标准解读

《GB/T 43088-2023 微束分析 分析电子显微术 金属薄晶体试样中位错密度的测定方法》是一项国家标准，旨在为通过分析电子显微镜技术测量金属薄晶体试样中的位错密度提供一套规范化的指导。该标准详细规定了从样品制备到数据处理的一系列步骤和技术要求。

首先，在样品准备阶段，标准明确了适用于此方法的材料类型及其预处理要求，包括但不限于表面抛光、电解减薄等步骤，以确保最终得到的样品能够满足透射电子显微镜观察的需求。同时，对于不同材质可能需要采用不同的减薄参数也给予了建议。

接着，关于实验条件的选择与设置方面，《GB/T 43088-2023》提出了具体的要求。这包括但不限于加速电压的选择、放大倍数的调整以及成像模式（如明场或暗场）的应用等，这些都是为了保证所获取图像的质量和准确性。

在数据采集过程中，本标准强调了对选定区域内位错进行系统性统计的重要性，并给出了如何正确标记并记录下每个观测点上存在的位错数量的方法。此外，还讨论了如何利用软件工具辅助完成这一过程，提高工作效率的同时减少人为误差。

最后，当所有必要的信息都已收集完毕后，《GB/T 43088-2023》提供了计算平均位错密度的具体公式及步骤。它不仅考虑到了直接可见的位错线长度，同时也引入了修正因子来补偿那些因取向效应而未能被直接观察到的部分。通过这样的方式，可以获得一个更加全面且准确反映实际状况的结果。


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....

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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 2023-09-07 颁布
  • 2024-04-01 实施
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GB/T 43088-2023微束分析分析电子显微术金属薄晶体试样中位错密度的测定方法_第1页
GB/T 43088-2023微束分析分析电子显微术金属薄晶体试样中位错密度的测定方法_第2页
GB/T 43088-2023微束分析分析电子显微术金属薄晶体试样中位错密度的测定方法_第3页
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文档简介

ICS7104050

CCSG.04.

中华人民共和国国家标准

GB/T43088—2023

微束分析分析电子显微术金属薄晶体

试样中位错密度的测定方法

Microbeamanalysis—Analyticalelectronmicroscopy—Measurement

ofthedislocationdensityinthinmetals

2023-09-07发布2024-04-01实施

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/T43088—2023

目次

前言

…………………………Ⅲ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语和定义

3………………1

符号

4………………………2

方法概述

5…………………3

设备

6………………………3

试样

7………………………4

测定方法

8…………………4

数据处理

9…………………6

测定结果的不确定度

10……………………7

试验报告

11…………………8

附录资料性小变形退火钢中位错密度的测量示例

A()IF……………9

附录资料性变形铝合金中位错密度的测量示例

B()…………………17

参考文献

……………………21

Ⅰ

GB/T43088—2023

前言

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规

GB/T1.1—2020《1:》

定起草

。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任

。。

本文件由全国微束分析标准化技术委员会提出并归口

(SAC/TC38)。

本文件起草单位首钢集团有限公司国标北京检验认证有限公司

:、()。

本文件主要起草人孟杨鞠新华朱国森付新马通达崔桂彬史学星闫贺王泽鹏王雅晴

:、、、、、、、、、、

严春莲

。

Ⅲ

GB/T43088—2023

微束分析分析电子显微术金属薄晶体

试样中位错密度的测定方法

1范围

本文件规定了利用透射电子显微镜测量金属薄晶体中位错密度的设备试样测定方法数

(TEM)、、、

据处理测定结果的不确定度和试验报告

、。

本文件适用于测定晶粒内不高于15-2的位错密度也适用于测量几十纳米至几百纳米厚

1×10m。

度金属薄晶体试样中单个晶粒内的位错密度

。

注1试样在制备时位错会从表面逸出当薄晶体试样厚度较小时逸出的位错占比相对较大对测量准确性影响

:,,,

较大

。

注2位错塞积无法辨识时塞积的位错占比较大晶粒内的位错密度可能会远低于试样中的实际位错密度

:,,。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款其中注日期的引用文

。,

件仅该日期对应的版本适用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于

,;,()

本文件

。

微束分析分析电子显微术透射电镜选区电子衍射分析方法

GB/T18907

微束分析薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

GB/T20724

微束分析分析电子显微学术语

GB/T40300

3术语和定义

和界定的以及下列术语和定义适用于本文件

GB/T20724GB/T40300。

31

.

位错密度dislocationdensity

ρ

单位体积薄晶体试样中所含位错线的总长度

。

32

人人文库> 全部分类> 行业资料 > 各类标准

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