辐射散热式。（ ）2.57 X射线管的阳极特性就是X射线管的管电压与管电流的关系。（ ）2.58 X射线机采用阳极接地方式的自整流电路，对高压变压器的绝缘性能要求较低。（ ）2.59 X射线机的灯丝变压器是一个升压变压器。（ ）2.60 射线机的屏蔽容器一般用贫化铀材料制成，其体积、重量比铅屏蔽体要大许多。（ ）2.61 在换了射线源的操作过程中，必须使用射线剂量仪表及音响报警仪进行监测。（ ）2.62 射线胶片由片基、结合层、感光乳剂层和保护层组成。（ ）2.63 胶片感光后，产生眼睛看不见的影像叫潜影。（ ）2.64 射线胶片的感光特性可在曝光曲线上定量表示。（ ）2.65 射线底片上产生一定黑度所用曝光量的倒数定义为感光度。（ ）2.66 未经曝光的胶片，经暗室处理后产生的一定黑度称为本底灰雾度。（ ）2.67 胶片对不同曝光量在底片上显示不同黑度差的固有能力称为梯度。（ ）2.68 胶片有效黑度范围相对应的曝光范围称为宽容度。（ ）2.69 胶片的特性指标只与胶片有关，与增感屏和冲洗条件无关。（ ）2.70 黑度计和光学密度计是两种不同类型的测量仪器。（ ）2.71 使用金属增感屏所得底片像质最佳，其增感系数也最大。（ ）2.72 增感系数Q是指不用增感屏的曝光量EO与使用增感屏时的曝光量E之间的比值，即：Q=EO/E（ ）2.73 金属增感屏具有增感效应和吸收效应两个基本效应。（ ）2.74 由于增感系数高，荧光增感屏多用于承压设备的焊缝射线照相。（ ）2.75 像质计是用来检查和定量评价射线底片影像质量的工具。（ ）2.76 像质计通常用与被检工件材质相同或对射线吸收性能相似的材料制作。（ ）3.1 影像颗粒度完全取决于胶片乳剂层中卤化银微粒尺寸的大小。（ ）3.2 一般来说，射线照相像质计灵敏度等于自然缺陷灵敏度。（ ）3.3 使用较低能量的射线可得到较高的主因对比度。（ ）3.4 射线照相时，若干伏值提高，将会使胶片对比度降低。（ ）3.5 一般来说，对厚度差较大的工件，应使用较高能量射线透照，其目的是降低对比度，增大宽容度。（ ）3.6 增大曝光量可提高主因对比度。（ ）3.7 当射线的有效能量增加到大约250KV以上时，就会对底片颗粒度产生明显影响。（ ）3.8 射线照相对比度AD只与主因对比度有关，与胶片对比度无关。（ ）3.9 射线照相主因对比度与入射线的能谱有关，与强度无关。（ ）3.10 用增入射源到胶片距离的办法可降低射线照相固有不清晰度。（ ）3.11 减小几何不清晰度的途径之一，就是使胶片尽可能地靠近工件。（ ）3.12 利用刚极侧射线照相所得到的底片的几何不清晰度比阴极侧好。（ ）3.13 胶片的颗粒越粗，则引起的几何不清晰度就越大。（ ）3.14 使用射线源可以消除几何不清晰度。（ ）3.15 增加源到胶片的距离可以减小儿何清晰度，但同时会引起固有不清晰度增大。（ ）3.16 胶片成象的颗粒性会随着射线能量的提高而变差。（ ）3.17 对比度、清晰度、颗粒度是决定射线照相灵敏度的三个主要因素。（ ）3.18 胶片对比度和主因对比度均与工件厚度变化引起的黑度差有关。（ ）3.19 使用较低能量的射线可提高主因对比度，但同时会降低胶片对比度。（ ）3.20 胶片的粒度越大，固有不清晰度也就越大。（ ）3.21 显影不足或过度，会影响底片对比度，但不会影响颗粒度。（ ）3.22 实际上由射线能量引起的不清晰度和颗粒度是同一效应的不同名称。（ ）3.23 当缺陷尺寸大大小于几何不清晰度尺寸时，影像对比度会受照相几何条件的影响。（ ）3.24 可以采取增大焦距的办法使尺寸较大的源的照相几何不清晰度与尺寸较小的源完全一样。（ ）3.25 胶片对比度与胶片类型或梯度G有关。（ ）3.26 散射线只影响主因对比度，不影响胶片对比度。（ ）3.27 底片黑度只影响胶片对比度，与主因对比度无关。（ ）3.28 射线的能量同时影响照相的对比度、清晰度和颗粒度。（ ）3.29 透照有余高的焊缝时，应保证焊缝部位和母材部位得到相同像质计灵敏度显示的黑度值范围。（ ）3.30 射线照相对比度就是缺陷影像与其周围背景的黑度差。（ ）3.31 底片黑度只影响对比度，不影响清晰度。（ ）3.32 底片的最佳黑度值与观片灯亮度有关，观片灯亮度改变，最佳黑度值也将改变。（ ）3.33 固有不清晰度是由于使溴化银感光的电子在乳剂层中有一定穿越行程而造成的。（ ）3.34 底片能够记录的影像细节的最小尺寸取决于颗粒度。（ ）3.35 对有余高的焊缝照相，应尽量选择较低能量的射线，以保证焊缝区域有较高的对比度。（ ）3.36 射线照相不清晰度就是影像轮廓边缘黑度过渡区的宽度。（ ）3.37 射线照相颗粒度表示影像黑度的不均匀程度。（ ）3.38 射线照相不清晰度包含几何不清晰度和固有不清晰度两部分。（ ）3.39 射线照相固有不清晰度与增感屏种类无关。（ ）3.40 焦点至工作距离是影响几何不清晰度的原因之一。（ ）3.41 胶片对比度与显影条件有关。（ ）3.42 一般情况是，胶片感光速度越高，射线照相影像的颗粒性就越不明显。（ ）3.43 焦点尺寸的大小与儿何不清晰度没有关系。（ ）3.44 增感屏与胶片未贴紧会增大固有不清晰度。（ ）3.45 衰减系数只与射线能量有关，与试件材质无关。（ ）3.46 几何不清晰度与焦点尺寸和工件厚度成正比，与焦点至工件表面距离成反比。（ ）3.47 射线照相固有不清晰度可采用铂-钨双丝像质计测定。（ ）3.48 颗粒性是指均匀曝光的射线底片上影像黑度分布不均匀的视觉印象。（ ）4.1 按照“高灵敏度法”的要求，300KVX射线可透照钢的最大厚度大约是40mm。（ ）4.2 射线照相的优点是射源尺寸小，且对大厚度工件照相曝光时间短。（ ）4.3 选择较小的射源尺寸df，或者增大焦距值F，都可以使照相Ug值减小。（ ）4.4 欲提高球罐内壁表面的小裂纹检出率，采用源在外的透照方式比源在内的透照方式好。（ ）4.5 环焊缝的各种透照方式中，以源在内中心透照周向曝光法为最佳方式。（ ）4.6 无论采用哪一种透照方式，一次透照K度都随着焦距的增大而增大。（ ）4.7 所谓“最佳焦距”是指照相几何不清晰度Ug与固有不清晰度Ui相等时的焦距值。（ ）4.8 就小缺陷检山灵敏度来比较射线与X射线，两者差距不大。（ ）4.9 对有余高的焊缝进行透照，热影响区部位的散射比要比焊缝中心部位大得多。（ ）4.10 源在内透照时，搭接标记必须放在射源侧。（ ）4.11 背散射线的存在，会影响底片的对比度。通常可在工件和胶片之间放置一个铅字B米验证背散射线是否存在。（ ）4.12 不论采用何种透照布置，为防止漏检，搭接标记均应放在射源侧。（ ）4.13 由于“互易定律失效”，采用荧光增感时，根据曝光因子公式选择透照参数可能会产生较大误差。（ ）4.14 当被透工件厚度差较人时，就会有“边蚀散射”发生。（ ）4.15 在源和工件之间放置滤板来减小散射线的措施对射线并不适用。（ ）4.16 使用“滤板”可增大照相宽容度，但滤板最好是放在工件和胶片之间。（ ）4.17 在源和工件之间放置滤板减小散射线的措施对于平板工件照相并不适用。（ ）4.18 在实际工作中正常使用的焦距范围内，可以认为焦距对散射比没有影响。（ ）4.19 采用平靶周向X射线机对环缝作内透中心法周向曝光时，有利于检出横向裂纹，但不利于检出纵向裂纹。（ ）4.20 采用源在外单壁透照方式，如K值不变，则焦距越大，一次透照长度L3就越大。（ ）4.21 采用双壁单影法透照时，如保持K值不变，则焦距越大，一次透照长度L3就越小。（ ）4.22 用单壁法透照环焊缝时，所用搭接标记均应放在射源侧工件表面，以免端部缺陷漏检。（ ）4.23 对某一曝光曲线，应使用同一类型的胶片，但可更换不同的X射线机。（ ）4.24 使用射线曝光曲线时，首先应知道射线源在给定时间的活度。（ ）4.25 随着管电压的升高，X射线的平均波长变短，线质变软。（ ）4.26 小径管射线照相采用垂直透照法比倾斜透照法更有利于检出根部未熔合。（ ）4.27 增大透照厚度宽容度最常用的办法是适当提高射线能量。（ ）4.28 对尺寸很小的缺陷，其影像的对比度不仅与射线能量有关，而且与焦距有关。（ ）4.29 材料的种类影响散射比，例如给定能量的射线在钢中的散射比要比在铝中大得多。（ ）4.30 在常规射线照相检验中，散射线是无法避免的。（ ）4.31 环缝双壁单影照相，搭接标记应放胶片侧，底片的有效评定长度是底片上两搭接标记之间的长度。（ ）4.32 纵焊缝双壁单影照相，搭接标记应放胶片侧，底片的有效评定长度就是两搭接标记之间的长。（ ）4.33 小径管双壁透照的要点是选用较高管电压，较低曝光量，其目的是减小底片对比度，扩人检出区域。（ ）4.34 射线照相实际透照时很少采用标准允许的最小焦距值。（ ）4.35 双片叠加观察是双胶片技术中的同速双片法经常采用的一种底片观察方法。（ ）4.36 选择射线源的首要因素是其对被检工件应具有足够的穿透力。（ ）4.37 球罐射线全景曝光时，其曝光时间通过生产厂家提供的“专用计算尺”可以精确计算出来。（ ）4.38 在满足几何不清晰度的前提下，为提高工效和影像质量，环形焊缝应尽量选用圆锥靶周向X射线机作内透中心法周向曝光。（ ）4.39 从射线照像灵敏度角度考虑：在保证穿透力的前提下，应尽量选择能量较低的X射线。（ ）4.40 选择能量较低的X射线可以获得较高的对比度和宽容度。（ ）4.41 提高管电压是提高工效和灵敏度的有效方法之一。（ ）4.42 底片黑度可以通过改变曝光量来控制。（ ）4.43 平方反比定律表示辐射强度与距离平方成反比。（ ）4.44 对于散射源来说，往往最大的散射源来自于试件本身。（ ）4.45 对厚度差较大的工件，散射比随射线能量的增大而增大。（ ）4.46 使用铅箔增感屏对减少散射线几乎不起作用。（ ）4.47 钳箔增感屏的铅箔厚度越人，其增感效率越大。（ ）4.48 在小径管透照中，影像各处的几何不清晰度都是一致的。（ ）5.1 显影时胶片上的AgBr被还原成金属银，从而使胶片变黑。（ ）5.2 对曝光不足的底片，可采用增加显影时间或提高显影温度的方法来增加底片黑度，从而获得符合要求的底片。（ ）5.3 胶片在显影液中显影时，如果不进行任何搅动，则使反应产生的溴化物无法扩散。（ ）5.4 定影液有两个作用，溶解米曝光的AgBr和坚膜作用。（ ）5.5 所谓“通透时间”就是指胶片从放入定影液到乳剂层变为透明的这段时间。（ ）5.6 减少底片上水迹的方法是使胶片快速干燥。（ ）5.7 胶片表面药膜脱落可能是胶片处理温度过高而引起的。（ ）5.8 冲洗胶片时，只要使用安全灯，胶片上就不会出现灰雾。（ ）5.9 显影液中如果过量增加碳酸钠，在底片上会产生灰雾增大的不良后果。（ ）5.10 使用被划伤的铅箔增感屏照相，底片上会出现与划伤相应的清晰的黑线。（ ）5.11 胶片上静电花纹的产生是由于射线管两端的电压过高的原因。（ ）5.12 射线底片上产生亮的月牙形痕迹的原因可能是曝光前使胶片弯曲。（ ）5.13 射线底片上产生黑的月牙形痕迹的原因可能是曝光后使胶片弯曲。（ ）5.14 如果显影时间过长，有些未曝光的AgBr也会被还原，从而增大了底片灰雾。（ ）5.15 显影液中氢离子浓度增人，则显影速度减慢，故借助于碱使显影液保持一定pH值。（ ）5.16 定影液中的氢离子浓度越高，定影能力就越强。（ ）5.17 胶片未曝光部分变为透明时，即说明定影过程已经完成。（ ）5.18 因为铁不耐腐蚀且容易生锈，所以不能用铁制容器盛放显影液。（ ）5.19 溴化钾除了抑制灰雾的作用外，还有调节和控制反差的作用。（ ）5.20 显影时搅动不仅能够使显影速度加快，还有提高反差的作用。（ ）5.21 所谓“超加利性”是指米吐尔利非尼酮配合使用，显影速度大大提高的现象。（ ）5.22 普通手工冲洗显影液不能用于自动洗片机。（ ）5.23 定影液老化会导致底片长期保存后出现泛黄的现象。（ ）5.24 铜、铁等金属离子对显影剂的氧化有催化作用。（ ）5.25 水洗是胶片手工处理过程中重要步骤，水洗不充分的底片长期保存后会发生变色现象。（ ）5.26 黑度、对比度、颗粒度是底片的主要质量指标。（ ）5.27 米吐尔是显影液中的重要成分，它不但易溶于水，也易溶于亚硫酸钠溶液。（ ）5.28 米吐尔利对苯二酚都是显影剂，但米吐尔的显影能力大大低于对苯二酚。（ ）5.29 显影液中的溴化钾过量会大大抑制对苯二酚的显影作用。（ ）5.30 显影液中保护剂的作用是阻止显影剂不被氧化，延长显影液的使用寿命。（ ）5.31 显影液中促进剂的作用是增强显影剂的显影能力和速度。（ ）5.32 氢氧化钠是显影液中促进剂，但它是强碱，在使用中要注意安全。（ ）5.33 显影液中抑制剂的主要作用是抑制灰雾。（ ）5.34 在定影过程中，定影剂与卤化银和金属银都发生化学反应。（ ）6.1 由于射线照相存在影像放大现象，所以底片评定时，缺陷定量应考虑放大的影响。（ ）6.2 各种热裂纹只发生在焊缝上，不会发生在热影响区。（ ）6.3 形状缺陷不属于无损检测检出范畴，但对于目视检查无法进行的场合和部位进行射线照相，则应对内凹、烧穿、咬边等形状缺陷评级。（ ）6.4 射线照相时，不同的投影角度会使工件上不同部位的特征点在底片上的相对位置改变。（ ）6.5 熔化焊焊接过程中的二次结晶仅仅发生在焊缝，与热影响区无关。（ ）7.1 暗室内的工作人员在冲洗胶片的过程中，会受到胶片上的衍生的射线照射，因而白血球也会降低。（ ）7.2 一个射线工作者怀疑自己处在高辐射区域，验证的最有效方法是看剂量笔上的读数是否也增加。（ ）7.3 热释光胶片剂量计和袖珍剂量笔的工作原理均基于电离效应。（ ）7.4 照射量单位“伦琴”只适用X射线或射线，不能用于中子射线。（ ）7.5 当X或射源移去以后工件不再受辐射作用，但工件本身仍残留极低的辐射。（ ）7.6 小剂量或低剂量率辐射不会发生随机性损害效应。（ ）7.7 即使剂量相同，不同种类辐射对人体伤害是不同的。（ ）7.8 只要严格遵守辐射防护标准关于剂量当量限值的规定，就可以保证不发生辐射损伤。（ ）7.9 从X射线机和了射线的防护角度来说，可以认为1戈瑞=1希沃特。（ ）7.10 焦耳/千克是剂量当量单位，库伦/千克是照射量单位。（ ）7.11 剂量当量的国际单位是希沃特，专用单位是雷姆，两者的换算关系是1希沃特=100雷姆。（ ）7.12 X射线比射线更容易被人体吸收，所以X射线对人体的伤害比了射线大。（ ）7.13 当照射量相同时，高能X射线比低能X射线对人体伤害力更大一些。（ ）7.14 辐射损伤的确定性效应不存在剂量阈值，它的发生儿率随着剂量的增加而增加。（ ）7.15 照射量适用于描述不带电粒子与物质的相互作用，比释动能适用于描述带电粒子与物质的相互作用。（ ）7.16 在辐射防护中，人体任一器官或组织被X和射线照射后的吸收剂量和当量剂量在数值上是相等的。（ ）7.17 吸收剂量的大小取决于电离辐射的能量，与被照射物质本身的性质无关。（ ）7.18 辐射源一定，当距离增加一倍是时，其剂量或剂量率减少到原来的1/2。（ ）是非题答案1.11.21.31.41.51.61.71.81.91.101.111.121.131.141.151.161.171.181.191.201.211.221.231.241.251.261.271.281.291.301.311.321.331.341.351.361.371.381.391.401.411.421.431.441.451.461.471.481.491.501.511.521.531.541.551.561.571.581.591.601.611.621.631.641.651.661.671.681.691.701.711.722.12.22.32.42.52.62.72.82.92.102.112.122.132.142.152.162.172.182.192.202.212.222.232.242.252.262.272.282.292.302.312.322.332.342.352.362.372.382.392.402.412.422.432.442.452.462.472.482.492.502.512.522.532.542.552.562.572.582.592.602.612.622.632.642.652.662.672.682.692.702.712.722.732.742.752.763.13.23.33.43.53.63.73.83.93.103.113.123.133.143.153.163.173.183.193.203.213.223.233.243.253.263.273.283.293.303.313.323.333.343.353.363.373.383.393.403.413.423.433.443.453.463.473.484.14.24.34.44.54.64.74.84.94.104.114.124.134.144.154.164.174.184.194.204.214.224.234.244.254.264.274.284.294.304.314.324.334.344.354.364.374.384.394.404.414.424.434.444.454.464.474.485.15.25.35.45.55.65.75.85.95.105.115.125.135.145.155.165.175.185.195.205.215.225.235.245.255.265.275.285.295.305.315.325.335.346.16.26.36.46.57.17.27.37.47.57.67.77.87.97.107.117.127.137.147.157.167.177.18二、选择题1.1 原子的主要组成部分是（ ）。A.质子、电子、光子B.质子、重子、电子C.光子、电子、射线D.质子、中子、电子1.2 电磁波的频率（f），速度（c）和波长（）之间的关系可用（ ）表示。A.f=cB.c=fC.=fcD.=f/c1.3 原子核的质子数等于（ ）。A.中子数B.原子序数C.光子数D.原子量1.4 质子和中子的区别是中子没有（ ）。A.电荷B.质量C.自旋D.半衰期1.5 当几种粒子和射线通过空气时，其电离效应最高的是（ ）。A.粒子B.粒子C.中子D.和射线1.6 在射线探伤中应用最多的三种射线是（ ）。A.射线，射线和中子射线B.射线、射线和射线C.射线，射线和射线D.射线，射线和射线1.7 原子核外电子能级量高的是（ ）。A.外壳层B.中间壳层C.内壳层D.以上均不是1.8 同位素是指（ ）。A.质量数相同而中子数不同的元素；B.质量数相同而质子数不同的元素；C.中子数相同而质子数不同的元素：D.质子数相同而质量数不同的元素。1.9 射线、射线和粒子有一个共同点，即它们都是（ ）。A.均质粒子辐射B.电磁辐射C.微波辐射D.电离辐射1.10 在射线检验中采用的能量范围（约100KeVc10MeV）射线穿过钢铁强度衰减的最主要原因是（ ）。A.光电效应B.汤姆逊效应C.康普顿效应D.电子对效应1.11 光子能量的数学表达式是（ ）。A.E=h/vB.E=/hcC.E=hvD.E=hv21.12 强度为I的单色射线通过厚度为A的材料后，强度减弱I，其关系式为I=I，此式表示下列哪种现象? （ ）A.光电效应B.康普顿散射C.吸收D.半价层厚度1.13 通常所说的200KV射线指（ ）。A.最大能量为0.2MeV的“白色”射线B.平均能量为0.2MeV的连续射线C.能量为0.2MeV的连续射线D.有效能量为0.2MeV的连续射线1.14 单色射线是指（ ）。A.标识射线B.工业探伤源产生的射线C.用米产生高对比度的窄束射线D.由单一波长的电磁波组成的射线1.15 在一般的工业探伤中，射线与物质相互作用时，主要产生的二个效应是（ ）。A.光电效应和电子对效应B.光电效应和康普顿散射C.康普顿散射和电子对效应D.康普顿散射和电离1.16 当光子与物质相互作用时，光子将部分能量用于逐出轨道电子，且剩余的能量变为电子的动能，这就是（ ）。A.康普顿散射B.光电效应C.电子对效应D.电离1.17 当光子与物质相互作用时，光子的波长增加，方向改变，这是由于（ ）的结果。A.光电效应B.康普顿散射C.汤姆逊散射D.电子对产生1.18 康普顿散射的特征是（ ）。A.产生光电子B.产生俄歇电子C.产生反冲电子D.产生正负电子对1.19 光电效应的特征是（ ）。A.产生光电子B.发射标识射线C.发射二次电子D.以上都是1.20 知某单能射线在钢中的半价层为3mm，则该射线在钢中的吸收系数为（ ）。A.0.231cmB.2.31cm1C.2.079cmD.0.00231mm11.21 射线通过物质时的衰减取决于（ ）。A.物质的原子序数、密度利厚度B.物质的杨氏模量C.物质的泊松比D.物质的品粒度1.22 窄火和宽束的区别是（ ）。A.窄束是指散射和未散射的射线均到达检测器，而宽束是指只有未散射的射线到达检测器。B.窄束是指只有未散射的射线到达检测器，而宽束是指散射和未散射的射线均到达检测器。C.窄束和宽束区别在于源尺寸大小不同。D.窄束和宽束区别在于照射场大小不同。1.23 散射线的主要成份是低能电磁辐射，它是由光子在哪一过程中减弱而产生的（ ）。A.光电过程B.康普顿过程C.电子对过程D.电离过程1.24 从射线管中发射出的射线包括（ ）。A.连续射线B.标识射线C.射线D.A和B1.25 连续射线穿透厚工件时，有何特点? （ ）A.第二半价层小于第一半价层；B.第二半价层等于第一半价层；C.第二半价层大于第一半价层；D.第二半价层与第一半价层关系不确定1.26 当射线波长一定时，下列哪种物质的最大? （ ）A.FeB.AIC.TiD.Cu1.27 产生射线的一般方法是在高速电子的运动方向上设置一个障碍物，使高速电子在这个障碍物上突然减速，这个障碍物被叫（ ）。A.阳极B.阴极C.靶D.灯丝1.28 射线的穿透能力取决于（ ）。A.毫安B.千伏值C.曝光时间D.焦点尺寸1.29 射线的穿透能力取决于（ ）。A.源的尺寸B.源的种类C.曝光时间D.焦点尺寸1.30 当施加于射线管两端的管电压不变，管电流增加时，则（ ）。A.产生的射线波长不变，强度不变；B.产生的射线波长不变，强度增加：C.产生的射线波长不变，强度减小；D.产生的射线波长增加，强度不变。1.31 射线机的管电流不变，管电压减小时，则射线将会发生（ ）。A.强度不变，波长减小B.强度不变，波长增大C.波长减小，强度减小D.波长增大，强度减小1.32 射线管所产生的连续射线的强度与管电压的关系是（ ）。A.强度与管电压成正比；B.强度与管电压成反比；C.强度与管电压平方与正比；D.强度与管电压平方成反比。1.33 活度为80Ci、平均能量为1.66MeV的同位素源，经过3个半衰期后，其平均能量为（ ）。A.0.008MeVB.0.22MeVC.0.33MeVD.1.66MeV1.34 放射性同位素衰变时，原子核衰变方式通常是（ ）。A.粒子发射B.K俘获C.裂变D.A和B1.35 韧致辐射是指高速运动的电子同靶相碰撞时，与靶的什么相互作用而释放出电子的能量，产生连续射线的? （ ）A.自由电子B.原子核的质子或中子C.壳层电子D.原子核外库仑场1.36 放射性元素Co60转变为Ni60的过程是一次（ ）A.衰变B.衰变C.衰变D.K俘获1.37 以下关于光电效应的叙述，哪一条是错误的（ ）A.光电效应发生几率随光子能量的增大而减小；B.光电效应发生几率随材料的原子序数增大而增大；C.在光电效应过程中除产生光电子外，有时还会产生反冲电子；D.光电效应发射出的电子能量肯定小于入射光子的能量。1.38 以下关于康普顿效应的叙述，哪一条是错误的（ ）A.散射光子的波长肯定小于入射光子：B.入射光子与散射光子能量之差为反冲屯子的动能；C.散射角越大，散射光子能量越小；D.康普顿效应发生几率随入射光子能量增大而减小。1.39 某放射性同位素的衰变常数为0.005371天1，则其半衰期为（ ）A.186天129天53天537天1.40 下列几种材料中，射线衰减系数较大的是（ ）A.铜铝铁碳1.41 以下关于瑞利散射的叙述，哪一条是错误的（ ）A.瑞利散射是相干散射的一种；B.瑞利散射不改变光子能量，只改变光子的运动方向：C.瑞利散射的发生几率随原子序数的增大而减小：D，瑞利散射的发生几率随光子能量的增人而急剧减小。1.42 射线照相难以检出的缺陷是（ ）A.未焊透和裂纹B.气孔和未熔合C.夹渣和咬边D.分层和折迭1.43 射线照相法对哪一种焊接方法不适用。（ ）A.气焊、电渣焊B.气体保护焊、埋弧自动焊C.手工电弧焊、系离子弧焊D.摩擦焊、钎焊1.44 以下哪些材料的熔化焊对接焊缝适宜使用射线照相法检测（ ）A.钢和不锈钢B.钛和钛合金C.铝及铝合金D.以上都适宜1.45 以下关于射线照相特点的叙述，哪些是错误的（ ）A.判定缺陷性质、数量、尺寸比较准确B.检测灵敏度受材料晶粒度的影响较大C.成本较高，检测速度不快D.射线对人体有伤害1.46 康普顿效应的发生几率大致：（ ）A.与物质原子序数和光子能量成正比B.与物质原子序数和光子能量成反比C.与物质原子序数成正比，与光子能量成反比D.与物质原子序数成反比，与光子能量成正比1.47 射线的光谱称为：（ ）A.线状谱B.连续谱C.标识谱D.以上都是1.48 衰变常数入反映了放射性物质的固有属性：（ ）A.值越小，说明该物质越不稳定，衰变得越慢B.值越大，说明该物质越不稳定，衰变得越快C.值越小，说明该物质越稳定，衰变得越慢D.值越大，说明该物质越稳定，衰变得越快1.49 射线与物质相互作用导致强度减弱，其原因为：（ ）A.吸收和散射 B.衰变和吸收C.衰变和散射 D.以上都是1.50 对于不同物质和不同能量区域，光电效应、康普顿效应、电子对效应各自占优势的区域是：（ ）A.对于低能量射线和原子序数高的物质，光电效应占优势B.对于中等能量射线和原子序数低的物质，康普顿效应占优势C.对于高能量射线和原子序数高的物质，电子对效应：与优势D.以上都是1.51 各种效应对射线照相质量产生的影响是：（ ）A.光电效应和康普顿效应有利丁提高照相对比度B.电子对效应和康普顿效应有利于提高照相对比度C.光电效应利电子对效应有利于提高照相对比度D.光电效应和电子对效应会降低照相对比度2.1 管电压、管电流不变，将射线管阳极由铜换成钨，产生连续射线线质如何变化?（ ）A.变硬B.变软C.不变D.不一定2.2 射线管的阳极靶最常用的材料是（ ）A.铜B.钨C.铍D.银2.3 软射线射线管的窗口材料一般是（ ）。A.铜B.钨C.铍D.银2.4 射线机技术性能指标中，焦点尺寸是一项重要指标，焦点尺寸是指（ ）。A.靶的几何尺寸B.电子束的直径C.实际焦点尺寸D.有效焦点尺寸2.5 在条件允许的情况下，焦点尺寸应尽可能的小，其目的是（ ）。A.减小设备体积B.提高清晰度C.增加能量密度D.节省合金材料2.6 射线管中轰击靶产生射线的高速电子的数量取决于（ ）。A.阳极靶材料的原子序数；B.阴极靶材料的原子序数：C.灯丝材料的原子序数；D.灯丝的加热温度2.7 下列哪一特征，不是射线管的靶材料所要求的（ ）。A.高原子序数B.高熔点C.高热传导率D.高质量吸收系数2.8 当两台相同型号的射线机的千伏值利毫安值均相同时，则（ ）。A.产生的射线的强度和波长一定相同；B.产生的射线的波长相同，强度不同；C.产生的射线的强度相同，波长不同；D.产生的射线的强度和波长不一定相同。2.9 高压变压器直接与射线管相连接的射线机叫做（ ）A.全波整流射线机B.自整流射线机C.交流射线机D.恒电压射线机2.10 射线管对真空度要求较高，其原因是（ ）A.防止电极材料氧化：B.使阴极与阳极之间绝缘：C.使电子火不电离气体而容易通过：D.以上三者均是。2.11 决定射线机工作时间长短的主要因素是（ ）A.工作电压KV的大小；B.工作电流mA的大小；C.工件厚度的大小：D.阳极冷却速度的大小。2.12 射线机中循环油的作用是（ ）A.吸收散射线B.滤去一次射线中波长较长的射线；C.散热；D.增强一次射线2.13 大焦点射线机与小焦点射线机相比，其缺点是（ ）A.射线的能量低穿透力小；B.射线不集中，强度小；C.照相黑度不易控制；D.照相清晰度差。2.14 一般射线机调节管电压的方法通常是（ ）A.调节灯丝的加热电压；B.调节阴极和阳极之间的电压；C.调节阴极和阳极之间的距离；D.调节灯丝与阴极之间的距离2.15 射线管中的阴极最常见的是（ ）A.冷阴极B.热阴极C.旋转阴极D.固定阴极2.16 提高灯丝温度的目的是使（ ）A.发射电子的能量增大：B.发射电子的数量增多；C.发出射线的波长变短；D.发出射线的波长变长。2.17 大功率射线管阳极冷却的常用方法是（ ）A.辐射冷却B.对流冷却C.传导冷却D.液体强迫循环冷却2.18 y射线探伤机与射线探伤机相比，其优点是（ ）A.设备简单B.不需外部电源C.射源体积小D.以上三者都是2.19 探伤所用的放射性同位素，都是（ ）A.天然同位素B.人造同位素C.稳定同位素D.以上三者都是2.20 放射性同位索的辐射强度与时间的关系是（ ）A.随时间增大B.与时间无关C.随时间减小D.三者都不对2.21 利用了射线探伤时，若要增加射线强度可以采用（ ）A.增加焦距B.减小焦距C.减小曝光时间D.三者均可2.22 下列四种放射性元素中，半价层最厚的是（ ）A.C60B.Cs137C.Ir192D.Tm1702.23 下列四种放射性元素中，中衰期最长的为（ ）A.C060B.Cs137C.Ir192D.Tm1702.24 Se75源发出的主要射线的能量为：（ ）A.0.265MeV和0.136MeVB.0.11MeV和0.15MeVC.1.33MeV和1.17MeVD.0.31MeV和0.47MeV2.25 180mm厚的钢试倒：射线照相，可能使用的射线源是（ ）A.钴60B.铥170C.铱192D.铯1372.26 可使用铱192照相的钢试件厚度范围是（ ）A.100200mmB.860mmC.415mmD.20100mm2.27 决定材料对射线吸收量最重要的因素是（ ）A.材料厚度B.材料密度C.材料原子序数D.材料晶粒度2.28 下面有关射线管焦点的叙述，哪一条是错误的?（ ）A.有效焦点总是小于实际焦点；B.焦点越小，照相几何不清晰度越小；C.管电压、管电流增加，实际焦点会有一定程度的增大；D.焦点越大，散热越困难。2.29 放射性同位素源的比活度取决于（ ）A.核反应堆中照射的中子流；B.材料正反应堆中的停留时间：C.照射材料的特性（原子量、活化截面）；D.以上全是。2.30 下列四种放射性同位素中，可用米透照厚度为510mm的薄壁管，辐射特性类似200250KV射线的是（ ）A.Ir192B.Cs137C.C60D.Se752.31 一般放射性比活度高的源其白吸收（ ）A.较高B.较低C.两者无关D.无自吸收2.32 决定射线管靶材适用性的两个因素是（ ）A.拉伸强度和屈服强度B.硬度和磁导率C.电阻和抗氧化性能D.原子序数和熔点2.33 以下关于便携式射线机操作使用的叙述，哪条是错误的（ ）A.射线机停用超过3天，才需要训机；B.送高压前应预热灯丝；C.机内SF6气机过低，将影响绝缘性能：D.应保持工作和间歇时间1：1。2.34 以下哪一条不是了射线探伤设备优点（ ）A.不需用电和水B.可连续操作C.可进行周向曝光和全景曝光D.曝光时间短、防护要求高2.35 射线管中，电子轰击靶时能量转换的主要形式是产生（ ）A.连续射线B.标识射线C.短波长射线D.热 2.36 射线管管电流大小主要取决于（ ） A.靶材料B.灯丝电流C.阳极到阴极的距离D.以上都是2.37 射线管中轰击靶的电子运动的速度取决于（ ）A.靶材的原子序数B.管电压C.管电流D.灯丝电压2.38 在管电压、管电流相同的情况下，下列哪种线路产生的射线质较硬、照射剂量率较大?（ ） A.半波整流B.全波整流C.稳恒直流D.线路种类与射线的质和剂量率无关2.39 在管电压、管电流相同的情况下，焦点尺寸越小，其焦点的温度（ ）A.越低B.越高C.不变D.不一定2.40 各种胶片成像的粒度（ ）A.随千伏值提高而增大B.随千伏值捉高而减小C.与千伏值无关D.变化服从朗伯定律2.41 表示胶片受到一定量射线照射，显影后的底片黑度是多少的曲线叫做（ ）A.曝光曲线B.灵敏度曲线C.特性曲线D.吸收曲线2.42 胶片的片基常用的材料是（ ）A.聚氯乙烯薄膜B.聚氨脂薄膜C.涤纶薄膜D.聚乙烯薄膜2.43 保存射线胶片的环境相对湿度应为（ ）A.1025B.505C.7085D.越干燥越好2.44 胶片特性曲线上，过两个特定黑度点的直线的斜率叫做（ ）A.胶片宽容度B.梯度C.平均梯度D.感光度2.45 由胶片特性曲线可以得到胶片的技术参数是（ ）A.胶片的反差系数B.胶片的本底灰雾度C.正常的曝光范围D.三者均是2.46 哪一因素变化，会使胶片特性曲线形状明显改变? （ ）A.改变管电压B.改变管电流C.改变焦距D.改变显影条件2.47 实际使胶片卤化银颗粒感光的因素是（ ）A.或光量子B.a粒子C.电子D.中子2.48 下面有关胶片的四种叙述中，唯一正确的是（ ）A.胶片颗粒度大，感光速度就快，底片图象清晰；B.胶片颗粒度小，感光速度就快，底片图象模糊；C.胶片颗粒度大，感光速度快，底片图象模糊；D.胶片颗粒度小，感光速度快，底片图象清晰。2.49 底片的黑度范围限制在胶片特性曲线的直线区域内，这是因为在此区域透照出的底片（ ）A.黑度火B.感光度高C.本底灰雾度小D.对比度高2.50 曝过光的胶片，不能在高温高湿的环境内保持时间过长，否则会引起（ ）A.药膜自动脱落B.产生白色斑点C.产生静电感光D.潜象衰退、黑度下降2.51 胶片分类的依据主要是（ ）A.成像特性B.感光特性C.感光度和梯度D.灰雾度和宽容度2.52 胶片乳剂中与射线作用产生光化学作用的成份是（ ）A.AgBrB.AgO2C.AgSD.AgBr22.53 用含锑5的铅合金代替铅作增感屏其原因是这种增感屏（ ）A.清晰度好B.斑点效应好C.比较耐用D.增感系数高2.54 与非增感型胶片配合使用的增感屏是（ ）A.荧光增感屏B.铅箔增感屏C.荧光铅箔增感屏D.稀土荧光增感屏2.55 荧光增感屏与铅箔增感屏相比，荧光增感屏的主要优点（ ）A.图象的清晰度高B.可提高灵敏度C.可缩短曝光时间D.能屏蔽散射线2.56 铅箔增感屏的最主要优点是（ ）A.可加速胶片感光同时吸收部分散射线；B.可提高照相清晰度；C.可减小照相颗粒度；D.以上都是。2.57 使用铅箔增感屏可以缩短曝光时间，提高底片的黑度，其原因是铅箔受射线或了射线照射时（ ）A.能发出荧光从而加速胶片感光；B.能发出可见光从而使胶片感光；C.能发出红外线从而使胶片感光：D.能发出电子从而使胶片感光。2.58 射线照相中，使用像质计的主要目的是（ ）A.测量缺陷大小B.评价底片灵敏度C.测定底片清晰度D.以上都是2.59 什么是使用像质计的局限性? （ ）A.不能提供射线照相检验灵敏度的永久性证据；B.不能比较两种不同透照技术的质量高低；C.不能提供可检出缺陷尺寸的度量指示；D.不能验证所用透照工艺的适当性。2.60 金属丝型像质计应具有的标志有： （ ）A.像质计标准编号B.线材代号C.最粗线与最细线的编号D.以上都是2.61 对母材厚度为16毫米的双面焊接的焊缝进行射线探伤时，在底片上能发现直径为0.32毫米的钢丝质像质计，其像质计相对灵敏度为（ ）A.1B.1.5C.2D.2.52.62 平板焊缝照相时，F面四种关于像质计摆放的叙述，唯一正确的摆放位置是（ ）：A.近胶片一侧的工件表面，并应靠近胶片端头；B.近射源一侧工件表面，金属丝垂直焊缝，并位于：工件中部；C.近胶片一侧的工件表面，并应处在有效照相范围一端的焊缝上，金属丝垂直于焊缝，细丝在外；D.近射源一侧有效照相范围一端的焊缝上，金属丝垂直于焊缝，细丝在外。2.63 钛对射线的吸收系数小于钢，在透照钛试件时采用了钢丝像质计，如果底片上显示的像质指数刚好达到标准要求，则该底片的灵敏度（ ）A.刚好符合标准要求B.达不到标准要求C.远远超过标准要求D.无法判断2.64 知入射光强3200cd/m2，则底片黑度为2.5的区域透过的光强为：（ ）A.5cd/m2B.8cd/m2C.10cd/m2D.30cd/m22.65 一个电压调节器由铁芯变压器组成，变压器只有一个绕组，绕组上有许多抽头。这种变压器叫做：（ ）A.高压变压器；B.灯丝变压器；C.自耦变压器；D.脉冲变压器。2.66 以下关于周向辐射射线管阳极靶的叙述，哪一条是错误的：（ ）A.周向辐射射线管的阳极靶有平面靶和锥形靶两种；B.平面靶多用于300KV射线管；C.平面靶散热效果比锥形靶好；D.使用平面靶射线管的探伤机照相要注意横向裂纹漏检问题。2.67 在其他参数不变的情况下，若显影时间延长，胶片特性曲线会出现（ ）A.梯度增大，感光速度提高；B.梯度减小，感光速度提高C.梯度减小，感光速度降低；D.梯度增大，感光速度降低2.68 Ir192所发出的主要了射线能量为（ ）A.0.66MeV、0.84MeV、0.91MeVB.0.31 MeV、0.47MeV、0.60MeVC.0.08MeV、0.05MeV、0.66MeVD.0.15MeV、1.12MeV、0.18MeV2.69 以下哪一条，不是金属陶瓷管射线机的优点（ ）A.体积小B.重量轻C.故障小D.不需要训机2.70 以下哪一因素，对胶片梯度不产生影响（ ）A.射线能量B.底片黑度C.胶片类型D.显影条件2.71 使用“真空暗盒”的主要优点是（ ）A.提高主因对比度B.减小固有不清晰度C.减小底片颗粒度D.以上都是2.72 胶片系统分类中所指的胶片系统包括（ ）A.胶片、增感屏、暗盒B.胶片、增感屏、暗盒、背防护铅板C.胶片、增感屏、冲洗条件D.源、胶片、增感屏、冲洗条件2.73 适宜检测厚度530mm的钢试件的放射性同位素是（ ）A.Irl92B.Tm170C.Yb169D.Se752.74 黑度计的光传感器要求线性好，主要是为了（ ）A.减少背景光的影响B.抑制零点漂移C.扩大量程范围D.提高测量精度2.75“S”通道型射线机与直通道型射线机相比，其优点是（ ）A.重量轻B.体积小C.输源管弯曲半径可以更小D.以上都是2.76 金属陶瓷射线管的特点是：（ ）A.抗震性强，一般不易破碎B.管内真空度高，各项电性能好，管子寿命长C.容易焊装铍窗口D.以上都是2.77 在增感型胶片的特性曲线中，黑度值随曝光量对数的增加而呈线性增大的区段叫做：（ ）A.曝光过度区B.曝光迟钝区C.曝光正常区D.反转区2.78 铅箔增感屏铅箔表面沾了油污后，会造成： （ ）A.底片上出现类似裂纹的黑线B.底片上产生黑影C.底片上产生白影D.以上都是3.1 从可检山最小缺陷的意义上说，射线照相灵敏度取决于（ ）A.底片成像颗粒度；B.底片上缺陷图象不清晰度；C.底片上缺陷图象对比度；D.以上都是。3.2 射线底片上两个不同区域之间的黑度差叫做（ ）A.主因反差；B.底片反差：C.清晰度；D.胶片反差。3.3 影响主因对比度的是（ ）A.射线的波长B.散射线C.工件的厚度差D.以上都是3.4 胶片对比度取决于：（ ）A.胶片类型（或梯度G）B.显影条件C.底片黑度DD.以上都是3.5 射线底片上缺陷轮廓鲜明的程度叫做（ ）A.主因对比度B.颗粒度C.清晰度D.胶片对比度3.6 几何不清晰度也可称为（ ）A.固有不清晰度B.几何放大C.照相失真D.半影3.7 射线透照的几何不清晰度（ ）A.与工件厚度成正比，与焦点尺寸成反比；B.与工件厚度成反比，与焦点尺寸成反比；C.与焦点尺寸成正比，与焦距成反比；D.与焦点尺寸成反比，与焦距成正比。3.8 决定细节在射线底片上可记录最小尺寸的是（ ）A.对比度B.不清晰度C.颗粒度D.以上都是3.9 射线照相底片的颗粒性是由什么因素造成的?（ ）A.影像颗粒或颗粒团块的不均匀分布；B.底片单位面积上颗粒数的统计变化；C.颗粒团块的重重叠叠；D.以上都是。3.10 下列四种因素中，不能减小几何不清晰度的因素是（ ）A.射源到胶片的距离；B.胶片到工件的距离；C.射源的强度；D.射源的尺寸。3.11 减小几何不清晰度的方法是（ ）A.选用焦点较大射源；B.使用感光速度较快的胶片；C.增大射源到胶片的距离；D.增大工件到胶片的距离。3.12 固有不清晰度与下列哪一因素有关（ ）A.源尺寸；B.胶片感光度；C.胶片粒度；D.射线能量3.13 为了提高透照底片的清晰度，选择焦距时，应该考虑的因素是（ ）A.射源的尺寸，射源的强度，胶片类型；B.工件厚度，胶片类型，射源类型；C.射源强度，胶片类型，增感屏类型；D.射源尺寸，几何不消晰度，工件厚度。3.14 下列四种因素中对底片的清晰度无任何影响的是（ ）A.射源的焦点尺寸B.增感屏的类型；C.射线的能量D.底片的黑度3.15 下列哪一种情况对胶片梯度和底片颗粒度同时产生影响?（ ）A.改变KV值B.改变焦距C.改变mA值D.改变底片的黑度3.16 在射线照相中，使缺陷影像发生畸变最重要的原因是（ ）A.射源尺寸B.射源到缺陷的距离C.缺陷到胶片的距离D.缺陷相对于射源和胶片的位置和方向3.17 下列影响几何不清晰的是：（ ）A.透照厚度差B.焦距C.射线能量D.底片黑度3.18 使用铜增感屏比铅箔增感屏能：（ ）A.得到更小的固有不清晰度B.增大固有不清晰度C.提高照相对比度D.降低照相对比度3.19 透照有余高的焊缝时，为使像质计金属丝在焊缝和母材部位得到相同显示，应（ ）A.根据焊缝的余高选择合适的射线能量；B.尽量选择较高能量射线；C.尽量选择较低能量射线；D.以上都不对。3.20 以下哪一个参数不被认为是影响裂纹检出的关键参数（ ）A.长度LB.开口宽度WC.自身高度dD.裂纹与射线角度3.21 透照板厚一定且有余高的焊缝，散射比随有效能量的提高而（ ）A.增大B.减小C.不变D.不一定3.22 用单壁外透法透照同一筒体时，如不考虑焦点投影尺寸的变化，纵缝Ug与环缝Ug的区别是：在一张底片的不同部位（ ）A.纵缝Ug值各处都一样，而环缝Ug随部位而变化；B.环缝Ug值各处都一样，而纵缝Ug值随部位而变化；C.无论纵缝、环缝，Ug值在任何部位都相同，不发生变化；D.以上都不是。3.23 用置于透照区中心附近的铂一钨双丝透度计可以从射线底片上测出一定管电压下的（ ）A.吸收系数；B.散射因子；C.固有不清晰度；D.形状修止系数。3.24 下列哪一因素的变化不会改变射线照相的主冈对比度（ ）A.试件的材质；B.射线的能谱；C.散射线的分布；D.毫安分或居里分。3.25 下列哪一因素对照相底片颗粒性无明显影响? （ ）A.显影程度；B.使用铅增感屏；C.射线穿透力；D.使用荧光增感屏。3.26 工件中靠近射源一侧的缺陷图像，在下列哪种情况下清晰度最差?（ ）A.焦距增大；B.焦点尺寸减小；C.工件厚度增大；D.胶片与工件距离减小。3.27 如何提高射线底片的信噪比? （ ）A.增加曝光量；B.提高管电压；C.增大焦距；D.胶片与工件距离减小。3.28 下列哪一参数不是影响小缺陷射线照相清晰度和对比度的共同因素?（ ）A.焦点或射源尺寸；B.黑度；C.焦距；D.射线线质。3.29 在什么条件下尺寸较大的源摄得的射线底片质量可与尺寸较小的源相当?（ ）A.增大源到胶片距离；B.采用较厚的铅增感屏；C.使用速度快的胶片；D.缩短曝光时间。3.30 决定缺陷在射线透照方向上可检出最小厚度差的因素是（ ）A.对比度B.不清晰度B.颗粒度D.以上都是3.31 胶片与增感屏贴合不紧，会明显影响射线照相的（ ）A.对比度B.不清晰度C.颗粒度D.以上都是3.32 射线照相底片上所能发现的最小缺陷尺寸与透照厚度的百分比称为：（ ）A.绝对灵敏度B.相对灵敏度C.对比度D.清晰度3.33 下列有关射线照相清晰度的叙述是：（ ）A.影像轮廓边缘黑度过渡区的宽度B.缺陷影像与其周围背景的黑度差C.影像黑度的不均匀程度D.以上都是3.34 下列有关颗粒性叙述正确的是：（ ）A.随胶片粒度和感光速度的增大而增大B.随射线能量的增大而增大C.随曝光量和底片黑度的增大而减小D.以上都对3.35 以下哪一种措施不能提高射线照相的信噪比（ ）A.使用速度更慢的胶片B.增加曝光量C.提高底片黑度D.提高射线能量3.36 计算总不清晰度最常用的计算公式是（ ）3.37 颗粒的随机性表现在（ ）A.射线源发出的光量子到达胶片的空间分布是随机的B.感光银盐颗粒大小和分布不均匀性是随机的 C.胶片乳剂层对光子吸收是随机的D.以上都是3.38 射线照相几何不清晰度与以下哪一因素无关（ ）A.增感屏B.底片黑度C.源尺寸D.射线能量3.39 射线照相中，提高底片反差有利于小缺陷的检出，但同时会产生：（ ）A.厚度宽容度减小B.曝光时间延长C.底片上有效评定区缩小D.以上都对3.40 下列关于胶片梯皮的叙述，正确的是：（ ）A.增感型胶片比非增感型胶片梯度大B.选择梯度较大的胶片可提高对比度C.胶片梯度随黑度的增加而减小D.以上都是3.41 点状小缺陷对比度取决于（ ）A.缺陷高度B.小缺陷截面积C.缺陷体积D.以上都是3.42 几何不清晰度与；（ ）A.焦点尺寸成正比B.工件厚度成正比C.焦点至工件表面距离成反比D.以上都对4.1 按照“高灵敏度法”的要求，Ir192射线适宜透照钢的厚度范围是（ ）A.2080mm；B.30100mm；C.6100mm；D.20120mm。4.2 大约在哪一厚度上，Ir192射线配合微粒胶片照相的灵敏度与射线配合中粒胶片照相的灵敏度大致相当（ ）A.1020mmB.2030mmC.4050mmD.8090mm4.3 射线透照工艺条件的选择包括：（ ）A.射线源和能量的选择B.焦距的选择C.曝光量的选择D.以上都是4.4 射线能量的选择应考虑：（ ）A.在保证穿透力的前提下，选择较低能量B.合适的透照厚度宽容度C.适当的曝光量D.以上都是4.5 双壁双影直透法一般多用于：（ ）A.100mm的管子环焊缝的透照B.100mm的管子环焊缝的透照C.T（壁厚）8mm或g（焊缝宽度）DO/4的管子环焊缝的透照D.以上都可以4.6 以相同的条件透照工件，若焦距缩短20，曝光时间可减小多少?（ ）A.64；B.36；C.20；D.804.7 用半衰期为75天的Ir192源在某时间对某工件透照时的曝光时间为40分钟；5个月后，用该源对同一工件透照，为得到同样黑度的射线底片，曝光时间应为：（ ）A.40分钟；B.2小时；C.2小时40分：D.4小时。4.8 若散射线忽略不计，当透照厚度的增加量相当于1/2半价层时，则胶片接受的照射量将减少多少?（ ）A.25：B.70：C.41：D.30。4.9 曝光因子表达式表达了：（ ）A.射线能量、胶片类型和暗室处理之间的关系；B.射线强度、曝光时间和焦距之间的关系；C.射线源种类、增感屏种类和曝光时间的关系；D.射线强度、增感屏种类和曝光时间的关系。4.10 对于厚度差较大的工件进行透照时，为了得到黑度和层次比较均匀的底片，一般做法是（ ）A.提高管电流；B.提高管电压；C.增加曝光时间；D.缩短焦距。4.11 在同一个暗盒中装两张不同感光速度的胶片进行曝光的主要目的是（ ）A.为了防止暗室处理不当而重新拍片；B.为了防止探伤工艺选择不当而重新拍片；C.为了防止胶片上的伪缺陷而重新拍片；D.用于厚度差较大工件的射线探伤，这样在不同厚度部位都能得到黑度适当的底片。4.12 用双胶片进行射线照相，要装两张不同感光速度的胶片，其选片原则是：两种胶片的特性曲线：（ ）A.应在黑度轴上有些重合； B.在黑度轴上无需重合；C.应在1gE轴上有些重合； D.在1gE轴上无需重合。4.13 铅箔增感屏上的深度划伤会在射线底片上产生黑线，这是因为：（ ）A.铅箔划伤部位厚度减薄，对射线吸收减小，从而使该处透射线时增多：B.划伤使铅箔表面增大，因而发射电子的面积增大，增感作用加强；C.深度划伤与胶片之间的间隙增大，敞射线增加：D.以上都对。4.14 透照有余高的焊缝，下面哪一条件的变化不会导致散射比显著增大?（ ）A.射线能量从200KeV降低到100KeV；B.照射场范围从300mm增大到500mm；C.试件厚度从20mm增加到40mm,D.焊缝余高从2mm增加到4mm。4.15 比较大的散射源通常是（ ）A.铅箔增感屏；B.暗盒背面铅板；C地板和墙壁；D.被检工件。4.16 由被检工件引起的散射线是（ ）A.背散射；B.侧向散射；C.正向散射；D.全都是。4.17 射线探伤中屏蔽散射线的方法是（ ）A.铅箔增感屏和铅罩；B.滤板和光阑；C.暗盒底部铅板；D.以上全是。4.18 射线探伤时，在胶片暗盒和底部铅板之间放一个一定规格的B字铅符号，如果经过处理的底片上出现B的亮图象，则认为（ ）A.这一张底片对比度高，像质好；B.这一张底片清晰度高，灵敏度高；C.这一张底片受正向散射影响严重，像质不符合要求；D.这一张底片受背向散射影响严重，像质不符合要求。4.19 在射线机窗口加滤板，在工件上加补偿块减小厚度差，以及采用多胶片法，都是为了（ ）A.校正不清晰度；B.校正低密度；C.校正低对比度；D.校正低宽容度。4.20 置于工件和射源之间的滤板可以减少从工件边缘进入的散射线，其原因是滤板（ ）A.吸收一次射线束中波长较长的成份；B.吸收一次射线束中波长较短的成份；C.吸收背散射线；D.降低一次射线束的强度。4.21 滤板的作用相当于（ ）A.增加毫安；B.降低毫安；C.增加千伏；D.降低千伏。4.22 已知Co60源的半衰期为5.3年，用一个新源进行射线照相得到满意的射线底片，两年后用该源对同一工件按同样条件进行射线照相，为得到同样的底片，曝光时间（ ）A.不变；B.约延长 10C.约延长30D.约延长604.23 用铅箔增感，焦距1400mm曝光时间8分钟，得底片黑度2.5，现焦距为700mm，底片黑度不变，曝光时间应为（ ）A.1.6分钟B.2分钟C.1.25分钟D.4分钟4.24 曝光因子中的管电流、曝光时间和焦距三者的关系是（ ）A.管电流不变，时间与焦距的平方成反比：B.管电流不变，时间与焦距的平方成正比；C.焦距不变，管电流与曝光时间成正比；D.曝光时间不变，管电流与焦距成正比。4.25 控制透照厚度比K值的主要目的是（ ）A.提高横向裂纹检出率；B.减小几何不清晰度；C.增大厚度宽容度；D.提高底片对比度。4.26 选择透照方式时，应综合考虑的因素有：（ ）A.透照灵敏度B.缺陷检出特点C.透照厚度差和横向裂纹检出角D.以上都是4.27 采用双片曝光和双片观察的技术，可以（ ） A.增大对比度；B.减小不清晰度；C.增大宽容度：D.减小颗粒度。4.28 小径管环焊缝双壁双影透照时，适合的曝光参数是（ ）A.较高电压、较短时间：B.较高电压、较长时间：C.较低电压、较短时间：D.较低电压、较长时间。4.29 小径管椭圆透照的有效透照范围长度（ ）A.与焦距的平方成反比；B.与焦距的平方成正比；C与焦距成正比；D.与焦距无关。4.30 对钢工件，大致在哪一透照厚度值上，使用Co60的照相效果比Ir192更好一些：（ ）A.40mmB.60mmC.80mmD.120mm4.31 曝光因子表达了哪几个参数的相互关系（ ）A.管电压、管电流、曝光时间B.管电压、曝光量、焦距C.管电流、曝光时间、焦距D.底片黑度、曝光量、焦距4.32 穿过试件较薄截面的射线会在相邻厚截面下产生散射，从而对厚截面的影像产生影响，这种影响称为（ ）。A.康普顿散射B.瑞利散射C.边蚀散射D.固有不清晰度4.33 小径管重叠成像法一般用于透照：（ ）A.直径小：Do20mmB.壁厚大：T8mmC.焊缝宽：gDo/4D.以上都是4.34 透照厚度为150mm的钢对接焊缝，可选用的射线源是（ ）A.300KV携带式射线机B.420KV移动式射线机C.Ir192射线源D.C060射线源4.35 对厚度为15mm，直径1000mm的简体的对接环缝照相，较理想的选择是（ ）A.Ir192源，中心透照法B.锥靶周向射线机，中心透照法C.单向射线机，外照法D.平靶周向射线机，中心透照法4.36 在哪一种情况下，底片的有效评定范围会超出搭接标记以外（ ）A.环缝双壁单影透照，搭接标记放在胶片侧；B.环缝单壁外透法，搭接标记放在胶片侧；C.纵缝单壁外透法，搭接标记放在射源侧；D.环缝中心透照法搭接标记放在胶片侧。4.37 小径管环焊缝照相的透照厚度比的用途是（ ）A.为焦距选择提供参考依据；B.为偏移距离选择提供参考依据；C.为管电压选择提供参考依据；D.为曝光量选择提供参考依据。4.38 锻件法兰对接焊缝射线照相，提高照相质量最重要的措施是（ ）A.提高管电压增大宽容度B.使用梯噪比高的胶片C.使用屏蔽板减少“边蚀”D.增大焦距提高小裂纹检出率4.39 下列不需计算一次透照长度的透照方式是：（ ）A.环缝单壁外透法B.小径管双壁双影法C.纵缝双壁单影法D.环缝内透偏心法4.40 球罐射线全景曝光时，安全距离的计算不需要考虑下列哪个因素（ ）A.焊缝余高B.球罐壁厚C.安全剂量限值D.半值层4.41 下列有关曝光曲线制作的叙述，正确的是：（ ）A.其它条件一定，管电压作为可变参数B.其它条件一定，曝光量作为可变参数C.其它条件一定，工件厚度作为可变参数D.以上都是4.42 下列有关曝光曲线使用的叙述，正确的是：（ ）A.只要射线机的规格相同，其曝光曲线都是通用的B.曝光曲线一定后，实际使用中可对暗室冲洗温度作修改C.曝光曲线一般只适用于透照厚度均匀的平板工件D.以上都是4.43 编制焊缝透照常规工艺需遵循的原则是：（ ）A.应符合有关法规、标准、设计文件和管理制度的要求B.应考虑缺陷检出率、照相灵敏度和底片质量C.应考虑检测速度、工作效率和检测成本D.以上都是4.44 编制焊缝透照专用工艺卡必须明确的是：（ ）A.工件情况B.透照条件参数C.注意事项和辅助措施D.以上都是4.45 下列关于小径管椭圆透照像质要求叙述正确的是：（ ）A.为达到透照灵敏度，可以不考虑厚度宽容度B.椭圆开口度太小，会使源侧与片侧焊缝根部缺陷产生混淆C.椭圆开口度人，有利于焊缝根部面状缺陷的检出D.以上都是5.1 显影的目的是（ ）A.使曝光的金属银转变为溴化银；B.使曝光的溴化银转变为金屈银；C.去除未曝光的溴化银：D.去除已曝光的溴化银。5.2 显影液的主要成份是（ ）A.还原剂利促进剂；B.保护剂；C.抑制剂；D.以上全是。5.3 还原剂通常采用（ ）A.亚硫酸钠；B.溴化钾；C.米吐尔和对苯二酚；D.碳酸钠。5.4 显影液中的促进剂通常采用（ ）A.亚硫酸钠；B.溴化钾；C.菲尼铜；D.碳酸钠。5.5 显影液中的保护剂通常采用（ ）A.亚硫酸钠；B.溴化钾；1C.菲尼铜；D.碳酸钠。5.6 显影液中的抑制剂通常采用（ ）A.亚硫酸钠；B.溴化钾；C.菲尼铜；D.氢氧化钠。5.7 显影操作时，不断搅动底片的目的是（ ）A.使未曝光的溴化银粒子脱落；B.驱除附在底片表面的气孔，使显影均匀，加快显影：C.使曝过光的溴化银加速溶解；D.以上全是。5.8 在显影过程中应翻动胶片或搅动显影液，其目的是（ ）A.保护胶片，使其免受过大压力；B.使胶片表面的显影液更新：C.使胶片表面上未曝光的银粒子散开；D.防止产生网状皱纹。5.9 显影时，哪一条件的变化会导致影像颗粒粗大? （ ）A.显影液活力降低；B.显影液搅动过度；C.显影时间过短；D.显影温度过高。5.10 以下关于显影剂性质的叙述，哪一条是正确的（ ）A.对苯二酚显影反差小；B.菲尼酮可取代对苯二酚与米吐尔组成显影剂；C.当温度降低时，对苯二酚显影能力显著降低，米叶尔则不明显：D.当碱度增大时，米叶尔显影能力显著提高，对苯二酚则不明显。5.11 定影液中的定影剂通常采用（ ）A.硫代硫酸钠；B.冰醋酸；C.明矾；D.亚硫酸钠。5.12 定影液使用一定的时间后会失效，其原因是或（ ）A.主要起作用的成份已挥发；B.主要起作用的成份已沉淀；C.主要起作用的成份已变质；D.定影液里可溶性的银盐浓度太高。5.13 在定影操作时，定影时间一般为（ ）A.20分钟B.底片通透即可；C.通透时间的2倍D.30分钟5.14 定影液是一种（ ）A.酸性溶液B.碱性溶液：C.中性溶液：D.二者均不是。5.15 在定影液中能抑制硫代硫酸钠被分解析出硫的化学药品是（ ）A.CH3CH2B.H3B3C.Na2S4D.Na2S35.16 以下关于定影液配制的叙述，哪一条是错误的（ ）A.亚硫酸钠应在加酸之前溶解；B.硫代硫酸钠应在加酸之后溶解：C.硫酸铝钾应在加酸之后溶解；D.酸性剂除加入醋酸外还应加入硼酸。5.17 以下哪一种材料不适宜用作盛放洗片液的容器（ ）A.塑料B.不锈钢C.搪瓷D.铝5.18 显影速度变慢，反差减小，灰雾增大，引起上述现象的原因可能是（ ）A.显影温度过高B.显影时间过短C，显影时搅动不足D.显影液老化5.19 硼砂在显影液中的作用是（ ）A.还原剂B.促进剂C.保护剂D.抑制剂5.20 硫酸铝钾在定影液中的作用是（ ）A.定影剂B.保护剂C.坚膜剂D.酸性剂5.21 配制定影液时，如果在加酸之前就加入硫酸铝钾，则会发生硫酸铝钾被（ ）A.氧化B.还原C.抑制D.水解5.22 盛放显影液的显影槽不用时应用盖盖奸，这主要是为了（ ）A.防止药液氧化B.防止落进灰尘C.防止水份蒸发D.防止温度变化5.23 显影配方中哪一项改变会导致影像灰雾增大，颗粒变粗（ ）A.米吐尔改为菲尼酮B.增大亚硫酸钠用量C.碳酸钠改为氢氧化钠D.增大溴化钾用量5.24 以下关于停显液的叙述，哪一条是错误的（ ）A.停显液为酸性溶液B.使用停显液可防止两色性雾翳产生C.使用停显影可防止定影液被污染D.为防止药膜损伤，可在停显液中加入坚膜剂无水亚硫酸钠5.25 自动洗片机正式洗片前，先输入一张清洗片，其目的是（ ）A.检查有无异常情况B.清除液桶上沾染的被空气氧化的显影液C.清除液桶上沾染的被空气氧化的定影液D.以上都是5.26 显影液、定影液配液时的要求是：（ ）A.配置用水的硬度越高越好，有利与药液溶解B.因为硫代硫酸钠会大量吸热，所以配置定影液时水温要高一些C.除对配液容器材质有要求外，对搅拌棒的材质无要求D.配液时应不停地激烈搅拌，有利于药液快速溶解5.27 胶片处理的标准条件和操作要点是：（ ）A.显影温度202，时间4-6min，预先水浸，显影过程中适当搅动B.定影温度16-24，时间5-15min，定影过程中充分搅动C.干燥温度40，去除表面水滴后干燥D.以上都是5.28 下列关于显影剂的说法错误的是：（ ）A.米吐尔易溶于水，不易溶于亚硫酸钠溶液B.菲尼酮常温下不溶于水，但易溶于碱性水溶液C.菲尼酮与对苯二酚配合使用时显影能力极强，但性能不稳定D.对苯二酚可使影像具有很高的反差5.29 抑制剂的作用是：（ ）A.抑制灰雾B.抑制显影速度，有利于显影均匀C.对影像层次利反差起调节和控制作用D.以上都是6.1 观片室的明暗程度最好是（ ）A.越暗越好B.控制在70流明左右C.与透过底片的亮度大致相同D.以上都不对6.2 以下关于底片灵敏度检查的叙述，哪一条是错误的（ ）A.底片上显示的像质计型号、规格应正确；B.底片上显示的像质计摆放应符合要求；C.如能清晰地看到长度不小于10mm的像质计钢丝影像，则可认为底片灵敏度达到该钢丝代表的像质指数；D.要求清晰显示钢丝影像的区域是指焊缝区域，热影响区和母材区域则无此要求。6.3 以下关于底片黑度检查的叙述，哪一条是错误的（ ）A.焊缝和热影响区的黑度均应在标准规定的黑度范围内；B.测量最大黑度的测量点一般选在中心标记附近的热影响区；C.测量最小黑度的测量点一般选在搭接标记附近的焊缝上；D.每张底片黑度检查至少测量四点，取四次测量的平均值作为底片黑度值。6.4 以下关于观片灯亮度的叙述，哪一条是正确的（ ）A.透过底片的光强越高越好B.透过底片的光强最好为10cd/m2C.透过底片的光强最好为30cd/m2D.透过底片的光颜色最好为绿色6.5 一般情况下，正常人的眼睛大约可以看清（ ）A.直径0.25mm的点和0.025mm的线；B.直径0.025mm的点和0.0025mm的线；C直径0.025mm的点利0.25mm的线；D.直径0.0025mm的点和0.025mm的线。6.6 以下哪些材料的焊接接头一般不会产生延迟裂纹（ ）A.优质碳素钢B.低合金钢C.奥氏体不锈钢D.钛合金6.7 再热裂纹发生的位置一般在（ ）A.母材B.热影响区C.焊缝区D.以上都是6.8 以下哪些材料的焊接接头一般不会产生再热裂纹（ ）A.低碳钢B.低合金高强钢C.珠光体耐热钢.沉淀强化的奥氏体钢6.9 结晶裂纹是热裂纹的一种，发生的位置一般是（ ）A.焊缝区B.热影响区C.母材D.以上都是6.10 含碳量超过0.3的钢，焊接时容易产生的缺陷是（ ）A.热影响区裂纹B.气孔C.夹渣D.未溶合6.11 焊接坡口面加热不足或存在氧化皮可能引起（ ）A.未焊透B.未溶合C.凹陷D.咬边6.12 焊接电流过小或焊接速度过快可能引起（ ）A.裂纹B.未焊透C.咬边D.焊瘤6.13 坡口或焊材表面不清洁，有水或油污，可能引起（ ）A.裂纹B.夹渣C.未熔合D.气孔6.14 焊接电流过大或焊条角度不对可能引起（ ）A.未焊透B.未熔合C.气孔D.咬边6.15 以下哪一种焊接方法会产生钨夹渣（ ）A.手工电弧焊B.埋弧自动焊C.非熔化极气体保护焊D.电渣焊6.16 以下哪一种缺陷不属于面积型缺陷（ ）A.裂纹B.未熔合C.条状夹渣D.咬边6.17 底片上出现的白点影像，它可能是（ ）A.钨夹渣B.焊瘤C.焊接飞溅D.以上都是6.18 静电感光的影像一般是（ ）A.鸟爪型B.树枝型C.点状或冠状D.以上都是6.19 底片上的出现宽度不等，有许多断续分枝的锯齿形黑线，它可能是（ ）A.裂纹B.未溶合C.未焊接D.咬边6.20 显影后呈现在射线底片上的亮的皱折痕迹是由于什么原因造成的?（ ）A.静电感光；B.铅增感屏划伤；C.曝光前胶片受折D.曝光后胶片受折。6.21 造成底片上出现黑度小于其他部位的白影的原因是：（ ）A.显影操作开始前，胶片上沾染了显影液B.显影操作开始前，胶片上沾染了定影液C.增感屏划伤D.胶片跑光6.22 为正确识别底片上的表面几何影像，评片人员应：（ ）A.仔细了解试件结构和焊接接头型式B.熟悉不同焊接方法和焊接位置的焊缝成形特点C.掌握试件和焊缝的表面质量状况7.1 吸收剂量的SI单位是（ ）A.伦琴（R）B.戈瑞（Gy）C.拉德（rad）D.希沃特（Sv）7.2 当光子能量超过200KeV后，对于人体组织的吸收剂量与照射量换算关系大致为（ ）A.1戈瑞=0.01伦琴B.1戈瑞=0.1伦琴C.1戈瑞=10伦琴D.1戈瑞=100伦琴7.3 GBl8871-2002标准规定：放射工作人员的职业照射水平的年有效剂量不应超过（ ）A.50mSvB.50remC.150mSvD.500mSv7.4 GBl8871-2002标准规定：公众中有关关键人群组的成员所受到的平均年有效剂量不应超过（ ）A.5remB.15mSvC.50mSvD.1mSv7.5 在相同吸收剂量的情况下，对人体伤害最大的射线种类是（ ）A.射线B.Y射线C.中子射线D.射线7.6 辐射防护应遵循的三个基本原则是：（ ）A.辐射实践的正当化B.辐射防护的最优化C.个人剂量限值D.以上都应予以同时考虑7.7 一旦发生放射事故，首先必须采取的正确步骤是（ ）A.报告卫生防护部门；B.测定现场辐射强度；C.制定事故处理方案：D.通知所有人员离开现场。7.8 Ir192射线通过水泥墙后，照射率衰减到200mR/h，为使照射率衰减到10mR/h以下，至少还应覆盖多厚的铅板? （设半价层厚度为0.12cm）（ ）A.10.4mm；B.2.6mm；C.20.8mmD.6.2mm。7.9 离源200mm处的照射率为100mR/h，照射率为2mR/h辐射区边界标记离源的距离约为（ ）A.0.7mB，1.4mC.2.8mD.1m7.10 射线的生物效应，与下列什么因素有关? （ ）A.射线的性质和能量B.射线的照射量C.肌体的吸收剂量D.以上都是7.11 热释光计量计用于（ ）A.工作场所辐射监测B.个人剂量监测C.内照射监测D.A和B7.12 下列有关照射量的叙述，正确的是：（ ）A.辐射防护常用辐射量的物理量；B.当量剂量的计量单位；C.只适用于射线或射线；D.以上都是。7.13 辐射损伤随机效应的特点是（ ）A.效应的发生率与剂量无关；B.剂量越大效应越严重；C.只要限制剂量便可以限制效应发生：D.以上B和C。7.14 辐射损伤确定性效应的特点是（ ）A.效应的发生与剂量无关；B.剂量越大效应越严重；C.只要限制剂量便可以限制效应发生；D.以上B和C。7.15 以下GBl8871-2002标准关于应急照射的叙述，哪一条是错误的（ ）A.应急照射事先必须周密计划；B.计划执行前必须履行相应的批准程序：C.应急照射的剂量水平应在标准范围内：D.经受应急照射后的人员不应再从事放射工作。7.16 辐射防护三个基本要素是：（ ）A.时间防护B.距离防护C.屏蔽防护D.以上都是7.17 下列关于利用半价层计算屏蔽层厚度的说法，不正确的是：（ ）A.只要有散射线存在，其半价层就不是固定值B.根据半价层计算出的屏蔽层厚度是准确的C.半价层厚度随屏蔽层的厚度增加而增加D.屏蔽层厚度很大时，半价层厚度不再随屏蔽层的厚度增加而增加选择题答案1.1D1.2B1.3B1.4A1.5A1.6A1.7A1.8D1.9D1.10C1.11C1.12C1.13A1.14D1.15B1.16B1.17B1.18C1.19A1.20B1.21A1.22B1.23B1.24D1.25C1.26D1.27C1.28B1.29B1.30B1.31D1.32C1.33D1.34D1.35D1.36B1.37C1.38A1.39B1.40A1.41C1.42D1.43D1.44D1.45B1.46C1.47A1.48B1.49A1.50D1.51C2.1C2.2B2.3C2.4D2.5B2.6D2.7D2.8D2.9B2.10D2.11D2.12C2.13D2.14B2.15B2.16B2.17D2.18D2.19B2.20C2.21B2.22A2.23B2.24A2.25A2.26D2.27C2.28D2.29D2.30D2.31B2.32D2.33A2.34D2.35D2.36B2.37B2.38C2.39B2.40A2.41C2.42C2.43B2.44C2.45D2.46D2.47C2.48C2.49D2.50D2.51A2.52A2.53C2.54B2.55C2.56A2.57D2.58B2.59C2.60D2.61C2.62D2.63B2.64C2.65C2.66D2.67A2.68B2.69D2.70A2.71B2.72C2.73D2.74D2.75C2.76D2.77C2.78C3.1D3.2B3.3D3.4D3.5C3.6D3.7C3.8C3.9D3.10C3.11C3.12D3.13D3.14D3.15D3.16D3.17B3.18A3.19A3.20A3.21B3.22A3.23C3.24D3.25B3.26C3.27A3.28B3.29A3.30A3.31B3.32B3.33A3.34D3.35D3.36B3.37D3.38C3.39D3.40B3.41C3.42D4.1A4.2C4.3D4.4D4.5C4.6B4.7C4.8D4.9B4.10B4.11D4.12C4.13B4.14B4.15D4.16C4.17D4.18D4.19D4.20A4.21C4.22C4.23B4.24B4.25A4.26D4.27C4.28A4.29D4.30D4.31C4.32C4.33D4.34D4.35B4.36B4.37C4.38C4.39B4.40A4.41D4.42C4.43D4.44D4.45B5.1B5.2D5.3C5.4D5.5A5.6B5.7B5.8B5.9D5.10C5.11A5.12D5.13C5.14A5.15D5.16B5.17D5.18D5.19B5.20C5.21D5.22A5.23C5.24D5.25D5.26B5.27D5.28C5.29D6.1C6.2D6.3D6.4D6.5A6.6C6.7B6.8A6.9A6.10A6.11B6.12B6.13D6.14D6.15C6.16C6.17D6.18D6.19A6.20C6.21B6.22D7.1B7.2D7.3A7.4D7.5C7.6D7.7D7.8D7.9C7.10D7.11B7.12C7.13A7.14D7.15D7.16D7.17B三、问答题1.1 什么叫核素?核素分为哪几类?1.2 什么叫核力?核力具有哪些性质?1.3 射线可分为哪几类，用于工业探伤的射线有哪几种?1.4 放射性同位素衰变有哪几种模式?1.5 射线和射线具有哪些性质?1.6 射线和射线有哪些不同点?1.7 产生射线需要哪些条件?1.8 射线机发出的射线为什么具有连续波长?1.9 连续射线和标识射线有哪些不同点?它们在射线探伤中各起什么作用?1.10 试述光电效应的机理和产生条件。1.11 试述康普顿效应的机理利特点。1.12 什么叫电子对效应?电子对效应产生条件是什么?1.13 什么叫瑞利散射?瑞利散射的特点是什么?1.14 射线与物质相互作用时导致其强度减弱，试叙述四种效应各起了多少作用?1.15 试解秆“窄束”和“宽束”、“单色”和“多色”的含义。1.16 窄束单色射线在物质中的衰减规律怎样表示?宽束连续射线在物质中的衰减规律又怎样表示?1.17 什么叫射线的线质?连续射线的线质怎样表示?1.18 什么叫半价层?它在检测中有哪些应用?1.19 什么叫放射性同位素的半衰期?它在射线检测中有什么用处?1.20 试述射线照相法的原理。2.1 简述射线管结构和各部分作用。2.2 金属陶瓷射线管有哪些优点。2.3 射线管的阳极冷却方式有几种?冷却有什么重要性?2.4 射线机高压发生线路有几类?它们在射线输出上有何区别?2.5 简述影响射线管使用寿命的因素?2.6 试述射线机训练的目的和原理。2.7 简述射线机维护、保养的注意事项。2.8 对探伤用的射线源有哪些要求?2.9 何谓放射性活度?它与射线源的强度有何联系?2.10 与射线探伤相比，射线探伤有哪些优点和缺点?2.11 硒75放射性同位素与铱192相比，具有哪些特点?2.12 试述工业射线胶片的特点和结构。2.13 增感型胶片和非增感型胶片的特性曲线有何区别?两种胶片的黑度与GD值关系有何不同?2.14 射线胶片有哪些特性参数?哪儿项可在特性曲线上表示出来?如何表示?2.15 何谓胶片系统?胶片分类所依据的特性参数有哪些?2.16 胶片的选用一般应考虑哪些因素?2.17 工业射线胶片系统分类规定要考虑冲洗条件的影响，那么对冲洗条刊：应如何控制?2.18 金属增感屏有哪些作用，哪些金属材料可用作增感屏?2.19 像质计有哪几种类型?中国和美国各采用哪种像质计?2.20 像质计如何使用和放置?3.1 什么是射线照相灵敏度?绝对灵敏度利相对灵敏度的概念又是什么?3.2 简述像质计灵敏度和自然缺陷灵敏度的区别和联系?3.3 什么是影响射线照相影像质量的三要素?3.4 什么叫主因对比度?什么叫胶片对比度?它们与射线照相对比度的关系如何?3.5 写出透照厚度差为的平板底片对比度公式和像质计金属丝底片对比度公式，说明公式中各符号的含义，并指出两个公式的差异?3.6 就像质计金属丝的底片对比度公式讨论提高对比度的主要途径，并说明通过这些途径提高对比度可能会带来什么缺点?3.7 何谓固有不清晰度?3.8 固有不清晰度大小与哪些因素有关?3.9 何谓几何不清晰度?其主要影响因素有哪些?3.10 实际照相中，底片上各点的Ug值是否变化?有何规律?3.11 试述Ug和Ui关系以及对照相质量的影响。3.12 试述底片影像颗粒度及影响因素。3.13 什么叫最小可见对比度?影响最小可见对比度的因素有哪些?3.14 为什么射线探伤标准要规定底片黑度的上、下限?3.15 采用源在外的透照方式比源在内透照方式更有利于内壁表面裂纹的检出，这一说法是否正确，为什么?3.16 在底片黑度，像质计灵敏度符合要求的情况下，哪些缺陷仍会漏检?3.17 为什么裂纹的检出率与像质计灵敏度对应关系不好?4.1 试述射线源的选择原则。4.2 X射线线质的选择需要考虑哪些因素?4.3 选择透照焦距时应考虑哪些因素?4.4 何谓曝光量?X、射线的曝光量分别指什么?4.5 何谓曝光因子?何谓平方反比定律?4.6 何谓互易定律失效?它对射线照相有何影响?4.7 从提高探伤质量的角度比较各种透照方式的优劣?4.8 计算一次透照长度时，公式中的外径Do是否计入焊缝余高?4.9 计算搭接长度时，公式中的工件表面至胶片距离L2是否要考虑焊缝余高?4.10 计算几何不清晰度Ug时，公式中的工件表面至胶片距离L2是否要计入焊缝余高?4.11 曝光曲线有哪些固定条件和变化参量。4.12 为什么说不同的射线机的曝光曲线各不相同?4.13 试述散射线的实际来源和分类。4.14 影响射线照相质量的散射线是如何产生的?4.15 散射比的影响因素有哪些?4.16 常用控制散射线的方法有哪些?4.17 焊缝透照的基本操作包括哪些内容?4.18 焊缝余高对射线照相质量有什么影响?4.19 透照有余高焊缝应注意哪些事项?4.20 透照余高磨平的焊缝怎样提高底片灵敏度?4.21 大厚度比试件透照采取的特殊技术措施有哪些?4.22 指出小口径管对接焊缝射线照相对缺陷检出的不利因素，并提出改进措施。4.23 计算小径管透照平移距离时，公式中的工件表面至胶片距离L2是否要计入焊缝余高?4.24 射线照相实际透照时，为什么一般并不采用最小焦距值?4.25 什么是优化焦距Fopt?射线检测中选择优化焦距的目的是什么?5.1 暗室布局有哪些要求?5.2 叙述胶片处理的药液配置时的注意事项。5.3 叙述显影液的成分及作用。5.4 影响显影的因素有哪些?5.5 叙述定影液的成分及作用。5.6 影响定影的因素有哪些?5.7 相对于手工处理胶片而言，自动洗片机处理有哪些优点?6.1 底片的质量检查应包括哪些要求?6.2 观片灯的性能要求有哪些?6.3 底片上缺陷定性时的影像分析要点有哪些?7.1 试阐述现场透照时，控制区和监督区是如何划分的?7.2 场所辐射监测和个人剂量监测的目的是什么?7.3 场所辐射监测仪器有哪几种?7.4 个人辐射监测仪器有哪几种?7.5 叙述辐射防护的目的和辐射防护基本原则。7.6 我国现行辐射防护标准对放射性工作人员的剂量当量限值有哪些规定?7.7 什么叫随机性效应?什么叫确定性效应?7.8 怎样理解电离辐射所致随机性效应是“线性无阈”的?7.9 叙述射线防护的三大方法的原理。8.1 高能射线照相有哪些优点?8.2 实时射线照相有哪些优点和局限性?8.3 计算机射线照相技术（CR）有哪些优点和局限性?8.4 什么是数字图像的分辨率?数字化射线成像技术的分辨率受哪些因素影响?8.5 简述线阵列扫描数字成象系统工作原理。8.6 X射线层析照相有哪些特点?8.7 简述中子射线照相的应用领域。9.1 全面质量管理的主要内容是什么?9.2 无损检测的质量管理一般包含哪些内容?9.3 锅炉压力容器无损检测质量管理应包括哪些内容?9.4 了射线源的保管储存应满足哪些要求?9.5 无损检测工艺管理包括哪些内容?9.6 无损检测新工艺和新技术在生产中应用之前，为什么要经过工艺鉴定程序?9.7 什么是例外检测?制订射线检测的例外检测方案和工艺时，应考虑哪几个方面问题?9.8 申请开展射线装置工作的单位必须具备哪些基本条件?9.9 申请放射工作人员证必须具备哪些基本条件?9.10 如发生人员受超剂量照射事故，应如何处置?问答题答案1.1答：凡是具有一定质子数、中子数并处于特定能量状态的原子或原子核称为核素。核素可分为稳定和不稳定的两类，不稳定的核素又称放射性核素，它能自发地放出某些射线、或射线，而变为另一种元素。1.2答；在原子核内，带正电的质子间存在着库仑斥力，但质子和中子仍能非常紧密地结合在一起，这说明核内存在着一个非常大的力，即核力。核力具有以下性质：（1）核力与电荷无关，无论中子还是质子都受到核力的作用；（2）核力是短程力，只有在相邻核子之间发生作用：（3）核力约比库仑力大100倍，是一种强相互作用：（4）核力能促成粒子的成对结合（例如两个自旋相反的质子或中子）以及对对结合（即总自旋为零的一对质子和一对中子的结合）。1.3答：（1）射线和了射线。它们都是波长很短的电磁波，按波粒二相性观点，也可以看作是能量很高的光子流。射线是高速运动的电子撞击金属产生的；射线是放射性同位素在Y衰变过程中从原子核内发出的。（2）电子射线和射线。它们都是高速电子流。电子射线是通过加速电子得到的；p射线是放射性同位素在衰变过程中从原子核内发出的。（3）质子射线、氘核射线和。射线。它们都是带正电的粒子流，质子是普通氢原子核H；氘核是氢同位素氘H的原子核，由1个质子和1个中子构成；粒子是氦原子核He，由2个质子与2个中子构成。质子射线与氘核射线可利用回旋加速器或静电加速器得到，射线是放射性同位素在衰变过程中从原子核内发出的。（4）中子射线。它是高速中子流，可从原子反应堆中获得，也可通过加速器获得，或从放射性同位素锎252中获得。目前用于探伤的主要是射线、射线和中子射线，其中射线和射线广泛用于工业探伤，中子射线用于特种检验。1.4答：放射性同位素衰变主要有以下模式（1）衰变：放出带两个正电荷的氢核。（2）衰变，包括：衰变：放出电子，同时放出反中微子；+衰变：放出正电子，同时放出中微子；电子俘获：原子核俘获一个核外电子。（3）衰变：放出波长很短的电磁波。内转换：原子核把激发能直接交给核外电子，使电子离开原子。（4）自发裂变，原子核自发分裂为两个或几个原子核。1.5答：射线和射线具有以下性质：（1）在真空中以光速直线传播；（2）本身不带电，不受电场和磁场的影响：（3）具有某些光学特性：反射（漫反射）、折射（折射系数近似1，折射的方向改变不明显）、干涉和衍射：（4）不可见，能够穿透可见光不能穿透的物质；（5）在穿透物质过程中，会与物质发生复杂的物理和化学作用，例如：电离作用、荧光作用、热作用以及光化学作用：（6）具有辐射生物效应，能够杀伤生物细胞，破坏生物组织。“答：射线和射线都属电磁波范畴，两者最主要的不同点是产生方式不同。射线是高速电子撞击金属产生的，射线是放射性同位素从原子核中发出的。其他不同点包括：射线是连续能谱，射线是线状能谱；射线能量取决于加速电子的电压，射线能量取决于放射性同位素种类；射线强度随管电压的平方和管电流而变，射线强度随时间的推移按指数规律减弱。1.7答：产生射线应具备五个条件：（1）发射电子。将灯丝通电加热到白炽状态，使其原子外围电子离开原子。在灯丝周围产生小的“电子云”，这种用热电流分离电子的方法叫热电子发射。（2）电子聚焦。用槽形阴极围绕灯丝，并将其与负电位接通。由于电子带负电，会与它发生相互排斥作用，其结果是电子被聚成一束。（3）加速电子。在灯丝与阳极间加很高的电压，使电子在从阴极飞向阳极过程中获得很高速度。（4）高真空度。阴阳极之间必须保持高真空度，使电子不受气体分子阻挡而降低能量，同时保证灯丝不被氧化烧毁。（5）高速电子被突然遏止采用金属作阳极靶，使电子与靶碰撞急剧减速，电子动能转换为热能和射线。1.8答：施加于射线管两端的高压是脉动直流电压，由于电压不断变化，到达阳极的电子速度各不相同，只有少数电子经过最高电压的加速。而电子与阳极靶的碰撞情况也各不相同，少数电子经过一次碰撞，运动即被阻止，能量全部转换为射线。波长最短的部分射线就属这种情况。大部分电子与靶要进行多次碰撞，速度逐渐降低，直至为0，碰撞过程中转换的射线能量不同，波长也各不相同，有长有短，所以射线管发出的射线束波长呈连续分布。1.9答：（1）产生机理不同，连续射线是高速电子与阳极靶原子核的库仑场作用下产生的，标识射线是高速电子把靶原子的内层轨道电子碰撞出轨道后，外层电子向内层跃迁时发山的。（2）波长和能量不同，连续射线具有混合波长，能谱为连续谱，最短波长取决于管电压：而标识射线波长为特定值，能谱为线状谱，波长与靶材料元素有关而与管屯压无关。标识射线波长较长，光子能量小，线质软，例如钨靶所产生的标识射线，能量最大的K系标识射线能量为69.5KV，在探伤中基本上不起作用。在工业探伤中，穿透试件使胶片感光主要依靠连续射线。1.10答：当电子与物质原子中的束缚电子相互作用时，光子把全部能量转移给一个束缚电子，使之脱离轨道，发射出去，而光子本身消失，这一过程称为光电效应。光电效应发射出去的电子叫光电子。发生光电效应的必要条件是光子能量大于电子的结合能。遵照能量守恒定律，光子部分能量消耗于光电子脱离原子束缚所需的电离能（电子在原子中的结合能），其余能量作为光电子的动能。 1.11答：光子与电子发生非弹性碰撞，光子的一部分能量转移给电子，使电子沿与光于入射方向成一定角度飞去，称作反冲电子，光子自身能量减小，波长变长，运动方向改变，这一过程称作康普顿效应。康普顿效应总是发生在自由电子或受原子束缚最松的外层电子上，入射光子的能量由反冲电子和散射光子两者之间进行分配，散射角越人，散射光子的能量越小，当散射角为180时，散射光子能量最小。1.12答：当高能光子从原子核旁经过时，在原了核的库仑场作用下，光子转化为一个正电和一个负电子， 自身消失，这一过程称为电子对效应。根据能量守恒定律，只有当入射光子能量hv大于2moC2,即hv1.02MeV才能发生电子对效应，入射光子的部分能量转变为正负电子对的静止质量（1.02MeV），其余就作为电子的动能。1.13答：瑞利散射是入射光子与原子碰撞时利束缚较牢固的内层轨道电子发生的弹性散射过程（也称为电子的共振散射）。在瑞利散射过程中，1个束缚电子吸收入射光子能量而跃迁到高能级，随即又释放出1个能量约等于入射光子能量的散射光子。瑞利散射是相干散射的一种。瑞利散射的发生儿率和物质的原子序数及入射光子的能量有关，大致与物质原子序数Z的平方成正比，并随入射光子能量的增大而急剧减小。当入射光子能量在200kev以下时，瑞利散射的影响不可忽略。1.14答；四种效应（即光电效应、康普顿效应、电子对效应、瑞利散射）的发生几率与入射光子能量及物质原子序数有关。一般说来，对低能量射线和原子序数高的物质，光电效应占优势，对高能量射线和原子序数高的物质，电子对效应占优势，瑞利散射的影响大大低于上述三个效应。在钢铁中，当光子能量在10KeV时，光电效应占优势，随着光子能量的增大，光电敷应比率逐渐减小，康普顿效应比率逐渐增大，在稍过100KeV后两者相等，此时瑞利散射趋于最大，但其发生率也不到10，1MeV附近射线的衰减基本上都是康普顿效应造成的；电子对效应自1.02MeV以后开始发生，并随能量的增大发生几率逐渐增加，在10MeV附近，电子对效应与康普顿效应作用大致相等；超过10MeV以后，电子对效应对射线强度衰减起主要作用。1.15答：射线束通过狭缝后照射到物体上，贯穿物体后又经狭缝准直后到达探测器，这种射线称作窄束射线；由于狭缝的作用，到达探测器的只有一次透射线，各种散射线均被狭缝阻挡，所以把强度不受散射线影响的射线称为窄束射线；而把强度受散射线影响的射线称为“宽束”射线。射线的“色”的概念是从可见光中的颜色和波长的关系引伸而来，把单一波长的射线称为“单色射线”，把混合波长的射线称为“多色射线”，把连续波长的射线称为“白色射线”。1.16答：射线穿透物质时，其强度按指数规律衰减。对窄束单色射线，其强度衰减公式为：I = Ie-T （1）式中：I：透射线强度；I0：入射线强度；：线衰减系数；T：穿透厚度对于连续射线，在穿透物质过程中线质会逐渐硬化，线衰减系数是个变量，在此情况下可用平均衰减系数代替。所以，连续射线的强度衰减公式为：I =Ie-T （2）对宽束射线，必须考虑散射的影响，透过物质的射线强度I包括一次透射线Ip和散射线1，两个部分，令散射比n=Is/Ip，宽束射线强度衰减公式推导如下：I = I p + I s（1+n）=Ie-T（1+n） （3）综合（2）（3）式，宽束连续射线的强度衰减公式为I= Ie-T（1+n）1.17答：线质是对射线穿透物质能力的度量，穿透力较强的射线称其线质较硬，穿透力较弱的射线称其线质较软。对单色射线，线质可用光子能量或波长定量表示；对连续射线，因其能量和波长是连续分布的，一般可用半价层、吸收系数或有效能量来定量表示。 1.18答：使入射射线强度减少一半的吸收物质的厚度称作半价层，用符号T1/2表示。射线检测中，通常利用半价层来评价射线的穿透力，表示射线的有效能量，标定X射线标准源。1.19答：放射性同位素衰变掉原有核数的一半也就是说源的放射强度减少到原来一半所需的时间，称为半衰期，用符号T1/2表示。射线检测中，通过半衰期，可以了解放射性同位素的稳定性，放射源可使用时间的长短，计算源的剩余强度，确定曝光时间。1.20答：射线照相的原理为：射线在穿透物体过程中会与物质发生相互作用，因吸收和散射而使强度减弱。强度衰减程度取决于物质的衰减系数和射线在物质中穿越的厚度。如果被透照物体（试件）的局部存在射线缺陷，且构成缺陷的物质的衰减系数又不同于试件，该局部区域的透过射线强度就会与周围产生差异。把胶片放在适当位置使其在透过射线的作用下感光，经暗室处理后得到底片。底片上各点的黑化程度取决于射线照射量（射线强度照射时间），由于缺陷部位和完好部位的透射射线强度不同，底片上相应部位就会出现黑度差异（对比度），从而构成不同形状的影像，评片人员据此判断缺陷情况并评价试刊：质量。2.1答： X射线管构成：阴极：灯丝，发射电子：阴极头：灯丝支座，聚焦电子：阳极：靶，遏制电子，发出射线；阳极体：支承靶，传递靶热量； 阳极罩：吸收二次电子，减少管壁电荷，提高工作稳定性：管壳：连接两极，保持真空度。2.2答：（1）用钢壳取代玻璃壳，因此抗震性强，不易破碎：（2）金属外壳接地，管壁不会聚集电荷，工作稳定；（3）真空度高，用金属和陶瓷取代玻璃后，排气温度可从400提高到800，真空度大大提高，从而电性能好，使用寿命长；（4）体积小，重量轻。由于陶瓷电绝缘强度比玻璃高得多，用陶瓷代替玻璃作阴极和阳极的绝缘体后，体积和重量均大幅度减小。2.3答：X射线管冷却方式有辐射散热，充油（水）冷却以及旋转阳极自然冷却三种。X射线管如不及时冷却，阳极过热会排出气体，降低管子的真空度，严重时可将靶面熔化，龟裂脱落，使整个管子丧失工作能力。2.4答：按输出的高压波型，高压发生线路可分为四类：（1）半波整流线路；（2）全波整流线路：（3）倍压整流线路；（4）全波倍压恒直流线路，在相同电压下，不同线路的X射线输山是不同的，全波倍压恒直流线路输出的射线强度最大，有效能量最高，倍压整流线路利全波整流线路次之，半波整流线路输山的射线强度最低。2.5答：影响X射线管使用寿命的因素包括：灯丝老化、发射电子能力下降；阳极靶烧坏，X射线转换效率降低；真空度下降，使X射线管不能正常工作。为延长X射线管使用寿命，应做到：（1）在送高压前提前通电预热灯丝，使其活化；（2）使用负荷一般控制在最高管电压的90以内；（3）使用过程中要保证阳极不过热、冷却系统应正常有效，要按照规定保证工作和间歇时间；（4）严格按照说明书要求训机；（5）X射线机应轻搬轻放，防止受震。2.6答：新的或长期不用的X射线机使用前必须进行训练，其目的是为了提高X射线管真空度，保证仪器工作稳定。X射线管工作时，阳极受到电子撞击温度升高，会排出气体，降低管内真空度；同时管内残余气体电离，其质量较大的止离子会高速冲向阴极，使阴极金属和钨丝溅散，这些溅散金属能吸收气体，提高管内真空度。训练时管电压和管电流逐渐增加，可保证吸收气体过程始终，与优势，吸收气体量大于排出气体量，从而提高X射线管的真空度。2.7答：X射线机维护、保养的注意事项：（1）X射线机应摆放在通风干燥处，切忌潮湿、高温、腐蚀等环境，以免降低绝缘性能：（2）运输时要采取防震措施，避免因剧烈震动而造成接头松动、高压包移位、X射线管破损等；（3）保持清洁，防止尘土、污物造成短路和接触不良；（4）保持电缆头接触良好，如因使用时间过长，磨损松动，接触不良，则应及时更换；（5）经常检查机头是否漏油（窗口处有气泡）、漏气（压力表示值低于0.34Mpa），应注意及时予以补充，确保绝缘性能满足要求。2.8答：（1）能辐射出能量符合需要的射线：（2）有足够长的半衰期，能保证一定的使用时间：（3）有足够大的放射强度，以保证实际使用曝光时间不致过长；（4）比活度高，射源尺寸小；（5）易于制造，成本低；（6）容易贮藏、安装，不易造成污染。2.9答；放射性活度是指射线源在单位时间内发生的衰变数；单位是贝可（贝可勒尔），符号是Bq，1Bq表示在1s的时间内有1个原子核发生衰变。对同一种射线源，放射性活度大的源在单位时间内将辐射更多的射线；不同的了射线源，即使放射性活度相同，也并不表示它们在单位时间内辐射的射线光量子数目相同，这是因为不同的放射性同位素在一个核的衰变中放出的射线光量子数目可以不同。例如，钴-60射源的每一个核衰变放出2个能量不同的光子，而铥-170衰变时，却不是每个核的衰变都放出射线光子。只有总衰变数的8产生射线。所以，放射性活度并不等于射线源的强度，但两者存在一定的关系。因此同一种放射性同位素源，放射性活度大的源其辐射的射线强度也大；但对非同种放射性同位索的源则不一定。2.10答：主要优点为：（1）探测厚度大、穿透能力强：对钢工件而言，400kVX光机最大穿透厚度为100mm左右，而Co60射线可达200mm；（2）体积小，重量轻，不用电，不用水，特别适刚于野外作业和在用设备的检测；（3）效率高，对环缝和球罐可进行周向曝光和全景曝光；（4）可以连续运行，且不受温度、压力、磁场等外界条件的影响。（5）设备故障率低，无易损部件；（6）与同等穿透力的X射线机相比，价格低。主要缺点：（1）射线源都有一定的半衰期，有些半衰期较短的射源，给使用带来不便；（2）射源能量固定，无法根据试样壁厚进行调节，当穿透厚度与能量不适配时，灵敏度下降较严重；（3）放射强度随时间减弱，无法进行调节，当源强度较小时，曝光时间过长会不方便：（4）固有不清晰度一般比X射线机大，用同样的器材及透照技术条件，其灵敏度低于X射线机；（5）对安全防护要求高，管理严格。2.11答：与1r192相比，Se75的半衰期较长（120大），能量较低（平均能量0.22MeV），适用的透照厚度较小（钢5-30mm），源的价格较贵。2.12答：与其他胶片相比，工业射线胶片的特点是双面涂膜、乳剂层厚、梯度高、黑度大；其乳剂层厚度可达数十微米，反差系数高达35以上，最大黑度一般超过4。工业射线胶片面一般采用聚脂纤维做片基，双面涂有药膜，药膜共有三层，即：结合层、感光乳剂层、保护层。2.13答：增感型胶片的特性曲线可分五个区段，即：迟钝区、曝光不足区、曝光止常区、曝光过度区、反转区。非增感型胶片特性曲线上没有曝光过度区利反转区。增感型胶片的G值与黑度的关系是：在较低黑度范围，G随黑度的增加而增大；但当黑度超过一定数值后，黑度再增人，G值反而减小。非增感型胶片G值与黑度成正比。黑度越大，G值越大。2.14答：射线胶片的特性参数主要有：感光度（S）、灰雾度（D）、梯度（G）、宽容度（L）、颗粒度（0），其中前四项可以特性曲线上定量表示山来。感光度 S=1/E梯度 G=tg（平均梯度=2/（1gE2-1gE1）灰雾度 D：曲线与纵坐标交点值宽容度 L=1gE21gE12.15答：射线胶片系统包括射线胶片、增感屏（材质、厚度）和冲洗条件（方式、配方、温度、时间）的组合，这是工业射线照相除射线源以外的第二大要素，其性能、质量极大地影响射线检测结果的有效性和可靠性。胶片分类所依据的胶片四个特性参数为：D=2.0利D=4.0时的最小梯度Gmin，D=2.0时的最大颗粒度（0）max及D2.0时的最大梯度噪声比（G/0）max（以上黑度均指净黑度，即在本底灰雾度D以上的光学密度）。2.16答：胶片的选用应根据射线照相技术要求及射线的质、工件厚度、材料种类等条件综合考虑，一般来说：（1）可按像质要求高低选用，如需要较高的射线照相质量，则需使用号数较小的胶片；（2）在能满足像质要求的前提下，如需缩短曝光时间，可使用号数较大的胶片；（3）工件厚度较小、工件材料等效系数较低或射源线质较硬时，可选用号数较小的胶片；（4）在工件环境温度较高时，宜选用抗潮性能较好的胶片：在工件环境比较干燥时，宜选用抗静电感光性能较好的胶片。2.17答：新的分类方法提山了冲洗条仆的控制方法：由胶片制造商提供预先曝光胶片测试片，用户以本单位的处理设备、化学处理剂和方法冲洗测试片，测出3个特性数据：灰雾限值D0、速度系数Sx、对比度系数Cx，与胶片制造商提供的鉴定证书的数据指标进行比较，据此判断冲洗条件是否符合要求。2.18答：金属增感屏除了具有增加感光的作用外，还具有减小散射线的作用。金属增感屏最常用的材料是铅，在高能射线照相中还采用钳、钽、钨等材料制作的增感屏。2.19答：像质计的主要类型有：丝型、平板孔型、阶梯孔型，其中丝型使用最广泛，平板孔型主要在美国应用，阶梯孔型主要在欧洲地区应用。中国使用的像质计是丝型像质计，美国则同时使用丝型像质计和平板孔型像质计。2.20答：像质计一般应放置在工件源侧表面焊接接头的一端（在被检区长度的1/4左右位置），金属丝应横跨焊缝，细丝置于外侧。当一张胶片上同时透照多条焊接接头时，像质计应放置在透照区最边缘的焊缝处。像质计放置原则：（1）单壁透照规定像质计放置在源侧。双壁单影透照规定像质计放置在胶片侧。双壁双影透照像质计可放置在源侧，也可放置在胶片侧。（2）单壁透照中，如果像质计无法放置在源侧，允许放置在胶片侧。（3）单壁透照中像质计放置在胶片侧时，应进行对比试验。对比试验方法是在射源侧利胶片侧各放一个像质计，用与工件相同的条件透照，测定出像质计放置在源侧和胶片侧的灵敏度差异，以此修正像质指数规定，以保证实际透照的底片灵敏度符合要求。（4）当像质计放置在胶片侧时，应在像质计上适当位置放置铅字“F”作为标记，F标记的影像应与像质计的标记同时出现在底片上，且应在检测报告中注明。原则上每张底片上都应有像质计的影像。当一次曝光完成多张胶片照相时，使用的像质计数量允许减少但应符合以下要求：（1）环形对接焊接接头采用源置于中心周向曝光时，至少在圆周上等间隔地放置3个像质计；（2）球罐对接焊接接头采用源置于球心的全景曝光时，至少在北极区、赤道区、南极区附近的焊缝上沿纬度等间隔地各放置3个像质计，在南、北极的极板拼缝上各放置1个像质计；（3）一次曝光连续排列的多张胶片时，至少在第一张、中间一张和最后一张胶片处各放置一个像质计。3.1答：射线照相灵敏度是评价射线照相影像质量的最重要的指标，从定量方面来说，是指在射线底片上可以观察到的最小缺陷尺寸或最小细节尺寸；从定性方面来说，是指发现和识别细小影像的难易程度。绝对灵敏度是指在射线照相底片上所能发现的沿射线穿透方向上的最小缺陷尺寸。相对灵敏度是指该最小缺陷尺寸与射线透照厚度的百分比。2答：为便于定量评价射线照相灵敏度，常用与被检工件或焊缝的厚度有一定百分比关的人工结构，如金属丝、孔、槽等组成所谓透度计，又称为像质计，作为底片影像质的监测工具，由此得到的灵敏度称为像质计灵敏度。自然缺陷灵敏度是指在射线照相底片上所能发现的工件中的最小缺陷尺寸。像质计灵敏度不等于自然缺陷灵敏度，因为自然缺陷灵敏度是缺陷的形状系数、吸收系数和三维位置的函数；但像质计灵敏度的提高，表示底片像质水平也相应提高，因而也能间接地反映出射线照相相对最小自然缺陷检出能力的提高。3.3答：影响射线照相影像质量的三个要素是：对比度、清晰度、颗粒度。射线照相对比度定义为射线照相底片上某一小区域和相邻区域的黑度差。射线照相清晰度定义为射线照相底片上的黑度变化过渡区域的宽度。用来定量描述清晰度的是“不清晰度”。射线照相颗粒度是根据测微光密度计测出的数据、按一定方法求出的所谓底片黑度涨落的客观量值。3.4答：由于不同区域射线强度存在差异所产生的对比度称为主因对比度，其数学表达式为：I/I=（T）/（1+n）式中：I：透过试件到达胶片的射线强度；I：局部区域射线强度增量；：射线的吸收系数；T：局部区域透射厚度差；n：散射比。由上式可以看出，主因对比度取决于透照厚度差、射线的质以及散射比。胶片对比度就是胶片梯度，用胶片平均反差系数定量表示，数学式为：=D/lgE式中：石：胶片平均反差系数；D：底片黑度差；1gE：曝光量对数值的增量。影响胶片对比度的因素有：胶片类型、底片黑度、显影条件。射线照相底片对比度是主因对比度和胶片对比度的综合结果，主因对比度是构成底片对比度的根本因素，胶片对比度可以看作是主因对比度的放大系数。3.5答：厚度为X的平板底片对比度公式D=-0.434GX（1+n） （1）像质计金属丝底片对比度公式D=-0.434Gd/（1+n） （2）式中：射线吸收系数：G：胶片反差系数：几何修正系数；X：平板透照厚度差；d：像质计金属丝直径；n：散射比。两个公式的差别在于几何修正系数巧，由于像质计金属丝直径d远小于焦点尺寸，在一定透照条件下，几何因素会影响金属丝影像对比度，所以公式（2）引入巧对底片对比度进行修正。当缺陷尺寸大于焦点尺寸时，焦点尺寸对底片对比度的影响可忽略不计，所以公式（1）中没有几何修正系数。3.6答：像质计金属丝底片对比度公式AD=-0.434Gd/（1+n）提高对比度主要途径和由此带来的缺点：（1）增大值。在保证穿透力的前提下，尽量采用能量较低的射线，但这样会使曝光时间增加。（2）增大G值。可选用G值更高的微粒胶片：由于非增感型胶片G值和黑度成正比，也可通过提高底片黑度增大G值。但高G值的微粒胶片感光速度往往较慢，需要增大曝光时间，提高黑度也需要增加曝光时间，此外，黑度的提高会增大最小可见对比度Dmin，对灵敏度产生不利影响。（3）提高值。可选择焦点尺寸小的射源，或增大焦距，这样做也会使曝光时间延长。（4）减小n值。要减小散射线，就要使用铅窗口与铅屏蔽，这些也将降低工作效率，使曝光时间延长。3.7答：当射线穿过胶片时，会在乳剂层中激发出电子，这些电子具有一定动能，会向各个方向飞散，并能使途经的卤化银晶体感光，其结果使得试件轮廓或缺陷在底片上的影像产生一个黑度过渡区，造成影像模糊，这个过渡区称为固有不清晰度Ui。3.8答：固有不清晰度Ui值受以下因素影响：（1）射线的质。透照射线的光子能量越高，激发的电子在乳剂层中的行程就越长，固有不清晰度也就越大。（2）增感屏。据文献报道：在中低能量射线照相中，使用铅增感屏的底片的固有不清晰度大于不使用铅增感屏的底片；增感屏厚度增加也会引起固有不清晰度增大；在射线利高能量X射线照相中，使用铜屏、钽屏、钨屏、钢屏的固有不清晰度均小于铅屏。（3）屏一片贴紧程度。透照时，如暗盒内增感屏和胶片贴合不紧，留有间隙，会使固有不清晰度增大。固有不清晰度与胶片的类型和粒度无关，与暗室处理条件无关。3.9答：由于射线源具有一定尺寸，所以照相时工件表面轮廓或工件中的缺陷在底片上的影像边缘会产生一定宽度的半影，此半影宽度就是几何不清晰度Ug，Ug的最大值Ugmax发生在远离胶片的工件表面。Ug的计算式： Ug=dfb/（Fb）；Ugmax=df L2/L1式中：df：射源尺寸；F：焦距；b：缺陷至胶片距离；L1：焦点至工作表面距离：L2：工件表面至胶片距离。由以上公式可知，U：值与射源尺寸和缺陷位置或工件表面至胶片距离成正比，与射源至工件表面距离成反比。3.10答：实际照相中，底片上不同部位影像的Ug值是不同的，但为了简化计算，便于应用，有关技术标准仅以透照中心部位的最大Ug值作为控制指标。对不同部位Ug值的变化忽略不计。底片上不同部位的Ug值变化规律如下：（1）焦点尺寸变化引起Ug值变化：由于X射线管的结构原因，沿射线管轴向不同位置焦点投影尺寸是变化的。阳极侧焦点小，阴极侧焦点大。因此底片上偏向阳极一侧的Ug值小，偏向阴极一侧的Ug值大。（2）L2/L1变化引起Ug值变化：透照纵缝时，被检区域各部位L2/L1不变，Ug值不变，而透照环缝时，被检区域各部位的L2/L1值都比中心部位要大，因此端部的Ug值也会增大。3.11答：可简要归纳为以下几点：（1）射线照相中，通常主要考虑的是几何不清晰度Ug和固有不清晰度Ui，两者共同作用形成总的不清晰度U，比较广泛应用的表达U、Ug、Ui的关系式是：U2=U +U （2）由于U是Ui和Ug的综合结果，提高清晰度效果显著的方法是设法减小Ug和Ui中较大的一个，而不是较小的一个。例如，当Ui值远小于Ug值时，再进一步减小Ui值，以期望减小U，其效果是不显著的。（3）在X射线照相中，U值很小，影响照相清晰度的决定因素是Ug值。（4）在C60，Cs137及Ir192射线照相中，Ui值较大，对照相清晰度有显著影响，为提高清晰度，宜尽量减小Ug，使之不超过Ui值。考虑提高对细小裂纹的检山率宜选择Ug=Ui的条件，必要时可取Ug=Ui/2的透照几何条件。3.12答：底片影像是由许多形状大小不一的颗粒组成的，人们观察影像时在感觉上产生的不均一或不均匀的印象称为颗粒性，用仪器测定由各影像不均匀引起的透射光强变化，其测定结果称为颗粒度。由于颗粒大小是随机分布的，所以颗粒度一般是采用均方根离差。来变量。目前较通用的方法是用直径24微米的扫描孔测定颗粒度。肉眼所观察到的颗粒团实际上是许多颗粒交互重迭生成的影像。影像颗粒与胶片卤化银颗粒是不同的概念，影像颗粒人小取决于以下因素：胶片卤化银粒度、曝光光子能量和显影条件。3.13答：在射线底片上能够辨认某一尺寸缺陷的最小黑度差称为最小可见对比度，又称识别界限对比度。当射线底片对比度D大于识别界限对比度Dmin时，缺陷就能识别，反之则不能识别。最小可见对比度Dmin与影像大小和黑度分布、底片颗粒度、黑度、观片条件以及人为差异等因素有关。3.14答：探伤标准中规定底片黑度上、下限是为了保证底片具有较高的对比度D和较小的识别界限对比度Dmin，从而得到较高的灵敏度。非增感型胶片G值随黑度的增加而增大，G值增大，D也会增大，因此，底片取较大的黑度可获得较高的对比度D，另一方面，Dmin在低黑度范围内大致不变，在高黑度范围内随黑度的增加而增大，为得到较小的识别界限对比度，Dmin，又要控制底片黑度不能过火，综合以上关系，黑度对D及Dmin的影响如图。由图可见，当黑度D过大或过小，都会使DminD，使像质计影像不能识别，从而降低探伤灵敏度。 此外，底片黑度的上限值还受到观片灯亮度的影响，当透过底片光强超过100cd/m2人眼的识别缺陷能力最强，透过光强低于30cd/m2时，识别能力显著下降。为保证足够的透过光强，受观光灯亮度限制，也必须规定底片黑度上限。 3.15答：采用源在外的透照方式比源在内的透照方式更有利于内壁表面裂纹的检出，这一说法是正确的，在试验和实际工作中均已得到验证，从理论上分析也是有道理的。源在内透照时，胶片贴在工件表面，由几何不清晰度公式Ug=dfb/F（Fb）可知，裂纹影像存在一定的几何不清晰度，此外，由于裂纹的开口尺寸W大大小于焦点尺寸df，几何修正系数大大小于1，照相几何条件（焦距F、缺陷到胶片距离b）会对裂纹影像对比度产生影响，使对比度下降，从而使缺陷检出率降低。而当源在外透照时，胶片贴在工件内表面，此时胶片与内表面裂纹的距离b值最小，裂纹影像的几何不清晰度最小，对比度也最高，所以缺陷检出率高。3.16答：（1）小缺陷。如果小缺陷的影像尺寸小于不清晰度尺寸，影像对比度小于最小可见对比度，便不能识别。因此对一定的透照条件，存在着一个可检出缺陷临界尺寸，小于临界尺寸的缺陷便不能检出；例如小气孔、夹渣、微裂纹、白点等。 （2）与照射方向不平行的平面型缺陷。平面型缺陷具有方向性，当缺陷平面与射线之间夹角过大，会使对比度降低，甚至在底片上不产生影像，从而造成漏检。例如坡口及层间未熔合、钢板分层的漏检以及透照工艺不当，角过大造成横向裂纹漏检均属此类情况。 （3）闭合紧密的缺陷。对某些紧闭缺陷即使透照角度在允许范围内，仍不能产生足够的透照厚度差，从而造成漏检。例如紧闭的裂纹、未熔合、锻件中的折迭等。3.17答：裂纹的检出率与像质计灵敏度对应关系之所以不好，是因为裂纹缺陷与像质计人工缺陷的形状、分布状态、尺寸有较大差异。例如以丝型像质计的人工缺陷一金属丝与裂纹比较，存在以下差异：在形状方面：两者截面形状不同。金属丝截面为圆形，而裂纹截面的模型为三角形（表面裂纹）或菱型（埋藏裂纹）或进一步简化为窄槽型。有关研究表明：对小缺陷来说，缺陷的截面形状对其影像对比度有影响。在投影方向方面：因为金属丝截面为圆形，所以不具有方向性；而裂纹则具有明显的方向性：试件中向不同方向延伸的裂纹，或从不同方向照射裂纹的射线，得到的影像是不同的。在尺寸方面：裂纹的横向尺寸（开口宽度）一般比金属丝直径要小。有关研究表明：对小缺陷来说，其横向尺寸越小检出率越低。4.1答：射线源选择的原则：（1）对轻合金和低密度材料，最常用的射线源是X射线；（2）透照厚度小于5mm的钢（铁素体钢或高合金钢），除非允许较低的探伤灵敏度，也要选择X射线；（3）大批量的工件实施射线照相，选择X射线，因为曝光时间较短；（4）透照厚度大于150mm的钢，宜选择兆伏级的高能X射线；（5）对于厚度为50mm150mm的钢，选择X射线利射线可得到几乎相同的探伤灵敏度；（6）对于厚度为15mm50mm的钢，选择X射线可获得较高的灵敏度；选用了射线则应根据具体厚度和所要求的探伤灵敏度，选择Ir-192或Se-75，并应考虑配合适当的胶片类型：（7）对某些条件困难的现场透照工件，宜选择射线：（8）在满足几何不清晰度Ug的情况下，透照环焊缝尽量选择圆锥靶周向X射线机作周向曝光，以提高工效和影像质量。4.2答：（1）适用的射线能量范围主要根据试件的材质和厚度确定，以保证能穿透试件为射线能量的下限，以保证足够的灵敏度为射线能量的上限。（2）具体管电压数值主要根据底片对比度要求而确定，当被检区域厚度变化较小时，需增大对比度，应采用较低管电压：当被检区域厚度变化较大时，需兼顾宽容度，适当降低对比度，应采用较高管电压。（3）射线能量不仅影响底片对比度，而且影响固有不清晰度和散射比，这些都应在选择射线能量时加以考虑。4.3答：（1）焦距的选择应满足几何不清晰度的要求；（2）焦距的选择还应保证在满足透照厚度比K的条件下，有足够大的一次透照长度L3；（3）为减少因照射场内射线强度不均匀对照相质量的影响，焦距取大一些为好。（4）由于射线强度与距离平方成反比，焦距的增加必然使曝光时间大大延长，因此焦距也不能过大。4.4答；曝光量可定义为射线源发山的射线强度与照射时间的乘积。对于X射线来说，曝光量是指管电流i与照射时间t的乘积（E=it）；对于了射线来说，曝光量是放射源活度A与照射时间（的乘积（E=At）。4.5答：曝光因子是一个用来确定曝光参数的物理量，其形式为：X射线曝光因子=射线曝光因子=对同一台X射线机或同一个放射同位素来说，只要曝光因子值不变，照相的曝光量也就不变，摄得底片黑度必然相同。对射线强度、时间利距离三个参数，如果实际透照时需要改变一个或两个参数，便可用曝光因子计算其他参数，从而保证照相曝光量不变。平方反比定律是指射线强度与距离的平方成反比的规律，其数学式为：Ii/I2=（F2/F1）2原理是：近似认为射源是一个点，在其照射方向上任意立体角内取任意垂直截面，单位时间内通过的光量子总数是不变的，但是由于截面积与到射源的距离的平方成正比，所以单位面积的光量子密度，即射线强度与距离的平方成反比。4.6答：互易定律是光化学反应的一条定律，该定律指出，决定光化学反应产物质量的条件，只与总曝光量相关，即取决于照度和时间的乘积，而与这两个因素的单独作用无关，由于它指出了时间和照度的互易关系，所以称为互易定律：如果与这一定律结论有偏离，则称互易定律失效。 如果不考虑光解银对感光乳剂显影的引发作用的差异，互易定律可引伸为显影黑度只与总的曝光量有关，而与照度和时间分别无关。在射线照相中，当采用铅箔增感和无增感时，遵守互易定律。设产生一定显影黑度的曝光量E=It，当射线强度I利时间t相应变化时，只要两者乘积E值不变，底片黑度不变。当采用荧光增感时，互易定律将会失效，I与t发生变化时，尽管I与t的乘积不变，底片黑度仍会改变。用公式描述保证底片黑度不变的前提下，曝光量E与射线强度I、时间t的关系，其形式为E=Itp。（P1）互易定律是利用曝光因子公式和平方反比定律修正透照参数的基础，如果互易定律失效，则不能利用曝光因子和平方反比定律修正参数，这将使透照参数的选择复杂化。4.7答：从提高像质计灵敏度，减小透照厚度比K和横向裂纹检出角以及保证一次透照长度L3等方面评价，几种透照方法比较如下：单壁透照优于双壁透照；双壁单影优于双壁双影；焊缝单壁透照时，源在内中心法优于源在内偏心法，源在内偏心法优于源在外。4.8答：不计入焊缝余高。计算公式中的D取筒体外径即可。因为在工件上划线时，一般是在简体上测量一次透照长度，且简体直径远远地大于焊缝余高值，忽略余高对实际工作不产生影响，为使计算结果一致，统一作出规定不计入焊缝余高是比较适宜的。4.9答；应考虑焊缝余高。计算搭接长度L时，公式中的L2应为板厚T与焊缝余高h之和，忽略余高Ah将产生较大误差，所以是不合适的。4.10答：应计入焊缝余高，对于单面焊：L2=T+h；对于双面焊：L2=T+2h；对于小径管环焊缝双壁双影透照：L2=D+2h。4.11答：曝光曲线的固定条件有：X射线机，焦距，胶片型号，增感方式，暗室处理条件，基准黑度，试件材质。曝光曲线的变化参量有：穿透厚度，曝光量，管电压。4.12答：因为：加在X射线管两端的电压波形不同（半波整流、全波整流、倍压整流及直流恒压等），会影响管内电子飞向阳极靶的速度和数量；X射线管本身的结构、材质不同，会影响射线从窗口出射时的固有吸收：管电压、管电流的测定有误差。4.13答：受射线照射的各种物体都会成为散射源，但强度最大，对探伤质量影响最大的散射源是试件本身。散射线一般按散射方向来分类：来自胶片暗盒正面（射源方向）的散射称为“前散射”或“正向散射”；来自胶片暗盒后面的散射称为“背散射”；来自侧面的由试件周围向试件背后或试件中较薄部位向较厚部位的散射称作“边蚀散射”。4.14答：射线穿过物质时，与物质发生各种相互作用，其结果是除了一部分直接前进的透射线外，还有向各个方向射出的散乱射线以及光电子，反跳电子等。光电子利反跳电子穿透力极弱，人多数被物体自身吸收，即使射到物体外，也很容易被空气吸收，对探伤质量不产生影响。散乱射线中的一部分是由光电效应引发的荧光X射线能量，这部分射线能量远小于透射线，例如，铁的K荧光射线约7KeV，很容易被物体利增感屏吸收，对探伤质量也不产生什么影响。因此影响探伤质量的散射线主要是由康普顿效应利瑞利散射产生的，在射线能量很低（小于200KEV）范围内，散射线由康普顿效应和瑞利散射共同产生；在射线能量较高范围内，散射线主要由康普顿效应产生。4.15答：（1）焦距：在实际使用的焦距范围内，焦距的变化对散射比几乎没有影响；（2）照射场：除非是用极小的照射场透照，照射场大小对散射比几乎没有影响；（3）射线能量：在工业射线照相应用范围内，散射比随射线射线能量增大而变小；（4）试件壁厚：在相同射线能量下，散射比随壁厚增大而增大；（5）焊缝余高：有余高的焊缝中心散射比高于同厚度平板中的散射比，随着能量的增大，两者数量逐渐接近。4.16答：（1）使用铅箔增感屏，吸收部分前散射线利背散射线；（2）暗盒后衬铅板，进一步减少背散射；（3）使用铅罩和铅光阑，限制照射范围，减少散射源；（4）采用铅遮板或钡泥屏蔽试件边缘，减少“边蚀”效应；（5）用流质吸收剂或金属粉末对形状不规则及厚度差较大的试件进行厚度补偿，以减少较薄部分散射线对较厚部分的影响；（6）采用滤板去除射线中线质较软的部分，减小“边蚀”效应；（7）减小或去除焊缝余高，降低焊缝部位散射比。4.17答：焊缝射线透照的基本操作包括以下内容：（1）试件检查及清理：尽可能去除试件上妨碍射线穿透或妨碍贴片的附加物，并经外观检查合格；（2）划线：按照工艺文件规定的检查部位、比例、一次透照长度在工件上划线；（3）像质计和标记摆放：按照标准和工艺的有关规定摆放像质计和各种铅字标记；（4）贴片：采用可靠的方法将胶片（暗盒）与工件表面紧密贴合，尽量不留间隙；（5）对焦：射线束中心对准被检区中心，并使焦距符合工艺规定；（6）散射线防护：按工艺的有关规定执行散射线防护措施；（7）曝光：按照工艺规定的参数和仪器操作规程进行曝光。4.18答：大多数焊缝在射线照相时都保留着焊缝余高，由于余高的存在，透过母材部分的射线要比透过焊缝部分的射线强得多，而且照射母材部分的X射线产生的散射要比照射焊缝部分的X射线产生的散射线强得多，这样，来自母材部分的散射线会与透过焊缝部分的X射线所产生的散射线叠加在一起，使照相质量降低。散射比与余高的变化关系是：余高宽度越窄，高度越大，散射比越大。4.19答：（1）由于焊缝余高的存在，底片上焊缝部位黑度D，总是小于母材部位黑度D2，照相时应注意保证D1、D2均在标准允许的黑度范围内。（2）由于底片对比度AD随黑度D的增加而增大，而识别界限对比度Dmin也随黑度D的增加而增大，因此透照有余高焊缝时，通过控制适当的焊缝部位黑度D1和母材部位黑度D2，可使母材部位和焊缝部位能识别的透度计线径相等，此黑度称为余高焊缝透照的最佳黑度。（3）底片对比度随射线有效能量的降低而增大，但另一方面，射线有效能量的降低会使焊缝部位的透射线I1与母材部位的透射线I2的比值大大减小，从而使母材部位的散射线对焊缝部位的影响更严重，其结果是降低了对比度，冈此透照有余高焊缝时，焊缝部位的对比度不是单纯地随射线能量的降低而增大，而是在某一线质时，焊缝部位的底部位的对比度达到最大值。此线质称为余高焊缝透照的最佳线质。4.20答：对余高磨平的焊缝透熙，提高灵敏度的要点是尽量提高底片对比度利控制底片黑度。提高对比度的途径包括：（1）选用值更高的胶片；（2）选用较低能量的射线；（3）采用反差更高的显影配方；（4）进一步减小散射线：（5）选择最佳黑度。底片黑度同时影响底片对比度和最小可见对比度。试验证明，当黑度约为2.5时可识别的透度计线径最小，称为余高磨平焊缝透照的最佳黑度。因此，对余高磨平的焊缝最好选择黑度约为2.5的曝光参数。4.21答：（1）适当提高管电压技术：减少厚度人的部位的散射比，降低边蚀效应，同时可获得更大的厚度宽容度：（2）采用双胶片技术：采用同速胶片替加时，双片重叠观察黑度较小部位，单片观察黑度较大部位；采用异速胶片叠加时，感光度较大的胶片适用于透照厚度较大部位的观察，感光度较小的胶片适用于透照厚度较小部位的观察。（3）补偿技术：是指用补偿块、补偿粉、补偿泥、补偿液等填补工件较薄部分，使透照厚度减小的方法。4.22答：小口径管焊缝射线照相采用双壁双影法透照，对缺陷检出的不利因素利改进措施有以下几点：（1）双壁双影法透照时，由于射源侧焊缝比胶片侧焊缝离开胶片的距离相差一个管子直径，故射线源尺寸的影响较大，使几何不清晰度增加，小缺陷对比度降低，为减小射线源尺寸对几何不清晰度和对比度的影响，可选择焦点尺寸小射线源，适当增大焦距。（2）透照小口径管时射线的穿透厚度白中心向两端变化很大，易导致底片上中心部位黑度过大，边缘部位黑度过小，为减少被检区域不同部位的黑度差，宜适当提高射线能量，采用“高电压，短时间”的透照工艺。（3）由于管子直径较小，散射线引起的“边蚀”效应比较严重。相应的措施是在射线机窗口处加滤板。或采用铅罩屏蔽焊缝以外部分，以减少“边蚀”。（4）双壁双影透照时，焊缝被倾斜投影到胶片上，缺陷影像会发生畸变。为减少畸变，应控制透照角度和椭圆开口宽度，开口宽度应控制在1倍焊缝宽度左右。4.23答：为保证计算结果一致，统一规定计入一个焊缝余高，即L2=Do+Ah，式中Do为管子外径，h为焊缝余高。4.24答：因为除了几何不清晰度与最小焦距有关外，透照场的大小与焦距相关。焦距增大后，匀强透照场范围增大，月。这样还可以得到较大的有效透照长度，同时影像清晰度也进一步提高，所以实际用的焦距比最小焦距要大得多。4.25答：当几何不清晰度Ug减小到与所使用射线能量下的固有不清晰度Ui数值相同时，所使用的焦距称为优化焦距Fopt。当射源一胶片距离增大时，可明显提高窄裂纹之类的平面型小缺陷检出率。所以选用优化焦距Fopt的目的是为了有效检出小裂纹缺陷。5.1答：（1）暗室应有足够的空间，不宜过小、过窄；（2）暗室应分为干区和湿区两个部分，干区用于摆放胶片、暗盒、增感屏等器材并用米进行切片、装片等工作，湿区用来进行显影、定影、水洗、干燥等工作；干区和湿区应尽可能相距远一些；（3）各种设备器材摆放位置应适当，便于操作：（4）暗室要完全遮光，进口处应没置过渡间和双重门；（5）如暗室附近有射线源，要注意屏蔽问题：（6）暗室应有通风换气没备和排水系统，应有控制温度和湿度的设施；（7）暗室地面和，工作台应保持干燥、清沾，墙壁、工作台应有防水和防化学腐蚀的能力。5.2答：（1）配液的容器应使用玻璃、搪瓷或塑料制品，也可使用不锈钢制品，搅拌棒也应用上述材料制作，切忌使用铜、铁、铝制品：（2）配液用水可使用蒸馏水、去离子水、煮沸后冷却水或自来水，对井水或河水应进行再制，以降低硬度，提高纯度；（3）配制显影液的水温一般在3050，水温太高会促使某些药品氧化，太低又会使某些药品不易溶解。配制定影液的水温可升至6070，因为硫代硫酸钠溶解时会大量吸热：（4）配液时应按配方中规定的次序进行，待前一种药品溶解后方可投入下一种药品，切不可随意颠倒次序：（5）配液时应不停地搅拌，以加速溶解：但显影液的搅拌不宜过于激烈，且应朝着一个方向进行，以免发生显影剂氧化现象；（6）配液时宜先取总体积四分之三的水量，待全部药品溶解后再加水至所要求的体积，配好的药液应静置24h后再使用。5.3答：显影液的主要成份及作用：显影剂米吐尔+对苯二酚或菲尼酮+对苯二酚，将感光的卤化银还原成金属银；保护剂亚硫酸钠，阻止显影剂与氧发生作用，使其不被氧化；促进剂碳酸钠、硼砂、氢氧化钠，增强显影剂的显影能力利速度；抑制剂溴化钾、苯并三氮唑，抑制灰雾的产生。5.4答：影响显影的因素很多，除了配方外，显影时间、温度、搅动情况利显影液老化程度对显影都有明显影响。（1）显影时间：对于手工处理，大多规定为4min6min。显影时间进一步延长，虽然黑度和反差会增加，但影像颗粒和灰雾也将增大。而显影时间过短，将导致黑度和反差不足。（2）显影温度：手工处理的显影配方推荐的显影温度多在1820。温度高时显影速度快，影像反差大，同时灰雾度也增大，颗粒变粗，此时药膜松软，容易划伤或脱落；温度低时显影速度慢，影像反差降低。（3）搅动情况：在显影过程中进行搅动，可以使乳剂膜表面不断地与新鲜药液接触并发生作用，这样不仅使显影速度加快，而且保证了显影作用均匀；此外也提高底片反差。如果胶片在显影液中静止不动，会使反应产生的溴化物无法扩散，造成显影不均匀的条纹。（4）显影液老化程度：显影液的活性取决于显影剂的种类和浓度以及显影液的PH值。显影液在使用过程中，显影剂浓度逐渐减少，显影剂氧化物逐渐增加，PH值逐渐降低，溶液中卤化物离子逐渐增加，将导致显影作用减弱，活性降低，显影速度变慢，底片反差减小，灰雾增大。5.5答：定影液的主要成份及作用如下：定影剂一硫代硫酸钠或硫代硫酸铵。与银离子反应，生成可溶于水的络合物，从而把卤化银从胶片的乳剂层中除去。保护剂一亚硫酸钠。保护定影剂，防止其在酸性溶液中发生分解析出硫而失效。坚膜剂硫酸铝钾或硫酸铬钾。减少胶片乳剂层吸水膨胀变软的程度，减少划伤利药膜脱落。酸性剂一模酸和硼酸。中和胶片带来的碱性物质并防止坚膜剂水解。5.6答：影响定影的因素主要有：定影时间，定影温度，定影液老化程度，以及定影时的搅动。（1）定影时间：定影过程中，胶片乳剂膜的乳黄色消失。变为透明的现象称为“通透”，从胶片放人定影液直至通透的这段时间称为“通透时间”。通透现象出现意味着胶片乳剂层中未显影的卤化银已被定影剂溶解，但要使被溶解的银盐从乳剂中渗出进入定影液，还需要附加时间。因此，定影时间应明显多于通透时间。为保险起见，规定整个定影时间为通透时间的2倍。（2）定影温度：温度影响到定影速度，随着温度的升高，定影速度将加快。但如果温度过高，胶片乳剂膜过度膨胀，容易造成划伤或药膜脱落。因此需要对定影温度作适当控制，通常规定为1624。（3）定影液的老化：定影液在使用过程中定影剂不断消耗，浓度变小，而银的络合物利卤化物不目度增大，使得定影速度越来越慢：同时老化的定影液在定影时会生成一些较难溶的银盐络合物残留在乳剂层中，经过若干时间后，会分解出硫化银，使底片变黄。（4）搅动情况：搅动可以提高定影速度，并使定影均匀。5.7答：自动洗片机采用连续冲洗方式，能自动完成显影、定影、水洗、烘干整个暗室处理过程，与手工处理胶片相比有以下优点：（1）速度快自动洗片机能在8min12min内提供干燥好的可供评定的射线照相底片；（2）效率高每小时约可处理360mml00mm胶片100张200张；（3）质量好只要摄片条件正确，通过自动洗片机处理的底片表面光洁、性能稳定、像质好；（4）劳动强度低操作者只需将胶片逐张输入自动洗片机即可，对操作者的技术熟练要求不高。6.1答：通常对底片的质量检查包括以下六个项目：（1）灵敏度检查：灵敏度是射线照相底片质量的最重要指标之一，必须符合有关标准的要求。对底片的灵敏度检查内容包括：底片上是否有像质计影像，像质计型号、规格、摆放位置是否正确，能够观察到的金属丝像质计丝号是多少，是否达到了标准规定的要求等。（2）黑度检查：黑度是射线照相底片质量的又一重要指标，各个射线探伤标准对底片的黑度范围都有规定。底片黑度用光学密度计测定。测定时应注意，最大黑度一般在底片中部焊接接头热影响区位置，最小黑度一般在底片两端焊缝余高中心位置，只有当有效评定区内务点的黑度均在规定的范围内，才能认为该底片黑度符合要求。（3）标记检查：底片上标记的种类和数量应符合有关标准和工艺规定。标记应放在适当位置，距焊缝边缘应不少于5mm。（4）伪缺陷检查：伪缺陷是指由于透照操作或暗室操作不当，或由于胶片、增感屏质量不好，在底片上留下非缺陷影像。伪缺陷容易与真缺陷影像混淆，影响评片的正确性，造成漏检和误判，所以底片上有效评定区域内不允许有伪缺陷影像。（5）背散射检查：背散射检查即“B”标记检查。照相时，在暗盒背面贴附一个“B”铅字标记，观片时若发现在较黑背景上出现“B”字较淡影像，说明背散射严重，应采取防护措施重新拍照；若不出现“B”字或在较淡背景上山现较黑“B”字，则说明底片未受背散射影响，符合要求。黑“B”字是由于铅字标记本身引起射线散射产生了附加增感，不能作为底片质量判废的依据。（6）搭接情况检查：双壁单影透照纵焊缝的底片，其搭接标记以外应有附加长度L（L=L2L3/L1）才能保证无漏检区。其他透照方式摄得的底片，如果搭接标记按规定摆放，则底片上只要有搭接标记影像即可保证无漏检区，但如果因某些原因搭接标记未按规定摆放，则底片上搭接标记以外必须有附加长度L，才能保证完全搭接。6.2答：（1）观片灯应有足够的光强度。（2）观片灯亮度必须可调，以便在观察低黑度区域时将光强减小，而在观察高黑度区域时将光强调大。（3）光源的颜色通常应是白色，也允许橙色或黄绿色之间。偏红或偏紫色则不适合。（4）观片灯应有足够大的照明区，一般不小于300mm90mm。（5）观察屏各部分照明应均匀，照射到底片上的光应是散射的，光的散射系数应人于0.7。（6）观片灯应散热良好，无噪声。6.3答：观察影像时，一般首先注意的是影像形状、尺寸、黑度，除此以外，还应作下列观察与分析：（1）影像位置：根据影像在底片上的位置以及影像特征，结合投影关系，推测其在焊缝中的位置：是在根部、坡口还是表面，是在焊缝还是热影响区。（2）影像的延伸方向：影像的延伸方向有一定规律性，例如未熔合、未焊透等沿焊缝纵向，热裂纹、虫状气孔与焊缝结晶方向有关，咬边、弧坑的轮廓与焊缝表面波纹相吻合。（3）影像轮廓清晰程度：除了照相工艺条刊：影响清晰度外，还应注意以下影响轮廓清晰程度的因素并据此进行分析厚板与薄板中影像清晰程度的差异、缺陷和某些伪缺陷清晰度差异、内部缺陷和表面缺陷轮廓清晰度的差异等。（4）影像细节特征：注意寻找细节特征，如裂纹的尖端、锯齿、未焊透的直边等。7.1答：现场透照时，应根据剂量水平划分控制区和监督（管理）区。作业场所启用时，应围绕控制区边界测量辐射水平，并按空气比释动能不超过40Gyh1的要求进行凋整。操作过程中，应进行辐射巡测，观察放射源的位置和状态。控制区是指在辐射工作场所划分的一种区域，在该区域内要求采取专门的防护手段和安全措施，以便在正常工作条件下能有效控制照射剂量和防止潜在照射。监督（管理）区是指辐射工作场所控制区以外、通常不需要采取专门防护手段和安全措施，但要不断检查其职业照射条件的区域。现行标准规定：以空气比释动能率低于40Gyh-1作为控制区边界。对管理区的规定是：x射线照相，控制区边界外空气比秆动能率在4Gyh-1以上的范围划为管理区；射线照相，控制区边界外空气比释动能率在2.5Gyh-1以上的范围划为监督区。7.2答：场所辐射监测是一种预防性测量，通过测量工作场所和环境的照射率或剂量率，可以预先估计出处于场所的人员在特定时间内将要受到的照射量和吸收剂量，从而能告诫有关人员尽可能避开危险区域，指出允许工作时间，并对改善防护条件提供有价值的资料。个人剂量监测是一种控制性测量，通过测量被射线照射人的局部或整体的累积量，从而告诉工作人员到某一时刻以前所受到的照射量或吸收剂量，注意以后的照射量。如果被照射人受到超剂量照射，个人剂量监测不仅有助于分析超剂量的原因，还可以为射线病的治疗提供有价值的数据。7.3答：有同态电离辐射仪和气态电离辐射仪，前者包括电导率探测器、闪烁探测器等，后者包括电离室剂量仪的计数管式剂量仪等。7.4答：有胶片剂量计、电离室式剂量笔、荧光玻璃剂量计、热释光剂量计等。7.5答：辐射防护的目的：防止有害的确定性效应：限制随机性效应的发生率，使之达到被认为可以接受的水平。辐射防护因应遵循三个基本原则：（1）辐射实践的正当化，即辐射实践所致的电离辐射危害同社会和个人从中获得的利益相比是可以接受的，这种实践具有正当理由，获得的利益超过付出的代价。（2）辐射防护的最优化，即应当避免一切不必要的照射。在考虑经济和社会因素的条件下，所有辐射照射都应保持在可合理达到的尽可能低的水平。直接以个人剂量限值作为设计利安排工作的唯一依据并不恰当，设计辐射防护的真正的依据应是防护最优化。（3）个人剂量限值，即在实施辐射实践的正当化和辐射防护的最优化原则的同时，运用剂量限值对个人所受的照射加以限制，使之不超过规定。7.6答：我国现行辐射防护标准GB18771-2002电离辐射防护与辐射源安全基本标准对于放射性工作人员的剂量当量限值的规定为：（1）应对任何工作人员的职业照射水平进行控制，使之不超过下述限值：a）由审管部门决定的连续5年的年平均有效剂量（但不可作任何追索性平均），20mSv：b）任何一年中的有效剂量，50mSv：c）眼晶体的年当量剂量，150mSv：d）四肢（手和脚）或皮肤的年当量剂量，500mSv,（2）对于年龄为16岁18岁接受涉及辐射照射就业培训的徒：正和在学习过程中需要使用放射源的学生，应控制其职业照射使之不超过下述限值：a）年有效剂量，6mSv；b）眼晶体的年当量剂量，50mSv：c）四肢（手和脚）或皮肤的年当量剂量，150mSv；（3）特殊情况：在特殊情况下，可以依据标准中有关“特殊情况的计量控制”的规定，对剂量限值进行临时变更：a）依照审管部门的规定，可将剂量平均期由5个连续年延长到10个连续年；并且，在此期间内，任何工作人员所接受的平均有效剂量不应超过20mSv，任何单一年份不应超过50mSv：此外，当任何一个工作人员自此延长平均期开始以来所接受的剂量累计达到100mSv时，应对这种情况进行审查：b）剂量限值的临时变更应遵循审管部门的规定，但任何一年内不得超过50mSv，临时变更的期限不得超过5年。7.7答：随机性效应，是指发生几率与剂量成止比而严重程度与剂量无关的辐射效应。一般认为，在辐射防护感兴趣的低剂量范围内，这种效应的发生不存在剂量阈值。确定性效应，是指通常情况下存在剂量阈值的一种辐射效应，超过阈值时，剂量愈高则效应的严重程度愈大。7.8答：“线性无阈”是针对电离辐射所致随机性效应而提出的。所谓“无阈”是指不存在一个不产生人体伤害的阈值，所谓“线性”是指随机性效应发生概率随剂量的增加而增大。因此，应尽量减少不必要的照射。7.9答：射线防护的三大方法是时间防护、距离防护和屏蔽防护，其原理如下：时间防护的原理是：在辐射场内的人员所受辐射的累积剂量与时间成正比，因此，在辐射率不变的情况下，缩短辐射时间便可减少所接受的剂量，从而达到防护目的。距离防护的原理是：在源辐射强度一定的情况下，剂量率或照射量与离源的距离平方成反比，增大距离便可减少剂量率或照射量，从而达到防护目的。屏蔽防护的原理是：射线穿透物质时强度会减弱，在人与辐射源之间设置足够的屏蔽物，便可降低辐照水平，达到防护目的。8.1答：高能射线照相的优点有：（1）穿透力强，对钢的穿透厚度可达400mm以上；（2）射线强度大，曝光时间短；（3）散射线少，对比度好，灵敏度高；（4）焦点小，几何不清晰度小；（5）宽容度大，适用于大厚度差试件照相。8.2答：与常规射线照相相比，图象增强器射线实时成像系统有以下优点和局限性：（1）工件一送到检测位置就可以立即获得透视图像，检测速度快，工作效率比射线照相高数十倍。（2）不使用胶片，不需处理胶片的化学药品，运行成本低，且不造成环境污染。（3）检测结果可转化为数字化图像可用光盘等存储器存放，存储、调用、传送比底片方便。（4）图像质量，尤其空间分辨率和清晰度低于胶片射线照相。（5）图象增强器体积较大，检测系统应用的灵活性和适用性不如普通射线照相装置。（6）设备一次投资较大。（7）显示器视域有局限，图像的边沿容易出现扭曲失真。8.3答：CR技术的优点和局限性：（1）原有的X射线设备不需更换或改造，可以直接使用。（2）宽容度大，曝光条件易选择。对曝光不足或过度的胶片可通过影像处理进行补救。（3）可减小照相曝光量。CR技术可对成像板获取的信息进行放大增益，从而可大幅度地减少X射线曝光量。（4）CR技术产生的数字图像存储、传输、提取、观察方便。（5）成像板与胶片一样，有不同的规格，能够分割和弯曲，成像板可重复使用几千次，其寿命决定于机械磨损程度。虽然单板的价格昂贵，但实际比胶片更便宜。（6）CR成像的空间分辨率可达到5线对/毫米（即100gm），稍低于胶片水平。（7）虽然比胶片照相速度快一些，但是不能直接获得图像，必须将CR屏放入读取器中才能得到图像。（8）CR成像板与胶片一样，对使用条件有一定要求，不能在潮湿的环境中和极端的温度条件下使用。8.4答：数字图像的分辨率又称空间分辨力，定义为图像中可识别线条分离的最小间距，单位是Lp/mm（线对/毫米）。数字化射线成像技术的分辨率主要是由图像传感器的像素尺寸决定的。分辨率越高，就要求相同尺寸阵列的像素数目越多，其价格就越昂贵。由于数字化射线成像的图像大都是通过显示器观察的，所以分辨率还受显示器影响。当阵列的像素数量超过显示器分辨率时，对在线检测设备来讲就不匹配。但如果需要在屏幕上放大观察，则采用更高分辨率的阵列是有意义的。8.5答：线阵列扫描数字成象系统工作原理是：X射线机发出X射线被准直为扇形，穿过被检测工件后被线扫描直接成象器（LDA探测器）接收直接转换成数字信号，然后传送到图像采集控制器和计算机中。每次扫描中LDA探测器所生成的图像仅仅是很窄的一条线，为了获得完整的图象，就必须使被检测工件作匀速运动，同时反复进行扫描。计算机将多次扫描获得的线形图像进行组合，最后在显示器上显示山完整的图象，从而完成整个的成像过程。由于LDA探测器是很窄的阵列，元器件数量少，成本比数字平板低得多，但其成像速度和精度也比数字平板低得多。8.6答：工业CT检测的特点是准确率高。以往的传统射线检测，是把工件全厚度重叠投影在一张底片上，无法分清楚各部分结构。工业CT是工件的分层断面图像，可给出工件任一平面层的图像，可以发现平面内任何方向分布的缺陷，它具有不重叠、层次分明、对比度高和分辨率高等特点，容易准确地确定缺陷的位置利性质。工业CT产生的数字化图像信号可贮存、转录均十分方便。但CT技术完整地检测一个工件比常规射线照相需要长得多的时间，费用也要高很多。8.7答：根据中子在某些较重元素中衰减较小，而在某些较轻元素中衰减较大的特点，中子照相在以下领域得到应用：航空航天、爆炸装置、粘接结构、核控制材料和核燃料检验、腐蚀检测、残留水和氢脆化部位的探测。具体的实例包括：蜡模铸造的汽轮机叶片、金属组件腐蚀情况、蜂窝结构的粘接质量、金属组件中的炸药、阀门中的密封橡胶圈等。9.1答：全面质量管理的主要内容可概括为“三全”，即：（1）全面质量，即不限于产品质量，而且包括服务质量利工作质量等在内的广义质量：（2）全过程，即不限于生产过程，而且包括市场调研、产品开发设计、生产技术准备，制造、检验、销售、售后服务等质量环节的全过程；（3）全员参加，即不限于领导和管理干部，而是全体工作人员都要参加。9.2答：无损检测的质量管理涵盖了两个方面内容，一是作为产品质量体系的一个环节，如何通过无损检测的实施对产品质量控制起到保证作用；二是作为一项技术业务工作，如何努力提高无损检测自身的质量。9.3答：锅炉压力容器无损检测质量管理的内容应包括：（1）人员管理，包括射线检测人员的资格取证、培训考核、人员技术档案利健康档案的记录与管理等；（2）设备和器材管理，包括设备和器材的采购与验收，设备的定期检定、设备档案管理、设备的使用、维护、保养等；（3）工艺管理，包括无损检测工艺规程的编制和修订，工艺卡的建立、工艺执行情况的检查等；（4）制度管理，对无损检测所有工作内容在质量方面作出具体规定文件，包括工作程序、要求、见证与检查监督、人员、设备器材、工艺管理的分项制度等。9.4答：射线源的保管储存应满足以下要求：（1）射线源的存放场所必须经当地环保、公安、卫生进行环境评估、审定批准。（2）应放在专用的贮藏箱内，不得与易燃、易爆腐蚀性物品一起存放。（3）射线贮藏箱或容器箱的存放室，不得设置在人员密集施工（交通）道两旁。（4）施工现场不得存放射线源，工作完毕应及时把射线机运送到贮存室内。（5）射源存放后，应指定专人保管，定期检测，严格实行领用制度，射源存放场所必须没有二道安全锁得防盗门。9.5答：无损检测工艺管理包括工艺规程和工艺卡编写、工艺执行的监督和检查、新工艺的鉴定、例外检测的专用工艺制定等。9.6答：无损检测新工艺和新技术在生产应用之前，必须先进行工艺鉴定，是为了保证检测结果的可靠性和有效性。通过鉴定，评价新工艺和新技术本身是否科学与先进，对检测对象是否适用，检测结果是否可靠、工艺文件是否齐全，方法标准和验收标准是否确定，是否符合有关法规的要求等。新技术、新工艺应用的一般程序是，新技术和新工艺的开发、试验研究企业管理部门批准试用技术和工艺经应用验证先进可靠，工艺文件和标准编制齐全、申请鉴定企业上报管理部门组织鉴定，确认和批准正式投入使用。9.7答：例外检测是指检测工程中受现场具体情况或工件结构的制约，某些检测条件不能满足技术标准或产品设计工艺文件的要求，不能应用规定的检测方法、工艺、工艺参数或工艺措施实施检测，而又没有其它更好的替代方法时，所进行的一种特殊性质检测工作。由于例外检测可能影响检测灵敏度和缺陷检出可靠性，所以对此必须加以控制。对例外检测应制订一套内部管理程序，包括例外检测中请、方案的制定、专用工艺编制、实施的批准等。此外，进行例外检测应及时告知客户，并应在检测报告中注明，必要时应向有关部门备案。制订例外检测的方案和工艺时，应考虑以下几个方面问题：（1）申请例外许可的理由是否成立：是否需要进行例外检测?现场条件是否确实无法满足技术标准或产品设计工艺文件?（2）是否一定要应用该方法进行检测?有没有其它更好的替代方法?（3）例外检测方案是否周密完整?（4）例外检测工艺中，是否针对存在的具体情况制订了针对性补偿措施?是否能保证检测质量不降低或使这种降低减少到最低程度?9.8答：申请开展射线装置工作的单位必须具备下列基本条件：（1）具有与所从事的放射工作相适应的场所、设施和装备，并提供相应的资料。（2）从事放射工作的人员必须具备相应的专业及防护知识和健康条件，并提供相应的证明材料。（3）有专职、兼职放射防护管理机构或者人员以及必要的防护用品和监测仪器，并提交人员名单和设备清单。（4）提交严格的有关安全防护管理规章制度的文件。9.9答：申请放射工作人员证的人员，必须具备下列基本条件：（1）年满18周岁，经健康检查，符合放射工作职业的要求。（2）遵守放射防护法规和规章制度，接受个人剂量监督。（3）掌握放射防护知识和有关法规，经培训，考核合格。（4）具有高中以上文化水平和相应专业技术知识利能力。9.10答：如发生人员受超剂量照射事故，除在现场采取应急措施外，从管理方面还应做好以下事情：（1）肇事单位应立即将事故情况报告主管部门利所在地区的卫生、公安部门。（2）及时采取妥善措施，安置好受伤害利受影响人员，尽量减少和消除事故的危害和影响。（3）对事故中受照人员及时给予医学检查和必要的医学处理。（4）接受当地放射卫生防护机构的监督及有关部门的指导。（5）按放射事故管理规定处理好其它事宜。四、计算题*1.1 C60的衰变常数为0.131/年，求它的半衰期。（5.3年）*1.2 已知Ir192半衰期为75天，试计算它的衰变常数为多少?（0.00924/天）*1.3 Cs137（半衰期为33年）射线源用了16年以后，放射性强度还剩原来的百分之几?（71.5）*1.4 求管电压为250KV的X射线机和能量为4MeV的直线加速器辐射连续X射线的效率（设靶材均为钨Z=74，比例常数数=1.210-6）。（2.22；5.52）*1.5 已知C060源辐射两种能量的光子，一种是1.17MeV，另一种是1.33MeV，求它们的波长分别为多少（）? （计算到有效数字第三位，第四位四舍五入）（0.011；0.009）*1.6 当X射线管的管电压为150KV时，产生的X射线的最短波长为多少?假如连续X射线最大强度所对应的波长为最短波长的1.5倍，求最大强度处的光子能量为多少?（0.0827；100KeV）*1.7 能量为250KV的单色射线在钢中的线衰减系数为0.8cm-1，该射线钢的半价层是多少?（0.866cm）*1.8 用光子能量为1.25MeV的平行窄束Y射线，垂直贯穿铝板，要使贯穿后射线强度为入射线强度的1/20，求铝板的厚度为多少?（铝=0.15cm-1）（19.97cm）*1.9 用光子能量为100KeV的平行、窄束X射线垂直贯穿30mm厚铝板，已知该射线在铝中的半价层为1.2cm，求穿透射线强度与入射射线强度之比?（0.177）*1.10 单色平行宽束入射射线的照射率为30伦/分，贯穿30毫米工件后的照射率为16伦/分，已知工件材料射线的吸收系数为0.693cm-1。求散射比n和散乱射线照射率各为多少?（3.26：12.24伦/分）*1.11 透过厚铝板后的平行窄束X射线强度为400mR/h，在此铝板上另加20mm厚的铝板，则透射线强度为200mR/h，如再加10mm厚的铝板；则透射线强度为多少?（141.1mR/h）*1.12 在图示连续X射线中，设有两波长A和B，其含A、B的射线强度相等，已知A和B对铝的射线衰减系减分别为0.25和0.60cm-1，为使含A的射线强度为含B和射线强度的5倍，应使射线透过多厚的铝板?（46mm）*1.13 透过厚钢板后的平行窄束X射线再透过屏蔽好的12mm厚的钢板，若透射线照射率为透过12mm钢板前的1/16，则钢对该X射线的半价层和吸收系数各为多少?（3mm；2.31cm-1）*1.14 在离X射线管焦点2m处，测山透过衰减系数为1.2cm-1的钢板后的窄束X射线照射率为1.2R/h，为使离焦点4m处的照射率变为50mR/h，问在此钢板上还应附加多厚的钢板?又钢板对此X射线的半价层为多少?（14.9mm；5.8mm）*1.15 用某一线质的X射线测得Al和Cu的线吸收系数分别为0.24和1.7cm-1，已知Al、Cu及合金的密度分别为2.70、8.94、2.938/cm2，试求用重量百分率表示的A190，Cu10的合金对此X射线的线吸收系数。（0.29cm-1）*1.16 设有一辐射单一波长丁射线的同位素源，某时在离射源200cm处测得其照射率。14天后同一时刻在离射源192cm处测出其照射率与前同，问此射源半衰期为多少?（119天）*1.17 某射线源，铅的半价层3mm，问铅的1/10价层和1/20价层分别为多少?（10mm；13mm）*1.18 用X射线透照母材厚度30mm，焊缝余高4mm的试件，若射线线质不因厚度而异，吸收系数均为0.693cm-1，求半价层厚度和射线贯穿工件后，母材部位和焊缝部位的射线强度之比。（已知X射线的散射比对于母材和焊缝分别为2.5和3）（10mm；1.15）*1.19 平行的连续X射线贯穿15mm钢板，强度减弱为1/16，假设此后再贯穿16mm钢板，强度减弱到最初强度的1/128求此射线在前15mm的平均吸收系数和半价层厚度为多少?在后16mm内的平均吸收系数和半价层厚度又为多少?（0.185mm-1；3.75mm；0.13mm-1，5.33mm）*1.20 标准X射线源用金属的半价层来标定，已知第一标准源和第二种标准源的半价层分别为厚1mm和3.5mm的铜，求两种标准源在铜中的衰减系数?（0.693mm-1；0.198mm-1）*1.21 透照图示钢焊缝时，假定射线线质不随穿透试件厚度而变化，透过母材到达胶片上A点的照射量（包括直接透射线利散射线）是透过焊缝区到达胶片上B点照射量的2.4倍，则焊缝区（B点）的散射比n为多少?母材区（A点）散射照射量是焊缝区（B点）散射线照射量的儿倍?（没A点的散射比n为1.4，试件对X射线的半价层为1.5mm） （3：1.9）*2.1 已知X射线管中钨靶与垂直管轴线平面的夹角为20，靶被电子轰击范围为83毫米，求该X射线管的有效焦点尺寸。（2.74x3mm）*2.2 X射线机所形成的X射线以40*的圆锥向外辐射，而射线强度变化不超过20的均匀辐照场，其锥顶角为30，如果胶片长为360mm，为了保证胶片在均匀辐射场内，试计算焦距至少应为多少?（672mm）*2.3 采用针孔法测量焦点尺寸，已知针孔直径为0.2毫米，焦点至针孔距离800毫米，针孔至胶片距离400毫米，拍摄出焦点影像为2.3毫米，求该X射线管的有效焦点尺寸。（4mm）*2.4 使用同一观片灯，黑度差为0.9的两个部位，透过可见光强度相差几倍?（7.94倍）*2.5 透过X射线底片的光强要求不低于30cd/m2,如所观察的底片最大黑度为2.7，问观光灯光强至少应为多少?（15036cd/m2）*2.6 已知某品牌型胶片感光速度为250，V型胶片感光速度为100，问达到相同黑度（D=2.0），后者所需曝光量大约为前者几倍?（2.5倍）*2.7 有A、B两种不同类型的胶片，经完全相同条件曝光后，得到的底片黑度分别为2.7和1.2。若忽略照相灰雾，这两种胶片的黑度1.0-3.0的范围内。G值可视为常数，且GA：2，GB=3，求黑度1.5时，两种胶片的感光速度之比。（5.01）*2.8 已知胶片平均梯度为3.5，照相时曝光10毫安分，底片黑度为1.6，现欲使底片黑度达到2.5，问曝光量应增加到多少?（18mA-min）*2.9 设曝光量增大到2.5倍，底片黑度增大1，则底片的反差系数为多少?若用同样照度的观光灯观片时，黑度差为1的两个部位，黑度较小的与黑度较大的相比，透过的可见光强度大多少倍?为使透过的可见强度相等，应将观光片亮度提高多少倍来观察黑度大的部位?（2.51；10倍）*2.10 欲使底片黑度达到1.5，用铅箔增感需曝光4分钟，用荧光增感需曝光40秒，不用增感材料需曝光6分钟，求铅增感屏和荧光增感屏的增感系数。（1.5；9）*2.11 用同种胶片在相同条什下曝光，无增感时，曝光8分钟，底片黑度为1.2：有增感时，曝光2分钟，底片黑度为1.5。设胶片无增感时，在黑度1.0-3.5范围内，反差系数值视为常数，且=3。求此增感屏在黑度1.5时的增感系数Q。（5）*2.12 透照某工件时，底片上显示GB透度计8号金属丝正好达到2的相对灵敏度。为达到1.5的相对灵敏度，则需显示几号金属丝?（0.4mm；第10号金属丝）*2.13 透照板厚40mm的双面焊焊缝，可看见0.63mm直径的钢丝，求照相相对灵敏度是多少?（1.43）*2.14 对某平板工件进行透照拍片时，测得有缺陷部位的照射率比无缺陷部位的照射率高30，假设在底片黑度范围内胶片的值为3，求有缺陷部位与无缺陷部位的黑度差?（0.34）*2.15 用单一波长的X射线，对两块厚度分别为30mm和25mm的工件同时进行透照，曝光时间相同，材料的吸收系数均为1.386cm-1，经暗室处理后，对应的射线照相底片的黑度分别为2利3，求在此黑度范围内，胶片的反差系数值为多少?（3.3）*2.16 用Ir192射线透照厚度有变化的钢试件，将摄得的底片放到观光灯上，用照度计紧贴底片测定透射光强，厚度20mm部分（黑度D1）为551x，厚度31mm部分（黑度D2）为1651x。求该胶片在D1、D2之间的平均梯度G。（设厚度20mm部分的散射比n1为2，厚度31mm部分的散射比n2为3。又试件对Ir192，射线的半价层为11mm）。（2.7）*3.1 用3x3mmlr92源内透中心法透照内径1200mm，壁厚38mm的容器对接双面焊环向焊接接头，求Ug。（0.21mm）*3.2 用（1）4x4mmlr92源内透照50mm厚的双面焊对接焊接接头，欲使Ug0.2mm，求射源至胶片最小距离?（1134mm）*3.3 采用双壁双影法透照763的管子对接焊接接头，已知X射线机焦点尺寸为3mm，透照焦距为600mm，求胶片侧焊缝利射源侧焊缝的照相几何不清晰度Ug1和Ug2。（0.025mm；0.46mm）*3.4 透照板厚为40mm的双面焊对接焊接接头，焦距600mm，X射线机焦点尺寸2x2mm，照相几何不清晰度Ug为多少?如透照管电压为300KV，又已知固有不清晰度Ui与管电压千伏值KV的关系式为Ui=0.0013KV0.79，试计算固有不清晰度Ui值，并计算山总的不清晰度U值为多少?（0.158mm；0.118mm；0.20mm）*3.5 透照无加强高的焊接接头时，气孔部分的透射线比无气孔部分的透射线总强度（包括了散射线强度）增大了50，若底片黑度范围内的胶片值为3.5，求气孔和无气孔部位的射线照相对比度。（0.616）*3.6 从射线照相底片上测得缺陷处的黑度为3.5，无缺陷处的黑度为3，已知n2，=3cm-1，在1到4的黑度范围内G=4，忽略缺陷对射线的吸收，求缺陷的高度为多少?（0.288cm）*3.7 透照厚度为18mm的钢焊接接头，有气孔和无气孔部位的底片黑度分别为1.1和1.0，若延长曝光时间后，无气孔部位的底片黑度增大到1.4，问此时有气孔部位的底片黑度为多少?（设黑度0.5-2.5范围内，胶片反差系数G与黑度D成正比增加。）（1.54）*3.8 板厚20mm的试件上有一条线切割槽，宽0.2mm，深2mm，第一次采用垂直透照，射线与线切割槽高度方向平行，所得底片上的影像D1=0.18，第二次采用倾斜透照，射线与槽高度方向夹角为10，求第二次透照线切割槽的影像对比度D2？（假设焦点尺寸对照相对比度无影响，两次透照射线能量相同，胶片相同，底片黑度相同，散射比无变化）（0.1035）*3.9 透照板厚34mm的双面焊对接焊接接头，射源尺寸为22mm，焦距600mm，透照管电压280KV，试计算（1）透度计放射源侧时的影像几何不清晰度利总的不清晰度。（2）透度计放胶片侧时的影像几何不清晰度和总的不清晰度（设固有不清晰度Ui与管电压千伏值KV的关系为Ui=0.0013KV0.79：透度计放胶片侧时，设透度计至胶片距离L2=1mm）（0.135mm；0.175mm；0.00334mm；0.111mm）*3.10 单面焊缝中有根部未熔合及坡口未熔合缺陷各一处，如图所示，已知两未熔合高度均为1.5mm，宽度均为0.2mm，射线垂直透照时，两缺陷影像对比度相差多少倍（几何条件对照相对比度影响、焊缝余高的影响均忽略不计；坡口与射线夹角为35）（4.3倍）*3.11 透照钢焊接接头时，在母材与焊缝处所得底片黑度分别为2.5与1.5，已知在母材和焊缝处的散射比分别为2和 4，假定射线的线质不因厚度而变化，底片黑度在1至4的范围内，黑度与胶片的对比度G值成正比，试计算放在母材与焊缝处的同直径金属丝透度计所产生的底片对比度之比D母材/D焊缝为多少?（2.78）*3.12 对厚度为20mm的平板工件进行透照拍片时，在底片上得到有缺陷部位和无缺陷部位的黑度分别为2.6与2.2，已知射线在工件中的半价层为0.4cm，散射比为2.5，胶片在黑度2与3处的G值分别为2.6与3.8，在黑度0.53.5的范围内G与黑度成线性关系，求缺陷的高度是多少?（6.2mm）*3.13 对某平板工件进行透照拍片时，测得有缺陷部位和无缺陷部位的剂量率分别为205毫伦/分和200毫伦/分，假设缺陷对射线的吸收忽略不计，散射比为2，材料对射线的吸收系数=2cm-1，求缺陷的高度?（0.037cm）*3.14 透照厚工件时，散射比为1.4，在底片上可识别直径为0.25mm的最细金属丝，减小散射比为0.5后再透照，仍获得相同黑度的底片，假设焦点尺寸可忽略，并设X射线机、管电压、管电流、焦距、胶片，增感屏等条件均不变，问：（1）底片的曝光时间为底片的多少倍?（1.6倍）（2）同一直径的金属丝在这两张底片上的对比度之比为多少?（1.6）*3.15 透照壁厚20mm，余高4mm的钢焊缝时，母材区黑度为2.8，焊缝中心黑度为1.8。若射线线质不因穿透厚度而异，试件对使用射线的半价层为2.5mm，母材区散射比为2.0，问焊缝中心的散射比为多少?（已知胶片的特性曲线：1gED22.06；1gED1.8=1.85）（4.61）*3.16 将像质计放在厚试件上用t1分的曝光时间透照时，直径d1的金属丝在底片上的影像对比度为D1，然后用铅光阑和屏蔽板减少散射线作第二次透照，为得到同黑度的底片，需要t2分的曝光时间。此时，若同一直径金属丝的影像对比度为D2，试证下列关系：*4.1 JB/T4730-2005标准关于照相射线源至工件表面的最小距离的规定如下：A级：f7.5db2/3；AB级：f10db2/3；B级；f15db2/3，已知射源尺寸为22mm，试计算板厚为24mm的双面焊对接焊接接头AB级和B级照相允许的最大Ug值，以及相应的最小焦距F。（0.304mm；212mm；0.202mm；305mm）*4.2 用某一X射线机透照某一试件，原透照管电压为180KV，管电流为5mA，曝光时间为3min，焦距为600mm，现透照时管电压不变，而将焦距变为1000mm，如欲保持底片黑度不变，问如何选择电流和时间?（41.7mAmin）*4.3 用某Se-75射线源透照规格为545的管环向焊接接头，焦距为600mm时曝光时间为3min，得到的底片黑度恰好满足要求；90天后仍用该射线源透照相同规格的管焊缝，问焦距为750mm时的曝光时间为多少?（7.9min）*4.4 在离C060射源1米处测得照射率为18伦/时，在此位置放胶片对Tn=20毫米的工件进行透照拍片，已知该射线在工件中的半价层为10毫米，为了在胶片上获得适当黑度而需要250毫伦的照射量，求每张胶片的曝光时间为多少?（3.33分）*4.5 测得离Ir192源1米处的照射率为6伦/时，用此射源透照距源500毫米，厚度为2厘米的工件，为了在胶片上获得2的黑度需要600毫伦的照射量，计算需曝光多少分钟?（g=0.693cm-1，n=2）（2分钟）*4.6 用240KV管电压，焦距800mm对厚20mm-1工件进行透照，选用天津型胶片，铅箔增感，管电流5mA，曝光时间4分钟，底片黑度为2，若焦距改为600mm，管电流仍为5mA，欲使底片黑度不变，曝光时间应为多少?（2.25分）*4.7 透照某一工件，焦距为600mm，管电流为5mA，曝光时间3分钟，底片黑度为1.5，为了减小几何不清晰度，将焦距改为800mm，管电流为4mA，其它条件不变，底片黑度要达到2.0，假设黑度由1.5提高到2.0时，曝光量必须加30，那么，曝光时间应该是多少?（8.67分）*4.8 使用Ir192拍片，焦距为800毫米，曝光20分钟，底片黑度2.5。50天后对同一工件拍片，选用焦距1000毫米，欲使底片达到同样黑度需曝光多少时间?（49.6分）*4.9 用某胶片透照厚度为30mm的钢板，该胶片的值为33。查曝光曲线需曝光量10毫安分，该曲线制作条件是F=600mm，D=1.5，今改为F=1000mm，要求D=2.5，需要多少曝光量?（55.86mAmin）*4.10 在透照厚度为12毫米的钢板时，所用焦距为600毫米，曝光时间为4分钟，管电流为10毫安。现透照8毫米厚的钢板，管电流为5毫安，时间为3.5分钟，为达到相同黑度，则应采用焦距为多少毫米?（已知半价层厚度为4毫米）（561mm）*4.11 对厚40毫米的钢进行透照，胶片距射源1米，已知射线在钢中的半价层为1cm，散射比为3，距射源0.5米处的照射率为4伦/分，要使胶片得到合适的曝光需要照射量500毫伦，试计算应曝光多少分钟? （2min）*4.12 原用焦距500mm，管电压200KV，管电流5mA，曝光4分钟透照某工件，所得底片黑度为1.0，现改为焦距750mm，管电压不变，管电流改为15mA，为摄得黑度1.5的底片，则曝光时间为多少。（由使用胶片的特性曲线得知1gE1.0=1.8,1gE1.5=2.1） （6min）*4.13 原用焦距600mm，管电压220KVP，管电流5mA，曝光时间3分钟，所得底片黑度为1.5；现焦距改用800mm，管电压不变，管电流改为10mA，为使底片黑度达以2.5，问曝光时间应为多少?（所刚胶片特性曲线如图所示）。（5.33分）*4.14 由胶片特性曲线得知，黑度3.5时的曝光量为黑度1.5时曝光量的2.5倍。若实际透照时曝光量的变化为25，为使透照焊接接头时底片黑度总能满足1.5以上3.5以下和条件。则通过母材区到达胶片的照射量应为通过焊缝区到达胶片照射量的几倍以内? （1.5倍）*4.15 假定使用的胶片特性曲线如下图所示，按探伤工艺卡规定透照焊接接头时母材的最大黑度为3.0，而技术标准允许的最大黑度为3.5。若其他条件不变，焦距用650mm时焦距测定误差为15mm，问在这种情况下母材黑度会否超过3.57又最大黑度不超过3.5的焦距变化极限值是多少? （不会，607mm）*4.16 对厚度16mm的钢对接焊接接头，按被检区黑度为2.0的摄片条件作了两次透照，并对两张底片上的同一部位测了黑度，得知在第一次透照中黑度为1.8，在第二次透照中黑度为2.4，若对黑度为2的变化是由曝光量的变化引起的，则第一次透照和第二次透照中的曝光量变化分别是百分之几?（所用胶片特性曲线如图所示）（减少8.8，增加26）*4.17 以管电压参数的曝光曲线查得D=1.5，曝光量为10mAmin的一组数据如下：T（mm）KV1216024220（1）今透照厚度18mm的试件，用管电流5mA，曝光时2分钟，为得到黑度1.5，管电压应为多少?（190KV）（2）假设在100KV320KV范围内，管电压与透照厚度呈线性关系，求该线性方程，并求管电压320KV对应的透照厚度Tm是多少?（44mm）*4.18 欲对容器纵缝进行连续拍片，透照厚度TA=40mm，焦距取600mm，胶片规格为360mm长，试确定一次透照长度和搭接长度各为多少?（透照厚度比K=1.03）（280mm；20mm）*4.19 用双壁单影法透照外径400mm的容器直缝，焊缝为双面焊对接接头，板厚10mm，焦距600mm，求一次透照长度L3和有效评定长度Leff?（k=1.01）（180mm；184.2mm）*4.20 用XY3010X射线机外透法透照外径1592mm，板厚46mm的锅筒环向对接焊接接头，若焦点至工件表面距离L1为700mm，则100检查时满足AT/T=10的最小透照次数N和一次透照长度L3分别是多少?（16次，312.5毫米）*4.21 用XY2525X射线机双壁单影法透照21916（mm）的钢环向对接焊接接头，若焦距为500mm，则100检查满足T=0.1T的最少透照次数和一次透照长度L：分别是多少?（7次；98.3毫米）*4.22 用双壁单影透照外径325mm，壁厚20mm的管子环向对接焊接接头，（1）用X射线机透照，焦距600mm，按K1.1的要求，需要曝光几次?（6次）（2）用Ir192射线透照，焦距330mm，按1.1的要求，需要曝光几次?（4次）*4.23 采用内透法透照内径3000mm、板厚30mm的筒体环向对接焊接接头，问（1）焦距选择600mm，满足k=1.1的一次透照长度L3是多少?（2）焦距选择1000mm，满足k=1.1的一次透照长度L3是多少?（3）实际工作中的一次透照长度应如何确定?（942mm，整道环缝；根据取决于照射场大小）*4.24 采用外透法透照内径800mm，壁厚20mm的筒体环向对接焊接接头，若焦距F选择500mm要求透照K1.1，问至少需要透照几次才能完成100检查?又如要求透照10次完成100检查，（k1.1不变），则焦距F至少应选择多少?（14次：1121mm）*4.25采用双壁双投影的形式，透照383mm毫米管子环向对接焊接接头，已知焊缝宽度为8毫米，选用焦点尺寸为3mm的X射线机，要求Ug0.2mm，试计算最小焦距和透照偏移距离?（椭圆开口间距与焊缝等宽）（672mm；252.8mm）*4.26 用焦点尺寸df=3mm的X射线机180KV的管电压透照0513.5和管子环向对接焊接接头，已知焊缝宽度b=10mm，试求（1）要求Ug=3Ui、椭圆开口间距与焊缝等宽时的透照焦距F和透照偏移距离L（设Ui=0.0013KV0.79，焊缝余高Ah=1.5mm）；（2）若透照距离Ll=800mm，则此时Us为Ui的/L倍?（740mm；262mm；2.58倍）*4.27 透照板厚20mm，余高4mm的钢对接焊接接头，若母材区和焊缝区的散射比n分别为2.0和3.0，线质不随透照厚度而变化，试件对所使用的X射线的半价层为2mm，求透过母材到达胶片的照射量（包括透射线和散射线）是透过焊缝到达胶片上照射量的几倍?此时被检查区黑度能否满足黑度在1.2以上、3.5以下的条件?（由使用胶片的特性曲线得到，IgED1.2=1.64，1gED3.5=2.25）（3倍）*4.28 透照某工件原用胶片A，曝光量10mAmin，所得底片黑度1.5，现改用胶片B，求获得黑度1.5所需的曝光量?又如欲使胶片B照相黑度达到2.5，则曝光量应为多少? （所用胶片特性曲线右图）（15.8mAmin；19mAmin）*6.1 观察射线底片时，若透过底片的光强相同，则最小可见对比度Dmin也相同。今用亮度L。的观片灯观察黑度1.6的底片，然后再观察黑度2.5的底片，为使最小可见对比度Dmin不变，应使观片灯亮度提高多少?（8倍）*6.2 观察射线底片时，若透过光强相同，则最小可见对比度Dmin也相同。今用亮度为12001x的观片灯观察黑度1.4的底片，然后又观察黑度3.2的底片。因原亮度难于观察，需将亮度提高后观察，此时为使最小可见对比度Dmin不变，应将亮度调至多少1x?（756001x）*6.3 今摄得黑度分别为2.1和2.9的两张底片，按同一条件进行观察。观片时若透过光以外的环境光强与透过黑度为2.9的底片后的光强相同，则同一直径的像质计金属丝在黑度2.9的底片上可见对比度是黑度2.1的底片上可见对比度的几倍?（设黑度在1.23.5范围内，D与D成正比。）（0.8倍）*7.1 已知空气中某点X射线的照射量为1.7810-4Ckg-1，求空气中该点的比释动能是多少?（610-3Gy）*7.2 1r192源活度为50居里，求距源1米处和20米处的照射率（1r192的Kr=4.72）（23.6R/h；0.059R/h）*7.3 相同活度的C60和Ir192，在相同的距离上两者的照射率相差多少倍?（C060的Kr=13.2，Ir192的Kr=4.72）（2.8倍）*7.4 将C060所产生的剂量减弱1000倍，所需铅防护层厚度为多少? （C060在铅中的半价层为T=1.06cm）（10.6cra）*7.5 测得距源14米处的照射率为108微希沃特/时，欲使照射率减少至25微希沃特时，问离源的距离应为多少?（29.1m）*7.6 放射工作人员每周的剂量限量为1毫希沃特，如工作人员每周需在照射场停留25小时，问该照射场允许的最大剂量是多少?如实测该照射场的剂量率是30微希沃特，问在该照射场中的工作人员每周允许工作多少小时?（40Sv；33h）*7.7 已知某一源1米处剂量率为16毫希沃特，问20米处的剂量率为多少?又采用屏蔽方法欲使20米处剂量率降至4微希沃特，问需铅防护层的厚度为多少（设该射线在铅中的半价层为T=0.5cm）（40Sv；1.66cm）*7.8 使用Ir192拍片，在距源25米处操作，实测照射剂量率6.7毫伦/时，如每天允许剂量率为16.7毫伦，问每天应工作几小时?又90天后，使用同一射源拍片，要求每天工作8小时，问保证不超过允许剂量的操作距离是多少?（2.49h，29.5mR）*7.9 在露天进行X射线照相，已知距焦点1米处漏射线剂量率200mR/h，散射线剂量率为各位置漏射线剂量率的9倍，现场拍片30张，每张曝光4分钟，如1人操作，为保证接受剂量不超过10mR，应距焦点几米?如在距焦点12米处操作，为保证每人接受剂量不大于10mR，上述工作应由几人分担?此时每人可接受的照射剂量为多少mR?（20m，3人，9.3mR）*7.10 安装400KVX射线机，为保证每天实际累计曝光时间250分钟时，摄片人员的射线照射量不大于8mR，用混凝土墙进行遮挡。已知混凝土的吸收系数为0.2cm-1，射线贯穿混凝土后的散射比为2，X射线照射率为128R/minm，射线管焦点与摄片人员的最小距离为2m，求防护墙厚度。（746mm）*7.11 用Irl92源进行野外透照，射源活度为20ci，忽略散射线。若一天实际曝光时间为2小时，为使射线照射量控制在一天照射限值之内，射线工作人员离源的最小距离应为多少?射源距离公众活动场所至少多少米?（允许照射量：射线工作者16mR/天，公众1.6mR/天；忽略非曝光时的照射量。）（34.35m，108.63m）*7.12 离300KVX光机某距离处测得照射率为3毫伦/时，工作人员在该点每天工作6小时，如果采用屏蔽防护，试计算需加多厚的混凝十才能使该点的剂量减弱到日安全剂量16.7毫伦以下?（设混凝土的半价层为3.1厘米）（21cm）*7.13 用Cs137射线源做野外透照拍片，射源强度为5居里，忽略散射线，已知一个人一天的允许剂量为16.7毫伦，如果工作人员一天的总计曝光时间为1小时，求射线工作人员距离射线源的最小距离为多少米?（Cs137的Kr=3.28）（9.91m）*7.14 已知钴C60射线源，放射强度为5居里，工作人员离源6米处工作，工作点的最大容许照射率为4.17毫伦/时，忽略散射线影响，试计算在源与工作点之间，需加的铅板厚度为多少厘米?（已知铅的半价层为1.07厘米，C060的Kr=13.2）（5.84cm）*7.15 一颗放射性强度为10居里的Ir192源，工作人员距源1米处工作，需要设计一个屏蔽层，现仅有15毫米厚的铅板可作一层屏蔽，其余要用铁作屏蔽层，在不考虑散射影响情况下，需多厚的铁才能使工作点的剂量为2.1毫伦/时?（已知铅的半价层为3.5毫米，铁的半价层为10毫米。）（68.5mm）*7.16 已测得距源10米处的剂量率为100毫伦/时，采用厚度为16mm的铅屏蔽后，该点剂量率降至60毫伦/时，已知铅对该能量的射线的吸收系数为0.693cm-1，求散射比利散射线剂量率。（0.82；27mR/h）计算题选解1.11 解1：设透过厚铝板后的窄束透射线强度为I1，加20mm铝板后的窄束透射线强度为I2，再加10mm铝板后的窄束透射线强度为I3由窄束单色X射线衰减律（1）（2）I=Ie-T得 （2）式两边平方有：I =40000e-2 （3）（3）（1），得=100I =20000I3=141.4（mR/h）解2：由题意，I2=200mR/hI3=400mR/h半价层T1/2=2cm，再加的10mm铝板为 个半价层由得I3=I2=I2=141.4（mR/h）答：透射线强度I3=141.4（mR/h）。1.12 解：设含A和B的射线初始强度分别为IA和IB，通过厚度为x和铝板后的强度分别为IA和IB，两种成分对铝的衰减系数分别为A和B（1）（2）则：由题意，x=0时，IA=IBx=x时，IA=5IB（1）（2），得5=ex（0.6-0.25）X=4.6（cm）答：应使射线透过46mm的铝板。1.13 解：设透过12mm钢板前后的照射率分别为I和I则： m=4，即mT1/2=12，T1/2=3（mm）=答：半价层为3mm，吸收系数=2.31（cm）-1。（1）（2）1.14 解：设焦距为2m和4m时透过钢板前的射线强度分别为I01和I02，透过后分别为I1和I2则： （1）（2），得= （3）由题意， （4）将（4）代入（3）X=1n6X=答：钢板厚14.9mm，半价层为5.8mm。1.15 解：设合金密度为，吸收系数为声，各合金元素的质量吸收系数分别
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