标准解读

《ys/t 83-2006 光谱分析用钯基体》相较于《ys/t 83-1994》主要在以下几个方面进行了调整或更新：

  1. 范围定义更加明确：新标准对适用范围给出了更清晰的界定，确保了该标准适用于光谱分析中作为校准材料的钯基体。

  2. 术语和定义部分有所增补：为了使标准内容更加易于理解且专业，《ys/t 83-2006》增加了相关术语及其定义，帮助使用者更好地把握标准的具体要求和技术细节。

  3. 技术要求更加严格：新版标准提高了对于钯基体纯度的要求，并详细规定了杂质元素的最大允许含量，旨在提高分析结果的准确性和可靠性。

  4. 测试方法与检验规则更新：针对样品制备、化学成分分析等关键环节，《ys/t 83-2006》引入了新的测试技术和流程控制措施，同时修订了相应的检验规则，以适应现代检测技术的发展趋势。

  5. 标志、包装、运输及贮存条件细化：为保证产品质量不受外界因素影响，《ys/t 83-2006》对产品的标识信息、包装方式以及运输和存储条件提出了更为具体的要求。


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  • 被代替
  • 已被新标准代替
  • 2006-05-25 颁布
  • 2006-12-01 实施
©正版授权
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文档简介

ICS77.120.99YSH68中华人民共和国有色金属行业标准YS/T83-2006代督YS/T83—1004光谱分析用钯基体BasispalladiumasSpectralanalysis2006-05-25发布2006-12-01实施中华人民共和国国家发展和改革委员会发布

YS/T83-2006前本标准是对YS/T83—1994《光谱分析用钯基体》的修订。本标准与YS/T83—1994相比,主要有如下变动：-需要测定的杂质元素由原标准规定的12个增加到18个.新增加元素为Mn、Cr.Sn、Zn、Bi、Ru。-对原标准的试验方法进行了细化。本标准自实施之日起,同时代替YS/T83—1994.本标准由全国有色金属标准化技术委员会提出并归口本标准由贵研铂业股份有限公司负责起草。本标准主要起草人：谭文进、石红、刘文、塞祝明、赵飞本标准由全国有色金属标准化技术委员会负责解释。本标准所代替标准的历次版本发布情况为：-YB1707-1978；YS/T83-1994。

YS/T83-2006光谱分析用钯基体1范围本标准规定了光谱分析用钯基体的要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输、贴存本标准适用于光谱分析纯度为99.9%～99,99%的钯时所用钯基体范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件.其随后所有的修改单(不包括误的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。GB/T1420—2004海绵钯附录A、附录B3要求产品分类按钯的含量分为两个牌号：SM-Pd99.999、SM-Pd99.9953.2化学成分3.2.1钯基体的化学成分应符合表1的规定表1化化学成分SM-Pd99.995SM-Pd99.999把含量不小于99.99599.9990.000050.000010.000050.000010.00010.00010.000030.00001学学.0000i.000010.000010.00001成质0.000050.000010.00005含0.000010.000050.000010.00003质.00001不0.000010.00001.0001天0.00010.00003数0.000050.0000500.00010.000050.0001

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