各种吸波材料的比较教材

1、各种吸波材料的比拟Christopher L Holloway沙斐翻译、八，、刖言最早暗室全电波建于50年代，用于天线测量。吸波材料由动物毛发编制而成，外 涂一层碳， 厚2英寸5.08cm 。在2.410GHz正入射时，反射系数为 -20dB。60年代，以 上的吸波材料被新 一代、由一定形状的吸波材料所取代，正入射时反射系数为-40dB。目前普遍使用的聚氨酯锥体 40年代就开始研究，60年代才有产品。正入射时的反射系 数为-60dB 然而可使用的频率范围较高，要求锥体的厚度尖顶到基座至少是几个波长。电-厚锥体的良好性能主要来源于锥体直接的良好多重反射。由于锥体的厚度大于波长，锥体的周边反射入射

2、波。波在相邻的锥体间不断的反射，再反射很屡次。每次反射时总有一局部波被锥体吸收。因此，仅有小局部抵达锥体基座。基座吸收后到达金属板，金属板反射后又进入锥体，再通过多重反射和吸收。最后从锥体的尖返回的波已是非常小了。电-厚锥体的最正确性能的获得，依靠锥体内渗碳加载的调节，要求碳负载足够小，以便每次波反射时进入锥体的波尽可能多，但渗碳加载又要足够大，以便充分吸收进入锥体的波的能量。半电波暗室最早用于 70年代，作为开阔场地的替代场地，测量辐射发射。频率范围为30- 1000MHz。但最早暗室中粘贴的典型的吸波材料厚度为3-6英尺0.91 1.83m 。显然在30MHz的频率上，厚度不可能是几个波长

3、。因此暗室的频率范围被限制在90 1000MHz。-薄吸波材料即厚度30 90MHz频段的吸波材料开发缓慢，因为无法预测和测量电180年代中期，计算和测量技【4 -【6】中表达了在理论模型中【7】一【10】中表达了使用大测< '的性能，只能安装上以后，测量暗室特性来判定。直到4术开展以后，对小型宽带吸波材料的评估才成为可能。使用“均质化方法可以精确地计算吸波材料的反射特性。 试装置直接测小型宽带吸波材料的反射特性。在整个30 1000MHz的频段都要获得小的反射率，那么小型宽带吸波材料必须使用锥形模型，它们在高频段是电-厚模型，但在低频段那么是电-薄形材料。电波入射到电-薄型吸波

4、材 料上时，它们并 不在乎吸波材料的实际几何形状是锥型还是楔型。相反，它们的行为就象照射到一固体媒质上，该媒质的有效；和 随进入媒质的距离而变化。注意这是有效；和有效和构成吸波材料的实际；和是不同的。最正确的吸波材料提供了从空气阻抗到吸波材料基座的波阻抗的逐渐过渡。正确的渗碳加载可使大局部入射波穿透锥或楔，并在通过基座时被吸收。更进一步调节渗碳可以使入射波被锥或楔反射的那一局部和从金属板反射后从吸波材料中透出来的那一局部那互相抵消，这种抵消可以获得非常小的反射率。显然只能发生在较窄的频率范围。一般说来渗碳加载对电-厚和电-薄材料的要求是不同的，【6】因此对于工作频率在 30 1000MHz的小

5、型宽带吸波材料锥或楔型，渗碳加载既要考虑高频时的电-厚，又要考虑低频时的电 -薄情况。这是 极富于挑战性的。60年代初期日本开发了电-薄型铁氧体瓦作为聚氨酯锥型和楔型的替代物。由于瓦的吸波性能和空气比拟接近，在空气-瓦片界面反射很小，入射波直接渗入瓦片。又因为瓦片对磁场损耗大，所以渗入波被吸收。如有穿过瓦片的，那么被金属板反射，重又回到瓦片，被再次吸收。如还有穿出瓦片回到空气中的，那么可以象锥型和楔型吸波材料那样，调节瓦片厚度，在一定的较窄的频率范围内使其与瓦片直接反射到空气中的那一局部相抵消。近年来，薄锥和楔(200 1000MHz )+铁氧体瓦+介质层(30 600MHz )构成了超 小型

6、宽带“混 合吸波材料在30 1000MHz获得了很好的性能【14】【15】。本文将表达吸波材料的反射率，包括全锥、绞锥、楔、铁氧体瓦、铁氧体格混合吸波材料，将讨论它们的优缺点及其应用。EEi反射系数(reflection coefficient )(1)二.吸波材料的反射率反射率(reflectivity ) R=20 log 10(丨)(dB)对各种暗室需要什么样的吸波材料，反射率如何，与暗室大小、形状、用途有关。最可靠方法是先进行预测分析。【16】-【20】表达了在暗室内部进行麦克斯韦方程式的全三维解法。这里绘出一般指导表格，是根据以往的设计和实践总结出来的。表一吸波材料反射率的一般指导表

7、格暗室用途吸波材料反射率的临界值 R (dB)军用标准-6dB，正入射，50 250MHz-10dB，正入射， 250MHz抗扰度-18dB，正入射，80- 1000MHZ符合场均匀性要求-18dB，正入射，30- 1000MHZ发射3m暗室-12dB ,45 入射，30- 1000MHZ符合归一化场地衰减-20dB，正入射，30- 1000MHZNSA的要求发射10m暗室-15dB , 45 入射，30-1000MHZ由表可知:吸波材料在斜入射时的反射率劣于正入射，所以暗室越窄长，对吸波材料的反射率要 求越高(例，3m法和110m法比拟)。对吸波材料的反射率要求，发射抗扰度 军标。因为，NS

8、A是与开阔场地的理论值相比拟，要求较严。NSA规定_4dB的允许值中只有 _1dB是给暗室场地的。抗扰度对均匀场要求是室内场互相比拟要求低一些，军标原本就没有硬性规定，测试距离又是1m,所以要求更低些。对于斜入射反射率的测试，原先的大测试装置【7】一【10】只能用作正入射测试(301000MHz )，如果用拱形架测试【26】【27】斜入射也只能测 600MHz以上频段。美国NIST(in Boulder CO )已开发了一种装置，利用时域测量方法，可以测量30-1000MHz的斜入射反射率【28】一【30 三.聚氨酯锥型吸波材料锥的反射率已经可以很精确地用数值模型来计算，已采用有限元法、矩量法

9、和有限差分技术【16】【17】【31】一【39】。这些技术计算精度高，但太精深，耗时长。【4】一【6】和【40】中研究了低频段即锥或楔型吸波材料的顶点之间的距离小于波长的频段电磁波的相互作用，提出利用“均质化方法把横截面为周期性变化的结构，看成是横截面是均匀的介质，从而可以用大家熟知的Riccati方程式的数字解法来求出平面波入射到该介质上的反射率。【4】【6】【14】【37】和【39】计算了锥型顶点间距小于1/2波长时的反射率。计算结果和实测很符合。Riccati方程解法等效于计算一个分层区域的综合反射率，但是它需要一个微分方程的数值解法。然而，分层区域的反射率本可以用经典传输线方法得到【4

10、1】。本文将使用分层方法计算。根据“均质化方法，电波在锥型吸波材料区域中的传播可以看成波在平面分层区域中传播。平面分层垂直于锥的轴向，设为Z。每层由周期性分布的吸波方块组成，如果吸波方块阵的周期小于波长和趋肤效应，于是各层可以被模拟为单轴向异性的材料，材料特性由【5【40】给出。St So2(_J-帝。)1(1 + g)s+(1-g) j2岸至?1(1 + g)%+(1-g)鷺一式中，0 Jo真空中的参数a Aa吸波材料的实际参数；z各层Z方向的参数轴向t：7各层X、Y方向的参数横向g 二 ZL 注：当 z = L 时，；z； t； a， "z 二 7 二 Ja3 式中，；z、？-

11、z是精确的；t、Jt是近似的，称为 Hashin-Shtrikman公式【42】;和由【5】【40】给出以上方程精度为5 %【43 o平面波入射到一个轴向异性的分层区域时，各层的有效亠严对于垂直极化TE %fV± 4 对于平行式极化V为入射角所谓垂直极化TE 是指电场与入射面垂直；平 行极化TM 是指电场与入射面平行。【41 利用经典传输线理论e%qj2kozdoej2(k1zk0z)d0Dej2k1zd1e01Vj 2k d e1z o-12rD彳ik1 z)d1j2kn 丄 zdn 丄J "22e升12 / _ 1I2 心你屮丄Y4丄心ej 2 knz dnn -11

12、Pn -1n-ni_ kn n/zzknzn -1z knzkknzk n z对于TM波式中knz是z方向区n的传播常数，由下式给出 系数，由下式给出:knz V"eff 一二 ； eff(8)本文计算反射率时所用的材料参数来自于“附录，请查阅。图2，正入射时的反射率，锥为:1.22m(4ft) =1.02m(40.16i n)(L) 0.2m(7.87i n) (D)图3，正入射时的反射率直径为:对于TE波2.44m(8ft) =2.10m(82.67in )(L) 0.34m(13.33in)(D)渗碳加载 10% 26% 34 % 频率301000MHz8ft锥比4ft锥的反射

13、率至少低 10dB。50图2 1.22m (4ft) 聚氨酯锥阵、三种不同渗碳加载的正入射反射率freque ncy (MHz)图2和图3显示4ft锥最正确渗碳加载为 34%, 8ft锥为26%锥的作用象阻抗匹配网络。 渗碳负载量决定锥的有效特性阻抗。碳负载过高那么阻抗变化(从自由空间到吸波材料基座)太陡峭，引起入射波从锥尖附近区域反射。反之，渗碳负载过低，那么入射波透入锥体后不被8ft,渗碳加载为26% (典型值)50|002(Frequcwy (MHz)图3 2.44m (8ft)聚氨酯锥阵、三种不同渗碳加载的正入射反射率图4的反射率(4ft锥)符合军标和抗扰度要求，在70 - 1000M

14、Hz符合辐射测试要求。这符合【3 German报告的结果，该报告表达了35个半电波暗室，暗室使用锥体厚度0.9m(3ft) ? 2.0m(6.6ft测得NSA在90MHz以上与开阔场地根本相符。1c*10 1Hfl|l巒“电、.jFIk %、U 二 45J1JFV蒼、 Z = / * 、V 'PTFV XXXU -彳脅>40TMTk£ 、 .50 A *u1 一 *I 1金_亠q_ _五 _._ j-营亠-2050】00<2D0 XM)500FrrqiKii tv (Mill)r图4 1.22m (4ft)聚氨酯锥阵、26%碳加载和45'斜入射时的反射率图

15、5的反射率(8ft锥)符合军标、抗扰度和3m法辐射测试要求(40? 1000MHz )可见，锥体厚度以加一倍后，使40 70MHz频段也符合了辐射测试要求。Holloway 和 Kuester【6和 Gibbons【44 曾经证明在 3m 半暗室安装 8ft ( 2.44m )甚 至 6ft (1.83m ) 的锥体就可以在 30 1000MHz内使NSA到达_4dB的要求，只要适当地调26%图6显示了调整的结果，整锥长L,而仍保证L八8 ft,这时渗碳负载为典型值L的调整在30-40MHZ内对反射率的影响很大。lrrt!L|Lu : ncv 1z|O-Oae=4rTEJi*MMO 3D0卜

16、nqiiMdcy (Mth)I0W>图5 2.44m (8ft) 聚氨酯锥阵、26%渗碳加载0和45、斜入射时的反射率r1二 7 IM m LL -2 100 m11.'2050m500图6 2.44m (8ft)聚氨酯锥阵、各种倾斜长度(L)、26%渗碳加载的正入射反射率3050IDO200 3fl0500kreijur ncjf (Alllr);1.000图 7 2.44m (8ft)聚氨酯锥阵、L=2.08m (6.82ft)、26%碳加载的0和45、斜入射反射率符合图7显示了 8ft锥当L =2.08m(6.82 ft)时，26%渗碳负载时无论是正入射和斜入射都军标、抗扰

17、度、3m法(30- 1000MHz )辐射测试的要求。图8聚氨酯绞锥图示四 绞锥(TWISTED URETHANE RYRMIDS)绞锥即把锥体转45'组成锥体群，如图8所示，可以节省材料。其有效材料特性如下【43】：； 0? g ； aEo)(A- 1)(1_f)_A| n1+f(A=_1)l j2 1X1 f )+1 n 1+ f2 1) JZLf =2-、L；oL-zfZL图9和图10分别为4ft (1.22m)和8ft (2.44m)绞锥，26%渗碳负载的正入射和 40入 射时的反射率，计算方法仍可采用第三节的分层法。由图9可以看出4ft绞锥符合军标，但抗扰度和 8ft绞锥符合

18、军标，但抗扰度和 虽然绞锥不如正规锥体好(图3m法辐射值在135 1000MHz中符合要求；3m法辐射值在70 1000MHz中符合要求；4,图5)，但Gibbons【44】显示采用不同几何形状和渗碳负载，绞锥可以优化而获得与标准锥同样的反射率。Gibbons还表达了用2.74m (9ft)绞锥可以到达军标、抗扰度、3m法、10m法的要求。Fr 代(MHr |图9 1.22m(4ft)聚氨酯绞锥、26%渗碳加载0"和45入射的反射率图 10 2.44m(8ft)聚氨酯绞锥、26%碳加载0"和45、入射的反射率五. 铁氧体瓦和格铁氧体瓦可以用经典传输线方程来建模。背后为金属墙

19、的铁氧体瓦的反射率.为z 一口 =z10(11)12式中d为瓦厚度，式体传播常数=j 13铁氧体格亦成华夫格见图11,也可用【5】所述的“均质化方法建模，但与锥体不同的是有效；，不随波的传播变化即与轴向无关，而且材质是空气和铁氧体。反4 h图11铁氧体格华夫格结构图示Nakamura和Hirasawa【45】进行了相同周期结构的数值分析发现Hashin-Shtrikman上界最大化由【42】【43】给出与铁氧体格的周期性结构的有效材料特性相关性很大，所以铁氧体格的横材料特性可以近似为：1 gV ta1. g；0 - a 2 ； a卩=g(14)ta1. g2J式中：g格的尺寸，填充系数a、&q

20、uot;a为铁氧体材料的实际复参数LLZ、z与3式相冋，即1-g % gAa以上横截面参数可以代入12式求得铁氧体格的反射率。如果14中的材料参数与Keller定标理论互相交换？那么3就得到了 Hashin-Shtrikman下界，由【42】【43 给出r t图12 6.38mm0.25in 铁氧体瓦0和45、入射的反射率图12为铁氧体瓦材料特性见附录的反射率，600MHz以下性能很好，600MHz以上就变坏，可符合军标、抗扰度和3m法v 600MHz 。铁氧体格的反射率与填充系数g密切相关，格比瓦的好处在于 g可以改变，使反射率最 小点落在所需频率上。格的频率范围可以超过瓦，只要精心设计厚度

21、d、填充系数g、铁氧体材料特性。图13显示了 18mm厚，g=0.725的格的最正确反射率材料参数见【47 ，正 入射和450入射，反射率符合军标、抗扰度、3m法301000MHz 。图13 18mm厚，g=0.725的格、7%渗碳加载的0和45、入射的反射率图14聚氨酯锥和铁氧体瓦混合吸波材料图示六. 混合吸波材料小锥体在200MHz以上有很小的反射率，而铁氧体瓦在600MHz以下有较好的性能，所以可把二者结合起来，从而在全频段都可到达较好的反射率，称混合吸波材料。分析混合吸波材料时，可用(3)的有效材料特性分析锥体，用第五节的方法分析瓦。图15显示正入射时的反射率，混合吸波材料0.616m

22、 (2.02ft) =0.61m (2ft) 锥(7%, 26%渗碳加载)+6mm (0.24in)铁氧体瓦。图中又画出了单锥单瓦的反射率。由图可知，7%锥和瓦的组合可以符合全频段反射率的需要。单锥单瓦都不行，26%锥和瓦的组合200MHz以下也不符合，这就可以看出锥和瓦组合时匹配的重要性。图16是7%锥和瓦的组合时正入射和450斜射时的反射率，符合全频段要求。0-?03030S0100200100S001.000hrAeticv (Ml I?)图15 0.612m (2.02ft)锥/铁氧体瓦混合吸波材料(瓦厚6mm的正入射反射率40-60混合吸波材料也可由绞锥和瓦组成，反射率计算可用(9)

23、式的有效材料特性参数。0.61m(2ft)绞锥和6mm (0.24in)瓦的组合，反射率和图 15、16非常接近。211TEM3D1iIDO200 JOOSOT1I rrqurnry (MHr)图16图15 0.616m (2.02ft)锥/铁氧体瓦混合吸波材料(瓦厚6mrjnSO1.0000和45入射的反射率图15和16的反射率是由商用锥和瓦计算得到的， 统的改变材料特性和尺寸的方法获得。10m法所需的低反射率可以通过系七. 楔和瓦混合吸波材料楔的模型在【6】【40】中表达，对于特殊的极化情况楔比锥更好，于是人们想到在混合吸波材oltETIBItlDg WCdgESfierrife tik料

24、中把楔的方向交叉安排，如图17所示，可能使性能更好。【5】【40】给出了楔的有效材料特性参数如下契交叉阵图示1-g訂g a_1 -g r g 叮式中g "L，"a为楔的实际复参数。上述15式是对应于楔安排在同一方向的情况，Nevard and Keller【48】给出了楔方向交叉安排时的修正，指出周期对的2维异性介质的电导率b是位置的函数，可由下式给 出二 eff -1 二 2同理可认为：a (17)一；X ; y讥二、Fx6把(15)代入(17)即可得每层的有效特性参数，然后用第三节的分层法可计算吸波材料的反射率。-nap-lfiMH八r r图18 0.61m(2ft)交

25、叉安置的楔，10%渗碳负载，与6.38mm(0.25in)铁氧体瓦组成的混合吸波材料的0和45、入射的反射率鼻 l dKIccuic layer图19铁氧体瓦/介质混合材料的图示图18显示了 0.61m(2ft)交叉安置的楔，10%渗碳负载，与6.38mm(0.25in)铁氧体瓦组 成的混合吸波材料的反射率，包括正入射和450斜射。这些反射率符合军标，但抗扰度和3m法仅在3001000MHz符合。然而，通过优化材料特性和楔的尺寸，可以满足全频段需要【15】。八. 瓦和介质层图12、13显示铁氧体瓦和格在6001000MHz时的反射率恶化，但只要在铁氧体和金属板之间加一层介质，如图19所示，就可

26、以解决该问题，使反射率减小。图 20 显示了 5.0mm (0.2in)瓦反面加 9.53mm (3/8in)、12.7mm (1/2in)和 19.05mm (3/4in) 厚的 商用胶合板，设介电常数为 2.0时的正入射的反射率。由图可知这种组合在600MHz以 上的反射率没有恶化。图21显示了瓦/介质层对不同瓦厚度的正入射的反射率，瓦厚度影响反射率并且影响最图20 5.0mm (0.2in)瓦、各种厚度的介质层组成的的混合吸波材料正入射的反射率-1030$0IW200300500I O00t m| tv rwA 八 m 町图21介质层厚1.27cm (1/2in)、各种厚度的铁氧体瓦组成

27、的混合吸波材料正入射的反射率3丄30$0t-reowwif (Mil打图22 5mm (0.2)瓦加1.27cm (1/2in)胶合板0和45入射时的反射率图22显示了正入射和 450斜射时的反射率，瓦厚5mm (0.2in)，介质厚1.27cm (1/2in)。仍不符合3m法要求。如图23所示。图24是这种混0.64m(2ft),7% 渗碳加载，加九. 锥加瓦加介质层瓦加介质层的斜射特性可以通过锥加瓦加介质层来改善，合吸波材料的正入射和450斜射时的反射率。图中小锥为6mm(0.24in)瓦和1.27cm(1/2in)的胶合板，反射率可以符合军标，抗扰度和3m法辐射要求。图25中尺寸相同，但

28、小锥碳负载为26%，可以看出低频段 30200MHz反射率加大，说明碳负载过大，使入射波被锥体反射而不是被瓦吸收。图23锥/铁氧体/介质层混合吸波材料的图示图24 0.61m (2ft)锥(7%渗碳加载)+ 6mm (0.24in)瓦+ 1.27cm (1/2in)胶合板的混合吸波材料的反射率IO50| 011200)00500LOGI rcquie ncy M H?)图25 0.61m (2ft)锥(26%渗碳加载)+ 6mm (0.24)铁氧体瓦+ 1.27cm (1/2in)胶合板的混合吸波材料的反射率9 45'TLT 4%勺TM袖54)IQ0200 jKK)9Q01*000卜

29、rtifiifm* I创图26锥/铁氧体/介质层(在锥和铁氧体间参加三层氨基甲酸乙酯(urethane)的混合吸波材料的反射率可以进一步改善这种结构，即再在锥和瓦之间加假设干层聚氨脂材料。图26是小锥加三 层不同材料特性和厚度的聚氨脂层加瓦加介质层的正入射和450斜射的反射率。如各局部调 节得好，符合10m法要求也不成问题。十.各种吸波材料的布置典型的标准锥和绞锥在 1001000MHz有较低的反射率，他们的厚度至少大于入/4。铁氧体瓦在30600MHz性能较好，他们的组合可在 301000MHz宽带范围内获得良好的反射特性。锥体的斜射反射率比铁氧体瓦小，因为锥体可以看成分层结构，每层都有不同

30、的材料特性，对于斜射波就象一个阻抗交换网络。这种机理已经被用来设计对某些特殊角度具有最优性能的吸波材料。【50】表达了一种吸波材料可以获得非常好的斜射反射性能，吸波材料使用多层不同厚度和介电常数的介电层。比拟图12、15和16可以看出，锥/瓦，比单瓦的性 能有所改善。瓦的高频性能可以在瓦和金属墙间简单插入一块介质层来改善，图20、22说明反射率在600MHz以上低于-20dB。【51】一【54】指出采用多层设计可以获得更宽的频率性能。介质层能调节吸波材料使之改善高频性能，通过改变介质层和瓦的厚度吸波材料可以调节到针对某个频段改善反射特性， 如果想抑止某个尺寸的暗室中发生不需要的谐振频率， 这

31、一点很重要。图 22 、24 说明在瓦 /介质层前放一个小锥，在500 1000MHz 反射率变坏，但30 80MHz 性能却得到改善。从本文给出的结果来看，不同的吸波材料的性能变化很大，那么“对一个特定的暗室， 应该采用什么样的吸波材料？ 该问题无确定答案，但对于常用的一些暗室军标、抗扰度、 发射，以下将给出一些选择吸波材料的指南：军标测量用暗室是三者中最易符合的，要求是见表 1正入射反射率在 50MHz 250MHz为-6dB , 250MHz以上为-10dB。如果暗室测量在1GHz以下，仅使用铁氧体瓦就 可满足要 求。注意对某些商用铁氧体瓦，可能需要一层介质层例胶合板来提高1GHz 附近

32、的性能。目前有些军标暗室要求30Hz 18GHz，那么需使用商用混合吸波材料，以满足宽带要求，这时铁氧体瓦和锥体的匹配应十分注意。铁氧体在 1GHz 以下工作良好，小锥体在1GHz 以上工作良好。但当二者组合时，如不注意“匹配那么 1? 5GHz 可能发生很大的反射。抗扰度测量暗室根据表 1 ，正入射反射率在 80 1000MHz 时应小于- 1 8 d B 。小锥标 准或绞 锥和瓦的组合可以符合要求。图20 说明瓦/介质层也可满足要求，而且由于没有小锥可以省钱。抗扰度暗室的频率上限可以扩展到3GHz，锥/瓦结果可以到达 3GHz、-18dB反射率的要求，更重要的是瓦/介质层结构只要适中选择瓦

33、厚和介质层厚度也可到达要求。有些新的开发中的铁氧体格也可能到达要求。三者中最困难的是用于辐射测量用的暗室。根据表1, 45 斜入射的反射率 3m 法要求-12dB , 10m要求-15dB。单瓦或瓦/介质层都无法满足要求，因为它们的斜射特性很差。所以一般才用长锥体或小锥 /瓦 /介质层的吸波材料。由于长锥体价格贵，常采用后者。图24、26 显示这种混合吸波材料在全频段具有很好的斜射特性。很多暗室都安装这种吸波材料。有些暗室使用大的交叉楔型混合吸波材料。铁氧体格可以符合3m 法要求见图 13,然而还没见可以符合 10m 法要求的格。目前有一些新的吸波材料结构正在开发用于EMC 暗室。例如中空锥体

34、 【 36 】和薄瓷层chiral 材料【 55】【 57】，把手性 - 是指一种物体与其镜像不存在几何对 具有手性特性 o 30 1000MHz 目前还就有能力在很宽的频率范围中具有【51 】【 54】。最有意思的一种正在研发的吸波材料是 chiral 吸波材料译注： 手性材料 chiral material 称性且不能通过任何操作使之与其镜像相重合的现象， 不太成熟，但把它和本文中的其他吸波材料结构相结合， 很低的反射率。I 一结论本文给出了用于军标、 抗扰度、辐射测量暗室的吸波材料的一般反射率要求。目的是选择适宜的吸波材料。 但该要求仅是通用指南， 暗室的特性与其尺寸有关。 例如尺寸的改

35、变就 可以改变室内的谐振频率， 这可能改变抗扰度的要求。 又例如，暗室变宽一点那么对辐射暗室 斜入射的要求可能松一点。符合这些要求并不能完全保证暗室指标合格，最可靠的方法是在建造暗室前进行暗室内部麦克思韦方程式的三维分析。本文所绘的反射率都是由锥、 斜模型、铁氧体格和交叉楔模型计算得到。这些模型比拟简单可以在一般计算机上完成。本文研究的各种不同吸波材料都基于商用材料，如果这些结构合材料性能可以改变，那么可能获得更好的结果。附录表2是用于本文计算的铁氧体瓦的材料特性参数。表3是聚氨酯吸波材料的材料特性参数，它们都是商用材料参数可从厂家得到聚氨酯吸波材料频率(MHz)7%渗碳加载10%渗碳加载26唸碳加载34%渗碳加载301.840.781.921.2613.5017.8637.96