JJF(电子) 0034-2019 耦合去耦网络校准规范

JJF(电子)0034—2019CalibrationSpecificationforCo2019-08-26发布2019-12-01实施中华人民共和国工业和信息化部发布耦合去耦网络校准规范CalibrationSpecificati归口单位：中国电子技术标准化研究院本规范主要起草人：徐沛(中国电子技术标准化研究院)张成(工业和信息化部电子第五研究所)赵飞(中国电子技术标准化研究院)参加起草人：裴静(中国电子技术标准化研究院)耦合去耦网络校准规范 本规范依据JJF1071—2010《国家计量校准规范编写规则》和JF1059.1—2012《测量不确定度评定与表示》编写。本规范为首次在国内发布。本规范适用于射频场感应的传导骚扰抗扰度测试中，频率范围在0.15MHz~300MH₂的耦合去耦网络的校准。频率在300MH₂以上的耦合去耦网络可参照本规范执行。2引用文件GB/T17626.6-2008《电磁兼容试验和测量技术第6部分射频场感应的传导骚扰3术语和计量单位3.1共模阻抗CommonImpedance共模阻抗是耦合去耦网络在受试设备端口(EUT端口)上共模电压和共模电流之比，单位Ω。[GB/T17626.6-2008,术语和定义3.6]3.2耦合系数CouplingFactor耦合系数是耦合去耦网络在受试设备端口(EUT端口)获得的电压和注人射频输人端口上的电压的比值，单位dB。[GB/T¹7626.6-2008,术语和定义3.7]耦合去耦网络(简称CDN)是射频场传导骚扰抗扰度测试系统的重要组成部分，在射频场传导骚扰抗扰度实验中，骚扰信号要通过耦合去耦网络施加到被测受试设备上。耦合网络是将骚扰信号耦合到受试设备的被测端口，去耦网络是将骚扰信号去耦合，防止干扰其他辅助设备。去耦网络由各种电感组成，可以在测量频段内产生高阻抗，隔离骚扰信耦合去耦网络主要包括用于屏蔽电缆的CDN-S型耦合去耦网络、用于非屏蔽电缆的CDN-M型耦合去耦网络、用于非屏蔽不平衡线的CDN-AF2型耦合去耦网络、用于非屏蔽平衡线的CDN-T2型耦合去耦网络、用于非屏蔽平衡线的CDN-T4、T8型耦合去耦网络。5计量特性5.1共模阻抗范围：400~3000,最大允许误差：±10%;5.2耦合系数范围：-2dB-0dB,最大允许误差；±10%。6.2.350Ω同轴负载由铜、黄铜或铝制作。阻抗参考平面面积不小于100mm×100mm。参考地平面应接地良好，接地电阻小于1Ω,参考地平面边缘到被校耦合去耦网络轮廓线距离应大于50mm,两个参考面必须有良好的射频接触；7.3.3根据GB/T17626.6-2008推荐，在阻抗参考面上距参考地平面30mm高处安装N型或BNC型连接器，连接器的中心导体接耦合去耦网络EUT端口，连接器的外导体接阻抗参考面，阻抗参考面及连接器的安装如图1所示；O十7.3.4在阻抗分析仪的测量频率范围内，在参考地平面上分别用校准件对阻抗分析仪进行开路、短路和负载校准；7.3.5按照图2连接校准系统，射频输入端接50Ω负载；AE端口AE端口7.3.6将用于屏蔽电缆的CDN-S型耦合去耦网络EUT端口中心接阻抗参考面上连接器的中心导体，EUT端口外壳接连接器外导体。对于非屏蔽电缆的CDN-M、CDN-AF2、CDN-T2及CDN-T4、T8型耦合去耦网络，EUT端各端口应通过短路器连接在一起，接连接器的中心导体，将端口外壳接连接器外导体；7.3.7将耦合去耦网络AE端口接到参考地平面；7.3.8启动测试，得到阻抗IZ1测量结果曲线；7.3.9在阻抗分析仪上设定测量频率点为第一个校准频率点；7.3.10读取IZI的值作为该校准频率点的共模阻抗，将结果记录在附录A表A.2中；7.3.11重复步骤7.3.9~7.3.10,完成全部频率点的测试；7.3.12将测量结果曲线附在表A.2后。7.4耦合系数校准7.4.1设置矢量网络分析仪的测量频率范围不小于被校耦合去耦网络的工作频率，带宽为自动；7.4.2在参考地平面上使用网络分析仪校准件对矢量网络分析仪进行单端口开路、短路、匹配负载校准及二端口直通校准，参考地平面的要求与7.3.2要求相同；7.4.3按照图3所示连接测试系统，矢量网络分析仪两端口接固定衰减器以此减小适配，用步骤7.4.2中进行二端口直通校准时使用的电缆将被校耦合去耦网络与矢量网络分析仪连接，AE端接50Ω负载；0B器0B器7.4.4测试项目选择S,,数据格式选择LogMag,启动测试，得到S,参数的测量结果曲7.4.5在网络分析仪上设定测量频率点为第一个校准频率点；7.4.6读取S,的值作为校准频率点的耦合系数，将结果记录在附录A表A.3中；7.4.7重复步骤7.4.5-7.4.6,完成全部频率点的测试；7.4.8将测量结果曲线附在表A.3后。8校准结果表达校准结果应在校准证书上反映。校准证书应至少包括以下信息：b)实验室名称和地址；c)进行校准的地点(如果与实验室的地址不同);d)证书的唯一性标识(如编号),每页及总页数的标识；e)客户的名称和地址；f)被校对象的描述和明确标识；B)进行校准的日期，如果与校准结果的有效性和应用有关时，应说明被校对象的接收日期；h)校准所依据的技术规范的标识，包括名称及代号；i)本次校准所用测量标准的溯源性及有效性说明；j)校准环境的描述；k)校准结果及测量不确定度的说明；1)对校准规范的偏离的说明；m)校准证书和校准报告签发人的签名、职务或等效标识；n)校准结果仅对被校对象有效的说明；o)未经实验室书面批准，不得部分复制证书的声明。9复校时间间隔建议复校的时间间隔为1年。由于复校时间间隔的长短是由仪器使用情况、使用者、仪器本身质量等诸因素所决定的，因此，送校单位可根据实际情况自主决定复校时间间附录原始记录格式校准证书内页格式测量不确定度评定示例A.1外观及工作正常性检查A.2共模阻抗..校准曲线：A.3耦合系数校准曲线：校准证书内页格式共模阻抗/Ω……测量不确定度评定示例C.1共模阻抗的不确定度评定C.1.1测量模型选定测试频率为3MHz,仪器连接如图C.1所示，使用阻抗分析仪测量耦合去耦网络的共模阻抗IZI。阻抗参考面阻抗参考面502负载AE端口式中：IZ₁—共模阻抗的测试值；IZ,1—阻抗分析仪的示值。C.1.2不确定度来源共模阻抗校准结果的不确定度由两部分组成，一是阻抗分析仪本身的测量不确定度；二是测量重复性引人的不确定度。C.1.2.1阻抗分析仪测量的不确定度n(y₁)使用E4991A型阻抗分析仪，根据其说明书和校准文件，在1MHz～300MHa频率范围内，阻抗分析仪测量不确定度为0.2%。由于阻抗分析仪引人的不确定度是均匀分布的，因此按照B类方法不确定度进行评定。取耦合去耦网络共模阻抗最大值为300Ω。因此阻抗分析仪测量的不确定度u(y,)=300×0.2%/3=0.346(Ω)。C.1.2.2测量重复性引人的标准不确定度n(y₃)这部分的不确定度主要由每次电缆连接的不同及阻抗参考平面和接地参考平面的质量等因素构成，对这部分引人的不确定度可以重复测量，并按照A类方法不确定度进行评定。选定测试频率为3MHz,在该频率点上重复测量10次，得到如下测量结果：1234567H9C.1.3标准不确定度评定不确定度来源分析，不确定度评定，不确定-C.1.4合成不确定度C.1.5扩展不确定度C.2耦合系数结果不确定度的评定设置测试频率为3MHz,仪器连接