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文档简介

改变。固体的表面也与液体表面不同，不存在理想的平滑表面。固大多数固体表面，在组分上或结构上都是和体内不一样的。(1)组分不会在表面富集，称为表面偏析或分凝，掺杂生长的内不同，不仅能在表面形成吸附层，还可以在表面生成化合物。(2)表面的排列与体内不同。晶体中的原子处于有规律的周期性排列状态，而在表面这种周期突然中断，表面出指置的上移或下移，以此来降低体系能量的现象。晶体表面原子周期性的突然中往往是吸附活性点，对催化等非常重要。(3)表面的电子结构与体内原子结构“表面”的研究，不仅是一种基础理论工作，而且其潜在的实际应用价值也很大。散射粒率、方X子A+*+e-。只有当光子能量(hν)大于临阈光子能量(hν0)时，即光解离作用发光电离截面(σ)说就是光电离作用的几率，或者说是某能级的电子对入射光子有效转移面积，也可以认为是一定能量的光子与原子作用时，从某个能级激发出一电子平均自由程(λ)X谱发展历史rtz1954年，瑞典乌普沙拉(Uppsala)大学的凯.西格班(KaiM.Siegbahn)领X分析基本原理结合能是指原子中某个电子吸收了光子的全部能量X能谱图分析以检测器单位时间内接收的光电子数(光电子强度)对电子结合能或光电峰且两峰的面积X谱图X扫描和窄扫描两部分谱图组成，一般定性分析首先进行全扫描(整个X射线光电子能量范围扫描)以鉴定存在的元素；再图2-4Si-Ti基底上的Pt纳米线阵列的XPS图(a)全谱(b)Pt4f的精细谱轨道的特性，因此其电子结合能具有特征性，不同元素原子可以产生完全的电子谱线，所以相邻元素的识别也不会发生混淆。这样就可以对样品表度为几埃到几十埃，对多组分样品，元素的检测限为％(原子分数)。杂的退激发过程，释放出子的电子壳层)原子光电df具。出现不同，而携下X析的实验技术特殊的要求，在通常情况下只能对固分析。由于涉及到样品在超高真空中的传递和分析，待分析的样品，粉体样品的处理,挥发性理。法，一种是用双面胶带直接把粉体固定在样品台压成薄片，然后再固定在样品台上。前者的优点是制抽到高真空的时间较短，缺点是可能会引进胶带的成，一般采用胶带法制样。后者的优点是可在真空中对的时间太长。制样方法，一种是用双面胶带直接把粉空的时间较短，缺点是进行处理，如原位反应等，其信号强度也用量太大，抽到超高真空的时间太长质的样清除掉挥发性物质。一般可以通过对样品加热品时，应该保证样品中的成份不发生化学变，在进入真空系统前必须用油溶性溶剂燥。面出射的光电子就会在磁场的作用下偏离接收角，最后入分析室。一般对于具有弱磁性的样品，可以通过退磁的方法去掉样品的微弱可定量地剥离一定厚度的表面层，然作为深度分析的离子枪，一般采用~5KeV的Ar离子源。扫描离子束的束 (1)固体样品用量小，不需要进行样品前处理，从而避免了引入或丢失元素所 m (3)分

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