T-CASME 2020-2025 低温封接玻璃体积电阻率的测定

低温封接玻璃体积电阻率的测定2025-07-04发布中国中小商业企业协会发发出布版前言 Ⅲ 12规范性引用文件 13术语和定义 14试验原理 15试验设备与器材 26样品制备 37测试环境条件 48测试步骤 49数据处理 510测试报告 5附录A(资料性)测试报告格式 6参考文献 7工Ⅲ本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。本文件由成都光明光电股份有限公司提出。木文件由中国中小商业企业协会归口。本文件起草单位：成都光明光电股份有限公司、成都光明光电有限责任公司、成都光明光学元件有限公司、长春理工大学、成都光明派特贵金属有限公司、湖北菲利华石英玻璃股份有限公司。1低温封接玻璃体积电阻率的测定本文件规定了低温封接玻璃体积电阻率的试验原理、试验设备与器材、样品制备、测试环境条件、测试步骤、数据处理和测试报告等内容。木文件适用于低温封接玻璃体积电阻率的测定。2规范性引用文件本文件没有规范性引用文件。3术语和定义下列术语和定义适用丁本文件。通过加热熔接的方式实现器件或材料间紧密连接的玻璃材料。施加在与绝缘介质相对表面接触的两个电极间的直流电压与给定时间流过介质的电流之比。体积电阻率volumeresistivity在给定的时间及电压下，直流电场强度与绝缘介质内部电流密度之比。4试验原理体积电阻率的测试采用直接法(即伏安法),原理见图1,通过同时测量被测封接玻璃样品(以下简称“被测样品”)的两端的电压U和流过的电流I,按公式(1)计算出其电阻值；再代入测量的几何参数，按公式(2)计算获得体积电阻率。基于被测样品两端的电压U和流过的电流I是同步变化，消除被测电压U的变化或电流I的变化对电阻和体积电阻率测试值的影响。2T/CASME2020—20252图1体积电阻率测试原理图U——被测样品两端施加的电压，单位为伏特(V);I——通过被测样品的电流，单位为安培(A)。式中：S——测试电极的有效面积，单位为平方米(m²);L——被测样品的平均厚度，单位为米(m)。5试验设备与器材5.1体积电阻率测试仪采用的体积电阻率测试仪满足以下要求：b)电流测量范围：2×10⁻⁴A～1×10-¹⁶A;c)测试电压：10V、50V、1d)测量高电阻时，测试仪应配置屏蔽箱。采用带保护电极的平板测量电极，通过保护电极来抵消表面效应的影响，电极结构示意图见图2。应满足以下要求。3a)被保护测试电极的直径d₃应至少为试样厚度h的10倍，且不小于25mm。b)不带保护的测试电极的直径d与保护电极的外径d₁相等。c)保护电极的外径d₁与保护电极的内径d₂的差值至少为试样厚度h的2倍。d)保护电极的内径d₂与被保护电极的直径d₃的差值至少为试样厚度h的4倍。e)电极形状为圆形，电极的有效面积S按公式(3)进行计算；式中：S——有效面积，单位为平方米(m²);f)电极或样品测试表面通常需通过导电银漆、导电胶、金属箔、喷镀金属等方式增加接触面的导电性，推荐采用电极测试面镀银。图2电极结构示意图5.3.1量程：不小于80mm,且应满足被测样品规格和测试电极直径的测量要求。6样品制备6.1.1样品的厚度宜与实际应用中的产品厚度一致，规格不小于测试电极的直径及保护电极的外径。6.1.2如无其他规定，推荐使用直径φ75mm±5mm,高度不小于5mm的圆柱体，或长和宽为75mm士5mm,厚度不小于5mm的长方体。4将样品裁切为符合6.1.2规定的样品，数量不少于3个。6.3.1称取适量的玻璃粉于成型模具中，压制成块后置于试验炉中，升温至封接温度，玻璃粉在封接温度抛光加工。度Ra≤0.025μm,其余各面精磨。6.3.4样品数量不少于3个。7测试环境条件测试环境条件为：温度为20℃±5℃;相对湿度≤80%,应无强磁干扰，无振动。8测试步骤8.1.2测量样品厚度，在测量电极范围内用千分尺测量不少于3点，取其算术平均值作为试样厚度。8.1.3测量电极尺寸，按公式(3)计算电极的有效面积。8.1.4按体积电阻率测试仪要求连接线路，开机预热。8.2.1测试前，样品应在测试环境条件下至少放置0.5h。8.2.2打开屏蔽箱，如图2所示，将被测样品放在不带保护电极的测试电极上面，保护电极放在被测样品上，被保护电极放在保护电极的中间，放置稳定后关闭屏蔽箱。8.2.3加电极到样品上和放置样品时宜避免形成对测试结果有影响的杂散电流通道。8.3.2输入样品的厚度和电极的有效面积。8.3.3选定测量电压。在测试过程中不应改动测量电压。8.3.4开始测试时从低挡位逐渐拨往高挡位，当被测电阻大于体积电阻率测试仪测量量程时，应将体积电阻率测试仪拨到量程更高的位置，当体积电阻率测试仪有显示值时应停下，待稳定1min后，读取电阻8.3.5当有显示数字时不应往更高挡位拨。注：往更高挡位拨时，体积电阻率测试仪会超过量程，仪器测量准确度会下降。8.3.6在测量大于10¹⁰Ω以上高阻时，应采用屏蔽箱将被测物体屏蔽，防止外界干扰而引起的读数不稳。8.3.7每次测量完毕后，应先将电阻量程和电压量程调到最低挡位后再更换测试样品。5