统计制程管制的基础理论(与“品质”有关的文档共24张)

统计制程管制的基础理论1第一页，共24页。SPC簡介2.製程能力分析3.品管方法課程內容ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司4.SPC軟件介紹2第二页，共24页。第一章SPC簡介重點:1.SPC的概念2.SPC的功能與目的3.計數值與計量值4.管制圖的LINE5.管制圖的種類ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司3第三页，共24页。英文全稱:StatisticalProcessControl1924年由美國品管大師W.A.Shewhart博士在貝爾實驗室研究產品品質特性之次數分配時所發明。ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司一.SPC統計製程管制4第四页，共24页。英國在1932年，邀請W.A.Shewhart博士到倫敦，主講統計品質管制，而提高了英國人將統計方法應用到工業方面之氣氛。就控制圖在工廠中實施來說，英國比美國為早。日本在1950年由W.E.Deming博士引到日本。同年日本規格協會成立了品質管制委員會，制定了相關的JIS標准。ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司5第五页，共24页。二.SPC的功能與目的統計品質管理認為，變差（波動）是始終存在的.影響製程（或產品）特性波動的因素有普通原因和特殊原因統計製程管制:運用統計的方法鑑別製程中由於機遇原因或非機遇原因造成的變異.ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司6第六页，共24页。ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司三.計數值與計量值進行SPC管制的數據有很多種，總體上可以分為兩大類:1.計量值數據，通常需要進行量測才能得到如感值，長度，重量等2.計數值數據，通過數數得到的數據如不良品數，不良品率，每一產品上的缺點數等。

7第七页，共24页。四.管制圖的基本原理ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司統計理論認為母體參數可由隨機抽取的樣本來估計，SPC圖的統計基礎即在於此。一般SPC圖有六條LINE6σX平均管制下限(LCL)規格上限(USL)規格中心(SL)規格下限(LSL)管制上限(UCL)USL-LSL8第八页，共24页。五.管制圖的種類計量值控制圖平均值與全距控制圖平均值與標準差控制圖中位值與全距控制圖個別值與移動全距控制圖計數值控制圖不良率控制圖不良數控制圖缺點數控制圖單位缺點控制圖依種類分類ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司9第九页，共24页。第二章製程能力分析重點1.Cpk,Ca,Cp的名稱2.Cpk,Ca,Cp的概念3.製程能力的等級ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司10第十页，共24页。ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司一.Cpk

Cpk=（1-|Ca|）CPCpk：制程能力指數，爲綜合Ca與Cp兩者之指數，作爲制程能力的指標。

11第十一页，共24页。ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司Ca：制程準確度，是用以衡量産品平均值與規格中心值之一致性Ca=

X平均-SLMin(USL-SL,SL-LSL)對一個製程來說,|Ca|越大實際中心偏離規格中心的距離就越大;|Ca|越小實際中心偏離規格中心的距離就越小

二.Ca12第十二页，共24页。ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司三.CpCp：制程精密度，是用以衡量産品變異寬度與規格公差符合之程度Cp=

USL-LSL6σ對一個製程來說,Cp越大製程變異就越小;

Cp越小,製程變異就越大.

13第十三页，共24页。ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司四.如何判定制程能力？Cpk值可分爲A、B、C、D、E五個等級Cpk值的等級判定：

對Cpk進行等級判定後,應根據Cpk值不同的等級分別採取不同的處理原則或改進措施.現分別說明如下:等

級Cpk值A1.67≤CpkB1.33≤Cpk≤1.67C1≤Cpk≤1.33D0.67≤Cpk≤1E0≤Cpk≤0.6714第十四页，共24页。ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司第三章品管方法重點1.品質觀念2.QC七大手法15第十五页，共24页。一.品質觀念品質是檢查出來的 QI 品檢品質是製造出來的 QC 品管品質是設計出來的 QA 品保品質是管理出來的 TQC 全面品管品質是習慣出來的 TQA全面品保ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司16第十六页，共24页。二.QC七大手法特性要因圖 (Cause&EffectsChart)柏拉圖 (ParetoDiagram)直方圖 (Histogram)散佈圖(ScatteDiagram)查檢表 (CheckList)管制圖 (ControlChart)層別法 (Stratification)ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司17第十七页，共24页。ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司又称因果图，石川图或鱼刺图用图解法对影响过程或产品质量问题的各种因素进行全面系统的观察和分析，找出其因果关系使小组能集中于问题的实质，围绕问题产生集体智慧和意见集体智慧的火花集中于问题的原因而不是问题的现状特性要因图(Cause&EffectsChart)18第十八页，共24页。特性要因图的基本结构ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司特性大原因(大骨)中骨小骨主骨因素(原因)特性(结果)19第十九页，共24页。柏拉圖(ParetoDiagram)ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司又稱排列圖,是將各種不良現象從大到小進行排列並作圖,

把握问题的实质，以确定“关键的少数”.例：某厂随机调查4月1日至7月1日的产品共5000件，对其逐一检查，进行缺陷分析，得到缺陷种类及数据如下：缺陷类型断裂擦伤污染弯曲裂纹砂眼其它合计缺陷数104422010641420020第二十页，共24页。日期：4月1日至7月31日调查铸件总数：5000件ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司柏拉圖的基本圖形21第二十一页，共24页。直方图(Histogram)直方图是从工序中随机抽取样本，将从数据中获取的数据进行整理，绘成图，从中找到质量波动规律，预测工序质量的一种工具。展示用表格难以说明的大量数据显示各种数值出现的相对频率揭示数据的中心、波动及形状快速阐明数据的潜在分布为预测过程提供有利信息可以发现“过程是否能满足顾客要求”ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司22第二十二页，共24页。直方图的基本圖形2.50152.51152.52152.53152.54152.50652.51652.52652.53652.5465302520151050257172417945样本数k=90均值=2.5247标准差s=0.00894数据频数ACMEElectronics(Kunshan)Co.,Ltd.越峰電子(昆山)有限公司23第二十三页，共24