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材料分析方法智慧树知到期末考试答案2024年材料分析方法俄歇电子的能量与激发源能量大小无关

A:错B:对答案:对倒易点阵是衍射波的方向在空间的分布

A:正确B:错误答案:错误分子振动时伴有极化率改变者具有红外活性,伴有偶极矩变化者具有拉曼活性。

A:错误B:正确答案:错误核磁共振波谱中对于OCH3,CCH3和NCH3,NCH3的质子的化学位移最大。

A:对B:错答案:错成分和价键分析的手段有EDS、XPS和WDS

A:错B:对答案:对XPS的信号比AES的信号产生的深度大

A:对B:错答案:对X光谱的能量分辨率比电子能谱的能量分辨率高

A:正确B:错误答案:错误在阿贝成像原理中,不同物点的同级衍射波在后焦面的衍射形成衍射谱。

A:正确B:错误答案:错误在电子衍射花样中,每一个衍射斑点是由一系列的衍射波造成的

A:正确B:错误答案:错误能谱仪采谱速度慢、稳定性好、结构紧凑

A:对B:错答案:错扫描探针显微镜可以在液氮温区下工作。

A:正确B:错误答案:正确成分和价键分析的基本依据是原子核外电子的跃迁产生的信号

A:错B:对答案:对核磁共振波谱法与红外吸收光谱法一样,都是基于吸收电磁辐射的分析法

A:对B:错答案:对接触式原子力显微镜中探针与样品的距离小于0.1nm。

A:错B:对答案:错常规碳谱不能定量,其原因与核的NOE效应以及弛豫时间有关。

A:错误B:正确答案:正确自旋核的磁旋比γ随外磁场强度变大而变大

A:错误B:正确答案:错误能进行选区电子衍射的电子束是低能电子

A:错误B:正确答案:错误碳谱的相对化学位移范围较宽(0~200),所以碳谱的灵敏度高于氢谱。

A:正确B:错误答案:错误XPS的化学位移要比俄歇电子的化学位移大得多,更适合于表征化学环境的作用

A:对B:错答案:对扫描电镜与()配合使用,可以分析样品的元素成分及元素分布

A:X射线能谱仪B:X射线光电子能谱仪C:俄歇电子能谱仪D:二次离子质谱仪答案:X射线能谱仪特征X射线的波长是由()决定

A:高压电场B:热阴极种类C:阳极靶元素D:样品种类答案:热阴极种类关于背散射电子的描述,错误的是()

A:成分衬度反映样品原子序数差异B:可以显示形貌衬度和成分衬度C:原子序数Z越大,发射系数越大D:分辨率比二次电子高答案:分辨率比二次电子高扫描电子显微镜的分辨率由什么信号决定()

A:二次电子B:背散射电子C:吸收电子D:俄歇电子答案:二次电子原子核外的K层电子被激发,L层电子向K层电子跃迁时辐射的X射线为()

A:Lα辐射B:Lβ辐射C:Kα辐射D:Kβ辐射答案:Kα辐射某一个自旋核,产生核磁共振现象时,吸收电磁辐射的频率大小取决于

A:外磁场强度大小B:试样的纯度C:在自然界的丰度D:试样的存在状态答案:外磁场强度大小自旋核的磁旋比γ随外磁场强度变大而

A:不改变B:稍改变C:变大D:变小答案:不改变下列化合物的1HNMR谱,各组峰全是单峰的是

A:CH3-OOC-CH2-COO-CH3B:CH3-OOC-CH2CH3C:(CH3)2CH-O-CH(CH3)2D:CH3CH2-OOC-CH2CH2-COO-CH2CH3答案:CH3-OOC-CH2-COO-CH3下列关于扫描探针显微镜的描述,错误的是()

A:分辨率从原子尺度级到毫米量级B:可以对原子分子进行操纵C:可以获得样品表面的摩擦力、粘附力等信息性D:一种具有非常高的空间分辨率的三维轮廓仪答案:分辨率从原子尺度级到毫米量级下列关于原子力显微镜的描述,错误的是()

A:记录微悬臂对应于扫描各点的位置变化,获得样品的表面形貌信息B:位敏光探测器可实时监测微悬臂的变化C:位敏光探测器可检测悬臂针尖小于1nm的垂直运动D:样品在针尖下做光栅式运动答案:位敏光探测器可检测悬臂针尖小于1nm的垂直运动影响光学显微镜分辨率的制约因素是()

A:光的散射B:光的衍射C:光的干涉D:光的反射答案:光的衍射在核磁共振波谱分析中,当质子核外的电子云密度增加时

A:屏蔽效应减弱,化学位移值大,峰在高场出现B:屏蔽效应增强,化学位移值小,峰在高场出现C:屏蔽效应增强,化学位移值大,峰在高场出现D:屏蔽效应增强,化学位移值大,峰在低场出现答案:屏蔽效应增强,化学位移值小,峰在高场出现扫描隧道显微镜的工作原理是()

A:量子隧穿效应B:表面效应C:原子间相互作用力D:量子尺寸效应答案:量子隧穿效应特征X射线产生的机理是()

A:原子内层电子跃迁B:外层电子被打掉C:高速电子受阻答案:原子内层电子跃迁电子枪产生的电子是()

A:入射电子B:背散射电子C:二次电子D:透射电子答案:入射电子若采用X射线物相的定量分析测定钢中的奥氏体含量,可采用()

A:直接比较法B:外标法C:K值法D:内标法答案:直接比较法下列哪种因素不是影响核磁共振谱谱峰位置的影响因素()

A:诱导效应B:共轨效应C:磁各向异性效应D:分子含量答案:分子含量关于俄歇电子产生的过程描述,错误的是()

A:激发态和基态的能量差转移给原子核外的外层电子B:内层电子脱离原子核的束缚,成为自由电子发射出去C:外层电子脱离原子核的束缚,成为自由电子发射出去D:激发态和基态的能量差转移给原子核外的内层电子答案:激发态和基态的能量差转移给原子核外的内层电子;内层电子脱离原子核的束缚,成为自由电子发射出去下列关于X射线的散射描述,正确的是

A:X射线与内层强束缚电子的散射相干散射B:X射线与外层弱束缚电子的散射是非相干散射C:原子核与入射X射线相互作用的结果D:非相干散射是X射线衍射分析的基础答案:X射线与内层强束缚电子的散射相干散射###X射线与外层弱束缚电子的散射是非相干散射扫描隧道显微镜的两种工作模式是()

A:恒定电流模式B:恒定扫速模式C:恒定电压模式D:恒定高度模式答案:恒定电流模式###恒定高度模式关于非接触和接触式原子力显微镜的比较,下列说法正确的是()

A:非接触原子力显微镜信号较弱B:接触式比非接触式原子力显微镜更适合测量软体样品C:接触式原子力显微镜会出现针尖和样品变质的现象D:垂直分辨率都优于1nm的答案:非接触原子力显微镜信号较弱;接触式原子力显微镜会出现针尖和样品变质的现象1986年的诺贝尔物理学奖获得者是()

A:RohrerB:RuskaC:BinnigD:Charles答案:Rohrer;Ruska;Binnig关于背散射电子,下列描述正确的是()

A:对样品的表面形貌进行分析B:产生范围在表层10~1000nm内C:对样品的表面成分进行分析D:产额随原子序数的增加而增加答案:对样品的表面成分进行分析;对样品的表面形貌进行分析;产额随原子序数的增加而增加在光电子能谱中,影响化学位移的因素有()

A:原子序数B:结合原子的电负性C:原子氧化态D:入射电子的能量答案:结合原子的电负性###原子氧化态接触式原子力显微镜有哪两种工作模式()

A:恒定力模式B:恒定电流模式C:恒定高度模式D:恒定扫速模式答案:恒定高度模式;恒定力模式下列关于透射电子显微镜的描述,正确的是()

A:观察细胞内部超微结构B:利用透射电子成像C:景深长、立体感强D:分辨率高,性能最完善答案:景深长、立体感强下列关于阿贝成像原理的描述,正确的是()

A:不同物点的同级衍射波在后焦面的干涉,形成衍射谱B:同一物点的各级衍射波在像面的干涉,形成物像C:物像由透射光和衍射光互相干涉而形成D:参与成像的衍射斑点越多,物像与物体的相似性越好。答案:衍射关于恒流模式说法正确的是()

A:适合测量未知样品B:扫描速率快C:适合测量不规则表面D:精度较低答案:适合测量不规则表面;适合测量未知样品关于扫描探针显微镜,下列说法描述正确的是()

A:可以获得样品表面的摩擦力信息B:可以获得样品表面的电子结构性质C:可以对分子进行操纵D:分辨率从原子尺度级到微米量级答案:分辨率从原子尺度级到微米量级;可以对分子进行操纵;可以获得样品表面的电子结构性质;可以获得样品表面的摩擦力信息扫描探针显微镜是由哪几部分构成()

A:控制针尖位置的反馈系统B:调整样品与针尖间隙的粗调定位系统C:针尖与压电扫描器D:计算机系统答案:控制针尖位置的反馈系统###调整样品与针尖间隙的粗调定位系统###计算机系统###针尖与压电扫描器体心立方晶体产生系统消光的晶面有()

A:112B:111C:100D:110答案:112X射线与固体物质作用可能产生哪些信号()

A:特征X射线是物质的固有特性B:俄歇电子C:X光电子D:背散射电子答案:X光电子###俄歇电子###特征X射线是物质的固有特性关于弹性散射的描述,正确的是()

A:入射电子的动能发生改变B:入射电子的动能不发生改变C:原子核对入射电子的散射D:入射电子的方向发生改变答案:入射电子的动能不发生改变利用粉末法材料的样品形状为()

A:任意形状B:分散粉末状C:圆柱形D:块状答案:圆柱形###任意形状扫描探针显微镜的优点有()

A:可以对金属样品进行扫描B:可以在高温和低温状态下工作C:可以在大气、真空、溶液环境下进行工作D:横向分辨率为0.01nm,纵向分辨率为0.01nm答案:可以在大气、真空、溶液环境下进行工作;可以在高温和低温状态下工作当X射线将原子核外的K层电子打出去后,L层电子跃迁回到K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生()

A:二次电子B:光电子C:特征X射线D:俄歇电子答案:俄歇电子###光电子下列说法错误的是()

A:当孔或障碍物比光的波长小时,光会发生衍射B:当孔或障碍物跟光的波长可比拟时,光可看成沿直线传播C:当孔或障碍物比光的波长大很多时,光可看成沿直线传播D:当孔或障碍物比光的波长小时,光会发生透射答案:AI参

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