2026年检测绕组电容试卷及答案

2026年检测绕组电容试卷及答案一、单项选择题（每题2分，共20分）1.检测电力变压器绕组电容时，最核心的检测目的是：A.测量绕组工作电流大小B.评估绕组绝缘状态变化C.计算绕组直流电阻值D.确定绕组电感参数2.采用西林电桥检测绕组电容时，若被测绕组对末屏及地的绝缘电阻较低，应优先选择：A.正接法（低压侧接地）B.反接法（高压侧接地）C.对角线接法D.自激法3.下列因素中，对绕组电容测量结果影响最小的是：A.环境温度波动±5℃B.相邻绕组通有50Hz感应电流C.测试引线与地距离增加20cmD.被测绕组表面有轻微积灰4.某35kV变压器低压绕组（三角形接线）进行电容检测时，正确的测试接线应为：A.短接三相绕组，测量对铁芯及地电容B.分别测量A、B、C相绕组对铁芯电容，取平均值C.测量A相对B相、B相对C相、C相对A相的电容D.短接三相绕组，测量对高压绕组及地电容5.介质损耗因数（tanδ）与绕组电容检测的关联是：A.tanδ越大，电容测量值越准确B.tanδ反映绝缘介质的能量损耗，与电容值直接相关C.tanδ仅用于判断绕组电感参数，与电容无关D.tanδ是电容检测中的干扰参数，需抑制二、填空题（每题3分，共15分）1.绕组电容检测中，常用的高精度测量仪器是______，其基本原理是通过______平衡实现参数测量。2.当环境温度偏离标准温度（20℃）时，绕组电容值需进行温度修正，修正公式为C20=______（假设温度系数α已知）。3.抑制电场干扰对电容测量的主要方法是______，抑制磁场干扰的有效措施是______。4.某绕组实测电容值为1200pF，标准值为1180pF（允许偏差±2%），则该绕组电容偏差率为______，判定结果为______（合格/不合格）。5.变压器绕组发生局部放电时，其电容值可能出现______（增大/减小/不变），原因是______。三、简答题（每题8分，共24分）1.简述电桥法检测绕组电容的操作流程（至少列出5个关键步骤）。2.比较谐振法与电桥法检测绕组电容的优缺点，各举1例适用场景。3.分析绕组电容检测中“末屏接地不良”对测量结果的影响，并提出3种验证末屏状态的方法。四、计算题（每题10分，共20分）1.采用QS1型西林电桥检测某110kV变压器高压绕组电容，测试电压10kV，电桥平衡时标准电容CN=50pF，R3=1000Ω，C4=0.01μF（tanδ=ωC4R3）。计算被测绕组的电容CX及介质损耗因数tanδ（ω=314rad/s）。2.某变压器低压绕组在30℃时测得电容值为850pF，已知该绕组电容温度系数α=0.002/℃（20℃为基准），计算其20℃时的标准电容值，并判断若标准值为830pF（允许偏差±2%）是否合格。五、综合分析题（21分）某220kV变压器投运5年后，年度检测中发现高压绕组A相电容值较出厂值增大5%，介质损耗因数由0.1%升至0.35%（标准≤0.5%），其他两相电容及tanδ无明显变化。结合绕组结构及故障机理，分析可能的故障原因，并提出3项后续检测建议。答案一、单项选择题1.B2.B3.D4.A5.B二、填空题1.西林电桥（或数字电桥）；电桥（阻抗）2.C_t/[1+α(t20)]3.屏蔽测试引线；远离强磁场源或采用双绞线4.1.69%；合格5.增大；局部放电导致绝缘介质分解，等效介电常数增加三、简答题1.操作流程：①断开被测绕组所有外部连接，接地放电；②清洁绕组及测试端子表面；③选择电桥接线方式（正接/反接），连接测试引线（高压端、标准电容端、屏蔽端）；④施加测试电压（一般为10kV），调节电桥平衡（R3、C4）；⑤记录平衡时的R3、C4、CN值，计算CX及tanδ；⑥重复测量23次，取平均值；⑦对比历史数据及标准，分析结果。2.谐振法优点：无需高压电源，适用于现场无高压试验设备场景；缺点：受绕组电感影响大，精度较低。适用场景：配电变压器低压绕组简易检测。电桥法优点：精度高（可达0.1%），可同时测电容及tanδ；缺点：需高压电源，操作复杂。适用场景：主变高压绕组精确检测。3.末屏接地不良时，末屏与地间形成悬浮电位，导致绕组对末屏电容被部分串入测量回路，使实测电容值偏小（或波动），tanδ增大。验证方法：①用万用表测量末屏对地电阻（正常应≤1Ω）；②检测末屏接地线电流（正常应无电流）；③对比不同电压下的电容值（接地不良时随电压升高值变化明显）。四、计算题1.CX=CN×R4/R3（注：QS1电桥中R4=1/ωC4）R4=1/(314×0.01×10⁻⁶)=318471ΩCX=50×(318471/1000)=15923.55pF≈15924pFtanδ=ωC4R3=314×0.01×10⁻⁶×1000=0.00314≈0.314%2.C20=C30/[1+α(3020)]=850/[1+0.002×10]=850/1.02≈833.33pF标准值830pF允许偏差±2%即813.4~846.6pF，833.33pF在范围内，判定合格。五、综合分析题可能故障原因：①A相绕组局部绝缘受潮（水分增加导致介电常数增大）；②绕组匝间绝缘老化（匝间电容并联，局部短路使总电容增大）；③绕组表面爬电