标准解读

GB/T 14849.5-2010是一项中国国家标准，专注于工业硅化学分析领域，特别是针对元素含量的测定方法。本标准详细规定了使用X射线荧光光谱法(XRF)来测定工业硅中各种元素含量的具体操作步骤、技术要求和质量控制措施。以下是该标准的主要内容概览：

标准适用范围

该标准适用于测定工业硅材料中特定元素的含量，这些元素通常包括但不限于硅、铝、铁、钙、镁、硼、磷、碳等。通过X射线荧光光谱技术，能够在不破坏样品的前提下，快速准确地获取样品中各元素的定量信息。

基本原理

X射线荧光光谱法基于当样品被初级X射线照射时，样品中的原子会吸收能量并跃迁到高能级，随后返回低能级时释放出二次X射线荧光，其能量特征与样品中元素种类相对应。通过检测这些荧光的能量和强度，可以定量分析出样品中各元素的含量。

试验条件与设备

  • 样品制备：标准要求样品需经过研磨、混合均匀后，制成适宜形状和尺寸的压片或采用熔融法制备成玻璃片，以确保测试的均匀性和代表性。
  • 仪器要求：使用X射线荧光光谱仪进行测量，仪器需要定期校准，确保测量准确性。
  • 测量参数：详细规定了测量时的管电压、管电流、测量时间等关键参数的选择与设定。

分析步骤

  1. 样品准备：按照标准规定的程序制备样品。
  2. 仪器校准：使用标准参考物质进行仪器校正，确保测量结果的准确度和精密度。
  3. 测定与记录：对样品进行X射线照射，收集荧光数据，并记录各元素的特征峰强度。
  4. 数据处理：依据校正曲线或内标法等进行数据分析，计算出各元素的含量。

质量控制

  • 重复性与再现性：标准给出了重复测定的允许偏差范围，确保不同实验室间结果的一致性。
  • 空白与对照试验：要求进行空白试验和标准样品分析，用以评估和校正背景干扰及系统误差。

报告要求

测定结果需详细报告，包括所测元素名称、含量、使用的单位以及必要的实验条件说明等。

注意事项

虽然未直接使用“解读”一词，但以上内容概括了该标准的核心内容和实施要点，旨在帮助理解如何利用X射线荧光光谱法对工业硅中的元素含量进行准确测定。


如需获取更多详尽信息，请直接参考下方经官方授权发布的权威标准文档。

....

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  • 被代替
  • 已被新标准代替，建议下载现行标准GB/T 14849.5-2014
  • 2011-01-14 颁布
  • 2011-11-01 实施
©正版授权
GB/T 14849.5-2010工业硅化学分析方法第5部分：元素含量的测定X射线荧光光谱法_第1页
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文档简介

ICS7712010

H12..

中华人民共和国国家标准

GB/T148495—2010

.

工业硅化学分析方法

第5部分元素含量的测定

:

X射线荧光光谱法

Chemicalanalysisofslionmetal—

Part5Determinationofelementscontent—

:

AnalysisusinganX-rayfluorescencemethod

2011-01-14发布2011-11-01实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布

中国国家标准化管理委员会

GB/T148495—2010

.

前言

工业硅化学分析方法分为五个部分

GB/T14849—2010《》:

第部分铁含量的测定

———1:;

第部分铝含量的测定

———2:;

第部分钙含量的测定

———3:;

第部分测定元素含量

———4:ICP-AES;

第部分元素含量的测定射线荧光光谱法

———5:X。

本部分为的第部分

GB/T148495。

本部分按照给出的规则起草

GB/T1.1—2009。

本标准由全国有色金属标准化技术委员会归口

(SAC/TC243)。

本标准负责起草单位中国铝业股份有限公司山东分公司

:。

本标准参加起草单位山东南山铝业股份有限公司中国铝业股份有限公司连城分公司

:、。

本标准主要起草人尚爱平郑全丽宗丽华王玉琴王振才臧凤美刘杨军陈泓钧邵静

:、、、、、、、、。

Ⅰ

GB/T148495—2010

.

工业硅化学分析方法

第5部分元素含量的测定

:

X射线荧光光谱法

1范围

本标准规定了工业硅中含量的测定方法

Fe、Al、Ca。

本方法适用于工业硅中含量的测定测定范围见表

Fe、Al、Ca,1。

表1

元素质量分数

/%

Fe0.050~1.500

Al0.050~1.000

Ca0.010~1.000

2方法原理

射线荧光光谱法是通过化学元素二次激发所发射的射线谱线的波长和强度测量来进行定性

XX

和定量分析由光管发生的初级射线束照射在试样上试样内各化学元素被激发出各自的二次特征

。X,

辐射这种二次射线通过准直器到达分光晶体只有满足衍射条件的某个特定波长的辐射在出射晶体

,。

时得到加强而其他波长的辐射被削弱

,。

该方法根据定理即公式

Bragg,(1):

nλ=dθ

2·sin…………(1)

式中

:

n衍射级数

———;

λ入射光束特征辐射的波长单位为纳米

———(),(nm);

d晶体面间距单位为厘米

———,(cm);

θ入射光与晶面间的夹角单位为度

———,(°)。

在定量分析时首先测量系列标准样品的分析线强度绘制强度对浓度的校准曲线并进行必要的

,,,

基体效应的数学校正然后根据分析试样中元素谱线的强度求出元素含量

,。

3仪器和材料

31波长色散型射线荧光光谱仪靶光管

.

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