寻找土壤的成分表格正式版

1、寻找土壤的成分表格正式版方法我在土壤里看到的肉眼放大镜倒入水中寻找土壤的成分方法我在土壤里看到的肉眼放大镜倒入水中方法我在土壤里看到的肉眼放大镜倒入水中寻找土壤的成分方法我在土壤里看到的肉眼放大镜倒入水中方法我在土壤里看到的肉眼放大镜倒入水中寻找土壤的成分方法我在土壤里看到的肉眼放大镜倒入水中方法我在土壤里看到的肉眼放大镜倒入水中寻找土壤的成分方法我在土壤里看到的肉眼放大镜倒入水中方法我在土壤里看到的肉眼放大镜倒入水中寻找土壤的成分方法我在土壤里看到的肉眼放大镜倒入水中方法我在土壤里看到的肉眼放大镜倒入水中寻找土壤的成分方法我在土壤里看到的肉眼放大镜倒入水中营养素参考值营养素参考值（nutri

2、ent referenee values, NRV）指“中国食品标签营养素参考值”的简称，是专用于食品标签的、比较食品营养 成分含量多少的参考标准，是消费者选择食品时的一种营养参照尺 度。营养素参考值主要依据我国居民膳食营养素推荐摄入量（RNI）和适宜摄入量（AI）而制定。中文名：营养素参考值外文名：Nutrient Referenee Values简写:NRV依据:RNI和AI全 称：中国食品标签营养素参考值生质：食品标签营养以下数值经中国营养学会第六届六次常务理事会通过并发布。表1营养素参考值 (NRV营养成分ITRV营养成分能魁MOO kJ5 在蛋白质却e主物秦30 mg脂肪60 z45

3、6 mg胞和脂肪酸20 &500啊胆固醇300 mg700 mg碳忒化合物300 ci甲2000 m謄食纤维亞的000 mg维生青Ait30C irtg维生丟D5 mg15 mg進生鄭King tTE15 mg範mg1 50雉生義恥t. 450 mg堆生惑1.4 mg1.5 Illg维生素昭i 4 mg氟1 mg罐生却蛙2.4 mIS50 mg100 mg3 mg谓40血尊H酸4CD mcDFE4能量相去衣烦k诅：蛋白崗、脂肪i礦水化台物瞬謝别占总能里的跌疽&珈#.能量(KJ)二蛋白质(g)*17+脂肪(g)*37+碳水化合物(g)*17国际统一单位，即焦耳(J)，或卡(cal)。I卡(kca

4、l )指1000g纯水的温度由15C上升到16C所需要的能量 1焦耳(J)是指用1牛顿(N)力把Ikg物体移动Im所需要的能量。“千焦耳”(kJ);“兆焦耳” (mega MJ)。1kcal=4.184kJ成分折算系数 /KJ/g(kcal/g)成分折算系数 /KJ/g(kcal/g)蛋白质17 (4)乙醇（酒精）29 (7)脂肪37 (9)有机酸13 (3)碳水化合物17 (4)膳食纤维8 (2)1kcal=4.184kJ#膳食纤维暂为营养成分标示和计算在营养标签上，以营养素含量占营养素参考值（NRV的百分比标示，指定其修约间隔为 1。计算公式为：X/NRVX 100% = Y %式中：X

5、=食品中某营养素的含量NRV =该营养素的营养素参考值丫 % =计算结果1举例：经测定或计算得知100克饼干中含有:能量1823 kJ蛋白质9.0 g脂肪12.7 g碳水化合物70.6 g钠 204 mg维生素A 72 mg RE维生素B1 0.09 mg参照上表1中上述营养素的NRV数值，根据公式计算结果，并按修约间隔取整数。饼干的营养成分表表示为：营养成分表项目每M九nllVK1523 kJ22 K? 61 , K ? &21 K虢水化舍繭70. E Ei* k菊HZI 0 K维生素占氐 HE编o. ns适用范围NRV仅适用于预包装食品营养标签的标示，但 4岁以下的儿童食品和 专用于孕妇的

6、食品除外。目的和方式用于比较和描述能量或营养成分含量的多少，使用营养声称和零数值 的标示时，用作标准参考数值。使用方式为营养成分含量占营养素参考值 (NRV的百分数；指定NRV% 的修约间隔为1,如1% 5% 16%?。土壤样品标签样品编码350-采样地点福建省县（区市）乡（镇）村组北纬（ ）东经（ ）采样深度（cm）0-采样时间海拔高度（m）采样人样品箱标签样式市县样品箱编号样品个数样品用途样品编号土壤样品流转清单送样单位：接样单位：送样人：接样人：交接时间：年月日序号样品编码采集地点样品状态*乡（镇）村风干样；过2毫米乡（镇）村风干样；过2毫米乡（镇）村风干样；过2毫米乡（镇）村风干样；过

7、2毫米乡（镇）村风干样；过2毫米乡（镇）村风干样；过2毫米乡（镇）村风干样；过2毫米乡（镇）村风干样；过2毫米乡（镇）村风干样；过2毫米乡（镇）村风干样；过2毫米乡（镇）村风干样；过2毫米乡（镇）村风干样；过2毫米乡（镇）村风干样；过2毫米乡（镇）村风干样；过2毫米乡（镇）村风干样；过2毫米乡（镇）村风干样；过2毫米乡（镇）村风干样；过2毫米乡（镇）村风干样；过2毫米乡（镇）村风干样；过2毫米乡（镇）村风干样；过2毫米乡（镇）村风干样；过2毫米乡（镇）村风干样；过2毫米县（区）乡镇米样点位移清单原来点位序号样品编码原经纬度位移后经纬度位移原因福建省主要农产品产地环境监测市县（区）采样点位信登记

8、表（耕地 园地）登记时间：年月日第页点位编码田块承包人采样地点市县（区）乡（镇）行政村组北纬O东经O区域类别工矿企业周边污水灌区大中城市郊区一般农区海拔高度m土地利用耕地园地水田或旱地水田旱地地形条件平原台地丘陵低山中山灌溉条件漫灌喷灌滴灌沟灌渗灌无灌溉污染源类型工业废水工业废渣工业废气农用化学物质及有机肥其他污灌情况纯污灌清污混灌间歇污灌清水灌溉亩施肥情况（公斤/年）氮肥磷肥钾肥复合肥 有机肥其他垃圾污泥使用情况有无采样深度0 cm主要农作物现场采样记录（通过观察和询问农民，了解调查区土壤上植物的生长状况：植株是否矮小？叶片是否黄化？产量是否正常？品质是否受到影响？.农民平常是否采取一些应对

9、措施？附近有污染源的，要进一步说明，如铅锌矿、化工厂、垃圾堆放场等）校对人记录人调查人09030141 第三组作业按我们的理解， 材料表面成分和结构的表征即是材料的表面成分和结构的分析。 表面成 分分析包括表面元素组成、化学态及其在表层的分布(横向和纵向)测定等。 表面成分分析 技术主要有俄歇电子能谱 (AES) ，X 射线光电子能谱( XPS )，二次离子质谱 (SIMS) ，电子 探针显微分析，离子探针显微分析等。表面结构分析指研究表面晶相结构类型或原子排列， 表面结构分析技术主要有 X 射线衍射、低能电子衍射( LEED )、光电子衍射( XPD )、中子 衍射、 扫描隧道显微镜和原子力

10、显微镜等。 通过分析这些能谱图和衍射花样的特点， 来表征 材料表面的成分和结构。1. 表面成分分析1.1俄歇电子能谱分析常规俄歇电子能谱分析 (AES ， Auger ElectronSpectroscopy) 是利用入射电子束使原子 内层能级电离， 产生无辐射俄歇跃迁， 俄歇电子逃逸到真空中， 用电子能谱仪在真空中对其 进行探测的一种分析方法。 在薄膜材料化学成分的分析方面， 俄歇电子能谱是应用最为广泛 的分析方法，它能对表面 0 52 nm范围内的化学成分进行灵敏的分析，分析速度快，能 分析从Li U的所有元素，不仅能定量分析，而且能提供化学结合状态的情况。亦可用氩或 其它惰性气体离子对试

11、样待分析部分进行溅射刻蚀，从而得到材料沿纵向的元素成分分析。俄歇电子能谱基本原理入射电子束和物质作用， 可以激发出原子的内层电子。 外层电子向内层跃迁过程中所释 放的能量，可能以X光的形式放出，即产生特征 X射线，也可能又使核外另一电子激发成为 自由电子，这种自由电子就是俄歇电子。对于一个原子来说,激发态原子在释放能量时只能进行一种发射：特征 X射线或俄歇电子。原子序数大的元素，特征X射线的发射几率较大，原子序数小的元素，俄歇电子发射几率较大，当原子序数为33时，两种发射几率大致相等。因此，俄歇电子能谱适用于轻元素的分析。如果电子束将某原子 K层电子激发为自由电子，L层电子跃迁到K层，释放的能

12、量又将L层的另一个电子激发为俄歇电子， 这个俄歇电子就称为 KLL 俄歇电子。 同样， LMM 俄歇电子 是L层电子被激发，M层电子填充到L层，释放的能量又使另一个 M层电子激发所形成的俄歇 电子。对于原子序数为Z的原子,俄歇电子的能量可以用下面经验公式计算：EWXY(Z)=EW(Z)-EX(Z)- EY(Z+ 卜(10.6)式中，EWXY(Z):原子序数为Z的原子，W空穴被X电子填充得到的俄歇电子 Y的能量。EW(Z)-EX(Z) : X电子填充W空穴时释放的能量。EY(Z+ A) : Y电子电离所需的能量。因为Y电子是在已有一个空穴的情况下电离的，因此，该电离能相当于原子序数为Z和Z+1之

13、间的原子的电离能。其中A =1/2-1/3。根据式(10.6)和各元素的电子电离能，可以计算出各俄歇电子的能量，制成谱图手册。因此， 只要测定出俄歇电子的能量， 对照现有的俄歇 电子能量图表，即可确定样品表面的成份。1.2 X 射线光电子能谱分析X射线光电子能谱分析 (XPS , X ray Photoeleetron Spectroscopy)是利用X射线源产生很强的X射线轰击样品，从样品中激发出电子，并将其引入能量分析器，探测经过能量分析 的电子，做出X射线对能量的分布图一一X射线光电子能谱，它可以用于区分非金属原子的 化学状态和金属的氧化状态，所以又叫做“化学分析光电子能谱仪(ESCA

14、，ElectronSpectroscopy for Chemical Analysis) ”。利用 XPS 可以进行除氢以外全部元素的定探测性、定量和化学状态分析，其探测深度依赖于电子平均自由程。对于金属及其氧化物， 深度为0, 52. 5nm。XPS的绝对灵敏度很高，是一种超微最分析技术，分析时所需样品 很少，一般10 g左占即可，因此XPS是薄膜材料最有效的分析手段之一。1.3 电子探针 x 射线显微镜分析电子探针x射线显微镜分析(EPMA， ElectronProbe Micoanalyser) 是一种较早发展起来 的x射线元素分析方法，它是利用一束细聚焦高能电子与物质凌面相互作用时，激

15、发产生特 征x射线来进行成分分析的。由于特征 x射线的出射范围较深(微米数量级)，因此它属于一种 表层分析方法。它所分析的区域一般可以从1到几十，被测元素的绝对感量可达 10 0g。可分析元素范围为 492元素。对于原子序数大于 10的元素来说， 定量分析的相对精度大约为 1 ；可对样品进行点分析、线扫描、面分布等分析。1.4离子探针显微分析离子探针显微分析 (IMMA ， Ion Microprobe MassAnalysis) 是将离子源产生的一次离子 加速形成能量为几千至一万多电子伏的离子束后打向样品表面，在样品表面产生正、 负二次离子。将这些二次离子引入质谱仪，经放大后记录下荷质比(m

16、 / e)及其强度并根据荷质比和强度进行元素的定性和定量分析。 使用离子探针显微术可进行同位素分析、轻元素高灵敏度的分析 (包括氢 )、1 10 nm 表层分析，亦可进行纵向三维分析。在作纵向分析时，应考虑 纵向分辨率、 浓度测定灵敏度和三维观察等各因素， 必须严格控制测量条件。离子探针显微分析仪探测离子扫描像的能力较高，所以当某些元素分布采用EPMA的特征x射线像所得衬度不好或难以探测时，采用离子探针显微分析法可获得满意的结果。1.5二次离子质谱分析二次离子质谱分析 (SIMS) 是利用高能离子和固体相互作用，引起基质原子和分子以中 性的和带电的两种状态发射出来，通过高灵敏的质谱技术对此产生

17、的带电粒子(即二次离子 )进行检测，从而进行元素分析。SIMS的主要优点：a在超高真空下(10 7 Pa)进行测试，可以确保得到样品表层的真实信息； b 原则上可以完成周期表中几乎所有元素的低浓度半 定量分析。而传统仪器如原子发射光谱(AES)适用于原子序数33以下的轻元素分析，x一电子能谱(x ray photoelectron spec tmscopy , XPS)适用于原子序数大的重元素分析。C可检测同位素；d可分析化合物。SIMS可检测不易挥发和热不稳定的有机大分子(如银表面沉积的单层B)。e具有高的空间分辨率；f可逐层剥离实现各成分的纵向剖析，连续研究实现 信息纵向大约为一个原子层。

18、而AES、XPS等采用溅射方式将样品逐级剥离，对剥离掉的物质不加分析，只分析新生成的表面。g检测灵敏度最高可优于 ng /g量级。高性能的SIMS的检测灵敏度是所有表面分析法中最高的。除此之外，还有出现电势谱 (APS) 、背散射能谱 (RRS) ，辉光放电发射谱 (GDOES) ，红外谱 (IR)，正电子湮没谱(PAS)，高分辨率电子能力损失谱 (HREEKS)，低能光子辐射(LEPI)，核 反应共振等表面分析技术也得到长远的发展和应用。2. 表面结构分析表面结构分析主要以各种衍射分析最为重要，由于它们以晶体衍射现象为基础，所以衍射分析既可获得表面的晶体结构，又能获得化学式。衍射分析方法包括

19、X射线衍射、电子衍射和中子衍射三种。2.1X射线衍射分析物质结构分析最常用的方法是X射线衍射分析。由于x射线的高穿透能力，x射线衍射分析实际是一种微米级的表层分析。X射线衍射分析 是利用晶体形成的 X射线衍射，对物质进行内部原子在空间分布状况的结构分析方法。将具有一定波长的 X射线照射到结晶性物质上时， X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射，散射的X射衍射X射线满足布拉格(W.L.Bragg )方程：2d sin 0 =n入式中：入是X射线的波长；B是衍射角；d是结晶面间隔；n是整数。波长入可用已知的X射线衍射角测定，进而求得面间隔，即结晶内原子或离子的规则排列状态。将求出的衍射

20、X射线强度和面间隔与已知的表对照，即可确定试样结晶的物质结构，此即定性分析。从衍射X射线强度的比较，可进行定量分析近几十年来，由于高功率，高精度，高稳定性和高灵敏 度x射线衍射仪的出现，特别是计算机应用于衍射仪的控制和数据处理以后，在x射线衍射分析方面有了许多新进展，如定性分析中的计算机检索，定量分析中的泽温(ZeVin)法等新方法，多晶衍射数据全结构分析的里特韦尔德(Rietveld)方法，物相结构分析中多晶衍射花样指标化的计算机方法。用 x射线衍射分析材料表面的晶体结构时，应考虑 x射线的分析厚度， 特别是对于薄膜材料，当基体材料与薄膜材料中有相同的化学成分，并且薄膜的厚度在1 2 tun以下时，应注意排除基体背底衍射峰的干扰，物理气相沉积的薄膜其化学组成往往偏 离物质的化学计量，有时还会产生择优取向，导致x射线衍射峰位偏移及各衍射峰的峰强度发生变化，这是在分析中需要注意的问题。2.2电子衍射分析电子与x射线不同，它穿透材料的能力较弱，一般为1100 nln数量级，并且可以用电磁场进行聚焦，因此电子衍射法(ED , Electron Difraction)常被用作微观表面结构分析。电子衍射分析通常是在电子显微镜分析中和图像分析相配合，其特点是：a灵敏度很高，可以给出几十甚至几纳米微晶的电子衍射花样。b选区电子衍射结构分析可以与电子显微图像观察同时进行，还能得到有关物相的大