SPC与制程能力评估

1、QIT培訓系列教材SPCPrepare by : Robin MuQS Section, QS Division, IPT July 24th, 2007教材編號:IPT-M2XXX版本:V1.0版會簽單位位會簽單位相應主管會簽單位相應主管核准:部級主管管擬擬制人:RobinMuPreparedbyPage21.教材材初版修訂紀錄錄PreparedbyPage3目錄錄ItemNo.PageLink1.基础理论论2.统计基础础知识3.制程变异异的原因因4.制程能力力分析5.SPC的工具管制图6.SPC的运作流流程51224305484PreparedbyPage41930195019501970

2、197019801980現在品管過程過濾不良檢驗不良制造技術設計/系統/習慣產品不良率高不良率不良率仍相當高(%)百分不良率已大為降低低不良率(PPM)6品質1.1.品質過程程与不良率之之演進1.基础理论论PreparedbyPage5常規管制制方法-檢驗1.2.传统品质质观念与与目前品品质观念念的差别别产出95个最終檢驗CTQ不合格品2個清潔5個缺陷: 5個S1S2S3S4S5S6S7S8100个CTQ返工1個CTQPreparedbyPage6當一個設設備由100個部件組組成，即即使每一一個部件件的合格格率爲99.97%，設備的的合格率率也僅爲爲99.97%?99.97%=76.31%當該

3、設備備由500個部件組組成，則則該設備備的合格格率僅爲爲25.83%99.97%的合格率率是否足足夠?每一個部部件的合合格率均爲99.97%PreparedbyPage7下限上限缺陷缺陷無缺陷性能被認爲是完全不一樣的性能被認爲是一樣的門柱思維維传统的品品质概念念PreparedbyPage8PreparedbyPage91.3.1.1924年WalterShewhart博士在貝貝爾實驗驗室开发了一一套统计学流流程控制制理论;1.3.2.上世纪20年代期间间,Shewhart博士在一系列列演讲中中提出了他的理理论,并在高品品质制造造产品的的经济性性控制一一书中发表(1931);1.3.3.193

4、9年Shewhart與戴明合合寫了“品質觀觀點的統統計方法法”;1.3.4.上世纪40年代期间间,战时生产产使该理理论得到到广泛的的应用;1.3.5.1950年戴明到到日本講講學,介紹SQC觀念及方方法,SQC是發現問題題才解決決,浪費較大大,後來發展展出了SPC;1.3.6.美國汽車車業廠商商對SPC非常重視視,並使之得得到廣泛泛應用;1.3.7.ISO9000也十分重重視SPC的應用,對其有專專門章節節要求.1.3.SPC的历史PreparedbyPage101.4.SPC的定义統計過程程控制(SPC)是基於統統計原理理,利用圖形形技術,對流程中關關鍵(質量)特性進行行監控,並通過判判定準

5、則則,及時顯示示異常,從而達到到發現問問題、預防不良良產生的的一種管管理工具具.SPC能夠將海海量數據據中的異異常通過過圖形直直觀展現現出來,適用於各種須須投入大大量資源源,要長期管管控的流流程或特特性.SPC有以下作作用:A.确保制程程持续稳稳定、可可预测;B.提高产品品质量、生产能能力、降降低成本本;C.为制程分分析提供供依据;D.区分变差差的特殊殊原因和和普通原原因,作为采取取局部措措施或对系统统采取措措施的指指南.PreparedbyPage112.统计基础础知识2.1.正态分布布PreparedbyPage12-3-2-1+1+2+30.135%0.135%99.73%95.45%6

6、8.27%測定的平平均值(x)與群體平平均值()一致;曲線的最最高點與與橫軸垂垂直相交交處,即為群体体平均值值()以此點為為中心,其曲線左左右兩邊邊對稱;C.正态分布布左右兩尾尾與橫軸軸漸漸靠靠近,但不與橫橫軸相交交;D.曲線下橫橫軸上之之面積等等於“1”,曲線下橫橫軸上之之面積分分布情況況為:(-)至()範圍內的的面積約約占总面積的68.27%;(-2)至(2)範圍內的的面積約約总占面積的的95.45%;(-3)至(3)範圍內的的面積約約占总面積的99.73%.PreparedbyPage132.2.数据的类类别2.2.1.連續型數數據abXPreparedbyPage14Xx1x2x3x4

7、x5x6x72.2.2.離散型數數據PreparedbyPage15“母體”是指組組成某一一特定群群體的全全部單位位,有時母體體大到無法測量量.“樣本”是是指該特特定母體體中的某某些單位位,要求母體體中的每每一個單位都有有同等機機會被用用來測量量,即樣本必須須是隨機機的.2.3.1.母母體vs樣本本2.3.抽样母體樣本母體樣本PreparedbyPage16隨機抽樣樣:每個均有有被選上上的相等等机會2.3.2.抽抽樣方法PreparedbyPage17這樣不是是隨機抽抽樣!PreparedbyPage18層別式抽抽樣:母体被“層別”成几個個組,在每個組組內隨机机選擇.PreparedbyPag

8、e19系統隨機機抽樣:每隔n個抽取一一個樣本本.PreparedbyPage20行進中的的過程分組抽樣樣:每小時在在該點抽抽3個樣本.PreparedbyPage21計數數據據:一般情況況下取50100個計量數據據:每個分組組最少30個2.3.3.抽抽樣的一般准准则PreparedbyPage222.4.SPC相关术语语2.4.1Xi:实测数据据, X1X5是指一个个样组中中的5个实测数数据;2.4.2Xbar:表示n个数据的的平均值值,即:Xbar=(X1+Xn)/n;2.4.3T:表示公差差值,即:公差值=规格最大大值规格最小小值(T=USLLSL);2.4.4:表示规格格中心值值;2.4

9、.5R:极差值,即:極差值=样组中之之最大值值样组中最最小值;2.4.6Rm:表示样组组之极差差值,即:第二组Rm值=第二组X值第一组X值,依此类推推;2.4.7Cpk:表示制程程能力指指數;2.4.8S:樣本標准准差.PreparedbyPage233.制程变异异的原因因普通原因因:是造成随着时间间推移具具有稳定定的且可可重复的的分布过程中的的许多变变差的原原因,我们称之之为“处处于统计计控制状状态”、“受统计计控制”,或有时简简称“受受控”,普通原因因表现为为一个稳稳定系统的偶偶然原因因.只有变差差的普通通原因存存在且不不改变时时,过程的输出出才可以以预测.特殊原因因:是造成不是始终终作用

10、于于过程变变差的原原因,即当它们们出现时将将造成过过程的分分布改变变.除非所有有的特殊殊原因都都被查找出来并并且采取取了措施施,否则它们们将继续续用不可可预测的的方式来影响过过程的输输出.如果系统统内存在在变差的的特殊原原因,随时间的推移,过程的输输出将不不稳定.PreparedbyPage24項 目普通原因特殊原因定 義不可避免之原因, 非人為原因, 共同原因, 偶然原因可避免的原因, 人為原因, 特殊原因,異常原因, 局部原因等影 響隨時間推移具有穩定的,且可重复的分布過程,稱為“處于統計控制狀態”簡稱 “受控”.指造成不是始終作用于過程的變差的原因,即當它們出現時將造成整個過程的分布改變

11、.例 子同一人使用同一儀器于不同時間量測產品之差異不同方向不同位置測量軸徑原材料重量气候、环境的微小变化合格原料的微小变化机械的微小震动刀具的微量磨损生產條件設定錯誤使用不合格材料加工機器差異材料之不同设备调整不当新手违背操作规程作业刀具过量磨损加工方法的改变對產品 的影響微小, 不明顯明顯而巨大是否值得追查原因不值得值得而且可以找到PreparedbyPage25時間過程受控制且能力符合規範過程不受控制能力也不符合規範PreparedbyPage26時間過程受控制但能力不符合規範要求過程受控制且能力符合規範要求PreparedbyPage27局部措施施和系统统措施局部措施施通常用来来消除变变

12、差的特特殊原因因通常由与与过程直直接相关关的人员员实施大约可纠纠正15%的过程问问题对系统采采取措施施通常用来来消除变变差的普普通原因因几乎总是是要求管管理措施施，以便便纠正大约可纠纠正85%的过程问问题PreparedbyPage28局部措施施、系统统措施示示意图解决普通通原因的系统措措施解决异常常原因的局部措措施解决异常常原因的局部措措施UCLLCLPreparedbyPage29制程能力力是工序在在管制状状态时, 其工工序生产产的产品品品质变化有多多少程度度的值,或指在管管制状态态(稳定状态态)下,工序能制制造出来来的品质质水平的的程度.而制程能能力分析析是指針對一個個過程,在滿足顧顧客

13、的期期望上,表現得有有多好的的一種研研究.4.制程能力力分析4.1制程能力力的定义义PreparedbyPage30短期制程程能力短期制程程能力是是隻存在在偶然原原因时的制程程能力,表示取樣樣數據都具具有同樣樣的品質質特性,但有主要要技術要要素引起起品質特性變化化,因此品質質特性變變化越大大,散布也就就越大,短期制程能力力也就越越差.長期制程程能力長期制程程能力是是包括組內內誤差和和組間誤誤差,為了改善善技術和工序管管理,必須判斷斷工序是是否穩定定時,用長期制制程能力力的特性來來取樣,來確認包包括管理理要素引引起的變變化和技技術的要素引起起的變化化.PreparedbyPage31制程能力力隨

14、時間的延續,平均值及及分布形狀產產生變化稱為為偏移/漂移現象象.偏移是制制程的突突然變化化.漂移是制制程隨時時間緩慢慢發生的的變化.PreparedbyPage32收集過程程數據是是為了對對過程進進行分析析和研究究,並為最終終進行過程改善善做好準準備.如何收集集數據才才能保証証所收集集的數據據能代表整個個過程的的現狀、並保証証過程的的短期和和長期能能力都能能夠被評估?合理分組組是收集集數據的的一種策策略,通過合理理分組可可區分短短期和長期誤誤差,從而可以以確認過過程目前前的問題題是技術術實力不不夠(Zst太小),還是控制制水平差差(Zst與Zlt差異太大大)4.2.1合理分組組(Rationa

15、lSubgroups)的目的的4.2数据收集集策略在收集過過程數據據時,我們一般般會收集集較長時時間范圍圍內的很很多組數據(因為數據據收集太太少,不能把握握過程的的現狀全全貌).收集數據據時,要求每組組內的數數據隻包包含偶然然原因誤誤差,組與組之間存在在異常原原因誤差差和偶然然原因誤誤差,這樣收集集的數據據可對過程的的長期能能力和短短期能力力分別作作出評估估.4.2.2組內誤差差和組間間誤差PreparedbyPage33組內誤差差和組間間誤差Process ResponseTime組間誤差差組內誤差差RationalSubgroupsPreparedbyPage34合理分組組的步驟驟如下：A

16、.首先確定定可能影影響CTQ的各種輸輸入變量量(應從生產產班次、操作員、材料、方法、設備等等方面考考慮);B.從以上輸輸入變量量中選出出可能會會對CTQ產生重大大影響的的幾個因素素;C.制定抽樣樣計劃,確保每個個數據組組中隻有有偶然原原因誤差差,每組取樣25個個,組內樣本本盡短時時間內收收集;D.測量樣本本並記錄錄數據,為後續分分析做好好準備;E.收集的數數據組別別要足夠夠多.4.2.3如何進行行合理分分組PreparedbyPage35目標值(Target)每一種可可量測的的特性,都會有一一個想要要的績效效水準,就是通常所說說的目標標值.例如:體溫- 36.8上班時間間-8:00a.m.4.

17、3.1基本术语语及定义义4.3连续型数数据分析析規格界限限(上限/下限)(SpecificationLimits)很多過程程活動與與過程結結果有一一個規格格范圍,该范围提供允許超出或或低於績績效目標標值的界界限.例如:LSL目標值USL體溫36.536.837.3上班時間間6:30a.m.8:00a.m.8:02a.m.PreparedbyPage36平均數(Mean):一組數據據的平均均值,通常以“”表示.例如:體溫36.736.937.337.137.236.837.0平均值=37.0偏差(Deviation):指某個特特定量測測值與所所有量測測值平均均數之間間的距離離.並非所有有的量測測

18、結果與與目標值值都是一一致的,此現象稱稱為變異,並非所有有的變異異都是不不符合要要求的,某個變異異雖然偏離目標標,但仍是符符合規格格要求的的.PreparedbyPage37標準偏差差(StandardDeviation):指整個數數據組的的整體離離差.PreparedbyPage38缺點率:根據目標標值,規格上/下限繪制制某一過過程量測測結果的的分布曲線時,一些量測測結果會會超出規規格界限限.位於曲線線以下但但超出規格格上/下限范圍圍的數據據所佔的的比例或或百分比比.PreparedbyPage39Cp是衡量制制程潛在在能力的的一個指指數,它未考慮慮到制程程輸出平均均值的偏偏移,隻考慮制制程

19、輸出出分布的的離散程程度與制程規規格的比比較結果果.計算公式式如下:Cp反映了一個過過程的潛潛在能力力,它假設過過程均值值與規格格中心值完完全重合合.CP值越大,表明制程程能力越越高.Cp=USL-LSL6stUSL=規格上限限LSL=規格下限限st=短期標準準差4.3.2衡量短期期制程能能力的指指数PreparedbyPage40Cpk是衡量制制程實際際能力的的一個指指數,它考慮了了制程輸輸出平均值的的偏移,計算公式式如下：T=(USL-LSL)/2Cpk=(1-K)Cp=(1-K)USL-LSL6stK=T -XUSL-LSL2Cpk= (1-ICaI)*Cp單側下限限制程能能力指數數單側

20、上限限制程能能力指數數PreparedbyPage41准確度Ca精確度Cp精密度CPkCa/Cp/CPk之間的概概念關係係Cpk=Cp(1-ICaI)PreparedbyPage42例:一批軸承承,抽樣量測測尺寸如如下:10.5210.5310.4810.4710.4910.5010.4810.5210.5110.4810.5010.5010.5110.4910.5010.5210.5010.4910.4810.4910.5010.5110.4810.4810.501).若Spec10.500.05,則Cpk為多少？2).若Spec10.55Max,則Cpk為多少?解: 1).2).Prepa

21、redbyPage434.3.3衡量长期期制程能能力的指指数Pp/Ppk計算公式式如下：Pp=USL-LSL6ltUSL=規格上限限LSL=規格下限限lt=長期標準準差Ppk=USLLSL3lt- X_PreparedbyPage444.3.4制程能力力指數分分析A.當实际中心值等等於規格格中心值值時,Cpk=Cp,當实际中心值不等於規格格中心值值時,CpkCpk1.33合格理想狀態,繼續維持.31.33Cpk1.00警告使制程保持於管制狀態,否則產品隨時有發生不良品的危險,需注意.41.00Cpk0.67不足產品有不良品產生,需作全數遷別,制程有妥善管理及改善之必要.50.67Cpk非常不足

22、應採取緊急措施,改善品質並追究原因,必要時規格再作檢討.PreparedbyPage46USL=160X-Bar=100Z=USL-160-10020= 3.0From Ztable, forZ=3.0, P(defect)=0.00135僅有單側側上規格限4.3.6Sigma水准ZPreparedbyPage47USL=160= 110P(defect)= 0.0061+0.000233=0.00644雙側規格限LSL=40From Ztable, forP(defect)= 0.00644, Z=2.487ZUSL=USL-160-11020=2.5P(d)us=0.00621LSL-ZL

23、SL=40-11020= 3.5P(d)ls=0.000233PreparedbyPage484.3.7長期ZltPreparedbyPage49PreparedbyPage50PreparedbyPage51單位(N-Unit)缺點(D-Defect)機會(O-Opportunity)每百萬個個機會的的缺點數數(DPMO)單位數: 4機會數: 4缺陷數: 6DPU=6/4=1.5DPO=6/16=0.375DPMO=DPO*1000000=3750004.4.1基本术语语及定义义4.4离散型数数据分析析PreparedbyPage52以Z值換算表表將DPMO轉換成值不良率為為37.5%,查表

24、可得得知,Zst為0.32.4.4.2制程能力力分析PreparedbyPage535.SPC的工具管制图5.1.管制图的的原理 MeanStandarddeviationX averageS Sample stand deviationPopulation總體NSample樣本本n直方圖正態分布圖圖n30時直方圖正態分布圖圖管制圖一種以實實際產品品品質特特性與根根據過去經驗驗所判明明的制程程能力的管管制界限限比較,而以時間間順序用用圖形表表示者.PreparedbyPage54旋轉90解析+3s-3su-3s管制+3suUCLCLLCLPreparedbyPage55時間1時間2時間3管制上

25、限管制下限規格下限X1X2X3X4X1X2X1X3X4X3X1X2X3X4X2規格上限管制中心值(規格值)PreparedbyPage565.2.管制图的的种类均值中位數管管制圖均值極差管制制圖均值標準差管管制圖單值移動極差差管制圖圖不合格品品率管制制圖不合格品品數管制制圖缺陷數管管制圖單位缺陷陷數管制制圖PreparedbyPage57PreparedbyPage585.2.1均值極差管制制圖均值極差管制圖是一種種計量值值管制圖,控制物件件的資料料全部來自自連續型型資料.優點:資料搜集集量小,計算方便便;缺點:隨著樣本本容量的的增大,效率降低低.中心線和和控制限限:PreparedbyPag

26、e59PreparedbyPage605.2.2均值标准差管管制圖中心線和和控制限限:PreparedbyPage61PreparedbyPage625.2.3單值移動極差差管制圖圖單值移動極差差管制圖圖也是一一種計量量值管制制圖,控制物件件的資料主要要來自於於那些破破壞性實實驗或無無須大量量抽查的的實驗.優點:資料搜集集量小,計算方便便缺點:靈敏度較較差中心線和和控制限限:MR图X图（视为0）PreparedbyPage63PreparedbyPage645.2.4不合格品品率管制制圖中心線和和控制限限:其中,若LCL0,令LCL=0.PreparedbyPage65PreparedbyPa

27、ge665.2.5不合格品品数管制制圖不合格品品數管制制圖同不不合格品品率控制制圖一樣樣是一種種計數型管制圖圖,在原理上上兩者並並無差別別,但在一些些細節上上兩者還是存在在某種差差異,不合格品品數控製製圖樣本本大小必必須為定定值,而不合格格品率控控制圖中中樣本大大小可以以不等.中心線和和控制限限:其中,若LCL0,令LCL=0PreparedbyPage67PreparedbyPage685.2.6缺陷数管管制圖缺陷數管管制圖是是用來控控制產品品上疵點點或缺陷陷數目的的管制圖,同前面兩兩節所介介紹的一一樣都屬屬於計數數型管制制圖.中心線和和控制限限:缺陷其中,若LCL0,令LCL=0Prepa

28、redbyPage69PreparedbyPage705.2.7单位缺陷陷数管制制圖單位缺陷陷數管制制圖同缺缺陷數管管制圖一一樣都屬屬於計數數型管制圖,它與缺陷陷數控製製圖的區區別是,缺陷數控控製圖中中樣本量必須相相同,而單位缺缺陷數控控製圖中中樣本量量可以不不同.中心線和和控制限限:其中,若LCL1N中心線性質Yn 9平均值-標準差平均值中位數n=29平均值-全距Y不良數缺點數5.3.管制图类类型的选选择YNYNPreparedbyPage73EXCEL版控制圖圖PreparedbyPage74有1點在A區以外者者.(口訣:1A外)5.4.管制图判判读原则则PreparedbyPage75連

29、續9點在單側側.(口訣:9單側)PreparedbyPage76連續6點持續的的上升或或下降.(口訣:6升6降)6L3PreparedbyPage77連續6點持續的的上升或或下降.(口訣:6升6降)6H3PreparedbyPage78連續14點交互著著一升一一降者.(口訣:14升降)4PreparedbyPage793點中有2點在A區或A區以外者者.(口訣:3分之2A)PreparedbyPage805點中有4點在B區或B區以外者者.(口訣:5分之4B)PreparedbyPage81連續15點在中心心線上下下兩側之之C區者.(口訣:15C)PreparedbyPage82有8點在中心心線之

30、兩兩側,但C區並無點點子者.(口訣:8缺C)PreparedbyPage836.SPC的运作流流程開始管制特性確定數據收集資料分析是否穩定SPC目的確定控制圖類型實施改善確定管控時限確定均值及控制限是否穩定作解析圖作控制圖確定管控時限數據收集計劃是否異常實施改善是否到管制時限持續控制過程分析是否穩定結束YNYYYNYNNY6.1.运作流程程图PreparedbyPage846.2.1.基本條件件:A.基礎管理理比較扎扎實B.生產過程程比較穩穩定C.員工應接接受過統統計技術術的系統統培訓D.具備統計計技術應應用所需需的技術術、資源條件件6.2.2.應用條件件:A.控制對象象可以是是質量特特性、質

31、量指標標或參數數B.控制對象象應定量量描述並並具有分分布的可可重複性性6.2.3.控制對象象:A.重要性:選擇關鍵鍵項目B.單一性:每個管制制圖管控控一項目目6.2.4.取樣方法法:A.一定要隨隨機取樣樣B.按確定的的時間間間隔取樣樣C.樣本大小小應保證證管制圖圖有適宜宜的檢出出力D.解析用管管制圖取取樣組數數應大于于或等于于25組6.2.运作前应应考虑的的问题PreparedbyPage856.3.1.建立解析析用管制制圖A.收集數據據:選擇管制制特性X,決定樣本本大小n及抽樣間間隔,樣本組數數k;A.1.選擇管制制特性XA.1.1.能量測的的產品或或制程特特性;A.1.2.與客戶使使用及生

32、生產關系系重大之之特性;A.1.3.與下道制制程影響響較大之之特性;A.1.4.關鍵制程程之特性性.A.2.決定樣本本大小n及抽樣間間隔A.2.1樣本大小小n約在25個之間,不宜太大大;A.2.2同一組之之數據應應在同一一生產條條件及短短時間內內取樣;6.3.Xbar-R管制图运运作流程程PreparedbyPage86A.2.3初期解析析之制程程宜在較較小的間間隔連續續取樣,管制狀態態下之制程可可加長其其間隔,對正在生生產產品品之監視視,可以每班班兩次、每每小時一一次或其其它可行行的抽樣樣頻率.除客戶要要求及另有規規定外,可參照下下表執行行:A.2.4每組樣本本可識別別日期、時間、機台號號、

33、原材材料或LotNo.A.3決定樣本本組數k(以保証制制程之主主要變異異有機會會出現為為原則)一般以25組以上的的樣本及及100個以上的的數據以以檢驗制制程之穩穩定及估計計制程特特性的平平均值與與標準差差;品質特性Cpk管制方法取樣頻率初期制程 1.00檢驗全檢取樣頻率: 1 2小時1.00 1.33管制圖高(1 2小時)1.33 1.67管制圖中(4 8小時)1.67 2.00管制圖低(每班一次)2.00視 情 況 決 定PreparedbyPage87B.記錄數據據及計算算各組平平均值及極差Ri,總平均值值及管制中心心線管制上限限管制下限限管制圖管制中心心線管制上限限管制下限限R管制圖C.

34、計算管制制界限PreparedbyPage88公式中D4D3A2為隨樣本本數n變化而改改變的常常數樣本數n2345678910D43.2672.5742.2822.1142.0041.9241.8641.8161.777D3*0.0760.1360.1840.223A21.8801.0230.7290.5770.4830.4190.3730.3370.308A32.6591.9541.6281.4271.2871.1821.0991.0320.975B3*0.0300.1180.1850.2390.284B43.2672.5682.2662.0891.9701.8821.8151.7611.7

35、16E22.6601.7721.4571.2901.1841.1091.0541.0100.975PreparedbyPage89D.繪制管制制界限及及描點D.1決定管制制圖之座座標尺寸寸D.1.1兩管制圖圖之座標標尺寸分分開制訂訂;D.1.2中心線置置於縱座座標之中中心位置置上;D.1.3管制上下下界限約約於座標標之2/33/4位置上;D.1.4決定一格格的大小小及座標標之尺寸寸.對於X_bar圖,座標上之之每格刻刻度值應應至少為為樣本均均值之最大值與與最少值值差值的的2倍;對於R圖,應從最低低值為0開始到最最大值間間差值為為初始階階段的最大極差差(R)的2倍.D.2依管制界界限及各各組及極

36、極差Ri之大小描描繪於管管制圖上上D.2.1中心線以以實線描描繪,管制界線線以紅色色虛線描描繪;D.2.2依各組之之統計量量大小描描點於管管制圖上上;D.2.3將各點以以實線連連接.PreparedbyPage90E.解析制程程E.1解析R管制圖組內樣本本間的變變異估計計值,決定各組組及平均均值間的的變異程度,故R管制圖的的穩定性性須先解析析.E.1.1有點超過過管制上上限I.管制界限限計算錯錯誤或描描點錯誤誤;II.組內變異異或實際際制程變變異,在某時變變大或趨趨勢性變變大;III.量測系統統曾經變變更(如不同的的檢驗人人員或量量具)或量測系統沒有有足夠的的分辨率率;有點低於於管制下下限I.

37、管制界限限計算錯錯誤或描描點錯誤誤;II.實際制程程變小(變好),應調查後後推廣;III.量測量測測系統曾曾經變更更(含數據已已被編輯輯或改變變).一點超出管制界限.PreparedbyPage91連續7點遞增或或遞減.連續9點出現在在中心線線的同一一側.E.1.2有連續的的點出現現有連續9個點出現現在中心线的一側或連續6個點上升升(或下降)若連續9點出現在在上側或或連續6個點上升升I.不規則的的原因造造成較大大的數據據變異.如設備的的故障或或固定鬆動,或單一制制程條件件的改變變,或使用新新的(或不均勻勻的)原物料批批.這些問題題必須即即時糾正正;II.量測系統統變更,如檢驗人人員或量量測設備

38、備變更;若連續9點出現在在下側或或連續6個點下降降I.制程條件件造成較較小的數數據變異異,須予調查查與分析析,經確認無無特殊原因因引起的的應推廣廣;II.量測系統統的變更更,可能掩饰真實的改改變.PreparedbyPage92連續14點中相鄰鄰點上下下交替E.1.3明顯的非非隨機現現象(即超過或或少於2/3的點集中中在中間間的1/3區域內)連續14點中相鄰鄰點上下下交替I.計算錯誤誤或描點點錯誤;II.數據分層層不夠,即由兩台台加工設設備或由由兩位操操作人員員輪流進行行操作而而引起的的系統效效應;III.量測系統統的變更更,可能由兩兩台量測測儀器或或由兩位位量測人員輪流流量測而而引起的的.P

39、reparedbyPage93E.1.4發掘並矯矯正特殊殊原因對極差管管制圖上上顯示的的特殊原原因,相關單位位應進行行分析,及時採取取應對對對策,並給予橫橫向展開開,防止類似似問題再再發.E.1.5再計算管管制界限限當進行初初始制程程解析或或重估制制程能力力時,管制界限限應重新新計算,以剔除制制程在不不穩定期期間已發發掘及矯矯正的特特殊原因因,對管制界界限估算算的影響響.依E1.1E1.4再次確認認R管制圖的的點是否在在管制狀狀態下,必要時應應重新確確認、矯矯正及再再計算.注:因特殊原原因而剔剔除的數數據,其主要目目的是盡量在制制程隻有共同同原因存存在時估估計制程程變異.PreparedbyP

40、age94E.2解析Xbar管制圖當R管制圖處處於管制制狀態下下,組內變異異可認為為是穩定定後,方可解析Xbar管制圖.如各組平平均值在在管制狀狀態,可表示制制程隻有有普通原因因引起的的變異;否則,表示有特特殊原因因變異而而引起制制程中心不穩穩定.E.2.1有點超過過管制上下限,參照E.1之解析R管制圖;E.2.2有连续的点点出现,參照E.1之解析R管制圖;E.2.3明显的非非随机现现象連續14點中相鄰鄰點上下下交替,參照E.1之解析R管制圖;PreparedbyPage95連續3點中有2點在同一一側的2/3區域以外外;連續5點中有4點在同一一側的1/3區域以外外;I.管制界限限錯誤或或描點錯

41、錯誤;II.制程或抽抽樣方法法因連續續的組包包含不同同變異來來源的數數據,如進料混混批.連續5點中有4點落在中中間1/3區域外.連續3點中有2點落在中中間的2/3區域外.PreparedbyPage96連續15點在1/3區域上下下I.管制界限限、計算算錯誤或或描點錯錯誤;II.量測數據據可能經經過編輯輯(極差與均均值相差差甚遠的的幾個樣樣本數據據被更改或剔剔除);III.量測系統統可能沒沒有足夠夠的分辨辨率.當上述三三種可能能被排除除且制程程能力足足夠,應對該制制程加以以推廣.連續8點在兩側側,但無一在在1/3區域內I.管制界限限、計算算錯誤或或描點錯錯誤;II.制程或抽抽樣方法法有分層層,即

42、每組數數據系統統性地包包含不同同的制程程平均,如多線或或多機台台生產各各取一組組樣本;III.量測系統統的變更更,可能由多多台量測測儀器或或由多位位量測人人員量測測引起.連續15點在1/3區域內中中心線上上下.連續8點在中心心線兩側側,但無一點點在1/3區域內.PreparedbyPage97E.3.1如制程分分布範圍圍在規格格界限內內,且中心在規格中心心附近,可認為制制程能力力能滿足足規格要要求,可以延長長做為管管制用管制圖.E.3與規格比比較規格上限限管制上限限管制中心心值規格值管制下限限規格下限限X1X2X3X4X1X1X2X3X4X2PreparedbyPage98E.3.2若管制界界

43、限之寬寬度比規規格界限限之寬度度窄,但由于中中心偏移造成成超出上上下限時時,宜調整制程程平均值值至接近or與規格中中心一致致,方可延長長做為管管制用管管制圖界界限.X1X2X3X4X1X1X2X3X4X2管制上限限管制中心心值管制下限限規格上限限規格下限限規格值調整PreparedbyPage99E.3.3若產品界界限之寬寬度比規規格界限限之寬度度寬,表示制程程能力不足,应對原數據據層別,應用工程程與技術術知識加加以改善善.X1X2X3X4X1X1X2X3X4X2管制上限限管制中心心值管制下限限規格上限限規格下限限規格值若因技術術或經濟之限限制無法法改善,則應討論論規格界界限是否否可以寬放放.

44、若無法改改善制程程又無法法改變規規格,則全數檢檢查.PreparedbyPage100E.3.4若無規格格(藍圖)界限時,可直接延延長使用用,而由最后后成品之品質特特性,是否能滿滿足成品品規格來來檢討.X1X2X3X4X1X1X2X3X4X2管制上限管制中心值管制下限PreparedbyPage101JMPF.制程能力力研究F.1制程特性性分布之之確認藉統計軟軟體(如JMP/Minitab)或直方圖圖分析方方法,對所收集集到的樣本本數據作作初步檢檢定,確認制程程特性分分布是否否為常態態分布.若為非常常態分布布,相關單位位須對其其原因進進行分析析,並提出應對對對策.MinitabPrepared

45、byPage102F.2估計制程程平均值值及標準差差樣本數n2345678910d21.1281.6932.0592.3262.5342.7042.8472.9703.078d30.8530.8880.8800.8640.8480.8330.8200.8080.797c40.7980.8860.9210.9400.9520.9590.9650.9690.973c50.6030.4630.3890.3410.3080.2820.2620.2460.232d2是隨樣本本數變化化而改變變的常數數PreparedbyPage103F.3計算制程程能力F.3.1單邊上限限USLCpk= CPU= (USL-)/(3)ZUSL= (USL-)/F.3.2單邊下限限LSLCpk= CPL= (-LSL) /(3)ZLSL= (-LSL)/F.3.3雙邊規格格Cp= (USL-LSL)/(6)CPU= (USL-) /(3)ZUSL= (USL-) /CPL= (- LSL)/(3)ZLSL= (- LSL)/Ca=Cpk=Min(CPU, CPL) =PreparedbyPage104A.記入必要要事項將制程名名稱、管制項目目、測定單位位、規格、機械號碼碼、管制圖號號碼、測定者、操作者、數據期限限記入管管制圖;B.作管制圖圖:將解析管管制圖決決定之管管制界限限繪入管管制