2023年材料测试方法选择判断填空题库

第一章

二、正误题

一、选择题

1.用来进行晶体结构分析X射线学分支是（）1.随X射线管电压升高，入。和L所有随之减小。（）

A.X射线透射学；B.X射线衍射学;C.X射线光谱学；D.其它

2.激发限和吸取限是一回事,只是从不同样角度看问题。（）

2.M层电子回迁到K层后，多余能量放出特性X射线称（）3.经滤波后X射线是相对的单色光。（）

A.Ka；B.KP;C.Ky：D.La

o4.产生特性X射线前提是原子内层电子被打出核外,原子处在激发状态。（）

5.选择滤波片只要依据吸取曲线选择材料，而不需要考虑厚度。（）

3.当X射线发生装置是Cu靶，滤波片应选（）

A.Cu;B.Fe;C.Ni;D.MOo三、填空题

1.当X射线管电压超过临界电压就可以产生X射线和

4.当电子把所有能量所有转换为X射线时，该X射线波长称（）X射线。

A.短波限入0；B.激发限入k；C.吸取限;D.特性X射线2.X射线和物质互相作用可以产

生、、、、

5.当X射线将某物质原子K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一

个L层电子打出核外，这整个过程将产生（）（多选题）A光电子；B.二次荧光;

3.通过厚度为H物质后,X射线强度为

C.俄歇电子;D.(A+C)

4.X射线本质既是也是,具有A.是否满足布拉格条件；B.是否衍射强度IWO；C.A+B;D.晶体形状。

性。

5.短波长X射线称常见于;氏波长X射4.面心立方晶体（111）晶面族多重性因素是（）o

线称

A.4;B.8；C.6;D.12«

，常见于.

第二章二、正误题

一、选择题1.倒易矢量能唯一地代表相应正空间晶面。（）

1.有一倒易矢量为g*=2a*+20*+c*,和它相应正空间晶面是（）»2.X射线衍射和光反射同样,只要满足入射角等于反射角就行。（）

A.（210）；B.（220）;C.（221）;D.（110）；＜.3.干涉晶面和实际晶面区分在于：干涉晶面是虚拟，指数间存在条约数n。（）

4.布拉格方程只包含X射线衍射方向，不能反映衍射强度。（）

2.有一体心立方晶体晶格常数是0.286nm,用铁靶K.（入K°=0.194nm）照

5.结构因子F和形状因子G所有是晶体结构对衍射强度影响因素。（）

射该晶体能产生（）衍射线。

A.三条;B.四条；C.五条;D.六条。

三、填空题

1.倒易矢量方向是相应正空间晶面；倒易矢量长度等于相

3.一束X射线照射到晶体上能否产生衍射取决于（

应。

2.只要倒易阵点落在厄瓦尔德球面上，就表达该满足条件，能

产生。2.德拜法中有助于提高测量精度底片安装方法是（）。

3.影响衍射强度因素除结构因素、晶体形状外尚A.正装法；B.反装法；C.偏装法；D.A+B。

有，，，--

4.考虑所有因素后衍射强度公式3.德拜法中对试样规定除了无应力外,粉末粒度应为（）»

为_____________________________________________,对于粉末多晶相对强度

A.<325目;B.>250目；C.在250—325目之间;D.任意大小。

为。

5.结构振幅用_表达，结构因素用表达，结构因素=0时没有衍射我们称

4.测角仪中，探测器转速和试样转速关系是（）。

或o对于有序固溶体,原本消光地方会出现。

A.保持同时2：1；C.1：2;D.1：0。

四、名词解释

5.衍射仪法中试样形状是（）。

倒易点阵一一系统消光——衍射矢量一一形状因子一一相对强度一

A.丝状粉末多晶;B.块状粉末多晶;C.块状单晶;D.任意形状。

第三章

五、选择题

六、正误题

1.最常见X射线衍射方法是（）。

1.大直径德拜相机可以提高衍射线接受分辨率，缩短暴光时间。（

A.劳厄法；B.粉末多法;C.周转晶体法;D.德拜法。

2.在衍射仪法中，衍射几何包含二个圆。一个是测角仪圆，另一个是辐射源、探测器八、选择题

和试样三者还必需在同一聚焦圆。（）

1.测定钢中奥氏体含量，若采用定量X射线物相分析，常见方法是（）»

3.选择小接受光栏狭缝宽度，可以提高接受分辨率,但会减少接受强度。（）

A.外标法；B.内标法；C.直接比较法；D.K值法。

4.德拜法比衍射仪法测量衍射强度更对的。（）

5.衍射仪法和德拜法同样，对试样粉末规定是粒度均匀、大小适中，没有应力。（）2.X射线物相定性分析时，若已知材料物相可以查（）进行核对。

A.Hanawalt索引；B.Fenk索引；C.Davey索弓|;D.A或B。

七、填空题

1.在粉末多晶衍射摄影法中包含、和。3.德拜法中对的测定点阵常数其系统误差起源于（）。

2.德拜相机有两种，直径分别是和9mmo测量©角时,底片上A.相机尺寸误差;B.底片伸缩；C.试样偏心；D.A+B+C。

每毫米相应_1和%

3.衍射仪关键是测角仪圆，它由、和共同组成。4.材料内应力分为三类，X射线衍射方法可以测定（）。

4.可以用作X射线探测器有、和A.第一类应力（宏观应力）；B.第二类应力（微观应力）；C.第三类应力;D.A

等。+B+C。

5.影响衍射仪实验结果参数有、和等。

5.Si力明则量应九通常取中为（）进行测量。

第四章

A.拟定中角；B.0-45°之间任意四点;C.0°、45。两点;D.0°、15°、30°、457.X射线物相分析包含和,而更常见更广泛。

。四点。

8.第一类应力导致X射线衍射线;第二类应力导致衍射

线;第三类应力导致衍射线。

九、正误题

9.X射线测定应力常见仪器有和,常见方法有

1.要对的测量点阵常数。必需一方面尽也许减少系统误差，另一方面选高角度0角,和。

最终还要用直线外推法或柯亨法进行数据解决。（）

10.X射线物相定量分析方法有、、等。

2.X射线衍射之所以可以进行物相定性分析，是由于没有两种物相衍射把戏是完

第五章

全相同。（）

H—、选择题

3.理论上X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相，而定量分析

1.若H-800电镜最高分辨率是0.5nm,那么这台电镜有效放大倍数是（）。

可以告诉我们这些物相含量有多少.（）

A.1000;B.IOOOOJC.40000;D.600000

4.只要材料中有应力就可以用X射线来检测。（）o

5.衍射仪和应力仪是相同，结构上没有区分。（）

2.可以消除像差是（）»

A.球差；B.像散；C.色差;D.A+B。

十、填空题

6.在△0一定情况下，0-二，Asin。一_;所以对的测定点阵常数应选择

3.可以提高TEM衬度光栏是（）。

9。

A.第二聚光镜光栏;B.物镜光栏：C.选区光栏;D.其它光栏。5.TEM景深和焦长随分辨率Ar。数值减小而减小;随孔径半角a减小而增长；随放

大倍数提高而减小。（）

4.电子衍射成像时是将（）o

十三、填空题

A.中间镜物平面和和物镜背焦面重合；B.中间镜物平面和和物镜像平面重合；

C.关闭中间镜;D.关闭物镜。11.TEM中透镜有两种,分别是和，

12.TEM中三个可动光栏分别是在,

5.选区光栏在TEM镜筒中位置是（）。在,在。

A.物镜物平面;B.物镜像平面C.物镜背焦面；D.物镜前焦面。13.TEM成像系统由、和组成。

14.TEM关键组成部分是、和观;辅助部分

十二、正误题由、和组成.

1.TEM分辨率既受衍射效应影响，也受透镜像差影响。（）15.电磁透镜像差包含、和。

2.孔径半角a是影响分辨率关键因素,TEM中a角越小越好。（）

十四、名词解释

3.有效放大倍数和仪器可以达成放大倍数不同样，前者取决于仪器分辨率和人眼分

辨率，后者仅仅是仪器制造水平。（）景深和焦长——点分辨和晶格分辨率一一消像散器一一选区衍射一一

4.TEM中关键是电磁透镜，由于电磁透镜不存在凹透镜,所以不能象光学显微镜那第六章

样通过凹凸镜组合设计来减小或消除像差,故TEM中像差所有是不可消除。（）

十五、选择题

1.单晶体电子衍射把戏是（）。6.假如单晶体衍射把戏是正六边形，那么晶体结构是（）o

A.规则平行四边形斑点；B.同心圆环;C.晕环；D.不规则斑点。A.六方结构;B.立方结构；C.四方结构;D.A或B。

2.薄片状晶体倒易点形状是（）。十六、鉴定题

A.尺寸很小倒易点；B.尺寸很大球；C.有一定长度倒易杆;D.倒易圆盘。1.多晶衍射环和粉末德拜衍射把戏同样，随着环直径增大，衍射晶面指数也由低到

高。（）

3.当偏离矢量S<0时，倒易点是在厄瓦尔德球（）。2.单晶衍射把戏中所有斑点同属于一个晶带。（）

A.球面外；B.球面上;C.球面内；D.B+C。3.由于李晶是同样晶体沿挛晶面两则对称分布，所以挛晶衍射把戏也是衍射斑点

沿两则对称分布。（）

4.能帮助消除180。不唯一性复杂衍射把戏是（）。4.偏离矢量S=0时,衍射斑点最亮。这是由于S=0时是对的满足布拉格方程,所以

衍射强度最大。（）

A.高阶劳厄斑；B.超结构斑点;C.二次衍射斑;D,李晶斑点。

5.对于未知晶体结构,仅凭一张衍射把戏是不能拟定其晶体结构。还要从不同样位

向拍摄多幅衍射把戏，并依据材料成份、加工历史等或结合其它方法综合鉴定晶体

5.菊池线可以帮助（）o

结构。（）

A.估量样品厚度；B.拟定180。不唯一性；C.判别有序固溶体;D.对的测

6.电子衍射和X射线衍射同样必需严格符合布拉格方程。（）

定晶体取向。

十七、填空题十九、选择题

16.电子衍射和X射线衍射不同样之处在于不同样、1.将某一衍射斑点移到荧光屏中心并用物镜光栏套住该衍射斑点成像，这是（）。

不同样，和不同样。

A.明场像;B.暗场像；C.中心暗场像;D.弱束暗场像。

17.电子衍射产生复杂衍射把戏

是、、、

2.当t=5s/2时，衍射强度为（）o

和»

A.lg=0；B.Ig<0；C.lg>0;D.Ig=lmaxo

18.偏离矢量S最大值相应倒易赴长度,它反映是0角布拉格方程限度。

19.单晶体衍射把戏标定中最关键一步是.

3.已知一位错线在选择操作反射gk（110）和g2=（111）时，位错不可见，那么

20.二次衍射可以使密排六方、金刚石结构把戏中在产生衍射它布氏矢量是（）。

把戏,但体心立方和面心立方结构把戏中。

A.b=（0-10）；B.b=（1-10）；C.b=（0-11）;D.b=（010）,

十八、名词解释

4.当第二相粒子和基体呈共格关系时，此时成像衬度是（）。

偏离矢量S180°不唯一性菊池线高阶劳厄斑

A.质厚衬度;B.衍衬衬度；C,应变场衬度;D.相位衬度。

5.当第二相粒子和基体呈共格关系时，此时所看到粒子大小（

第七章

A.小于真实粒子大小;B.是应变场大小;C.和真实粒子同样大小；D.远远大于或_________________________

真实粒子。

23.对于缺陷晶体，缺陷衬度是由缺陷引发导致衍射波振幅增长

了一个，但是若=2n整数倍时，缺陷也不

二十、鉴定题产生衬度。

1.实际电镜样品厚度很小时，能近似满足衍衬运动学理论条件，这时运动学理论能24.通常情况下，挛晶和层错衬度像所有是平行,但李晶平行

很好地解释衬度像。（）线而层错平行线是。

2.厚样品中存在消光距离&g,薄样品中则不存在消光距离&g。（）25.实际位错线在位错线像，其宽度也大大小于位错线像宽度,这是由于位

错线像宽度是宽度。

3.明场像是质厚衬度,暗场像是衍衬衬度。（）

4.晶体中只要有缺陷，用透射电镜就可以观测到这个缺陷。（）

二十二、名词解释

5.等厚消光条纹和等倾消光条纹通常是形貌观测中干扰，应当通过更加好制样来避

中心暗场像等厚消光条纹和等倾消光条纹不可见性判据应变场衬度

免它们出现•（）

第八章

二十一、填空题

二十三、选择题

21.运动学理论两个基础假设是和。

1.仅仅反映固体样品表面形貌信息物理信号是（）。

22.对于抱负晶体，当_____________________或连续改

变时衬度像中会出现A.背散射电子;B.二次电子；C.吸取电子；D.透射电子。

2.扫描电子显微镜分辨率关键取决于物理信号而不是衍射效应和球差。（）

2.在扫描电子显微镜中，下列二次电子像衬度最亮区域是（）。

3.扫描电子显微镜衬度和透射电镜同样取决于质厚衬度和衍射衬度。（）

A.和电子束垂直表面；B.和电子束成30°表面；C.和电子束成45°表面；D.

4.扫描电子显微镜具有大景深，所以它可以用来进行断口形貌分析观测。（）

和电子束成60°表面。

5.波谱仪是逐个接受元素特性波长进行成份分析;能谱仪是同时接受所有元素特性

X射线进行成份分析。（）

3.可以探测表面Inm层厚样品成份信息物理信号是（）。

A.背散射电子;B.吸取电子；C.特性X射线;D.俄歇电子。

二十五、填空题

26.电子束和固体样品互相作用可以产生

4.扫描电子显微镜配置成份分析附件中最常见仪器是（）。

、、、

A.波谱仪；B.能谱仪；C.俄歇电子谱仪；D.特性电子能量损失谱。

、、等物理信号。

27.扫描电子显微镜放大倍数是扫描宽度和扫描宽度

5.波谱仪和能谱仪相比，能谱仪最大优点是（）。

比值。在衬度像上颗粒、凸起棱角是衬度,而裂纹、凹坑则是衬度。

A.快速高效;B.精度高；C.没有机械传动部件;D.价格便宜。

28.分辨率最高物理信号是为nm,分辨率最低物理信号是

为nm以上。

二十四、鉴定题29.电子探针包含和两种仪器。

1.扫描电子显微镜中物镜和透射电子显微镜物镜同样。（）30.扫描电子显微镜可以替换进行材料观测，也可

以对—进行分析观测。

二十六、名词解释

1.背散射电子、吸取电子、特性X射线、俄歇电子、二次电子、透射电子。

2.电子探

倒易平面针、如何操作透射电子显微镜使其从成像方法转为衍射方法

■正空间中的任意一组晶正空间

波谱

面在倒易空间中后2,2）

答:透射电子显微镜中成像操作就是把中间镜物平面和物镜像平面重合，这时只要把

都对应着一个倒易点

仪、