凌达光电品质训练--制程能力分析(1)ppt课件

1、GIANTPLUS OPTOELECTRONICS製程才干分析凌達光電品質訓練.GIANTPLUS OPTOELECTRONICS大綱 名詞解釋 製程才干分析步驟.GIANTPLUS OPTOELECTRONICS變异普通與特殊缘由 普通缘由:製程中某些微小而不可防止的缘由,現象所此呵斥之分配與時間的關系是穩定而可重複,可預測的. 特殊缘由:製程中不常發生但呵斥製程變异的缘由,此現象所呵斥之分配與時間的關系是不穩定且無法預期的 名詞解釋.GIANTPLUS OPTOELECTRONICS製程才干 當我們的製程處于穩定狀態時,即對製程進行研讨分出普通缘由與特殊缘由,消除特殊缘由,只存在普通缘由,

2、此時的製程狀況處于穩定狀態即是我們所謂的製程才干 偵查製程能否處于穩定狀態,需求借助于控制圖,通過控制圖找出普通缘由與特殊缘由,确定製程狀況,方可進行製程才干分析.GIANTPLUS OPTOELECTRONICS製程准确度Ca(Capability of accuracy) 生產中所獲得產品資料的實績平均值(X)與規格中心值(u)其間偏向的程度即稱之為(製程准确度),即衡量製程平均值與規格中心值兩者間的一致性Ca=實際平均值-規格中心值規格公差/2*100%=(x-u)/T/2*100%注明:當為單邊規格時無Ca值.GIANTPLUS OPTOELECTRONICSCa值的評估 Ca值越小,

3、品質越佳,為了便于區分製程實績值(X)的好坏普通將Ca值分成4個等級作為評估的標准.A級:理想的狀態故維持現狀B級:盡能够調整改進為A級C級:應立刻檢討並予以改善D級:采取緊急措施,並全面檢討,必要時應考慮停顿生產.Ca反應工序實際平均值與規格中心值之間的差别GIANTPLUS OPTOELECTRONICSUCLLCL規格中心值製成平均值Ca=23%.GIANTPLUS OPTOELECTRONICS製程精细度Cp(Capability of precision) 以規格公差(T)與自生產中所獲得產品資料的6個估計績標准差()其間相差程度,即在衡量規格公差範圍與製程變异寬度兩者之間相差的程度

4、 Cp值=規格公差6個估計實績標准差=T/6雙邊規格時.GIANTPLUS OPTOELECTRONICSCp值=規格上限-平均值3個估計實績標准差= USL-X/3Cp值=3個估計實績標准差= X-LSL/3單邊規格時規格下限-平均值.GIANTPLUS OPTOELECTRONICSCp值的評估 Cp值越大,品質越佳,為了便于區分製程實績估計標准差的好坏,普通將Cp值分成5個等級作為評估的標准.A+級: 產品變异如大一些也不要緊,考慮管理的簡單化 或本钱降低方法A級: 理想的狀態故維持現狀B級: 确實進行製程管理,使其坚持在控制狀態,當Cp 接近於1時,恐怕會產生不良品,盡能够改善為A 級

5、C級: 生產不良品,產品須全數選別,並管理,改善製程D級: 品質無法在滿足的狀態,須進行品質的改善,探 求缘由.須要採取緊急對策,並重新檢討規格GIANTPLUS OPTOELECTRONICS.uLSLUSL Cp說明尺寸分布的范圍大小並不說明尺寸分布跼中心位置的遠近 GIANTPLUS OPTOELECTRONICS規格中心值,製成中心值製成中心值Cp=1.製程才干指數Cpk 將Ca與Cp兩值同時參考而對製程作一個客觀評价的指標即Cpk,既考慮到變异的寬度,又考慮實績平均值與規格中心值兩者的比較.其計算公式有兩种Cpk = (1-K) T6= (1- | Ca | )CpK=| X-u |

6、T/2= | Ca |(1)GIANTPLUS OPTOELECTRONICS.當Ca = 0 時 Cpk = Cp (單邊規格時,Cpk即以Cp值計之) = Rd2(2)Cpk = Zmin3Zmin = Su-X 與 -(Sl-X) 的最小值 d2之參考表GIANTPLUS OPTOELECTRONICS(1)(2) = i=1n(Xi-X)n-1(X為一切數据之平均值) = Rd2Zmin = Su-X 與 -(Sl-X) 的最小值 i=1n(Xi-X)n-1 = 3.例如: 在內胎壓出工程其長度規格為750+/-10mm,而十一月份壓出工程長度之實際平均值為749mm,實際估計標准差為4mm ,計算十一月份之Ca, Cp, Cpk為何?十一月份Ca 值 = (x-u)/T/2*100% =(749-750)/10*100%=-10%(A級)Cp = T/6 =20/6*4=0.83(C級)Cpk = Cp*(1-|Ca| ) =0.83*(1- | -10% | ) = 0.747(C級)GIANTPLUS OPTOELECTRONICS.例如:GIANTPLUS OPTOELECTRONICS.Process Capability. 製程才干分析步驟 确切了解要調