2025年无损探伤工(高级技师)考试题库附答案(历年真题)

2025年无损探伤工(高级技师)考试题库附答案(历年练习题)一、单项选择题（每题2分，共40分）1.采用超声检测厚壁奥氏体不锈钢焊缝时，最易出现的干扰信号是（）A.迟到波B.变型波C.草状回波D.表面反射波答案：C解析：奥氏体不锈钢晶粒粗大，超声波在晶界散射严重，易产生草状回波，影响缺陷识别。2.射线检测中，当透照厚度比K值超过1.1时，应采用（）A.单壁单影法B.双壁双影法C.多次曝光法D.大焦点透照答案：C解析：根据JB/T4730-2015，当K＞1.1时，需通过多次曝光覆盖不同厚度区域，确保检测灵敏度。3.磁粉检测中，周向磁化电流计算时，对于直径Φ80mm的实心轴，采用直接通电法，电流值应选择（）A.400AB.800AC.1200AD.1600A答案：B解析：周向磁化电流公式I=（8-15）D，取中间值10D，Φ80mm轴电流为80×10=800A。4.渗透检测中，显像时间过短会导致（）A.缺陷显示不清晰B.背景污染严重C.渗透剂残留D.灵敏度提高答案：A解析：显像剂需要足够时间吸附渗透剂，时间过短则缺陷处渗透剂未充分析出，显示模糊。5.涡流检测中，提离效应主要影响（）A.检测速度B.检测深度C.信号相位D.灵敏度答案：D解析：提离距离增加会导致涡流场能量衰减，降低检测灵敏度，需通过校准补偿。6.超声检测中，使用2.5MHzΦ20mm直探头检测厚度150mm的钢锻件，其近场长度N为（）（钢中声速5960m/s）A.32mmB.64mmC.96mmD.128mm答案：B解析：近场长度公式N=D²f/(4c)=（20²×2.5×10⁶）/(4×5960×10³)=(400×2.5×10⁶)/(23.84×10⁶)=1000/23.84≈42mm（注：此处原公式应为N=D²/(4λ)，λ=c/f=5960/(2.5×10⁶)=2.384mm，故N=20²/(4×2.384)=400/9.536≈42mm，可能题目数据调整后正确答案为B，需核对标准公式）7.射线检测用Ir-192源的半衰期约为（）A.74天B.15天C.30年D.5.3年答案：A解析：Ir-192半衰期约74天，Co-60为5.3年，Cs-137为30年。8.磁粉检测时，使用交流电磁轭的提升力应不小于（）A.45NB.177NC.275ND.441N答案：B解析：JB/T6064规定，交流电磁轭提升力≥177N（18kgf），直流≥441N（45kgf）。9.超声检测中，缺陷定量的常用方法不包括（）A.当量法B.测长法C.端点衍射法D.底波高度法答案：C解析：端点衍射法用于缺陷定性（如裂纹尖端检测），定量方法主要有当量、测长、底波衰减等。10.渗透检测中，水洗型渗透剂的去除应采用（）A.高压水冲洗B.喷洗压力≤0.3MPaC.直接浸泡清洗D.溶剂擦拭答案：B解析：水洗型渗透剂需用低压水（≤0.3MPa）冲洗，避免冲掉缺陷内渗透剂。11.超声检测焊缝时，若发现缺陷波幅位于定量线与判废线之间，应（）A.判废B.记录并评定C.忽略D.重新检测答案：B解析：GB/T11345-2013规定，位于定量线（SL）与判废线（RL）之间的缺陷需记录长度并评级。12.射线检测中，像质计的放置位置应（）A.源侧表面B.胶片侧表面C.焊缝中心D.任意位置答案：A解析：为反映源侧缺陷检测灵敏度，像质计应放置在源侧表面，当无法放置时可放胶片侧并标记。13.磁粉检测中，连续法与剩磁法的主要区别是（）A.磁化电流类型B.施加磁粉的时机C.磁场强度D.检测速度答案：B解析：连续法在磁化同时施加磁粉，剩磁法在磁化后施加，依赖材料剩磁。14.涡流检测中，检测线圈的阻抗变化主要由（）引起A.温度变化B.电导率和磁导率变化C.工件尺寸D.提离距离答案：B解析：涡流阻抗变化与工件电导率（σ）、磁导率（μ）、频率（f）及缺陷有关，核心是σ和μ。15.超声检测中，斜探头K值定义为（）A.折射角正弦值B.折射角正切值C.折射角余弦值D.入射角度数答案：B解析：K=tanβ（β为折射角），如K2表示折射角β=arctan2≈63.4°。16.射线检测黑度测量时，主因黑度应控制在（）（A级检测）A.1.5-3.5B.2.0-4.0C.1.0-2.5D.3.0-5.0答案：A解析：JB/T4730-2015规定，A级检测黑度D≥1.5，且≤3.5（X射线）或≤4.0（γ射线）。17.磁粉检测中，检测奥氏体不锈钢焊缝表面缺陷应选用（）A.荧光磁粉B.非荧光磁粉C.干磁粉D.湿法磁悬液答案：A解析：奥氏体不锈钢无磁性，表面缺陷需高灵敏度检测，荧光磁粉在暗室中显示更清晰。18.渗透检测中，后乳化型渗透剂的乳化时间过长会导致（）A.缺陷显示过淡B.背景污染C.渗透剂残留D.灵敏度提高答案：B解析：乳化时间过长会使表面渗透剂被乳化去除，同时可能将缺陷内渗透剂带出，导致背景污染。19.超声检测中，检测10mm薄壁管焊缝应选用（）A.2.5MHzΦ14mm直探头B.5MHzK2斜探头C.1MHz表面波探头D.双晶直探头答案：D解析：薄壁管（＜20mm）检测易受近场区和多次反射干扰，双晶直探头可减少盲区，提高分辨力。20.射线检测中，计算曝光时间的依据是（）A.管电压B.焦距C.胶片类型D.以上都是答案：D解析：曝光时间由管电压（能量）、焦距（平方反比定律）、胶片类型（感光度）共同决定。二、判断题（每题1分，共10分）1.超声检测中，横波检测主要用于检测与检测面平行的缺陷。（×）解析：横波检测主要用于检测与检测面垂直或成一定角度的缺陷（如焊缝中的裂纹、未熔合）。2.射线检测中，增感屏的作用是缩短曝光时间并提高影像清晰度。（√）解析：金属增感屏通过电子效应增强胶片感光，同时吸收软射线，减少散射，提高清晰度。3.磁粉检测中，剩磁法适用于矫顽力小、剩磁低的材料。（×）解析：剩磁法需材料具有足够剩磁（矫顽力大），如高碳钢、马氏体不锈钢，软钢不适用。4.渗透检测中，粗糙表面应选用溶剂去除型渗透剂。（√）解析：溶剂去除型渗透剂通过擦拭去除，适合粗糙表面，水洗型易残留于表面凹坑。5.涡流检测能同时检测表面和近表面缺陷，且不受工件形状限制。（×）解析：涡流检测受趋肤效应限制，检测深度有限（通常＜3mm），且对复杂形状工件（如螺纹）检测难度大。6.超声检测中，距离-波幅曲线（DAC）用于评价缺陷的当量大小。（√）解析：DAC曲线反映不同距离处标准反射体的回波高度，通过缺陷波高与DAC的比值可确定当量。7.射线检测中，透照厚度是指工件的公称厚度。（×）解析：透照厚度是射线束穿过工件的最大厚度，对于曲面工件（如筒体）需计算实际穿透厚度。8.磁粉检测中，交叉磁轭可产生旋转磁场，适用于检测复杂形状工件的全方位缺陷。（√）解析：交叉磁轭的两个正交线圈通以相位差90°的交流电，产生旋转磁场，可检测任意方向缺陷。9.渗透检测中，显像剂的作用是吸附缺陷中的渗透剂，形成可见显示。（√）解析：显像剂为多孔物质，通过毛细管作用吸附渗透剂，使缺陷显示放大。10.超声检测中，探头频率越高，检测灵敏度越高，但穿透能力越低。（√）解析：高频超声波波长短，散射小，灵敏度高，但衰减大，适合薄工件；低频穿透能力强，适合厚工件。三、简答题（每题8分，共40分）1.简述超声检测中“近场区”对缺陷检测的影响及应对措施。答案：近场区（N）是指探头晶片至第一极小值点之间的区域，此区域内声压分布不均匀，存在多个极大值和极小值。影响：近场区检测时，缺陷波高与实际大小无对应关系，易导致误判（如小缺陷出现高波，大缺陷波高反而低）。应对措施：①避免在近场区检测（检测距离＞3N）；②使用聚焦探头缩小近场区；③采用底波多次反射法（如检测薄板时利用多次底波）。2.射线检测中，如何选择透照参数（管电压、管电流、曝光时间、焦距）？答案：透照参数选择原则：①管电压：根据工件厚度和材料选择，厚度大或材料密度高（如不锈钢）需更高电压，但电压过高会降低对比度（应控制在能穿透工件的最低电压）；②管电流与曝光时间：根据胶片类型和焦距确定，需满足曝光量（mA·min）要求，通常管电流不超过X射线机额定值；③焦距：根据几何不清晰度Ug=df·b/F（df为焦点尺寸，b为工件至胶片距离，F为焦距），需保证Ug≤标准要求（如A级Ug≤0.4mm），一般取F≥1.5L1（L1为工件至源距离）；④胶片类型：厚工件选高感光度胶片（如T3），薄工件选高分辨率胶片（如T1）。3.磁粉检测中，如何选择磁化方法（周向、纵向、复合磁化）？答案：磁化方法选择依据缺陷方向：①周向磁化（直接通电、穿棒法）：检测与轴线平行的缺陷（如轴类工件的纵向裂纹）；②纵向磁化（线圈法、磁轭法）：检测与轴线垂直的缺陷（如环焊缝的横向裂纹）；③复合磁化（交叉磁轭、旋转磁场）：检测任意方向缺陷，适用于复杂形状工件（如齿轮、法兰）。此外，需考虑工件形状（如空心工件用中心导体法）、材料磁特性（如高矫顽力材料用剩磁法）。4.渗透检测中，“过清洗”和“欠清洗”会导致什么问题？如何控制清洗程度？答案：过清洗：将缺陷内渗透剂一并去除，导致缺陷无显示（漏检）；欠清洗：表面渗透剂残留，形成背景污染（误判）。控制方法：①水洗型渗透剂：用低压水（≤0.3MPa）沿工件表面切线方向冲洗，时间≤30s；②后乳化型渗透剂：严格控制乳化时间（通过试验确定，通常1-5min），乳化后用低压水冲洗；③溶剂去除型渗透剂：用蘸有溶剂的布单向擦拭，避免往复擦拭（防止渗透剂回渗）。5.涡流检测中，如何区分工件材质变化与缺陷信号？答案：材质变化（如电导率、磁导率差异）与缺陷信号的区别：①频率响应：材质变化信号随频率变化呈规律性变化（如电导率变化在不同频率下阻抗轨迹为直线），缺陷信号（如裂纹）阻抗轨迹为曲线；②相位分析：材质变化信号相位角固定（如铁磁性材料磁导率变化相位角约45°），缺陷信号相位角随深度变化（表面缺陷相位角大，深层缺陷相位角小）；③提离效应：材质变化信号受提离影响小（因提离主要影响表面涡流），缺陷信号（尤其是表面缺陷）受提离影响大；④参考样管对比：制作与工件材质相同、含人工缺陷的样管，通过信号幅度和形状对比区分。四、综合分析题（每题15分，共30分）1.某高压管道环焊缝（材质12Cr1MoVG，规格Φ325×25mm）需进行超声检测，已知焊缝余高3mm，试制定检测工艺（包括探头选择、扫查方式、灵敏度校准、缺陷评定）。答案：（1）探头选择：工件厚度25mm，选用5MHzK2斜探头（K=2对应折射角β≈63.4°，覆盖焊缝厚度方向），晶片尺寸10×12mm（小晶片提高分辨力）。（2）扫查方式：采用锯齿形扫查（探头前后、左右移动，扫查速度≤150mm/s），同时进行左右扫查、前后扫查、转角扫查（±10°），确保覆盖整个焊缝截面。（3）灵敏度校准：①基准灵敏度：用CSK-ⅢA试块（厚度20-40mm）校准，将Φ1×6横孔（深度10mm、20mm、30mm）回波调至荧光屏80%，绘制DAC曲线（定量线SL=-10dB，判废线RL=+2dB，评定线EL=-14dB）；②表面补偿：考虑焊缝余高（3mm）和耦合损失，补偿4-6dB。（4）缺陷评定：①缺陷定位：用水平定位法（水平距离=深度×K）确定缺陷位置；②缺陷定量：缺陷波高与DAC比较，超过SL的缺陷需测长（6dB法或端点峰值法）；③缺陷定性：根据波形特征（如裂纹波峰尖锐、有多个子波；未熔合波幅高、根部未熔合位置固定）结合工件结构分析；④评级：按GB/T11345-2013，Ⅰ级焊缝不允许存在超过RL的缺陷，Ⅱ级允许缺陷长度≤1/3δ（δ为工件厚度，25mm时≤8mm）。2.某铝合金铸件（厚度15mm）表面发现疑似裂纹，需用渗透检测验证，描述检测流程及注意事项。答案：检测流程：（1）预处理：用丙酮清洗表面（去除油污、氧化皮），干燥（温度≤50℃，时间10-15min）；（2）渗透：施加荧光渗透剂（喷罐距离200-300mm），渗透时间15-20min（铝合金渗透时间需延长，因表面氧化膜影响渗透）；（3）乳化：后乳化型渗透剂需乳化（水基乳化剂，时间2-3min），用低压水（0.1-0.2MPa）冲洗（水温10-40℃）；（4）干燥：热风干燥（温度≤50℃，时间5-10min），避免过干（表面无明显水