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无损检测工业射线计算机层析成像检测tomography—Part4:Qu国家标准化管理委员会国家市场监督管理总局发布国家标准化管理委员会 Ⅲ 1 1 1 15CT系统验证 56CT系统分辨率评价方法示例 6Ⅲ ISO15708(共四部分)转化为我国的标准文件，其中ISO15708-1修改采用转《无损检测术语第12部分：工业射线计算机层析成像检测》,纳入我国无损检测术语标准体系。 无损检测工业射线计算机层析成像检测第2部分：操作和解释；无损检测工业射线计算机层析成像检测第3部分：验证。1GB/T41123.3—2021/本文件规定了工业射线计算机层析成像(CT)系统在执行不同检测任务时进行性能验证的基本GB/T41123.2—2021无损检测工业射线计算机层析成像检测第2部分：操作和解释ISO15708-1无损检测工业计算机层析成像检测第1部分：术语(Non-destructivetesting—Radiationmethodsforco工业CT用于缺陷检测和尺寸测量，通过CT据由CT灰度值表征的X射线衰减数据经计算得到。特征可检性和检测精度取决于检测任务、检测设24)分布、频率。1)极限缺陷；2)极限特征。2)扫描几何布置；4)射线源焦点尺寸。2)探测器设置；4)管电流。3 4GB/T41123.3—2021/ISO1步估计CT尺寸测量精度。2)几何放大倍数、体素大小；3)探测器分辨率；4)焦点尺寸。b)被测物体的X射线透射特性：3)对比度分辨率。1)原始CT图像体素尺寸；3)进一步处理步骤和质量；4)记录配准方法。c)与参考数据相偏离的测量标准偏差。b)对比测量程序信息和样品内不同测试区域的信息；567GB/T41123.3—2021/——按GB/T41123.2—2021中图A.1描述的一种用于测量空间分辨率，由包含一行经校准的孔为保证最优的测量条件，参考试件应满足特定的要求。为避免出现按GB/T41123.2—2021描述为测量密度分辨率，添加物的线衰减系数应接近基体材料的线衰减系数，以避免出现按的材质应与被测物体在化学和密度上具有相似性。这是由于CT图像测量的是与材料密度相关(非直接正比)的X射线衰减系数。构成基体和添加物的材料应均匀；密度变化应至少比预期的CT系统精度低10倍。其感兴趣区域下面给出了如何通过应用6.4.4所述的方法基于CT图像测量密度分辨率。另一种方法是通过对8GB/T41123.3—2021/ISO15708-4:2017为避免原子序数对衰减的强烈影响，该参考试件由密度接近1、成分相似的不同密度的独立介质添加物I的平均CT灰度值N₁是通过计算添加物中感兴趣区域内至少100个体素的灰度值得到由X射线层析成像确定的添加物密度值d,按公式(1)计算：d,=(N;/Nb)×db (1)使用添加物密度值d;与CT灰度值N,相关曲线评价系统性能。对于每个CT系统

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