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PAGEPAGE24实验七集成触发器的逻辑功能测试及应用一实验目的1．熟悉JK触发器的基本原理及逻辑功能。2．熟悉D触发器的基本原理及逻辑功能，并掌握其寄存器移位功能。3．触发器应用。二、实验仪器及器件仪器：逻辑箱，示波器，数字万用表器材：74LS74、74LS76、74LS00三、实验基本原理：JK触发器有J输入端和K输入端，而其RD端和SD端则具有置“0”置“1”功能，逻辑功能如下：当J=K=1时，CP脉冲作用下，触发器状态翻转，写成n+1=当J=K=0时，CP脉冲作用下，触发器保持原状态，写成On+1=n。当J=1，K=0时，在CP脉冲作用下，触发器置“1”，写成n+1=1。当J=0，K=1时，在CP脉冲作用下，触发器置“0”，写成n+1=0。四、触发器的逻辑功能测试：1．JK触发器（选择74LS76）（1）触发器置“0”“1”的功能测试：表7—1JK触发器SD、RD功能表SDRD有CP无CP100100将SD、RD分别接开关Ki+1、Ki，、分别接发光二极管Li+1，Li，按表7—1要求改变SD，RD（J，K，CP处于任意状态），并在SDRD作用期间，任意改变J、K、CP的状态，观察和的状态，将结果记录于表7—1。（2）J、K触发器逻辑功能的测试：将J、K分别接开关，而上述实验中的SD、RD所接开关保持，并置于SD=1，RD=1的状态，时钟CP接单脉冲信号源的输出P+，按表7—2要求，将结果记录于表7—2。（3）将JK触发器J=K=“1”，构成计数电路，用双踪示波器观察CP、的波形QCP图7—QCP表7—2JK触发器逻辑功能CPJKnn+1↓000↓001↓010↓011↓100↓101↓110↓1112．D触发器：（选择74LS74）触发器置“0”置“1”功能的测试：将SD、RD分别接开关，、分别接发光二极管，按表7—3要求改变SD、RD（D及CP处于任意状态）并在SD、RD作用期间，任意改变D与CP的状态，测试SD、RD的功能，并将测试结果记录于表7—3。对D触发器逻辑功能的测试，结果记录于表7—4。将D触发器的D与相接，构成计数电路，用双踪示波观察其CP、的波形。CPCPQ图7—2表7—3D触发器SD、RD功能表表7—4D触发器逻辑功能表SDRD100100CPDnn+1↑00↑01↑10↑11五、触发器应用：JCKJJCKJCKJCKJCK0123进位输出图7—3用JK主从触发器组成的异步二进制递增计数器0123进位输出2．用二个D触发器组成移位寄存器如图7—41D1 CP1D1 CP2D2CP3D3CP4D4CPCP3．R—S触发器的功能测试与应用：如图7—5（1）选择74LS00芯片，接成基本R—S触发器形式，测试其功能。（2）将输

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