材料研究方法知到智慧树章节测试课后答案2024年秋西安工业大学

材料研究方法知到智慧树章节测试课后答案2024年秋西安工业大学第一章单元测试

由于透镜的中心区域和边缘区域对光的折射能力不符合预定规律而造成的图像模糊现象称为（

）

A:球差

B:色差C:像散

D:像差

答案:球差

光学透镜的像差主要有（

）

A:像散B:球差

C:像场弯曲D:色差

答案:球差

；像场弯曲；色差光学显微镜具有（

）放大功能。

A:

三级

B:

二级C:

一级

答案:

二级

光学透镜要能区分开两个成像物点，则此两物点形成的埃利斑之间的最小距离应

A:

等于埃利斑半径

B:

大于埃利斑半径

C:

小于埃利斑半径

答案:

大于埃利斑半径

光学显微镜的极限分辨能力为（

）

A:200μmB:200nmC:400nmD:400μm

答案:200nm光学透镜成像的基础是光可以（）

A:反射

B:衍射

C:折射

D:散射

答案:折射

光学透镜的像差主要有（）

A:色差

B:像散

C:像场弯曲

D:球差

答案:色差

；像场弯曲

；球差

由于照明光源波长不统一形成的图像模糊称为（）

A:色差

B:像差

C:球差

D:像散

答案:色差

成像物体上能分辨出来的两物点间的最小距离称为（）

A:景深

B:有效放大倍数

C:分辨率

答案:分辨率

要提高显微镜的分辨率，关键是要（）

A:稳定光源波长

B:减小光源波长

C:增大光源波长

答案:减小光源波长

干镜的有效放大倍数一般为（

）倍

A:500~1000

B:1000~1800

C:200~400

答案:500~1000

为获得大景深，可以考虑（）

A:镜头靠近样品

B:减小数值孔径

C:降低放大倍数

答案:减小数值孔径

；降低放大倍数

金相砂纸后标号越大，说明砂纸上的磨削颗粒越（）

A:小

B:大

C:无关

答案:小

抛光平面样品时，可以选择（）

A:化学抛光

B:机械抛光

C:电解抛光

D:复合抛光

答案:化学抛光

；机械抛光

；电解抛光

；复合抛光

砂纸背面的防水标志是（）

A:ELECTROCOATED

B:SILICONCARBIDE

C:ABRASIVEPAPER

D:WATERPROOF

答案:WATERPROOF

透镜的像差是由于本身几何光学条件的限制造成的，和光源波长无关（）

A:对B:错

答案:错逆光拍照时，明暗对比强烈的地方出现的彩色边缘就是色差（

）

A:错B:对

答案:对最小散焦斑是点光源成像质量最好的情况（）

A:对B:错

答案:对衬度是指图像上相邻部分间的黑白对比度或颜色差（）

A:错B:对

答案:对油镜的最大数值孔径小于干镜的最大数值孔径（）

A:错B:对

答案:错明场照明时光线损失很少（）

A:对B:错

答案:错只要聚焦准确，点光源的像可以是一个清晰的亮点（）

A:对B:错

答案:错从衍射效应来看，透镜分辨的最小距离和数值孔径成反比（）

A:对B:错

答案:对有效放大倍数和人眼的分辨能力无关（）

A:对B:错

答案:错只要是导电材料，都可以用电火花线切割切取样品（）

A:错B:对

答案:错

第二章单元测试

发现X射线的是

A:

布拉格B:

劳厄

C:

伦琴D:

爱瓦尔德

答案:

伦琴

进行第一次晶体衍射实验的是

A:

布拉格B:

劳厄C:

爱瓦尔德D:

伦琴

答案:

劳厄X射线衍射时，首先出现的衍射峰必定是（

）的晶面。

A:

低指数B:

间距小C:

高指数

答案:

低指数

对衍射强度影响最大的是

A:

多重性因素B:

结构因数C:洛伦磁因素

答案:

结构因数

能影响短波限位置的因素是

A:

管电压

B:

阳极靶材原子序数C:

管电流

答案:

管电压

X射线是物理学家伦琴发现的（）

A:对B:错

答案:对X射线管的效率极低，一般仅有百分之几（）

A:对B:错

答案:对物质的线吸收系数是一个常量，反映物质本身对X射线吸收特性（）

A:错B:对

答案:错试样的原子序数越大，对X射线的吸收越少（）

A:错B:对

答案:错采用短波X射线照射时，能参与反射的晶面将会减少（）

A:错B:对

答案:错波长越大，爱瓦尔德球的半径越小（）

A:对B:错

答案:对倒易球实际上就是很多和球心等距离的倒易点构成的假象球面（）

A:对B:错

答案:对面心立方晶体能衍射的晶面依次是（110）、（200）、（211）（）

A:对B:错

答案:错特征谱的波长取决于X射线管的管电压（）

A:错B:对

答案:错X射线和可见光一样都是电磁波（）

A:错B:对

答案:对X射线衍射应用的是相干散射（）

A:对B:错

答案:对X射线在晶面上的反射和可见光在镜子上的反射从本质上来讲是一样的（）

A:对B:错

答案:错德拜相测算时，选用越高角度的线条误差越大（）

A:对B:错

答案:错简单立方点阵不消光的面指数平方和之比是1：2：3：4：5：6：7：8：9…（）

A:错B:对

答案:错采用步进扫描可较快的获得一幅完整而连续的衍射图（）

A:对B:错

答案:错X射线物相分析可以用来分析同素异构体（）

A:错B:对

答案:对进行第一次晶体衍射实验的是（）

A:布拉格

B:伦琴

C:劳厄

D:爱瓦尔德

答案:劳厄

X射线光量子的能量（

）

A:比无线电波低

B:比可见光高

C:比可见光低

答案:比可见光高

X射线与物质相遇时，可以（）

A:穿透物质

B:使荧光物质发光

C:使气体电离

答案:穿透物质

；使荧光物质发光

；使气体电离

人们常使用铅来隔离X射线，是应为铅（）

A:比重大

B:价格便宜

C:不透明

D:原子序数大

答案:价格便宜

；原子序数大

X射线衍射时，首先出现的衍射峰必定是（

）的晶面

A:低指数

B:间距小

C:高指数

答案:低指数

倒易基矢和同名正基矢点乘结果为（）

A:-1

B:1

C:0

答案:1

有一倒易矢量g*=2a*+b*，与它对应的正空间晶面是（）

A:221B:220C:210D:211

答案:210在XRD上检测无择优取向的体心立方多晶粉末样品，前三个衍射峰是（）

A:110/200/211

B:100/110/111

C:111/200/220

答案:110/200/211

在XRD上检测无择优取向的面心立方多晶粉末样品，第二个出现的衍射峰是（）

A:200B:110C:111D:220

答案:200对纯Ag进行多晶体衍射实验时，不可能发生衍射的晶面是（）

A:111B:200C:110D:331

答案:110110面的多重性因素是（）

A:4B:8C:6D:12

答案:12X射线衍射仪与照相法的不同在于（）

A:发散光束

B:采用线焦斑

C:电离计数器记录

D:平板试样

答案:发散光束

；采用线焦斑

；电离计数器记录

；平板试样

最常用的X射线衍射方法是（）

A:德拜法

B:周转晶体法

C:劳厄法

D:粉末多晶法

答案:粉末多晶法

1912年的首次晶体衍射实验证明（）

A:原子是真实存在的

B:空间点阵的假说是正确的

C:X射线是电磁波

D:原子的排列是周期性重复的

答案:原子是真实存在的

；空间点阵的假说是正确的

；X射线是电磁波

；原子的排列是周期性重复的

X射线衍射仪用的是一束（

）的X射线

A:平行

B:收敛

C:发散

答案:发散

第三章单元测试

电子束是物质波，不是电磁波（

）

A:错B:对

答案:对电磁透镜的焦距和放大倍数是可变的（

）

A:对B:错

答案:对透镜物平面允许的轴向偏差称为焦长（）

A:错B:对

答案:错普通透射电镜的电子枪主要是热阴极和场发射两类（）

A:错B:对

答案:对电镜中物镜的分辨率取决于极靴的形状和加工精度（）

A:错B:对

答案:对在透射电镜的操作过程中，把中间镜的物平面和物镜的像平面重合，就是成像操作（）

A:对B:错

答案:对在透射电镜的操作过程中，把中间镜的物平面和物镜的像平面重合，就是成像操作（）

A:错B:对

答案:对薄膜样品在最终减薄时，最好使用减薄速度较快的离子减薄（）

A:错B:对

答案:错要获得单晶衍射花样，首先要有单晶样品（）

A:对B:错

答案:错晶带轴垂直于零层倒易面上的任何一个矢量（）

A:错B:对

答案:对电子衍射花样的标定结果不是唯一的（）

A:错B:对

答案:对电子波的波长取决于（）

A:电子运动速度

B:电子的质量

C:加速电压

答案:电子运动速度

；电子的质量

；加速电压

透射电子显微镜中用磁场来使电子波聚焦成像的装置是（）

A:极靴

B:电磁线圈

C:聚光镜

D:电磁透镜

答案:电磁透镜

像散是指（

）引起的图像模糊不清的现象

A:由透镜磁场的非旋转对称

B:由入射电子能量不同

C:透镜磁场对远轴光线和近轴光线的折射能力不符合预期

答案:由透镜磁场的非旋转对称

透射电镜对照明光源的要求是（）

A:亮度高

B:束流稳定

C:孔径角小

D:可倾斜

E:平行度好

答案:亮度高

；束流稳定

；孔径角小

；可倾斜

；平行度好

透射电镜的成像系统主要包括（）

A:物镜

B:聚光镜

C:中间镜

D:投影镜

答案:物镜

；中间镜

；投影镜

在透射电镜衍射操作时，要求中间镜的物平面和（

）重合

A:物镜像平面

B:物镜物平面

C:物镜平面

D:物镜背焦面

答案:物镜背焦面

单晶体电子衍射花样是（）

A:晕环

B:不规则的点阵

C:同心圆环

D:规则排列的点阵

答案:规则排列的点阵

薄膜样品一般预先减薄至（）

A:几百纳米

B:几十微米

C:10-1毫米

D:几百微米

答案:几十微米

属于[101]晶带的晶面是（）

A:B:C:D:

答案:；；；杆状晶体反映到倒易空间是（）

A:一定尺寸的倒易圆盘

B:尺寸很大的倒易球

C:一定长度的倒易杆

D:尺寸很小的倒易点

答案:一定尺寸的倒易圆盘

第四章单元测试

可用于表层成分的信号是

A:

吸收电子B:

透射电子C:

背散射电子D:

二次电子

答案:

背散射电子

二次电子像衬度最亮的区域是

A:

法线和电子束成30º的表面B:

法线和电子束成45º的表面C:

和电子束垂直的表面D:法线和电子束成60º的表面

答案:法线和电子束成60º的表面

仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是

A:

二次电子B:

特征X射线C:

背散射电子D:

俄歇电子

答案:

二次电子

扫描电子显微镜配备的成分分析附件中最常见的仪器是

A:

波谱仪B:

特征电子能量损失谱C:

能谱仪D:

电子探针

答案:

能谱仪目前显微断口的分析工作大都是用（

）来完成的。

A:

表面形貌衬度B:

原子序数衬度C:

原子质量衬度D:

衍射衬度

答案:

表面形貌衬度扫描电镜中的透镜有些是聚光镜，有些是成像物镜（）

A:错B:对

答案:错扫描电镜不用电磁透镜放大成像，也不用电子束成像，而是利用电子束在样品表面扫描时激发出来的各种物理信号来调制成像（）

A:对B:错

答案:对二次电子能量较低，背散射电子能量很高（）

A:对B:错

答案:对扫描电镜与透射电镜的电子枪相似，只是加速电压一般会更高（）

A:错B:对

答案:错扫描电镜具有大的景深，所以它可以用来进行断口形貌的观察（）

A:对B:错

答案:对被样品原子核反弹回来的入射电子叫非弹性背散射电子（）

A:错B:对

答案:错入射电子束的能量很高，甚至可以激发出样品的特征X射线（）

A:错B:对

答案:对背散射电子像的分辨率没有二次电子像的分辨率高（）

A:错B:对

答案:对波普仪和能谱仪进行成分分析时，全都是以样品的特征X射线为基础（）

A:错B:对

答案:对扫描电镜的加速电压越高，电子束在材料中的作用体积越小（）

A:错B:对

答案:错在扫描电镜中能被电子束激发出来用于成像的信号有（）