JTAG边界扫描测试平台

1、金鹏飞 JTAG 边界扫描测试平台 深圳市金鹏飞科技发展有限公司目 录一、 JTAG 平台功能 .3二、 JTAG 平台优势 .3三、 JTAG 平台价值 .4四、 JTAG 平台架构 .5 4.1 硬件结构 .5 4.2 软件结构 .5五、 JTAG 平台模块 .6六、版本说明 .7 6.1 开发版 .8 6.2 测试版 .8随着通讯电子技术发展,芯片、单板、系统的复杂度不断提高,体积不断缩小,测试的 难度、成本、周期都在急剧增加。边界扫描测试技术就是在这种背景下应运而生的,并成为 业界最成熟的 DFT 技术。深圳市金鹏飞科技发展有限公司经过不懈努力,自主开发了金鹏飞 JTAG 边界扫描测试

2、 平台。它可以应用于产品设计、原型调试、生产测试、现场安装、维修服务等产品生命周期 的全过程, 实现无夹具测试技术, 该平台的广泛应用对降低测试难度、 提高测试质量提高产 品故障定位能力等各个方面都有重大意义。一、 JTAG 平台功能 JTAG 扫描链路分析测试 BS 器件安装检查电路板 DFT 设计检查电路板工艺互连测试故障定位诊断 TCL 脚本交互调试非 BS 扩展测试物理接口测试电路板可靠性验证 CLUSTER 逻辑功能验证 ASIC 芯片功能验证信号采样调试 CPU 读写调试 FLASH 加载存储器测试 FPGA/PLD二、 JTAG 平台优势提供开发调试、小批量验证、批量生产和市场服

3、务的综合解决方案;集成各种电路板级 /系统级工艺测试诊断、 ISP 编程、开发调试功能;提供开放的工业级标准脚本开发语言;支持针对非 BS 器件的二次开发能力;支持开发工程师根据需要开发自己的交互测试功能;降低开发复杂程度,降低测试开发成本;支持多电路板系统的互连测试需求;支持多扫描链路自动切换;提供各种高性能的硬件配置;支持多工作频率硬件卡配置,支持的最高频率达 100M ;支持多类型的数据总线:PCI/USB/PPT/ETHERNET等;支持从 1.5V 到 5V 的输出信号电平;提供 DFT 分析设计手段;提供了可靠性验证手段;提供故障覆盖率很高的早期测试手段;提供故障诊断定位能力;支持

4、 DDR/SRAM/SDRAM/存储器的外围互连测试和单元功能测试;提供 FPGA/CPLD器件配置编程手段;提供与离线编程速度相当的 FLASH 在线编程校验手段;支持 RUNBIST 、 INTEST 和 CLUSTER 测试;支持逻辑功能自学习功能;提供逻辑设计观察和管脚触发调试验证手段;兼容其它开发测试工具;提供各种标准数据接口;支持不同格式的网表文件、 BSDL 文件、 SVF 文件、 PLD 配置文件等 CAE/CAD数 据接口;提供测试项目文档锁定功能;结构化软硬件模块架构;通用性强;测试项容易移植;资源共享能力强;中文操作界面;支持 ;三、 JTAG加强了客户对复杂产品的生产测

5、试和现场维修测试能力;提高可测试性设计水平;提高了知识传播效率和产品测试程序的及时性和有效性;提升产品质量;改善因产品复杂性和密度增加导致的测试难度;改善用户测试故障覆盖率;完善可靠性测试手段;缩短产品上市时间;缩短原型调试时间;缩短生产测试装备开发时间;缩短生产准备时间;缩短电路板测试和编程时间;缩短故障定位诊断时间;降低了对功能测试的依赖性,有助于突破功能测试的效率瓶颈;降低生产测试成本降低可编程器件的物流成本;降低自动测试设备投资;降低人员培训成本;降低市场维修服务成本和难度;提供标准的 ASIC 逻辑设计测试验证工具;灵活的在线加载能力提升了产品定制能力;本土化技术支持服务;四、 JT

6、AG 平台架构4.1 硬件结构金鹏飞 JTAG 图 1 金鹏飞 边界扫描测试平台硬件模块关系图测试计算机负责用户接口, 响应用户测试指令和数据, 反馈测试进度, 分析诊断测试结 果;同时负责边界扫描测试控制器接口,控制测试执行、监控控制器执行状态。JTAG控制器负责接收计算机下发的测试指令和数据,产生串行的 JTAG 接口信号(TCK 、 TDI 、 TDO 、 TMS 、 /TRST ,发送测试数据给被测板,完成各种测试和加载,同时将测试结果 反馈给计算机。 计算机和控制器进行数据交换需要一个接口控制电路, 可以是 USB 接口、 以 太网接口,甚至可以使用仪器专用接口 GPIB 和 VXI

7、 扩展总线模块的形式。UUT即被测对象,如在测印刷电路板等。4.2 软件金鹏飞 JTAG 边界扫描测试平台从界面接收几种基本电路板描述文本文件:网表文件、 BSDL 文件和 BSL 文件等;然后进行编译分析,得到电路的器件和网络连接信息,并根据测 试项配置对电路中的可测网络自动生成测试矢量, 按照测试模式将测试矢量施加到被测电路深圳市金鹏飞科技发展有限公司 上，同时取回测试响应；根据一定的故障诊断算法得到故障的类型和准确的故障定位信息。 还可以直接进行在线加载、交互调试、电路采样、SVF 文件执行等操作。 五、JTAG 平台模块 金鹏飞 JTAG 边界扫描平台根据测试需求和业务需求提供的所有功

8、能模块如下： 模块 功能 工程管理 基础测试 基础管理模块 描述 完成工程建立、打开、关闭等操作； 完成对 BSDL/网表等工程信息的编译。 完成扫描链编辑、配置及切换操作； 完成 JTAG 扫描链路自检功能。 完成对边界扫描器件的 IDCODE 校验测试； 确认器件的生产厂商、类型及版本等信息。 确认 BS 器件安装是否正确，排除错焊、漏焊等 缺陷； 完成 USERCODE 校验校验； 确认是否为客户软硬件版本等相关信息； 完成 CPU 库、FLASH 库、合并库等资料的管理； 完成基础可测试网络自动互连测试； 完成扩展可测试网络自动互连测试； 完成电阻、244 等器件网络自动优化处理，提高

9、 测试覆盖率和自动化程度。 完成多种互连测试算法，自动产生测试矢量 ATPG； 完成多种故障诊断算法，故障定位及效率大大 提升。 提供标准工业级脚本测试功能； 支持工程师实现各种交互测试功能的二次开 发：FIFO 总线、RAM 总线、PCI 总线等，可以使 用脚本对各信号进行控制，从而完成相关的功 能测试； 支持对外围接口电路进行仿真测试； 支持对非 BS 器件扩展的测试开发：支持 AD、 DA、接插件及其他非 BS 器件信号的测试，有 效提升测试覆盖率； 支持资源共享和测试项的快速开发； 完成存储器外围互连测试和单元功能测试； 支持多种测试算法自动生成测试矢量； 支持存储器的 BIST 测试

10、； 完成多种缺陷的检测定位； 完成 BIST 结构芯片的内部功能自测试； 支持 ASIC 芯片设计的验证测试； IDCODE 测试 USERCODE 测试 库管理 生产测试模块 互连测试 脚本测试 存储器测试 RUNBIST 测试 深圳市金鹏飞科技发展有限公司 完成芯片的 INTEST 内部功能比对测试； 支持 ASIC 芯片设计的验证测试； 完成组合逻辑电路、时钟信号及网络短路故障 的自学习测试覆盖，提高 JTAG 测试覆盖率和自 动化测试能力； 完成非 BS 组合逻辑电路功能的比对测试，提升 测试效率和覆盖率； 完成各项目的列表测试功能； 自动生成加载各种测试项，甚至包括测试脚本 的执行等

11、，简化生产测试操作，提高生产测试 操作效率，降低出错的可能性。 支持文件锁定功能，具有下一带测试工具显著 特征； 完成单板焊接完成后各种通用 FLASH 的在线加 载和 E2PROM 的在板编程； 拥有常用的 CPU、FLASH 库支持； 支持 FLASH 芯片 ID 读取与校验、块擦除、整片 擦除、数据块编程读取校验等； 支持狗电路处理或异常的电路设计； 完成 PLD/FPGA 配置编程。 支持 SVF 文件格式。 完成网络进行分类和统计； 完成 DFT 开发评估指导； 自动生成 EXECL 格式的覆盖率报告； 完成对设计原理图的网表分析，确保扫描链设 计符合规范要求； 完成各 BS 器件的

12、定时失效测试，验证单板的容 错性能。 支持攻击型容错测试的典型手段； 完成 CPU 读写操作仿真，灵活存取各存储器和 寄存器数据； 支持图形显示接口； 完成芯片正常工作下的芯片引脚信号采样、观 察和分析。 支持图形化显示。 INTEST 测试 自学习测试 CLUSTER 测试 测试列项管理 FLASH 加载 数据加载模块 PLD/FPGA 配置编程 网络覆盖分析 规范检查 开发调试模块 故障插入 CPU 读写 电路采样 六、版本说明 为更好地适用不同的应用场合， 金鹏飞 JTAG 边界扫描测试平台提供了不同的版本供用 户选择。 深圳市金鹏飞科技发展有限公司 6.1 开发版 开发版本主要适用于开发人员使用。 该版本除了包含系统提供的自动测试项目外， 还提 供了定制测试项的二次开发界面、 在线加载界面、 逻辑功能验证测试界面、 可靠性验证界面、 开发调试界面、工程管理界面等，开发工程师可以利用这些功能实现各种测试功能的开发、 调试、工程管理等操作。 开发版除了提供上述全部平台功能模块外，还提供了测试工程打包功能