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实验三电路性能分析实验实验日期2016.11.241.实验电路图2.3.Frequency100Hz1.0KHz10KHz100KHz1.0MHz10MHz1Vdb(out2Vp(out-200-1001001-800d-400d0d2>>Frequency100Hz1.0KHz10KHz100KHz1.0MHz10MHzVdb(out-200-1004.Rval1.0K3.0K5.0K7.0K9.0K1LPBW(Vdb(out,32Max(Vdb(out0.6K0.8K1.0K1.2K1-100m100m200m2>>5.LPBW(Vdb(out,1PctofSamplesnsamples=400ndivisions=10mean=835.007sigma=26.8144minimum=745.37410th%ile=797.114median=839.14590th%ile=868.153maximum=890.076.Time0s5s10s15s20s25s30sI(L10A0.5A7.Rval0.40.60.81.01.21.41.61Overshoot(I(L12GenRise(I(L1-1.0u01.0u102.55.02>>8.VOFF=0vTime0s0.5ms1.0ms1.5ms2.0ms2.5ms3.0ms1V(V2:+2V(OUT-500mV0V500mV1-1.5V-1.0V-0.5V-0.0V0.5V1.0V1.5V2>>105-5100Hz300Hz1.0KHz3.0KHz10KHz30KHz100KHz300KHz

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