试验参考指导书样本

单片机试验指导书试验一系统认识试验一、试验目标1、了解ZY15MCU12BC2单片机试验开发装置接线和安排。掌握试验箱内拨位开关KF,KC使用方法。2、经过实例程序编辑、编译、链接及调试，熟悉KeilC51软件使用方法和基础操作。3、教育学生珍惜试验装置，养成良好试验习惯。二、试验设备1、ZY15MCU12BC2单片机试验开发装置一台。2、PC机及相关软件。三、试验内容1、使用串行通讯电缆将试验开发装置和PC机相连。2、开启PC机及试验开发装置，开启KeilC51软件进入uVision2集成开发环境。确定拨位开关KF开关为A端，确定89C51处于仿真状态。在uVision2开发平台上建立并编辑示例程序：计算N个数求和程序。其中N个数分别放在片内RAM区50H到55H单元中，N=6，求和结果放在片内RAM区03H(高位)和04H（低位）单元中。题目：1）32H+41H+01H+56H+11H+03H=?2）95H+02H+02H+44H+48H+12H=?编译连接源程序。在KeiluVision2主菜单窗口进入DEBUG调试环境，打开存放器窗口输入数据至片内RAM区50H到55H单元中，全速运行程序，并检验程序运行结果，即观察在存放器窗口片内RAM区03H（高位）、04H(低位)单元中数据是否正确。试验结束，撤出接线，将一切整理复原。试验源程序 org 0000h ljmpmain org1000hmain: movr2,#06h mov r3,#00h movr4,#00h movr0,#50hl1: mova,r4 adda,@r0 movr4,a incr0 clra addca,r3 movr3,a djnzr2,l1 end试验二多字节十进制加法试验一、试验目标1、学习51运算指令使用方法及对标志位影响。2、学习循环程序编程方法。3、掌握51内部RAM和寄存器之间关系。二、试验设备ZY15MCU12BC2试验箱，连接线若干，串口线，PC机。三、试验内容1、编写多字节十进制加法程序，实现下式运算：４５７４＋６７２８＝11302要求：被加数在片内RAM区20H、21H单元；加数在片内RAM区30H、31H单元；结果在片内RAM区20H(最高位进位)、21H(高位)、22H(低位)单元。结果：20H=1，21H=13，22H=02；2、完成程序设计、编辑、编译、连接。四、调试方法进入DEBUG方法，打开存放器Memory1窗口，在窗口Address栏键入D：20H；点击鼠标右键，选择最终一项ModifyMemory，输入被加数；在窗口Address栏键入D：30H；点击鼠标右键，选择最终一项ModifyMemory，输入加数。（选作）整数十六进制转十进制试验一、试验目标1、了解整数十六进制转十进制原理。2、学会编程实现进制转换。二、试验设备ZY15MCU12BC2试验箱，连接线若干，串口线，PC机。三、试验内容1、源文件名称为“ZYBTD.ASM”。2、将“P00～P07”和“U7D0～U7D7”用八根线分别相连。3、编写并调试一个十六进制转换为十进制数程序，其功效为从ZY15MCU12BC2型试验箱键盘上输入四位十六进制数，转换为6位十进制数并在试验箱显示器上显示出来。四、试验程序参考框图图1所表示图1十六进制转十进制程序步骤注：框图中延时1秒是为了看清显示器上显示十六进制数和BCD码结果五、调试方法1、全速运行至BK1，检验40H，41H，3BH～3EH内容是否为键入数据。2、从BK1全速运行至BK2，再从BK2运行到BK3，检验3AH～3EHBCD码正确是否？如有错从BK2单步运行到BK3，检验程序运行结果。3、全速运行程序，每输入4位十六进制数，显示6位BCD码，用一组数据测试其程序正确性。

（选作）查表试验一、试验目标了解编程中查表原理。学会编写查表程序。二、试验设备ZY15MCU12BC2试验箱，连接线若干，串口线，PC机。三、试验内容源文件名称为“ZYTAB.ASM”。将“P00～P07”和“U7D0～U7D7”用八根线分别相连。编写并调试一个查表程序，其功效为读键盘输入0～F数字键，经过查表得到各键处理程序入口，并将入口地址在试验仿真器显示器上显示出来。数字键“0”——8000H数字键“1”——8200H数字键“2”——8400H数字键“3”——8600H数字键“4”——8800H数字键“5”——8A00H数字键“6”——8C00H数字键“7”——8E00H数字键“8”——9000H数字键“9”——9200H数字键“A”——9400H数字键“B”——9600H数字键“C”——9800H数字键“D”——9A00H数字键“E”——9C00H数字键“F”——9E00H四、试验程序参考框图图2所表示图2查表试验步骤五、调试方法断点设在BK1，按0～F键后，进入断点地址，检验ACC内容是否和键值正确对应。断点设在BK2，程序运行至断点，检验ACC内容是否为键值对应跳转入口地址高位。断点设在BK3，程序运行至断点，检验ACC内容是否为键值对应跳转入口地址低位。程序连续运行，按键0～F，即在显示器上显示出对应散转地址。若有错误，应改用单步或断点分段调试，排除软件错误，直到正确为止。（选作）两个四位十六进制数乘法试验一、试验目标学会使用汇编语言编写两个四位十六进制乘法程序。二、试验设备ZY15MCU12BC2试验箱，连接线若干，串口线，PC机。三、试验原理算法：MCS—51中有8位数乘法指令MUL，用它来实现双精度数相乘时，能够把被乘数（ab）和（cd）分别表示为（az+zb）和（cz+zd），其中a、b、c、d全部是8位数，a、c为高位，b、d为低位，z表示8位0。它们乘积用下式表示：(az+zb)(cz+zd)=aczz+zadz+zbcz+zzbd其中ac、ad、bc、bd为对应2个8位数乘积，占十六位，它们能够用四次乘法指令MUL求出。若把这十六位积表示为acH、acL、adH、adL、bcH、bcL和bdH、bdL，其中以H为后缀为积高8位，以L位后缀为积低8位。则不难看出，对它们进行错位相加，即按下列排序：acHacLadHadLbcHbcL+bdHbdL并按列求和，用三次8位数加法和三次带进位加法便能够得到4字节乘积。其等同于：R5R4×R3R2=R4×R2+R5×R2×28+R4×R3×28+R5×R3×216四、试验内容源文件名称为“ZYMUL.ASM”。将“P00～P07”和“U7D0～U7D7”用八根线分别相连。编写并调试一个两个四位十六进制数相乘试验，且显示结果也为十六进制数，其功效为从单片机原理试验箱键盘上连续两次输入四位十六进制数，从而得到八位十六进制数，其中，假如两数有效数字全部为四位或有一个为四位，另一个为三位，因为试验箱上只有六只数码管，那么其积高两位将溢出，数码管只显示低六位有效数字。当然，用户也能够自己编写乘法子程序，那么在编写子程序之前，应了解到第一位输入四位十六进制数将存放在50H（高两位）、51H单元里，第二次输入四位十六进制数存放在52H、53H单元里，用户在编写时只需直接调用50H～53H地址里数据，而且计算结果必需存放在54H～57H（最高位）四个字节里，不然，用户同时还需要改动子程序如DEAL子程序等。用户若要编写显示子程序、中止子程序，则必需先了解接口地址，如8279命令口地址为5EFFH等。五、调试方法1、单步实施到乘法子程序，检验50H～53H内容是否为键入两个十六进制数。2、单步进入实施完乘法子程序，检验54H～57H计算结果是否正确。3、全速运行程序，连续输入两组数据，检验试验结果正确是否(能够连续输入)。

（选作）两个四位BCD数乘法试验一、试验目标学会使用汇编语言编写两个四位BCD数乘法程序。二、试验设备ZY15MCU12BC2试验箱，连接线若干，串口线，PC机。三、试验原理四位BCD数相乘算法和十六进制算法完全不一样。十六进制算法关键用乘法指令，并把乘结果错位和进位相加便可得到。而BCD码数相乘则关键用移位和交换指令，并在移位同时进行十进制调整，从而使另一个乘数不停自加来得到乘积结果。四、试验内容源文件名称为“ZYBCDMUL.ASM”。将“P00～P07”和“U7D0～U7D7”用八根线分别相连。编写并调试一个两个四位BCD数相乘试验，且显示结果为BCD数，其功效为从单片机原理试验箱键盘上连续两次输入四位BCD数，从而得到七位十进制数，一样，乘积假如有七位有效数字，则其最高位将溢出，数码管只显示低六位有效数字。当然，用户完全能够自己编写乘法子程序，那么在编写子程序之前，应了解第一次输入四位BCD码将存放在50H（高两位）、51H单元里，第二次输入四位BCD码存放在52H、53H单元里，而计算结果要求存放在54H～57H（最高位）四个字节里，用户若要编写显示子程序、中止子程序，则必需先了解接口地址，如8279命令口地址为5FFFH，传感器地址为5EFFH等。五、试验程序参考框图图3所表示图3两个四位BCD数乘法步骤框图六、调试方法单步实施到乘法子程序，检验50H～53H内容是否为键入两个BCD数。单步进入实施完乘法子程序，检验54H～57H计算结果是否正确。全速运行程序，连续输入两组数据，检验试验结果正确是否(能够连续输入)。

（选作）阶乘试验一、试验目标学会使用汇编语言编写阶乘算法程序。二、试验设备ZY15MCU12BC2试验箱，连接线若干，串口线，PC机。三、试验原理此试验算法原理类似BCD码乘法试验，也是利用BCD码自加从而达成试验目标，不一样是其自加次数在不停自减1，直至自减次数为零。四、试验内容源文件名称为“ZYFAC.ASM”。将“P00～P07”和“U7D0～U7D7”用八根线分别相连。编写并调试一个在单片机试验箱键盘上任意输入一个数，从而输出其阶乘运算结果程序，其输出结果为十进制数。用户能够直接调用提供参考子程序，也能够自己编写阶乘子程序。五、试验程序参考框图略（类似BCD乘法试验框图）六、调试方法1、能够用单步进入方法实施程序，也能够在子程序中设置断点，或用光标实施方法，检验27H地址里数据是否正确。2、在单步实施阶乘子程序，检验54H～57H地址里运算结果是否正确。3、全速运行程序，输入任意一个数，键盘在延时一段时间后显示阶乘结果（能够连续输入和运算）。

（选作）两个四位十六进制除法试验一、试验目标学会使用汇编语言编写两个四位十六进制除法程序。二、试验设备ZY15MCU12BC2试验箱，连接线若干，串口线，PC机。三、试验原理设在R7R6中存入被除数，在R5R4中存入除数，R3R2中存入余数。则在先清零情况下，不停地把R7R6中内容逐位移入R3R2，每移一次后，和R5R4内容进行比较，若R3R2中内容大于R5R4中内容，则商上1；不然商上0。以此循环16次后得出商和余数。得到余数后，判定余数乘2后是否大于除数，若大于除数则商再加1（即四舍五入），不然不加。四、试验内容源文件名称为“ZYDIY.ASM”。将“P00～P07”和“U7D0～U7D7”用八根线分别相连。编写一个在单片机试验箱上连续输入两个四位十六进制数，从而在数码管上显示其商（经过四舍五入后四位十六进制数）试验程序。用户可直接调用参考程序，也能够自己编写程序，但要注意被除数、除数、商及余数存放地址。五、试验程序参考框图图4所表示图4两个16位无符号整数除法步骤框图六、调试方法1、能够用单步实施方法调试该除法程序，其中第一步实施过程同四位十六进制乘法试验。即查看存放地址里值是否和输入键值相等。2、运行除法子程序后，再次查看存放地址里值，检验结果是否正确。3、全速实施程序，连续不停输入键值，每两次输出一个运算结果，并检验结果是否正确。

（选作）排序试验一、试验目标学会使用汇编语言编写排序算法程序。二、试验设备ZY15MCU12BC2试验箱，连接线若干，串口线，PC机。三、试验原理为了把六个单元中数按从小到大次序排列，可从50H单元开始，两数逐次进行比较，保留小数取出大数，且只要有地址单元内容交换就置位标志。数次循环后，若两次比较后不再出现有单元交换情况，就说明从50H～55H单元中数已全部从小到大排列完成。四、试验内容源文件名称为“ZYORDER.ASM”。将“P00～P07”和“U7D0～U7D7”用八根线分别相连。编写并调试一个连续输入六个数，从而在数码管上从小到大次序输出显示程序，用户可直接调用提供参考程序，也能够自己编写程序，一样须注意数据存放地址对各子程序必需匹配。五、试验程序参考框图图5所表示图5数据排序程序步骤图六、调试方法此步骤类似于BCD乘法试验，即检验存放地址里值是否和输入键值相等。单步实施完排序子程序，检验运算结果是否正确。全速实施程序，连续输入数据，每输入六个数后将按从小到大次序在数码管上显示出来。试验三定时器试验一、试验目标了解定时器工作原理。学会设计定时器实现秒计数。二、试验设备ZY15MCU12BC2试验箱，连接线若干，串口线，PC机。三、试验内容源文件名称为“ZYT0.ASM”。“P00～P07”和“U7D0～U7D7”用八根线分别相连。编写并调试一个程序，用定时器T0定时中止控制软件计数器计数，使计数器从0开始以1秒速度十进制加1计数，显示器实时地显示其计数值。四、试验程序参考框图以下图6所表示图6定时器T0计数程序步骤五、调试方法1、断点设在BK1，检验显示缓冲器、工作单元、中止寄存器、定时器寄存器初值是否正确。2、断点设在BK2，从开始全速运行，应碰到断点，即进入定时器中止服务程序，如碰不到BK2，回到（1）检验初始化程序正确性，检验中止入口（000BH）指令正确是否。3、从开始运行到BK3，然后单步运行程序，检验3EH～39H十进制计数程序正确性。4、全速运行程序，调整定时器T0初值或方法，调整软件（控制1秒）计数器（RAM单元）初值，使显示器以1秒速率十进制加1。

试验四电子钟试验一、试验目标1、电子钟工作原理。2、学会编程实现电子钟。二、试验设备ZY15MCU12BC2试验箱，连接线若干，串口线，PC机。三、试验内容源文件名称为“ZYCLOC.ASM”。将“P00～P07”和“U7D0～U7D7”用八根线分别相连。编写并调试一个试验程序，其功效为从单片机试验箱上键盘输入一个时间初值(时、分、秒各两位)，用T0产生250μs定时中止，在中止服务程序中对T0中止次数进行计数，每当计数到400次，即1秒，对实时钟计数。四、试验程序参考框图图7所表示图7电子钟试验参考程序框图（其中显示子程序、T0中止子程序略）五、调试方法采取单步进入方法调试。全速断点方法进行调试，分别将断点设在不一样子程序入口如T0中止等，碰到断点后检验程序实施结果。若有错误，则再单步运行时钟计数子程序和数据转换子程序。在程序基础达成功效后，调整定时器T0初值，使时钟走时正确。试验五广告灯试验一、试验目标学会使用控制I/O端口。二、试验设备ZY15MCU12BC2试验箱，连接线若干，串口线，PC机。三、试验原理此试验为纯软件试验，程序比较简单，关键是一个对外界多种场所动态广告灯模拟查表程序，所以就不多作介绍。四、试验内容源文件名称为“ZYADV.ASM”。编写并调试一个模拟外界广告灯程序，此试验自由度比较大，用户能够随便编写一个从P1口输出程序，发光二极管已经经过驱动，只需用户编好程序后，把“L0～L7”分别和“P10～P17”相连即可，在运行程序后将K10拨至上端，此试验做完后，再将K10拨回至下端。五、调试方法1、单步实施程序，观察程序能否进入表格首地址。2、单步实施程序，观察发光二极管L0～L7改变。3、全速实施程序，观察发光二极管改变，并注意程序将循环下去。试验六P1口应用试验一、试验目标学会控制单片机P1端口。二、试验设备ZY15MCU12BC2试验箱，连接线若干，串口线，PC机。三、试验内容源文件名称为“ZYP1.ASM”。将试验板上指示灯“L0～L3”接到“P10～P13”，开关“KK0～KK3”接到“P14～P17”(注：在运行程序后将K10拨至上端；此试验做完后，再将K10拨回至下端)。编写并调试一个试验程序，其功效为：K3K2K1K0L3L2L1L00000全亮0001全暗0010一灯亮其它灯暗并左环移0011一灯亮其它灯暗并右环移0100一灯暗其它灯亮并左环移0101一灯暗其它灯亮并右环移1XXX显示开关状态Ki为0，Li亮(1)设40H单元作为标志单元，(40)＝0时开关状态无改变，(40)＝FFH时开关状态发生了改变。(2)设41H单元作为开关状态缓冲器，读入开头状态和41H内容比较，相同时开关状态无改变，不一样时有改变。(3)42H存放目前指示灯状态。四、试验程序参考框图图8所表示五、调试方法依据准双向口特征，对P1口写使灯L3～L0状态随写入P13～P10内容改变，读P1口高4位，读出内容应随开关状态改变而改变。如不对，则断开开关K0～K3接线，测量K0～K3电平是否随开关状态而改变。2、从开始运行至BK1，检验A内容是否对应于开关状态，接着单步运行程序，检验是否转到对应入口使L0～L3状态产生对应改变。3、全速运行至BK2，再检验A内容是否和开关状态一致；如不对则检验前面对P1口操作指令。4、全速运行程序实现所要求功效。

（选作）P1口、P3口应用试验－—三层楼电梯控制器模拟试验一、试验目标学会控制单片机P1和P3端口。了解电梯工作原理。二、试验设备ZY15MCU12BC2试验箱，连