DB37T 4361-2021螺栓相控阵超声检测技术规程

37ThetechnicalcodeofPhased-arrayUltrasonicTestingforinspectingbolts 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。东省特种设备协会、武汉中科创新技术股份有限公司、北京邹展螺栓相控阵超声检测技术规程本文件规定了紧固件螺栓相控阵超声检测工艺方法和质量评本文件适用于直径大于等于32mm的紧固件螺栓相控阵超声检测。其他规格及粗晶材质的螺栓，经GB/T11259无损检测超声检测用钢参考试块的制作和控制方法GB/T29302无损检测仪器相控阵超声检测系统的性能与检验GB/T23905无损检测超声检测用JB/T8428无损检测超声试JB/T11731无损检测超声相控阵探头通用技GB/T12604.1界定的术语和定义适用于本文4.1检测人员4.1.3检测人员应熟悉所使用的相控阵检测设备。4.2检测设备和器材b)中心频率偏差的最大允许值为标称频率的±10%；c)导向部分应能在扫查时使探头运动轨迹与拟扫查轨迹保持一致；e)扫查装置应具有确定探头位置的功能，可通过位置传感器或步进电机实现对位置的定位与控4.3.1试块分为校准试块、对比试块及模拟试块。4.3.2校准试块。相控阵超声检测a)本文件采用的对比试块型号为LS-1、螺栓槽型反射体对比试块，具体形状尺寸应符合附录Ac)对比试块的其他制作要求应符合GB/4.4耦合剂4.4.1应选用具有良好的透声性、易清洗、无毒无害，有适宜流动性的材料；对工件、人体及环境无4.4.2实际检测采用的耦合剂应与检测系统4.5仪器设备的校准、核查4.5.1相控阵仪器的性能指标应每年进行一次校准。仪器的水平线性和垂直线性应每隔六个月至少进4.5.4在首次使用前或每隔一个月应对位置传感器进行校准，调整设备参数使仪器显示的位移与实际4.6检测系统复核4.7扫描类型及显示方式4.7.1检测时，一般采用扇形扫描、电子扫描。可根据被检产品的结构类型、工艺要求等，预计可能产生的缺陷种类、形状、部位和取向，选择其他扫描4.8检测区域4.9检测准备4.10聚焦法则设置4.11角度增益补偿试块B1区系列Φ1横通孔或同类型的其他试块进行调试，探头放置位4.12检测工艺文件4.12.1相控阵检测工艺规程至少应包括以下内容：b)遵循的标准规范；c)被检工件情况（名称、编号、材质、规格、结构形式、表面状态等f)对检测设备（仪器、探头、试块）的要求；g)检测参数及要求：包括检测覆盖区域、检测时机、仪器、探头及楔块的参数设置或选择、扫查方法的选择、扫查面的准备、扫查面及探头位置的确定等，以及检测系统的设置（激发孔h)扫查示意图：图中应标明工件尺寸、结构形式、扫查面、探头位置、移动范围、扫描波束角4.12.2操作指导书至少应包括以下内容：d)检测准备：包括确定检测区域、扫查面的确定及准备、扫描方式及扫查方式的选择、探头位f)数据采集、缺陷记录方法要求等；g)检测人员资质、编制、审核、日期等。4.13温度与安全要求4.13.2检测时，被检工件表面温度应控制在0℃~50℃。若超出此范围应通过实验验证设备的适用5.1检测方法的选择b)螺栓端面无法放置探头时，采用横波法在光杆处进行检测；c)纵波法无法覆盖螺栓的全体积时或横波法检测条件受限时，可5.2相控阵纵波法a)无中心孔刚性螺栓本侧与对侧检测、柔性螺栓本侧及光杆检测，螺栓单侧有效检测长度应不b)有中心孔螺栓的本侧及内壁缺陷检测。M32M38M42M48M52M56M64M72M76相控阵探头频率一般为2MHz～5MHz，探头有效面积不小于80mm2，主动激发孔径不小于8mm，晶片注2：当检测轴向范围超过200mm时，每增加10）； R——螺栓半径，mm；5.3相控阵横波法相控阵横波探头角度范围宜选取35°~70°,探头频率一般2MHz～7.5MHz，晶片数量一般为16~b)螺纹处缺陷指示长度的测定：测定缺陷螺纹其后第一个螺纹反射波幅降幅超过50%的区间长h)操作指导书编号、工艺规程编号；a)委托单位、报告编号；A.1校准试块用于螺栓相控阵超声检测的校准试块，简称A型和B型试块，其制造要求应符合GB/T11259和JB/TA.2对比试块用于螺栓相控阵超声检测的对比试块有LS-1试块、槽型对比试块，其制造要求应符合GB/T11259该项测试要求仪器软件能够对相控阵探头的每个晶片进a)未见底面回波信号的晶片；C