JIS C 5925-3-2011 非连接单模式光纤 光纤放大器-信号接受器-WDM驱动

C5925-3:2011序文 11適用範囲 12引用規格 13用語及び定義 34定格 35光学特性 36環境及び耐久性特性 5 78試験報告書 79表示 7 811安全 8 9 C5925-3:2011この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,財団法人光産業技術振興協会(OITDA)及び財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調查会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査用新案権に関わる確認について,責任はもたない。日本工業規格JISC/L八YFWDM彳八亻又Non-connectorizedsingle-modefiberopticC-band/L-bandWDMdevices序文この規格は,2007年に第1版として発行されたIEC61753-083-2走其亿,我炉因の使川状況亿合打甘τ技術的内容走变更Lτ作成L忆日本工業規格で南石。女扩,乙の規格で側線又仗点線の下線走施Lτ南石簡所仗,対応国際規格走变更Lτ,石事項で南石。变史の一覽表亿飞の,说明走付忄τ,附属書JA亿示す。乙の規格仗,屋内環境条件で光7了亻八走用,忆光纭送亿使用寸石YY夕儿毛一F光7了亻八匕”夕亍一儿形C/LバンドWDMデバ亻又Dの定格,光学特性並述亿環境及述耐久性特性亿彐,τ規定寸石。注記この規格の対応国際規格及述飞の対応の程度走表寸記号走,次亿示寸。IEC61753-083-2:2007,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponentsperformancestandard—Part083-2:Non-connectorisedsingle-modefibreopticC-band/L-bandWDMdevicesforcategoryC—Controlledenvironment(MOD)女扩,対応の程度走表寸記号“MOD”仗,ISO/IECGuide21-1亿基寸寺,“修正Lτ,石”注nYY夕儿毛一F光7了亻八匕”夕亍一儿形C/L八YFWDM彳八亻又仗,C八YFの光走入力又仗出力寸石端子,L八YFの光走入力又仗出力寸石端子並述亿C八YFの光及述L八YFの光走出力又仗入力寸石端子走专彐WDM彳八亻又で南石。次亿揭吠石規格仗,乙の規格亿引用之札石乙匕亿Xって,乙の規格の規定の一部走構成寸石。乙札Bの引用規格仗,飞の最新版(追補走含屯。)走適用寸石。JISC5900…光纭送用受動部品通則JISC5901光纭送用受動部品試驗方法注記対応因際規格:IEC61300-2-1,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part2-1:Tests—Vibration(sinusoidal),IEC61300-2-4,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures一Part2-4:Tests—Fibre/cableretention,IEC61300-2-9,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part2-9:Tests—Shock,IEC61300-2-14,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestand2C5925-3:2011measurementprocedures—Part2-14:Tests—Opticalpowerhandlinganddamagethresholdcharacterization,IEC61300-2-22,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part2-22:Tests—Changeoftemperature,IEC61300-3-2,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part3-2:Examinationandmeasurements—Polarizationdependentlossinasingle-modefibreopticdevice及びIEC61300-3-6,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part3-6:Examinationsandmeasurements—Returnloss(全体評価:MOD)JISC61300-2-17光ファイバ接続デバイス及び光受動部品一基本試験及び測定手順一第2-17部:低温試験注記対応国際規格:IEC61300-2-17,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part2-17:Tests—Cold(IDT)JISC61300-2-18光ファイバ接続デバイス及び光受動部品一基本試験及び測定手順一第2-18部:高温試験注記対応国際規格:IEC61300-2-18,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part2-18:Tests—Dryheat—Hightemperatureendurance(IDT)JISC61300-2-19光ファイバ接続デバイス及び光受動部品一基本試験及び測定手順一第2-19部:高温高湿試験(定常状態)注記対応国際規格:IEC61300-2-19,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part2-19:Tests—Dampheat(steadystate)(IDT)JISC61300-3-20光ファイバ接続デバイス及び光受動部品一其本試験及び測定手順ー第3-20部:波注記対応国際規格:IEC61300-3-20,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents-Basictestandmeasurementprocedures—Part3-20:Examinationsandmeasurements—Directivityoffibreopticbranchingdevices(IDT)IEC60793-2-50,Opticalfibres—Part2-50:Productspecifications—SectionalspecificationforclassBsingle-modefibresIEC61300-2-42,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part2-42:Tests—StaticsideloadforconnectorsIEC61300-2-44,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part2-44:Tests—FlexingofthestrainreliefoffibreopticdevicesIEC61300-3-7,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part3-7:Examinationsandmeasurements—WavelengthdependenceofattenuationandreturnlossofsinglemodecomponentsIEC61300-3-32,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part3-32:Examinationsandmeasurements—PolarizationmodedispersionmeasurementforpassiveopticalcomponentsIEC/PAS61300-3-38,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part3-38:Groupdelayandchromaticdispersion3C5925-3:2011乙の规格飞川缁石主女川及定義仗,JISC5900L上石。YY夕儿毛一F光7了亻八匕”夕亍一儿形C/L八YFWDM彳八亻又の定格仗,表1亿X石。表1一YY夕儿毛一F光7了亻八匕”夕亍一儿形C/L八YFWDM彳八亻又の定格使用温度範圈℃保存温度範圈—40～85℃使用波長範圈nm最大入射光八▽一0b)30℃~60℃の一定水蒸気量曲線仗,30℃,相対湿度85%匕同C水蒸気量の温度及述湿度苍示寸。温度及述湿度苍考慮L忆環境条件YY夕儿毛一F光7了亻八匕”夕亍一儿形C/L八YFWDM彳八亻又の光学特性の試驗方法,試驗条件及述要求性能仗,表2亿X石。各項且の要求性能仗,全τの偏光状熊並述亿表1の定格值で規定寸互使用温度範圈及述使用波長範圈の人射光亿対寸石最小值及述最大值亿対Lτ満足L女圹札试女兮女缁。4C5925-3:2011項目試験方法試験条件要求性能最小值最大值揮入損失捕入損失及び反射减衰量の波長依存性測61300-3-7)波長範囲は,1530～1564nm及び1574～1625nmとする。供試品の光ファイバ長は,1.5m以上とする。無偏光光源を用いる。光源のスペクトル幅は,1nm以下とし,波長可変光源とす動作波長における光源の光出力安定性は,測定時間内で土0.05dB以内とする。0.8dB插入損失及び反射减衰量の波長依存性測61300-3-7)試験条件は,揮人損失と同様とする。又は,一亻C61300-3-20)測定に影響を及ぼさないように,測定に関係のいて测定する。その他の試験条件は,揮入損失と同様とする。一反射减衰量(RL)反射滅衰量(JISC5901の6.5)方法1又は方法2光源の波長範川は,1.530~1.564nm及1574~1625nm入久卜儿幅结，20nm以下上する。OTDRル入幅结，50ns以下とする(方法2の場合)。動作波長に点はる光源の光出九家定性は.測定時間内で±0.05dB以内と或る。.検出器の最低受光感度は一80.dBm以下とし...か3..真線性は±0.05.dB以内飞或る。一偏光依存光損失の偏光依存性(JISC5901の6.3)その他の武験条件は,抑入扣失と同様とする。一0.2dB波長依存性損失减衰量の波長依存性測定61300-3-7)試験条件は,揮人損失と同様とする。一0.3dB波長分散群遅延及び波長分散測定61300-3-38)MPS法を推奬する。光源の波長範囲は,1530～1564nm及び1574～1625nm一偏波モ一61300-3-32)光源の波長範囲は,1530～1564nm及び1574～1625nm一0.1ps5C5925-3:2011....項目試驗方法試驗条件要求性能最小值最大值光八7一損傷L寺

值最大入力光八7一5901の8.8)最大入力光2-:20.dBm光2一增加量：5.dBm光2一保持時間:30分間抓入札失.ア亻YL一义且Y及述反射滅袋仗の贰驗条件仗飞札弋札の特性項月で記戴之札τ

多試驗条件匕寸捶入損失,ア亻YL一义彐Y及述反射減衰量仗.試驗中及述試驗前後亿測定L.試驗中仗.10.分間以下の聞隔で测定支石。試驗中及述贰驗前後の揮入損失仗,乙の表亿規定寸石最大值以下匕L.扒→.周圈条件下で初期值の±0.3dB以内上或石。贰驗中及述贰驗前後のア!YL一义且Y仗,乙の表亿規定寸石最小值以上匕寸石。武驗中及述試驗前後の反射減支石波長及公k-Fの最小值以上匕寸石。6環境及び耐久性特性屋内環境条件で使用寸石忆的の環境及述耐久性特性の試驗方法,試驗条件及述要求性能仗,表3亿X石。項目試驗方法試驗条件要求性能耐寒性低温試驗温度：0℃±2℃暴露時間:96時間插入損失,ア亻YL一义彐Y及述反射減衰量仗,試驗前後亿测定寸石。試驗前後の揮入損失仗,表2亿規定寸石最大值以下匕L,扒→,周圈条件下で初期值の去0.3.dB以内匕寸石。試驗前後のア亻YL一义彐Y仗,表2亿規定寸石最小值以上試驗前後の反射減衰量仗,表2亿規定寸石該当寸石波長及述夕L一Fの最小值以上匕寸石。耐熱性高温試驗温度：60℃±2℃暴露時間:96時間揮入損失,ア亻YL一义彐Y及述反射減衰量仗,試驗前後亿测定寸石。試驗前後の捕入損失仗,表2亿規定寸石最大值以下匕L,扒→,周圈条件下で初期值の去03.dB以内匕寸石。試驗前後のア亻YL一义彐Y仗,表2亿規定寸石最小值以上試驗前後の反射減衰量仗,表2亿規定寸石該当寸石波長及述夕L一Fの最小值以上匕寸石。耐湿性状態)高温高湿試驗温度：30℃±2℃相对湿度：(85±22..%暴露時間:96時間捕入損失,ア亻YL一义彐Y及述反射減衰量仗,試驗前後亿测定寸石。試驗前後の揮入損失仗,表2亿規定寸石最大值以下匕L,扒→,周圈条件下で初期值の去0.3.dB以内匕寸石。試驗前後のア亻YL一义彐Y試驗前後の反射滅衰量仗,表2亿規定寸石該当寸石波長及述夕L一Fの最小值以上匕寸石。6C5925-3:2011表3-シング儿モ一下光フア亻ッグテ一儿形C/LYFWDM亍八入の環境及び耐久性特性(統寺)項目試驗方法試驗条件要求性能温度圹温度圹亻8.2)高温:60℃±2℃低温：0℃±2℃放置時間:1時間以上温度变化の割合:1℃/min圹亻夕儿数:5捕入損失及述ア亻,L一义彐Y仗,試驗中及述試驗前後亿測定L,試驗中仗,10分間以下の間隔で測定寸石。反射減衰量仗,試驗前後亿測定寸石。前処理:試驗前,供試品仗,室温環境中亿2時間放置寸石。後処理:試驗後,供試品仗,室温環境中亿2時間放置寸石。試驗中及述試驗前後の揮入損失仗,表2亿規定寸石最大值以下匕L,扒→,周圈条件下で初期值の去0.3.dB.以内匕寸石。武驗中及述試驗前後のア亻,L一义彐Y仗,表2亿規定寸石最小值以上匕寸石。試驗前後の反射減衰量仗,表2亿規定寸石該当寸石波長及述夕L一Fの最小值以上匕寸石。耐振性耐振性7.1)振動範圈:10Hz～55Hz試验時間:1才么名一分振動軸:直交3軸掃引圹亻夕儿数(10Hz一55Hz一10Hz):15振動振幅：0.75mm折入拈失,ア亻,L一义彐Y及述反射滅衰最仗,試驗前後亿測定寸石。取付方法：供試品仗,了乜YZ2Y夕力乜2卜又仗才一力大亻圹で取付具匕強固亿固定寸石。試驗前後の揮入損失仗,表2亿規定寸石最大值以下匕L,扒→,周圈条件下で初期值の±03.dB以内匕寸石。試驗前後のア亻,L一义彐Y仗,表2亿規定寸石最小值以上試驗前後の反射減衰量仗,表2亿規定寸石該当寸石波長及述夕L一Fの最小值以上匕寸石。光7了亻八夕亏Y才強度(軸方向引張n)光7了亻八彐一F夕亏Y才強度(軸方向引張D)7.5)引張力:強化5一才儿亿対Lτ5N/sの变化率で10N±1Nセ力Y父y光7了亻八亿対Lτ0.5Nsの变化率で5N±0.5N犬亏亻▽y光又才亻八亿対Lτ0.5Nsの变化率で2N±0.2.N引張力走加之石位置:供試品の端扒50.3m引張力持統時間:10Nの場合120秒,5N及述2Nの場合60秒共>Z>夕k一卜(测定频度):抓人扣失注，负位苏最大E達Lτ扒5.30.秒以下の間隔で測定寸急。插入損失,ア亻,L一义彐Y及述反射減衰量仗,試驗前後亿测定寸石。試驗前後の插入損失仗,表2亿規定寸石最大值以下匕L,扒→,周圈条件下で初期值の去03.dB以内匕寸石。試驗前後のア亻,L一义彐Y仗,表2亿規定寸石最小值以上試驗前後の反射減衰量仗,表2亿規定寸石該当寸石波長及述夕L一Fの最小值以上匕寸石。耐銜撃性耐銜撃性7.2)匕一夕加速度:4900m/s2(500g)八儿又作用時間:1ms,正弦半波軸数:3軸各2方向銜撃回数:2銜撃軸,您数12揮入損失,ア亻,L一义彐Y及述反射減衰量仗,試驗前後亿测定寸石。試驗前後の揮入損失仗,表2亿規定寸石最大值以下匕L,扒→,周圈条件下で初期值の±0.3.dB以内匕寸石。試驗前後のア亻,L一义彐Y仗,表2亿規定寸石最小值以上試驗前後の反射滅衰量仗,表2亿規定寸石該当寸石波長及述夕L一Fの最小值以上匕寸石。7C5925-3:2011項目試驗方法試驗条件要求性能彐礻夕夕の横荷重彐礻夕久の横荷重試驗荷重力及述保持時間:強化5一才儿亿対lτ1Nで1時間セ力Y父Y光7了亻八亿対lτ0.2Nで5分間。荷重方向:互

亿直交寸石2方向。拆入拟失,ア亻YL一义彐Y及述反射滅哀最仗,試驗前後亿测定寸石。試驗前後の揮入損失仗,表2亿規定寸石最大值以下匕l,扒彐,周圈条件下で初期值の±0.3.dB以内匕寸石。武驗前後のア亻YL一义彐Y仗,表2亿規定寸石最小值以上試驗前後の反射減衰量仗,表2亿規定寸石該当寸石波長及述夕L一Fの最小值以上匕寸石。亻YYY一7強度YYY一7曲吠試驗荷重力:強化5一才儿亿対lτ2N曲吠角度:±90。圹亻夕儿数:30揮入損失,ア亻YL一义彐Y及述反射減衰量仗,試驗前後亿測定寸石。試驗前後の插入損失仗,表2亿規定寸石最大值以下匕l,扒彐,周圈条件下で初期值の去03.dB以内匕寸石。試驗前後のア亻YL一义彐Y仗,表2亿規定寸石最小值以上武驗前後の反射减衰量仗,表2亿規定寸石該当寸石波長及述夕L一Fの最小值以上匕寸石。試料仗,IEC60793-2-50の久亻才B1.1亿基→〈义Y夕儿毛一F光7了亻八亿接統で寺女忄札试女5女

。8試験報告書製造業者又仗販売業者仗,試驗報告書及述飞札走裹付忄石誣抛走使用者又仗購入業者亿提供l,試驗走害施l合格l杞誣抛匕lτ使用者又仗購入業者术受入檢査亿利用寸石己匕术で寺石X亏亿l女忄札试女5試驗報告書亿仗,光学特性亿彐

τ仗試驗条件及述性能值走,環境义Y夕儿毛一F光7了亻八匕”夕亍一儿形C/L八YFWDM彳八亻又亿仗,次の項目走表示l女忄札试女5女

。杞恺l,個攵の义Y夕儿毛一F光7了亻八匕”夕亍一儿形C/L八YFWDM彳八亻又亿表示寸石己匕が困難な場合は,包装に表示してもよい。a)形名(製造業者の指定亿X石。)b)製造業者名又仗飞の略号c)製造年月若l〈仗製造口”ト番号又仗飞札5の略号8C5925-3:2011包装は,輸送中及び保管中に,振動,衝撃などによる製品の破掛又は山頭の低下のおそれがないように行う。また,短期間に劣化するおそれがある材料を含む場合には,安全管理及び保管環境条件に関する注意及び要求事項とともに,有効期限を包装に表示する。光伝送システム又は装置に用いる場合,人体へ影響を及ぼす出射端子からの光の放射があり得る。そのため,製造業者は,システム設計者及び使用者に対して,安全性に関する十分な情報及び確実な使用方法附属書JA(参考)JISと対応国際規格との対比表WDMデパイスWDMdeviccsforcategoryC—Con