光学元件技术要求与检验国际新标准的若干问题

1、文章编号: 10055630 (2002) 01003513光学元件技术要求与检验国际新标准的若干问题徐德衍(中国科学院上海光机所高功率激光物理国家实验室, 上海 201800)摘要: 介绍了 ISO 10110 产生的背景及基本内容, 对其中一些内容予以侧重阐述。 同时也简略地提及该标准与其它一些标准的对应关系。 文末提了几点建议。关键词: ISO 10110; 光学技术要求中图分类号: TN 2文献标识码: AA cer ta in n um ber of que st ion s a bout spec if ica t ion s an d te st of op t ica l e

2、lem en tsX U D e2y a n(Sh angh a i In st itu te o f O p t ic s and F ine M ech an ic s, T h e C h ine se A cadem y o f Sc ience s, Sh angh a i 201800, C h ina)A bstra c t: In th is p ap e r, th e b a sic co n ten t s o f th e ISO 10110 is in t ro du ced b r ief ly an d som e ev iden td iffe ren ce s

3、 b e tw een th e ISO 10110 an d o u r GB stan da rd a re de sc r ib ed in g rea t de ta ils.In th e en d, a sim p le p ropo sa l is p u t.Key word s: ISO10110;op t ica l sp ec if ica t io n1前言国际电工委员会 ( IEC ) 是第一个国际标准化组织, 该组织始于 19 世纪 80 年代后期。长期以来, IEC 仅是自愿性质的国际标准化组织, 但它却孕育其他技术领域标准化组织构建的思想原则。 作为联合国宪章国

4、际组织一部分, 国际标准化组织 ( ISO ) 成立于 1947 年, 其后, 处理各个技术领域中标准化问题的技术委员会相继成立。1979 年, 以统一方式处理光学元件问题的一个新的技术委员会 (T C )成立, 其中包括 ISO /T C 172 光学和光学仪器。T C 172 下属 9 个分会 (SC ) 处理这一领域不同学科的技 术问题, SC 中对应于 ISO 10110 是 SC 1 基本标准, SC I 包括三个工作组 (W G ) , ISO 10110 是W G2 光学制图组起草完成的, 其他两个工作组是W G1 光学检验以及W G3 环境检验。ISO /T C 172/SC

5、1/W G2 起草工作始于 1979 年, 被起草的标准称为“光学制图表示法”, 该文件定为ISO 10110。 长期以来一些学术上的问题, 推延了这个文件的正式颁发与实施。ISO 有一定规定, 当要起草一个国际标准时, 所有应邀起草成员都要携带其本国的相应标准作为起草 时的参考文件。在当时, 最早在 1957 年德国就拥有非常完善、富有价值的国家光学制图技术标准D IN 3140 (D IN )。 与其它标准相比较, D IN 3140 被起草委员会们接受, 作为起草国际标准的基础。 也就是说, ISO 10110 的基础是来自于德国标准D IN 3140。不过, 在光干涉术, 表面计量术,

6、 以及激光技术等一些领域,收稿日期: 2001208207作者简介: 徐德衍( 19392) , 男, 辽宁凤城人, 教授级高级工程师, 主要从事光学与激光计量与精密检测研究。·36·光 学 仪 器第 24 卷美国做出了较大的贡献。光学技术的不断发展, 需要淘汰和摈弃一些老的标准, 修改和充实一些新的、已被采用的内容。 例如, 表面粗糙度, 用相位干涉仪测量波面的描述等等。 换句话说 ISO 10110 中相当一些内容及表述方式与 D IN 3140 已有不小的差异。1980 年 4 月 16 日通过了W G2 完成的“光学制图表示法”。不过, 所有的标准是“有生命的文件”

7、, 它将 在试行中吐故纳新。1996 年正式发布 ISO 10110 的第 1、2、3、5、6、7、9、10 部分, 其余 4 部分于 1997 年正式发布。ISO 10110总的标题称“光学和光学仪器光学元件及系统图纸绘制”该标准文件全面制定了用于光学加工与检验 光学元件及系统的技术图纸绘制及其技术要求的总的技术规范。2基本内容及简要说明基本内容ISO 10110 共包括 13 个部分, 其内容大致可分 4 个方面:第一, 一般规范: P a r t l概述 第二, 光学材料缺陷, 包括:211应力双折射P a r t2P a r t2气泡与杂质P a r t3非均匀性与条纹 第三, 表面特

8、性, 包括:P a r t5面形偏差P a r t6中心偏差P a r t7表面缺陷偏差表面微观轮廓P a r t8第四, 其他规定, 包括:P a r t9表面处理与镀膜元件技术要求的格式非公差数据P a r t10P a r t11P a r t12非球面P a r t13激光辐射破坏阈值 一般规范21221211基本规定波长: 546109m (汞灯 e 线)单位: mm温度: 22±2(除非特殊指明外)21212图纸简要说明视图: 可用阴影线和非阴影线。 轴线: 光线自左向右;光轴双点划线;旋转轴与中心线单点划线。 引线: 图内用逗点引线, 图边用箭头引线。检验区: 5 e

9、表示有效通光口径;用阴影线分区表示;用几幅视图表示;·37·第 1 期徐德衍: 光学元件技术要求与检验国际标准的若干问题体检验指明一般要求与特殊要求;尺寸与角度: 标注方式 (略)材料技术说明: 应有一般说明和特殊说明21213光学图纸的附加说明一般说明: 倍率, 视场光阑位置尺寸, 焦平面尺寸等共 17 项 轴向间距: 可调轴间距用“A ”表示;可改变轴间距用“V ”表示;像点、瞳、视场光阑: 成像位置用“X ”表示;瞳位置用“I”表示;实际光阑用粗实线表示, 其像用虚线表示。213各部分内容说明表 1各部分内容说明标准编号及部分书写形式说明ISO 1011020/A0/

10、材料应力双折射的编码号A 最大光程差, 以 nm /cm 为单位ISO 1011031/N ×A1/材料气泡及杂质编码号N 气泡或杂质数目A 气泡分级数目 ( 尺寸) 以mm 为单位, 是所允许缺陷最大尺寸截 面面积的平方根ISO 1011042/A ; B2/材料非均匀性和条纹编码号A 非均匀性级数B 条纹级数ISO 1011053/A (B /C )- (B /C )A ( - /C )3/A (B )3/-3/A (B /C ) RM SX < D(a ll 5 )3/面形偏差编码号A 最大表面误差( 条纹)( - ) 若偏差是半径偏差的一部分即不给出A 值B PV 不规

11、则性( - ) 未给出B 的值C 旋转对称性误差( 条纹)若(B /C ) 是由A (B ) 代替, 则不要求 C 偏差若A B C 都无要求, 则由单一个( - ) 取代: 3/-X 代表如下之一 t偏离于与理论表面的总的 RM S 或 i不规则性数值的 RM S或 a从非球面度减去不规则性后仍存在的 RM S 非对称性D 最大的 RM S 偏差( 条纹)5 待检验的口径a ll 5 全口径ISO 1011064/ /(L )4/定中心偏差编码号面倾向 胶合楔角L 横向偏移量·38·光学仪器第 24 卷续表 13值得关注的若干问题有些内容国标 GB 1332391 与 I

12、SO 10110 相似, 这里只谈及两者之间的差异和几个值得关注的问题。311分级相反的规定ISO 101104 材料缺陷非均匀性及条纹的分级与国内标准分级含义恰恰相反, 见表 2 及表 3 所示。ISO 1011075/N ×A ; CN ×A ; LN ×A ”; EA ( 方法 1)5/TV 或/TV ; EA 5/RV 或RV ; EA ( 方法 2)5/表面缺陷编码号N 缺陷数目A 级数( 缺陷面积的平方根) C 镀膜缺陷标志N 镀膜缺陷数目A 级数( 缺陷面积的平方根) L 长划痕标志N 长划痕数目A 长划痕宽度(m n) E 倒棱标志A 倒掉棱的尺寸

13、T 透过检验V 可见度的级数R 反射检验E , A 倒棱, 同方法 1ISO 10110136/H ; H th; ;p dg; f p;nT s ×np( 脉冲的)6/E T h; ; nT s( 连续的)6激光辐射破坏阈值编码号 H th 能量密度阈值 激光波长(nm )p dg脉冲宽度分组f p 脉冲重复频率(H 3)nT s 所需要的检验部位数np 每一个检验部位的脉冲数E th 功率密度阈值ISO 101108表面轮郭符号G粗表面轮廓标志( 粗磨)R q最大可允许 RM S 表面粗糙度( m )L 取样长度(nm )P 镜面表面( 抛光过的) , 非定量的PM 有微缺陷抛光

14、面分级符号, M 取 1、2、3 或 4C 下限取样长度(mm ) D 上限取样长度(mm ) P S D 功率谱密度A 常数, 以( m ) 3- B 表示f 粗糙度表面的空间频率(m - 1 )B 空间频率 f 的指数( < 1< B < 3)ISO 101109涂膜符号涂膜技术要求与说明 保护性表面处理( 涂漆)·39·第 1 期徐德衍: 光学元件技术要求与检验国际标准的若干问题表 2ISO 101104 非均匀性类表表 3国标光学均匀性及条纹度(GB 90387)由上表 2 与表 3 比较可见, 国标中类别数字大, 均匀性差; ISO 中类别数字大

15、, 均匀性好。同样地, 条纹度的分类也与国际相反。 在选定材料时必须予以特别当心。 表 4 和表 5 分别给出国外几家大公司关于材料特性和条纹的标准对比。表 4几家公司材料非均匀性标准的比较a: 在一次熔练中b: 在一块坯料中。请注意 ISO 101104 中分类用“c la ss”一词:Scho t t 公司用“G ro up ”; 而 H o ya 和D h a ra 公司用“G rade”一词表 5几家公司条纹标准的比较a: 条纹密度是条纹的有效面积与被检验面积之比的百分数b: 无条纹, 图纸注释中将详细说明条纹密度% aISO 101104D IN 3140Scho t t dH o

16、ya( 级别)D h a ra( 级别) cM IL G174 ( 级别)- b1251054321P 1N V S N12, 3A B C DA B C eD e折射率变化×10- 6ISO 101104D IN 3140 ( 类别)Scho t t( 类别)H o ya( 级别)D h a ra( 级别)M IL G174±50±20±5±2±1±015012345H 1a H 2b H 3b H 4bH 1a H 2b H 3b H 4bA 20A 5A 2A 1无光学均匀性类别折射率最大偏差×10- 6条纹

17、度类别距离及结果说明( 略)H 1H 2H 3H 4±2±5±10±200 0012无 无 无有类别折射率允许最大变化值×- 6012345±50±20±5±2±1±015·40·光 学 仪 器第 24 卷c: 用M IL G 174 标准d: 用M IL G 174 检验e: 平行条纹标准中用方程 n = e/t 图解求解材料厚度, 均匀性及波前畸变的关系 n 材料的非均匀性e以波长为单位的 PV 值所用的波长t 样品厚度例如, 厚度 t= 215cm 的B K

18、7 的窗口, 其每面平面性的 PV波前畸变 PV 值 /4, 问均匀性要求为多少?值用 /10 ( = 546nm ) 的技术要求, 透过( /4) -( /10) = 0. 15e=图 1 材料厚度、均匀性及波前畸变的关系举例312关于面形误差PV 值及 Pow e r 值的应用31211根据 ISO 101105 的表示法, 国外干涉仪测量输出的信息至少有:PV 相当于 3/A (B /C ) RM SX 中的“B ”、“C ”值; RM S相当于 3/A (B /C ) RM SX 的“RM SX ”; Pow e r相当于 3/A (B /C ) RM SX 中的“A ”。另外, 为了

19、控制高频和中高频面形起伏的影响, 有的光学元件面形偏差还提出“梯度”要求值, 例如, 当空间波长大于 2cm 时, 梯度应小于 /25/cm ; 当空间波长小于 2cm 时, 梯度应小于 /10/cm 。 由上可说明 对局部误差有一个具体范围的确切量值。美国N IF 工程中光学元件面形误差, 仅限定通过波前或反射波前的畸变 PV 值及梯度值 /X /cm 。如 表 6 所示。·41·第 1 期徐德衍: 光学元件技术要求与检验国际标准的若干问题表 6典型N IF 光学元件面形技术要求31212关于 PV 值及 Pow e r 值与N 及 N 的关系迄今为止, 绝大多数国内光学

20、厂家仍习惯沿用“N ”,“ ”表示面形偏差 (GB 283181) , 这种表示简 明, 易懂但“粗”、且也遗漏些信息。下面解释一下 PV 值及 Pow e r 值与N 及 N 之间的对应关系。从 PV 值及 Pow e r 值定义去考虑, 对于一个理想的大球波面, 其 PV 值等于 Pow e r 值, 换句话说, PV值与 Pow e r 值愈接近, 波面不规则性的影响愈小; 相反, PV 值与 Pow e r 值相差愈大, 波面不规则程度 ( 或 称局部误差) 愈明显。 如图 2 所示。(a)理想的球面(b ) 明显不规则的球面图 2 两种波面 PV 值与 Pow e r 值的示意图从图

21、中可以看出, 对于较理想波面, 两倍的 PV 值或 Pow e r 值 ( 一般均以波长为单位) 可作为光圈数N 的参考数; 对于不规则波面, PV - Pow e r 的两倍可作为 N 的参考值, Pow e r 值的两倍作为N 的参考 值。313关于表面缺陷偏差的几个问题31311背景和现状我国早期沿用前苏联标准, 将表面缺陷 ( 划痕, 麻点等) 与微观不平度通称为表面光洁度1 , 用 P IP VI 表示 (GB 103168)。时至今日, 国内光学工厂大多仍习惯于用此标准。根据颁布的新标准, 表面缺陷用 符号B /G ×J 表示 (GB 118589) , 这相当于 ISO

22、 101107 中 5/N ×A 的表示式。 微观不平度用表面粗糙度表示 (GB 103183) , 它相对于 ISO 101108 所述的内容。关于B /G×J 的详细描述及换算已有介绍2 。31312ISO 101107 的某些说明3131211 关于两种检验方式必须指出的是, 在 ISO 10110 图纸标注中提出表面缺陷具体要求后, 还应指出用方法I 或方法 检 验, 这是必须注意的, 其中:方法I 遮蔽或影响面积法 (O b scu red o f affec ted a rea m e tho d)这种方法是我国相应标准推行的方法, 其实质是归纳出疵病总面积值大

23、小的方法。为了检验工作方便 起见 ISO 推荐两种规格的标准板作为检验时对比之用, 其具体尺寸见表 7。光学元件PV , = 01633m梯度值主放大器钕玻璃片T : /6空间波长大于 6cm 时, 梯度小于 /25/cm空间波长 014cm 6cm 时, 梯度小于 /20/cm光传输反射镜R : /2. 5空间波长大于 2cm 时, 梯度小于 /25/cm ,空间波长小于 2cm 时, 梯度小于 /10/cmV D P 开关晶体T : /4空间波长大于 2cm 时, 梯度小于 /25/cm空间波长大于 2cm 时, 梯度小于 /10/cm·42·光 学 仪 器第 24 卷

24、表 7疵病标准的具体数值方法 可见度法 (V isib ility m e tho d)该方法是基于被检验元件表面缺陷光散射与一个参考背景照明的比较原理, 其参考背景照度用一块 标准样品来调节。该方法需要两套分别用于反射面和透过面的检验装置。 见表 8。表 8方法 的可见度等级规定3131212存在一些问题两种方法在检验中需要解决的问题是: (1) 在光学玻璃表面上制成真实的不同划痕宽度并定量分类其 可见度是有难度的; (2) 由于衍射影响准确测量微小划痕实际的宽度也是有难度的; ( 3) 实际上, 依靠有丰 富经验检验者进行某些比较测量是最通用的方式。美国军用标准M IL 20213830A

25、31313在美国光学工程技术中, 普遍采用M IL 20213830A 作为光学制图标准, 所以在现在文献和图纸中常可见到这一标准。 该标准用两组两位数字表示表面缺陷大小。 例如 40/20 (或 4020) , 前者限制划痕大小;后者限制坑点大小。 其号码与缺陷尺度的对应数值如表 9。表 9划痕/坑点号码与尺寸对照表划痕坑点号码最大宽度( m )号码最大直径( m )10152011152123102030可见度级别被检验元件照度标准背景透过光检验反射光检验T 5T 4T 3T 2T 1R 5R 4R 3R 2R 13101×±5%625×±5%125

26、0×±5%2500×±5%2500×±5%可调 可调 可调 可调黑体级数A (mm )圆“缺陷”直径( m )“划痕”尺寸( m )标准板N o 110100401006010100101601025010404157111828451×16116×25215×40410×63013×10010×160标准板N o 12010400106001100011600125001400457011018028045010×16016×22525×400

27、40×63063×1000100×1600·43·第 1 期徐德衍: 光学元件技术要求与检验国际标准的若干问题续表 9另外, 有时图纸上给出简写的符号表示疵病极限分辨法的分类和规定的观察条件见表 10 及表 11。表 10疵病极限分辨法的分类 3 表 11划痕标号与疵病极限分辨简化符号近似对照31314ISO 101107 在N IF 光学图纸中应用一块应用于N IF 中的透镜, 其表面缺陷从如下形式给出45/5×0105; L 1×01001; E 015 ( 最大划痕长 40mm , 最多崩边数为 1) , 这一要求解释

28、为 ( 1) 在通光口径 允许有 5 个坑, 其每个尺寸不大于 50m ; ( 2) 在通光口径内允许有一个长 40mm , 不宽于 1m 的长划痕;( 3) 允许有一个不大于 015mm 的崩边; (4) 全部倒棱; 上述要求相当于M IL 标准中的 10/5 要求。为了应用 方便起见, 特将光学元件表面缺陷M IL 与 ISO 101107 的数据对应关系列于表 12 和表 13 中。这是美国劳伦斯 1 里弗莫尔实验室 (L aw ren ce L ivem o re N a t io n a l L abo ra to ry L L N L ) 工程技术人员 的解读并应用于N IF 图纸

29、中具体实例。表 12根据M IL 20213830 坑点技术要求与 ISO 10110 对应关系M IL 20213830AISO 10110, 方法I最大坑点尺寸(mm )每一个元件可有 1 个 最大坑点尺寸最大坑点尺寸每一 元件可有 5 个010555/1×01055/5×01050110105/1×01105/5×01100120205/1×01205/5×0120划痕标号简化符号观察条件1020406080E F V F FMM C极细 很细 细 中等中粗分类简写符号光源观察条件极轻EL标准中规定的光源肉眼或仪器很轻V L标准

30、中规定的光源观察距离 30cm 处轻L标准中规定的光源观察距离 60cm 处中等M荧光光源(B ST )观察距离 60cm 处中等重M H室内光(L L S)观察距离 30cm 处重H室内光(L L S)观察距离 60cm 处划痕坑点号码最大宽度( m )号码最大直径( m )303550404101006061515080820200303004040050500·44·光 学 仪 器第 24 卷表 13根据M IL 20213830A 划痕技术要求与 ISO 10110 的对应关系314关于表面结构特性主要指表面抛光程度即表面粗糙度的容许量和表示方法。这部分内容与国内相

31、应内容有较多差异。必 须倍加注意。光学工作者普遍认为, 用机械表面标准表述光学表面是极不充分的, 尤其在激光陀螺系统, 高功率激光光学, X 射线反射镜等元件, 表面粗糙度是一个相当重要的参数。31411两类光学表面现将光学表面分为两类, 其中一类是表面高度变化大于可见光波长的光学表面为粗 (M a t te) 或研磨 表面, 用“G ”表示, 其高度变化值用 R q 表示。另一类是镜面( sp ecu la r) 它有三种方式描述:(1) 表面粗糙度 RM S 值: 这是通常表示镜面表面主要参数, 值得注意的是, 没有指明取样长度的上限 和下限, r. m. s 描述表面粗糙度是不充分的。(

32、 2) 微缺陷的定量化: 微缺陷可以理解为在光滑表面中的极有限的局部坑凹, 规定在每 10mm 光滑表面扫描长度内缺陷数目N , 用光学轮廓仪, 显微镜或显微成像比较仪都可以定量测量微缺陷。(3) 功率谱密度 (Pow e r Sp ec t ra l D en sity P SD ) 函数P SD 函数是以单位长度的倒数表示的被测表面粗糙度的频谱, 其潜隐的含义是粗糙度及测量仪器的 “带宽”的概念。 对于设计者、制造者可根据 P SD 值决定是否修改其工艺。 使之满足更精确表面粗糙度评 定, 所以 P SD 能充分地描述表面结构特性。5, 631412表示方法及说明有时, 在国外光学技术图纸

33、上直接用字母 R a , R q , 及 R z 值表示对光学表面粗糙度的要求。 其中,R a 为表面粗糙度的算术平均值;R q 为表面粗糙度的均方差值(RM S) ;R z 为表面起伏最高与最低之差值 (PV ) , 其三者粗略关系及相关问题笔者曾有详细说明7 。ISO 101108 中规定一种新的表面微轮廓表示法。 它由三个内容组成: ( 1) 粗糙表面 (m a t t su rface) , 用“G”表示; (2) 光滑表面 sp ec tu la r (O p t ica lly sm oo th ) su rface , 用“P ”表示; ( 3) 微缺陷 (m ic ro def

34、ec t) , 其 在尺寸上小于微米 (m ) , 在“P ”的后面用数字 1 4 表示微缺陷的程度。图 3 表示粗糙表面的方法, 其中“G ”表示粗糙的研磨表面, 5 表示最小取样长度 5mm , R q 值最低应为2m。图 3 粗糙面的表示法图 4 为光滑表面表示方法, P 后数字表示微缺陷的级别。抛光微缺陷级别如表 14 所示。从图 4 中可以 看出 P 3 表示 3 级, 意指在取样长度 10mm 内, 微缺陷数少于 16 个; 在取样范围 01002mm 1mm 之间, 其M IL 20213830AISO 10110, 方法I最大划痕宽度测比较检验划痕标准最大划痕宽度每一 元件可有

35、 1 个最大划痕宽度每一 元件可有 5 个01001105/L 1×010015/L 5×0100101002205/L 1×010025/L 5×0100201004405/L 1×010045/L 5×01004·45·第 1 期徐德衍: 光学元件技术要求与检验国际标准的若干问题中 R q 01001m。附带指出的是, 早期试行的 ISO 10110 中还曾用德国D IN 3140 标准中相应部分中的棱形() 数表示抛光级别8规定的相同。, 即用一个“”表示 P 1, 两个“”表示 P 2, 其取样长度及微缺陷

36、数与表 12 中图 4 光滑面的表示法表面微缺陷的 4 个级别表 14如图 5 表示 P SD 及抛光要求。该抛光级别为 4, 即在每 10mm 取样长度内微缺陷数少于 3 个, 在取样长度 01001mm 1mm 之间, P SD 10- 6 /f2 (m 3 ) 1图 5P SD 及抛光要求表示法综上所述, 其内容可归纳为表 15。表 15用字母表示与说明不同表面结构特性4其它两个内容411图纸上元件参数与性能的列表格式在 P a r t10 中规定了图纸上的内容与格式: (1) 光学元件图在上方(2) 列表在图纸下方, 包括 3 部分内容:左栏: 元件左表面的参数;中栏: 材料的技术要求

37、;右栏: 元件右表面参数粗糙的或研磨表面抛光表面微缺陷RM S 表面粗糙度P SDaGP nP 或 P nP 或 P nbR qm inR qR qm ax 或R qm ax( m )R q R qm ax( m )A /Bclm in 或 lm in /lm ax(mm )lm in /lm ax(mm )C /D (mm )抛光级别每 10mm 取样长度内微缺陷数NP 180N 400P 216N 80P 33N 16P 4N < 3·46·光 学 仪 器第 24 卷(3) 标题栏元件的名称;类型;参考编号;部件编号;其它等等图 6给出一个具体的透镜元件的例子,

38、即作为上述内容一个综合。图 6 透镜元件图纸中的内容与格式举例表 16412关于非公差数据在 P a r t 11 中提出了图纸中未指明公差时允许的偏差量及材料缺陷, 现摘录如表 17。虽然在一些光学左表面材料技术说明右表面R 60, 43 CCe35保护性倒棱 0. 20. 4A R 207b3/2 ( 015)4/5/5×0116; L 2×0104; E 015B K 7ne11518 72±01001v e63196±018%0/101/5×01162/1; 2R 50117C ×e34保护性倒棱 0. 2 0. 43/3 (

39、 1)4/25/5×0116; L 2×0104; E 015待胶合的按 ISO 10110 说明透镜 1241736·47·第 1 期徐德衍: 光学元件技术要求与检验国际标准的若干问题技术书 (手册) 中也可能查到相关的数据, 但参考本表这些数据或许更合适些。表 17图纸未给出技术情况下可允许的偏差值和材料缺陷5结束语(1) 鉴于国际上已推行按 ISO 10110 标准绘制图纸和提出技术要求, 学习该标准有利于国内科技人员阅读光学文献, 资料, 查寻专利等。尤其美国N IF 光学工程图纸自 1999 年以来全部采用 ISO 10110 技术规 范。 我国从事相应工程技术人员应引起足够的重视。( 2) 我国与国际科技交往日益增多, 国内光学科技人员, 尤其到国外的科技人员都应该读懂光学图纸或能够按 ISO 10110 规范确切读懂和提出光学技术要求。(3) 来自国外的客商及光学产品订单越来越多, 国内光学技